CN204881375U - 一种感栅位移传感器调校装置 - Google Patents

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韦俊彦
朱展飞
罗远略
熊文清
鲍家定
高鹏
唐亮
唐一瑞
唐焱
刘华杰
詹帆
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Abstract

本实用新型公开的一种感栅位移传感器调校装置,包括底座和设置在底座上的尺框固定座、主尺、尺套、滑台、精密直线导轨及螺旋测微器,尺框固定座与尺框或传感器动栅安装机构连接,传感器动栅安装在尺框内,传感器定栅粘贴在主尺的凹槽内,主尺穿过尺框,设置在尺框固定座内,其一端与尺套连接,滑台设置在直线导轨上,并沿直线导轨滑动,螺旋测微器设置在滑台上。利用夹紧机构将待检测感栅位移传感器的定栅固定,通过螺旋千分尺转动时的推力来调节位移传感器的动栅,千分尺沿直线轴承进行分段移动,从而可检测不同长度的定栅。可利用本装置对不同规格、量程的感栅位移传感器进行调试和校准。

Description

一种感栅位移传感器调校装置
技术领域
本实用新型涉及为量具量仪生产检测领域,具体是一种感栅位移传感器调校装置。
背景技术
感栅位移传感器是新型数显卡尺的核心技术,由于数显卡尺读数方便快捷,近年来得到大力的发展,目前卡尺主要使用容栅作为传感检测部件。然而,容栅位移传感器在使用过程中对空气湿度、传感器表面有油污或者水滴等较为敏感,不能很好的适应于工业场合,因此在工业上每年很好的应用。近年来在位移检测领域发展起来的感栅位移传感器由于采用电感方式工作,对空气中的湿度、油污及水滴等不敏感,因而具有很好的发展潜力。在感栅位移传感器的研发及制造感栅的线圈和反射体时,由于制造工艺问题使得制造尺寸与设计尺寸会有细微的误差,使得传感器产生测量误差,因此在研究和生产时需要对每一个传感器进行调试和校验。
目前对位移传感器调校常使用固定长度的量块进行检查,但此方法只能检验传感器在固定长度的准确度,不能对量程范围内的所有长度值进行连续的检验。因此需要一个高效和高精度的调校装置。
实用新型内容
本实用新型的目的是为克服现有技术的不足,而提供一种测量精度高,可对不同规格、量程的感栅位移传感器进行调试和校准的调校装置。
实现本实用新型目的的技术方案是:
一种感栅位移传感器调校装置,包括底座和设置在底座上的尺框固定座、主尺、尺套、滑台、直线导轨及螺旋测微器,尺框固定座与尺框或传感器动栅安装机构连接,传感器定栅粘贴在主尺的凹槽内,主尺穿过尺框,设置在尺框固定座内,其一端与尺套连接,滑台设置在直线导轨上,并沿直线导轨滑动,螺旋测微器设置在滑台上。
所述螺旋测微器的轴线与直线导轨平行,且与主尺中心线重合。
所述尺套端头为圆柱形,并设置有磁钢,通过磁力与螺旋测微器的测量头吸在一起。
所述尺框与尺框固定座之间通过调节螺栓固定夹紧。
所述滑台通过蝶形螺母固定其位置。
本实用新型的工作原理是:一般使用的数显游标卡尺的精度为0.01,而螺旋测微器的精度为0.001,所以可利用高一个精度等级的千分尺对用来制作数显卡尺的感栅位移传感器进行调试和校验。检测时旋转螺旋测微器的旋钮推动数显卡尺的主尺产生位移,对比螺旋测微器和数显卡尺的示数即可检验数显卡尺的误差,然后根据误差情况对定栅安装位置或通过程序对定栅检测程序的参数进行调节。
本实用新型的优点是:结构简单,测量精度高,可对不同规格、量程的感栅位移传感器进行调试和校准,在传感器的调试和校准过程中可以连续测量,避免了使用固定长度量块的不足,保证传感器的测量精度。便于对传感器进行大批量的调试和安装,减少安装调试时间。当游标卡尺使用时间较长,由于尺身模式等引起测量误差大时也可以通过本装置来进行调节和校准以保证卡尺的测量精度。
附图说明
图1为本实用新型的结构示意图;
图2为图1的俯视图。
图中:1.底座2.尺框固定座3.滑台4.蝶形螺栓5.动栅6.精密直线导轨7.蝶形螺母8.尺套9.螺旋测微器10.螺钉11.尺框或动栅安装座12.定栅13.主尺。
具体实施方式
如图1-2所示,本实用新型一种感栅位移传感器调校装置,由底座1,尺框固定座2,滑台3,蝶形螺栓4,动栅5,精密直线导轨6,蝶形螺母7,尺套8,螺旋测微器9,螺钉10,尺框或动栅安装座11,定栅12和主尺13组成,传感器定栅12粘贴在主尺13的凹槽内,尺框固定座2将卡尺尺框或者传感器的动栅安装机构5固定在尺框固定座2里面,如果尺框11与尺框固定座2之间有间歇,可通过调节碟形螺栓4将其夹紧,传感器的动栅5通过螺钉固定到尺框或动栅安装机构11上,利用夹紧装置对待测感栅位移传感器的动栅5固定,游标卡尺的主尺13穿过尺框11,与尺套8连接,精密直线导轨6固定在底座1上,滑台3可沿直线导轨6滑动,螺旋测微器9通过螺钉10固定在滑台3上,螺旋测微器9的轴线与直线导轨6平行,且与主尺13中心线重合。尺套8的圆柱端为磁钢,可通过磁力与螺旋测微器9的测量头吸在一起。
使用前,先将尺框11通过蝶形螺栓4固定在尺框固定座2上,将待检测传感器的动栅通过螺钉固定在尺框上,将主尺13穿过尺框11,然后移动滑台3,将尺套8套进主尺13的末端,利用蝶形螺母7对滑台的位置进行固定。
使用时,旋转螺旋测微器9的旋钮,推动数显卡尺的主尺向前滑动,螺旋测微器9沿直线导轨进行进行轴向移动,并通过夹紧装置固定其位置,实现分段进给测量来弥补螺旋测微器9测量量程短的不足,利用螺旋测微器9的测量杆的轴向推力推动感栅位移的定栅,使得动栅与定栅之间形成相对运动,进而产生示数,分别读出螺旋测微器9旋转前后的千分尺示数和传感器的示数,计算其差,对比两个示数差,通过调整传感器的测量程序的参数和动栅的位置,直到测量示数一致。
通常,千分尺量程为25mm,而通常使用的数显卡尺量程为150mm,200mm等,为解决此问题,在检测完25mm范围内的传感器定栅后,让千分尺回到零点,重新移动后夹具到25mm处接着测量,从而实现在数显卡尺量程范围内连续检测。

Claims (5)

1.一种感栅位移传感器调校装置,其特征是:包括底座和设置在底座上的尺框固定座、主尺、尺套、滑台、直线导轨及螺旋测微器,尺框固定座与尺框或传感器动栅安装机构连接,传感器定栅粘贴在主尺的凹槽内,主尺穿过尺框,设置在尺框固定座内,其一端与尺套连接,滑台设置在直线导轨上,并沿直线导轨滑动,螺旋测微器设置在滑台上。
2.根据权利要求1所述的感栅位移传感器调校装置,其特征是:所述螺旋测微器的轴线与直线导轨平行,且与主尺中心线重合。
3.根据权利要求1所述的感栅位移传感器调校装置,其特征是:所述尺套端头为圆柱形,并设置有磁钢,通过磁力与螺旋测微器的测量头吸在一起。
4.根据权利要求1所述的感栅位移传感器调校装置,其特征是:所述尺框与尺框固定座之间通过调节螺栓固定夹紧。
5.根据权利要求1所述的感栅位移传感器调校装置,其特征是:所述滑台通过蝶形螺母固定其位置。
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