CN204575815U - 时间继电器时间参数测试装置 - Google Patents

Abstract

时间继电器时间参数测试装置。传统的检测手段则对检验测试人员的要求较高，而在检测和记录中难免会出现误差，影响到对被检测的正确判断。本实用新型组成包括：微处理器（1），所述的微处理器分别与模拟通道开关（2）、随机存储器（3）、输出电路（4）、故障指示灯（5）、键盘数据输入电路（6）、RS232通讯接口（7）、译码器（8）连接，所述的输出电路与被测产品电源（9）连接，所述的被测产品电源与专用测试台（10）连接，所述的专用测试台与被测延时继电器（11）连接，所述的被测延时继电器的闭合动合触点与所述的模拟通道开关连接，所述的RS232通讯接口分别与打印接口（12）、显示电路（13）连接。本实用新型用于时间继电器时间参数测试。

Description

时间继电器时间参数测试装置

技术领域：

本实用新型涉及一种时间继电器时间参数测试装置。

背景技术：

时间继电器是一种时间控制元件，具有延时精度高、范围宽、使用寿命长、调整方便和直观；另外还具有体积小、重量轻、结构紧凑等优点。从功能种类上分：有通电延时型、接通延时型、断电延时型、断开延时型、间隔延时型、往复延时型、累计延时型、多路延时型、星-角起动延时型和多功能延时型等。而涉及到时间继电器具体所需检验的延时参数：如延时重复误差Er、整定误差Eset、电压波动误差Ev、温度误差Et、综合误差Ec等在实际测试时操作烦琐，其中Er(重复误差)、Eset(整定误差)、Ev(电压波动误差)是判断时间继电器延时性能的重要依据，而上述参数在检验人员进行检测时就必须逐个在专用的时间继电器测试台上与高出被测产品一定精度的时间计时仪进行同步启动，将其被测产品设定显示值与其高精度计时仪测试显示值相比对，以时间计时仪所显示的时间为准确的延时参数，并且还需对每次所测量的参数进行记录，待所测次数达到规定后，再根据相应的误差公式对其数据进行运算处理。对其结果与规定的允许误差值比较，最终判定被测产品某项误差指标是否达到规定要求。

传统的检测方法对检验测试人员的要求较高，相应的工作强度及数据处理工作量也很大，而在检测和记录中难免会出现人为的差错，从而影响到对被测产品的正确判断。基于上述考虑，用单片机和相应外围检测系统将时间继电器延时参数数据进行检测并储存保留，待所规定的检测次数完成后，通过对其存储的记录数据进行处理，对处理后的延时误差值与被测产品允许的延时误差相比较来判定产品延时误差是否符合要求，并将其最终结果传输到微机存储器中保存并且打印出来。通过单片机对检测过程进行自动化控制，可以大大降低检验人员的工作强度，对产品的检测也更加科学，更加规范，更加客观，相应的延时误差及延时参数也醒目直观，在很大程度上保证了产品的检测准确度。

发明内容：

本实用新型的目的是提供一种时间继电器时间参数测试装置。

上述的目的通过以下的技术方案实现：

一种时间继电器时间参数测试装置，其组成包括：微处理器，所述的微处理器分别与模拟通道开关、随机存储器、输出电路、故障指示灯、键盘数据输入电路、RS232通讯接口、译码器连接，所述的输出电路与被测产品电源连接，所述的被测产品电源与专用测试台连接，所述的专用测试台与被测延时继电器连接，所述的被测延时继电器的动合触点与所述的模拟通道开关连接，所述的RS232通讯接口分别与打印接口、显示电路连接。

所述的时间继电器时间参数测试装置，所述的译码器与所述的随机存储器连接。

所述的时间继电器时间参数测试装置，所述的微处理器为AVRAT90S4414单片机。

有益效果：

本实用新型对时间继电器延时参数的检测有很强的适用性，它不仅大大简化了相应的检测操作，也为检测数据的准确、可靠提供了保证，所以自动化的检测技术在时间继电器延时参数检测方面会越来越体现出其优越性。

本实用新型在测试过程中，被测产品的延时参数数据的检测是通过对被测产品动合触点的延时闭合信号来进行监测，而被测产品的工作电源连接到被检测时间继电器驱动线圈 (一般都为批次检测，且属电感性负载），所以对被测产品的时间延时参数测量是与被测产品工作电源的启动同步进行。待被测产品的延时参数数据测量、存储完成后，执行相应的程序对其被测产品进行逐一检测确定，然后将被测产品工作电源关断且延长一定时间后，再进行下一次延时参数检测(工作电源重新加入循环进行)，直到所确定的检测次数完成后，对所存储的数据进行处理（将每只被测产品的延时参数数据从大到小进行排列，选出数据中的最大值tmax，以及最小值tmin。对其进行算术平均值计算），得到其延时参数的重复误差 。

附图说明：

附图1是本实用新型的结构示意图。

附图2是附图1的模拟通道开关的电路图。

附图3是附图1中RS232通讯接口的电路图。

具体实施方式：

实施例1：

一种时间继电器时间参数测试装置，其组成包括：微处理器1，所述的微处理器分别与模拟通道开关2、随机存储器3、输出电路4、故障指示灯5、键盘数据输入电路6、RS232通讯接口7、译码器8连接，所述的输出电路与被测产品电源9连接，所述的被测产品电源与专用测试台10连接，所述的专用测试台与被测延时继电器11连接，所述的被测延时继电器的动合触点与所述的模拟通道开关连接，所述的RS232通讯接口分别与打印接口12、显示电路13连接。

实施例2：

根据实施例1所述的时间继电器时间参数测试装置，所述的译码器与随机存储器连接。

实施例3：

根据实施例1或2所述的时间继电器时间参数测试装置，所述的微处理器为AVRAT90S4414单片机。

Claims (3)

1.一种时间继电器时间参数测试装置，其组成包括：微处理器，其特征是：所述的微处理器分别与模拟通道开关、随机存储器、输出电路、故障指示灯、键盘数据输入电路、RS232通讯接口、译码器连接，所述的输出电路与被测产品电源连接，所述的被测产品电源与专用测试台连接，所述的专用测试台与被测延时继电器连接，所述的被测延时继电器的闭合动合触点与所述的模拟通道开关连接，所述的RS232通讯接口分别与打印接口、显示电路连接。

2.根据权利要求1所述的时间继电器时间参数测试装置，其特征是：所述的译码器与所述的随机存储器连接。

3.根据权利要求1或2所述的时间继电器时间参数测试装置，其特征是：所述的微处理器为AVRAT90S4414单片机。