CN204903717U - 键盘电性和过灵敏测试机 - Google Patents

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Abstract

本实用新型公开了一种键盘电性和过灵敏测试机,包括键盘放置装置、测试头组件、伸缩模组、基板和驱动装置;测试头组件包括若干个垂直悬挂于伸缩模组底端的固定架、和安装于固定架的测试头,测试头自上而下包括依次搭接式相连的电磁铁、第一砝码和第二砝码;电磁铁的顶端固定于固定架,底端套穿入第一砝码的顶端并锁紧有第一垫片;第一砝码的顶端套接于电磁铁底端、并悬挂搭接于第一垫片,底端套穿入第二砝码的顶端并锁紧有第二垫片;第二砝码的顶端套接于第一砝码底端、并悬挂搭接于第二垫片,底端为自由端、作用于待测试键盘中的按键。减少人工参与,实现键盘的自动测试电性和过灵敏性能,自动化程度高,测试准确高效,且通用性强。

Description

键盘电性和过灵敏测试机
技术领域
本实用新型涉及一种测试设备,特别是涉及一种键盘电性和过灵敏测试机,属于键盘自动化检测设备技术领域。
背景技术
作为主要的输入结构,按键被广泛地应用于计算机键盘、手机以及计算器等电子产品中;对于计算机键盘、手机以及计算器等电子产品而言,工作时必须敲打按键以使得按键触点导通断开,从而将字母、数字、标点符号等输入到相应的计算机、手机或者计算器中。
因此,键盘的质量及其功能是否正常操作,将直接影响到电子设备操作的稳定性。同时,在键盘中直接的操作单元是按键,所以按键的品质测试对于键盘而言,是至关重要的环节。在键盘生产过程中,出产前必须对键盘成品进行质量检测,需要对每一个按键进行击打,以测试其回弹和触点的通断等测试项目。
然而,目前业界对于键盘按键的测试,一般采用人工或机器来测试。人工测试方式是以雇用大量劳工逐一按压键盘中每一个按键,采用人工测试方式存在诸多缺点:需要操作人员与测试软体交互配合,在测试软体发出命令之后,等待操作人员按压按键;测试时间较长且效率低;操作人员按压按键时可能出错,需要多次反复测试;以及操作人员容易操作疲劳而出现怠工现象等。
现有技术中采用机器测试键盘的方式已经得到越来越广泛的应用,但是现有键盘自动化测试设备仍存在机械结构复杂、不易维修、通用性差、定位精度低等缺陷。
实用新型内容
本实用新型的主要目的在于,克服现有技术中的不足,提供一种新型结构的键盘电性和过灵敏测试机,特别适用于计算机键盘。
本实用新型所要解决的技术问题是提供结构紧凑、拆装方便、制作容易、安全可靠、实用性强的键盘电性和过灵敏测试机,用于在减少人工参与的前提下,实现键盘的自动测试电性功能和过灵敏性能,自动化程度高,测试准确高效;通过调节可对不同结构的键盘进行测试,通用性强,节省测试设备的更换成本;且具有产业上的利用价值。
为了达到上述目的,本实用新型所采用的技术方案是:
一种键盘电性和过灵敏测试机,用于测试电子装置的键盘的电性功能和过灵敏性能,包括:键盘放置装置,用于放置并固持待测试键盘;测试头组件,用于作用于待测试键盘中的按键;伸缩模组,用于悬挂测试头组件并进行间距调节;基板,用于固定伸缩模组;驱动装置,用于驱动基板在X轴、Y轴、Z轴方向移动。
其中,所述测试头组件包括若干个垂直悬挂于伸缩模组底端的固定架、和安装于固定架的测试头,所述测试头自上而下包括依次搭接式相连的电磁铁、第一砝码和第二砝码;所述电磁铁的顶端固定于固定架,电磁铁的底端套穿入第一砝码的顶端并锁紧有第一垫片;所述第一砝码的顶端套接于电磁铁底端、并悬挂搭接于第一垫片,第一砝码的底端套穿入第二砝码的顶端并锁紧有第二垫片;所述第二砝码的顶端套接于第一砝码底端、并悬挂搭接于第二垫片,第二砝码的底端为自由端、作用于待测试键盘中的按键;所述第一砝码向上受力后可沿电磁铁的底端上移,所述第二砝码向上受力后可沿第一砝码的底端上移。
本实用新型进一步设置为:所述固定架包括底板,垂直设置于底板的固定环和限位环;所述电磁铁固定于固定环,所述第一砝码和第二砝码均套装入限位环。
本实用新型进一步设置为:所述键盘放置装置包括键盘放置台,设置于键盘放置台底面的滑轨,驱动键盘放置台沿滑轨滑移至测试头组件正下方的驱动气缸。
本实用新型进一步设置为:所述伸缩模组包括依次相连的等间距调节式的缩间隙模组,和间距固定式的平移模组;所述缩间隙模组包括底座,位于底座中的伸缩构架,和驱动伸缩构架进行等间距调节并安装于底座一侧端的缩间隙驱动器。
而且,所述伸缩构架包括X型伸缩杆,固定于X型伸缩杆底面并等间距分布的若干个滑块,和悬挂于滑块底面并延伸出底座底面的悬挂片;所述底座的顶面设置有安装X型伸缩杆用的凹槽,所述凹槽中间轴向设置有供滑块滑移的滑块槽,所述滑块槽中沿轴向开设有贯穿底座底面供悬挂片滑移的底座滑道,所述悬挂片并排分布用于悬挂固定架;所述平移模组包括与底座另一侧端相连的延伸座,安装于延伸座的平移驱动器,由平移驱动器驱动并分布在延伸座正下方的挂板;所述挂板用于并排悬挂若干个间距固定的固定架。
本实用新型进一步设置为:所述缩间隙模组还包括设置于底座顶面的压板;所述缩间隙驱动器和平移驱动器相对设置、均为贯穿有丝杆的贯穿式步进电机。
本实用新型进一步设置为:所述X型伸缩杆包括自上而下叠状相连的至少两层分布的第一层连杆件和第二层连杆件,以及依次贯穿过第一层连杆件和第二层连杆件的中心轴。
其中,所述第一层连杆件包括等间距并排分布的第一层首端连杆、第一层尾端连杆和若干个第一层中间连杆,所述第一层中间连杆位于第一层首端连杆和第一层尾端连杆之间;所述第二层连杆件包括等间距并排分布的第二层首端连杆、第二层尾端连杆和若干个第二层中间连杆,所述第二层中间连杆位于第二层首端连杆和第二层尾端连杆之间;所述第一层中间连杆和第二层中间连杆的数量相同均等长设置,并依次交叉通过中心点铰接形成X型结构,于中心点铰接处垂直套装有中心轴。
而且,位于始端的第一层中间连杆,其一端与第二层首端连杆的一端相铰接、另一端与相邻的第二层中间连杆的一端相铰接;位于未端的第一层中间连杆,其一端与第二层末端连杆的一端相铰接、另一端与相邻的第二层中间连杆的一端相铰接;位于始端和末端之间的第一层中间连杆,其两端分别与相邻的第二层中间连杆的端部相铰接。
同时,位于始端的第二层中间连杆,其一端与第一层首端连杆的一端相铰接、另一端与相邻的第一层中间连杆的一端相铰接;位于未端的第二层中间连杆,其一端与第一层末端连杆的一端相铰接、另一端与相邻的第一层中间连杆的一端相铰接;所述第一层首端连杆的另一端与第二层首端连杆的另一端相铰接,所述第一层末端连杆的另一端与第二层末端连杆的另一端相铰接并于铰接处垂直套装有中心轴;所述滑块套设于中心轴、与中心轴数量相同,所述悬挂片与中心轴的底端相连;所述第二层首端连杆通过固连连接轴与缩间隙驱动器相连,所述第二层末端连杆通过紧固件贯穿滑块固定于凹槽中。
本实用新型进一步设置为:所述驱动装置包括依次相连的Y轴驱动装置、X轴驱动装置和Z轴驱动装置,所述Y轴驱动装置包括Y轴伺服电机、Y轴驱动杆、Y轴滑动座、Y轴滑轨、第一连接板和固定安装板,所述X轴驱动装置包括X轴伺服电机、X轴驱动杆、X轴滑动座、X轴滑轨和第二连接板,所述Z轴驱动装置包括Z轴气缸、气缸固定板和Z轴滑轨;所述基板为垂直分布;
其中,所述Z轴气缸固定于与基板相平行的气缸固定板,所述气缸固定板的一面通过Z轴滑轨与基板相连、另一面与X轴滑动座相连并通过X轴滑轨与第二连接板相连,所述Z轴气缸的气缸杆与基板的顶面相连驱动基板做Z轴方向移动;所述X轴滑动座套装于X轴驱动杆,所述X轴伺服电机安装于第二连接板并通过第一皮带驱动X轴驱动杆,所述X轴滑轨平行分布在X轴驱动杆的两侧,所述第二连接板与基板相平行,第二连接板的顶端连接于第一连接板的底面而形成L型;所述Y轴滑动座套装于Y轴驱动杆,所述第一连接板的顶面与Y轴滑动座相连并分布在Y轴滑动座的正下方,所述第一连接板的顶面通过Y轴滑轨与固定安装板相连,所述Y轴滑轨平行分布在Y轴驱动杆的两侧,所述Y轴伺服电机安装于固定安装板并通过第二皮带驱动Y轴驱动杆。
本实用新型进一步设置为:还包括机架,所述机架包括工作台和支撑工作台用的支撑架;所述键盘放置装置设置于工作台,所述驱动装置通过基座安装于工作台。
本实用新型进一步设置为:还包括贯穿支撑架的输送带,用于承载待测试键盘。
本实用新型进一步设置为:还包括均设于工作台上的测试按钮、电控箱、显示屏和指示灯,所述测试按钮、显示屏和指示灯均与电控箱相连。
与现有技术相比,本实用新型具有的有益效果是:
通过键盘放置装置的设置,实现键盘放置后自动输入到测试头组件下等待测试,减少人工参与,提高测试效率;通过测试头组件的设置,采用砝码自由落体敲击按键的方式来实现过灵敏性能的测试,采用电磁导通击打按键的方式来实现电性功能的测试,测试头组件集成度高,模组共用,大幅节省成本,并且测试准确高效;通过伸缩模组的设置,实现快速精准、范围可控的间隙调节,达到适用范围广的目的,通过调节可对不同结构的键盘均能进行测试,通用性强,而且拆装方便,更换维修均容易;通过设置可驱动X轴、Y轴、Z轴方向移动的驱动装置,实现测试头组件的任意位置移动,适用于不同结构的键盘进行测试,自动化程度高的同时可节省测试设备的更换成本。
上述内容仅是本实用新型技术方案的概述,为了更清楚的了解本实用新型的技术手段,下面结合附图对本实用新型作进一步的描述。
附图说明
图1为本实用新型键盘电性和过灵敏测试机的立体结构示意图;
图2为本实用新型键盘电性和过灵敏测试机的正视结构示意图;
图3为本实用新型键盘电性和过灵敏测试机的侧视结构示意图;
图4为本实用新型键盘电性和过灵敏测试机的俯视结构示意图;
图5为本实用新型键盘电性和过灵敏测试机的整体布局立体图;
图6为本实用新型键盘电性和过灵敏测试机的整体布局正视图;
图7为本实用新型键盘电性和过灵敏测试机中伸缩模组的立体结构示意图;
图8为本实用新型键盘电性和过灵敏测试机中伸缩模组的正视结构示意图;
图9为本实用新型键盘电性和过灵敏测试机中伸缩模组的底座的立体图;
图10为本实用新型键盘电性和过灵敏测试机中伸缩模组的伸缩构架的分解图;
图11为本实用新型键盘电性和过灵敏测试机中测试头的立体结构示意图;
图12为本实用新型键盘电性和过灵敏测试机中测试头的正视结构示意图;
图13为本实用新型键盘电性和过灵敏测试机中测试头的侧视结构示意图。
具体实施方式
下面结合说明书附图,对本实用新型作进一步的说明。
如图1至图4所示,一种键盘电性和过灵敏测试机,用于测试电子装置的键盘的电性功能和过灵敏性能,包括:键盘放置装置1,用于放置并固持待测试键盘10;测试头组件2,用于作用于待测试键盘10中的按键;伸缩模组3,用于悬挂测试头组件2并进行间距调节;基板4,用于固定伸缩模组3;驱动装置5,用于驱动基板4在X轴、Y轴、Z轴方向移动。
如图5至图6所示,键盘电性和过灵敏测试机还包括机架6,所述机架6包括工作台61和支撑工作台61用的支撑架62;所述键盘放置装置1设置于工作台61,所述驱动装置5通过基座50安装于工作台61。
如图5至图6所示,键盘电性和过灵敏测试机还包括贯穿支撑架62的输送带7、用于承载待测试键盘10,还包括均设于工作台61上的测试按钮8、电控箱9、显示屏91和指示灯92,所述测试按钮8、显示屏91和指示灯92均与电控箱9相连。
如图1至图4所示,所述键盘放置装置1包括键盘放置台11,设置于键盘放置台11底面的滑轨12,驱动键盘放置台11沿滑轨12滑移至测试头组件2正下方的驱动气缸13。键盘放置台11上放置待测试键盘10,经启动测试按钮,通过驱动气缸13将键盘放置台11自动拉移进测试头组件2正下方,图中位于测试头组件2正下方的待测试键盘10即为滑移后状态,测试完成后由驱动气缸13将键盘放置台11自动送出。
如图1至图4所示,所述驱动装置5包括依次相连的Y轴驱动装置、X轴驱动装置和Z轴驱动装置,所述Y轴驱动装置包括Y轴伺服电机51、Y轴驱动杆511、Y轴滑动座512、Y轴滑轨513、第一连接板514和固定安装板515,所述X轴驱动装置包括X轴伺服电机52、X轴驱动杆521、X轴滑动座522、X轴滑轨523和第二连接板524,所述Z轴驱动装置包括Z轴气缸53、气缸固定板531和Z轴滑轨532;所述基板4为垂直分布。
所述Z轴气缸53固定于与基板4相平行的气缸固定板531,所述气缸固定板531的一面通过Z轴滑轨532与基板4相连、另一面与X轴滑动座522相连并通过X轴滑轨523与第二连接板524相连,所述Z轴气缸53的气缸杆与基板4的顶面相连驱动基板4做Z轴方向移动。
所述X轴滑动座522套装于X轴驱动杆521,所述X轴伺服电机52安装于第二连接板524并通过第一皮带525驱动X轴驱动杆521,所述X轴滑轨523平行分布在X轴驱动杆521的两侧,所述第二连接板524与基板4相平行,第二连接板524的顶端连接于第一连接板514的底面而形成L型。
所述Y轴滑动座512套装于Y轴驱动杆511,所述第一连接板514的顶面与Y轴滑动座512相连并分布在Y轴滑动座512的正下方,所述第一连接板514的顶面通过Y轴滑轨513与固定安装板515相连,所述Y轴滑轨513平行分布在Y轴驱动杆511的两侧,所述Y轴伺服电机51安装于固定安装板515并通过第二皮带516驱动Y轴驱动杆511。
如图11至图13所示,所述测试头组件2包括若干个垂直悬挂于伸缩模组3底端的固定架21、和安装于固定架21的测试头,所述测试头自上而下包括依次搭接式相连的电磁铁22、第一砝码23和第二砝码24。
所述电磁铁22的顶端固定于固定架21,电磁铁22的底端套穿入第一砝码23的顶端并锁紧有第一垫片25;所述第一砝码23的顶端套接于电磁铁22底端、并悬挂搭接于第一垫片25,第一砝码23的底端套穿入第二砝码24的顶端并锁紧有第二垫片26;所述第二砝码24的顶端套接于第一砝码23底端、并悬挂搭接于第二垫片26,第二砝码24的底端为自由端、作用于待测试键盘10中的按键;所述第一砝码23向上受力后可沿电磁铁22的底端上移,所述第二砝码24向上受力后可沿第一砝码23的底端上移。
所述固定架21包括底板211,垂直设置于底板211的固定环212和限位环213;所述电磁铁22固定于固定环212,所述第一砝码23和第二砝码24均套装入限位环213。
如图7至图10所示,所述伸缩模组3包括依次相连的等间距调节式的缩间隙模组,和间距固定式的平移模组;所述缩间隙模组包括底座31,位于底座31中的伸缩构架32,和驱动伸缩构架32进行等间距调节并安装于底座31一侧端的缩间隙驱动器33;所述平移模组包括与底座31另一侧端相连的延伸座34,安装于延伸座34的平移驱动器35,由平移驱动器35驱动并分布在延伸座34正下方的挂板36;所述挂板36用于并排悬挂若干个间距固定的固定架21,图中仅画出一个固定架,其余省略没有画出,可并排悬挂多个固定架。
所述缩间隙模组3还包括设置于底座31顶面的压板37;所述缩间隙驱动器33和平移驱动器35相对设置、均为贯穿有丝杆的贯穿式步进电机。
所述伸缩构架32包括X型伸缩杆321,固定于X型伸缩杆321底面并等间距分布的若干个滑块322,和悬挂于滑块322底面并延伸出底座31底面的悬挂片38;所述底座31的顶面设置有安装X型伸缩杆321用的凹槽311,所述凹槽311中间轴向设置有供滑块322滑移的滑块槽312,所述滑块槽312中沿轴向开设有贯穿底座31底面供悬挂片38滑移的底座滑道313;所述悬挂片38并排分布用于悬挂固定架21,图中仅画出两边的两个固定架,其余位于两个固定架之间的省略没有画出,可并排悬挂多个固定架。
如图9和图10所示,所述X型伸缩杆321包括自上而下叠状相连的至少两层分布的第一层连杆件323和第二层连杆件324,以及依次贯穿过第一层连杆件323和第二层连杆件324的中心轴325。在第二层连杆件324的底面可以叠状相连第三层连杆件326,采用的第三层连杆件236与第一层连杆件323的结构相同、连接方式相同。
所述第一层连杆件323包括等间距并排分布的第一层首端连杆3231、第一层尾端连杆3232和若干个第一层中间连杆3233,所述第一层中间连杆3233位于第一层首端连杆3231和第一层尾端连杆3232之间;所述第二层连杆件324包括等间距并排分布的第二层首端连杆3241、第二层尾端连3242杆和若干个第二层中间连3243杆,所述第二层中间连杆3243位于第二层首端连杆3241和第二层尾端连杆3242之间;所述第一层中间连杆3233和第二层中间连杆3243的数量相同均等长设置,并依次交叉通过中心点铰接形成X型结构,于中心点铰接处垂直套装有中心轴325。
位于始端的第一层中间连杆3233,其一端与第二层首端连杆3241的一端相铰接、另一端与相邻的第二层中间连杆3243的一端相铰接;位于未端的第一层中间连杆3233,其一端与第二层末端连杆3242的一端相铰接、另一端与相邻的第二层中间连杆3243的一端相铰接;位于始端和末端之间的第一层中间连杆3233,其两端分别与相邻的第二层中间连杆3243的端部相铰接。
位于始端的第二层中间连杆3243,其一端与第一层首端连杆3231的一端相铰接、另一端与相邻的第一层中间连杆3233的一端相铰接;位于未端的第二层中间连杆3243,其一端与第一层末端连杆3232的一端相铰接、另一端与相邻的第一层中间连杆3233的一端相铰接;所述第一层首端连杆3231的另一端与第二层首端连杆3241的另一端相铰接,所述第一层末端连杆3232的另一端与第二层末端连杆3242的另一端相铰接并于铰接处垂直套装有中心轴325。
所述滑块322套设于中心轴325、与中心轴325数量相同,所述悬挂片38与中心轴325的底端相连;所述第二层首端连杆3241通过固连连接轴(图中未示出)与缩间隙驱动器33相连,所述第二层末端连杆3242通过紧固件(图中未示出)贯穿滑块322固定于凹槽311中。
本实用新型的创新点在于,用于在减少人工参与的前提下,实现键盘的自动测试电性功能和过灵敏性能,自动化程度高,测试准确高效;通过调节可对不同结构的键盘进行测试,通用性强,从而节省测试设备的更换成本。
以上所述,仅是本实用新型的较佳实施例而已,并非对本实用新型作任何形式上的限制,虽然本实用新型已以较佳实施例揭露如上,然而并非用以限定本实用新型,任何熟悉本专业的技术人员,在不脱离本实用新型技术方案范围内,当可利用上述揭示的技术内容做出些许更动或修饰为等同变化的等效实施例,但凡是未脱离本实用新型技术方案的内容,依据本实用新型的技术实质对以上实施例所作的任何的简单修改、等同变化与修饰,均仍属于本实用新型技术方案的范围内。

Claims (10)

1.一种键盘电性和过灵敏测试机,用于测试电子装置的键盘的电性功能和过灵敏性能,其特征在于,包括:
键盘放置装置,用于放置并固持待测试键盘;
测试头组件,用于作用于待测试键盘中的按键;
伸缩模组,用于悬挂测试头组件并进行间距调节;
基板,用于固定伸缩模组;
驱动装置,用于驱动基板在X轴、Y轴、Z轴方向移动;
所述测试头组件包括若干个垂直悬挂于伸缩模组底端的固定架、和安装于固定架的测试头,所述测试头自上而下包括依次搭接式相连的电磁铁、第一砝码和第二砝码;
所述电磁铁的顶端固定于固定架,电磁铁的底端套穿入第一砝码的顶端并锁紧有第一垫片;所述第一砝码的顶端套接于电磁铁底端、并悬挂搭接于第一垫片,第一砝码的底端套穿入第二砝码的顶端并锁紧有第二垫片;所述第二砝码的顶端套接于第一砝码底端、并悬挂搭接于第二垫片,第二砝码的底端为自由端、作用于待测试键盘中的按键;所述第一砝码向上受力后可沿电磁铁的底端上移,所述第二砝码向上受力后可沿第一砝码的底端上移。
2.根据权利要求1所述的键盘电性和过灵敏测试机,其特征在于:所述固定架包括底板,垂直设置于底板的固定环和限位环;所述电磁铁固定于固定环,所述第一砝码和第二砝码均套装入限位环。
3.根据权利要求1所述的键盘电性和过灵敏测试机,其特征在于:所述键盘放置装置包括键盘放置台,设置于键盘放置台底面的滑轨,驱动键盘放置台沿滑轨滑移至测试头组件正下方的驱动气缸。
4.根据权利要求1所述的键盘电性和过灵敏测试机,其特征在于:所述伸缩模组包括依次相连的等间距调节式的缩间隙模组,和间距固定式的平移模组;
所述缩间隙模组包括底座,位于底座中的伸缩构架,和驱动伸缩构架进行等间距调节并安装于底座一侧端的缩间隙驱动器;
所述伸缩构架包括X型伸缩杆,固定于X型伸缩杆底面并等间距分布的若干个滑块,和悬挂于滑块底面并延伸出底座底面的悬挂片;所述底座的顶面设置有安装X型伸缩杆用的凹槽,所述凹槽中间轴向设置有供滑块滑移的滑块槽,所述滑块槽中沿轴向开设有贯穿底座底面供悬挂片滑移的底座滑道,所述悬挂片并排分布用于悬挂固定架;
所述平移模组包括与底座另一侧端相连的延伸座,安装于延伸座的平移驱动器,由平移驱动器驱动并分布在延伸座正下方的挂板;所述挂板用于并排悬挂若干个间距固定的固定架。
5.根据权利要求4所述的键盘电性和过灵敏测试机,其特征在于:所述缩间隙模组还包括设置于底座顶面的压板;所述缩间隙驱动器和平移驱动器相对设置、均为贯穿有丝杆的贯穿式步进电机。
6.根据权利要求4所述的键盘电性和过灵敏测试机,其特征在于:所述X型伸缩杆包括自上而下叠状相连的至少两层分布的第一层连杆件和第二层连杆件,以及依次贯穿过第一层连杆件和第二层连杆件的中心轴;
所述第一层连杆件包括等间距并排分布的第一层首端连杆、第一层尾端连杆和若干个第一层中间连杆,所述第一层中间连杆位于第一层首端连杆和第一层尾端连杆之间;所述第二层连杆件包括等间距并排分布的第二层首端连杆、第二层尾端连杆和若干个第二层中间连杆,所述第二层中间连杆位于第二层首端连杆和第二层尾端连杆之间;所述第一层中间连杆和第二层中间连杆的数量相同均等长设置,并依次交叉通过中心点铰接形成X型结构,于中心点铰接处垂直套装有中心轴;
位于始端的第一层中间连杆,其一端与第二层首端连杆的一端相铰接、另一端与相邻的第二层中间连杆的一端相铰接;位于未端的第一层中间连杆,其一端与第二层末端连杆的一端相铰接、另一端与相邻的第二层中间连杆的一端相铰接;位于始端和末端之间的第一层中间连杆,其两端分别与相邻的第二层中间连杆的端部相铰接;
位于始端的第二层中间连杆,其一端与第一层首端连杆的一端相铰接、另一端与相邻的第一层中间连杆的一端相铰接;位于未端的第二层中间连杆,其一端与第一层末端连杆的一端相铰接、另一端与相邻的第一层中间连杆的一端相铰接;所述第一层首端连杆的另一端与第二层首端连杆的另一端相铰接,所述第一层末端连杆的另一端与第二层末端连杆的另一端相铰接并于铰接处垂直套装有中心轴;
所述滑块套设于中心轴、与中心轴数量相同,所述悬挂片与中心轴的底端相连;所述第二层首端连杆通过固连连接轴与缩间隙驱动器相连,所述第二层末端连杆通过紧固件贯穿滑块固定于凹槽中。
7.根据权利要求1所述的键盘电性和过灵敏测试机,其特征在于:所述驱动装置包括依次相连的Y轴驱动装置、X轴驱动装置和Z轴驱动装置,所述Y轴驱动装置包括Y轴伺服电机、Y轴驱动杆、Y轴滑动座、Y轴滑轨、第一连接板和固定安装板,所述X轴驱动装置包括X轴伺服电机、X轴驱动杆、X轴滑动座、X轴滑轨和第二连接板,所述Z轴驱动装置包括Z轴气缸、气缸固定板和Z轴滑轨;所述基板为垂直分布;
所述Z轴气缸固定于与基板相平行的气缸固定板,所述气缸固定板的一面通过Z轴滑轨与基板相连、另一面与X轴滑动座相连并通过X轴滑轨与第二连接板相连,所述Z轴气缸的气缸杆与基板的顶面相连驱动基板做Z轴方向移动;
所述X轴滑动座套装于X轴驱动杆,所述X轴伺服电机安装于第二连接板并通过第一皮带驱动X轴驱动杆,所述X轴滑轨平行分布在X轴驱动杆的两侧,所述第二连接板与基板相平行,第二连接板的顶端连接于第一连接板的底面而形成L型;
所述Y轴滑动座套装于Y轴驱动杆,所述第一连接板的顶面与Y轴滑动座相连并分布在Y轴滑动座的正下方,所述第一连接板的顶面通过Y轴滑轨与固定安装板相连,所述Y轴滑轨平行分布在Y轴驱动杆的两侧,所述Y轴伺服电机安装于固定安装板并通过第二皮带驱动Y轴驱动杆。
8.根据权利要求1所述的键盘电性和过灵敏测试机,其特征在于:还包括机架,所述机架包括工作台和支撑工作台用的支撑架;所述键盘放置装置设置于工作台,所述驱动装置通过基座安装于工作台。
9.根据权利要求8所述的键盘电性和过灵敏测试机,其特征在于:还包括贯穿支撑架的输送带,用于承载待测试键盘。
10.根据权利要求8所述的键盘电性和过灵敏测试机,其特征在于:还包括均设于工作台上的测试按钮、电控箱、显示屏和指示灯,所述测试按钮、显示屏和指示灯均与电控箱相连。
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