CN104215858A - 恒温晶体振荡器温度稳定性自动测试系统及测试方法 - Google Patents

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CN104215858A CN201410482663.1A CN201410482663A CN104215858A CN 104215858 A CN104215858 A CN 104215858A CN 201410482663 A CN201410482663 A CN 201410482663A CN 104215858 A CN104215858 A CN 104215858A
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沈琦
金鑫
王后峰
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Abstract

本发明涉及的是一种恒温晶体振荡器温度稳定性自动测试系统及测试方法,其结构包括安装计算机1、GPIB卡2、电源3、频率计4、I/O卡5、背板PCB线路6、RS232串口7、高低温交变试验箱8、测试卡9、被测件10。本发明的优点:1)由于人工测量可能由于疏忽发生漏测的现象,本系统可杜绝人工测量的疏漏;2)不必有专人负责测试,节省了人力、提高了效率、降低了成本、提高了市场竞争力。

Description

恒温晶体振荡器温度稳定性自动测试系统及测试方法
技术领域
本发明涉及的是一种能够提高恒温晶体温度稳定性测试效率和准确性的恒温晶体振荡器温度稳定性自动测试系统及测试方法,属于电子产品生产阶
段软件测试设备技术领域。
背景技术
恒温晶体振荡器属于高精度电子元件,温度稳定性数据在恒温晶体振荡器众多参数中较为重要。需要在不同的温度点测试恒温晶振的频率,用以计算恒温晶体振荡器频率随外界温度变化而的偏移量。在恒温晶体振荡器生产流程的温度稳定性测试时,传统的人工测试方式效率低下且不可避免的带来人工测试的误差即错误。某些错误甚至可能导致产品的测量数据报废,必须重新开始测量周期。
发明内容
 本发明提出的是一种恒温晶体振荡器温度稳定性自动测试系统及测试方法,其目的就是克服现有技术的不足,具有效率高、大幅度避免误差及错误等特点。
本发明的技术解决方案:恒温晶体振荡器温度稳定性自动测试系统,其结构包括计算机GPIB卡电源频率计I/O卡背板PCB线路RS232串口、高低温交变试验箱、测试卡被测件其中计算机的第一信号输出/输入端与GPIB卡的第一信号输入/输出端对应相接,计算机的第二信号输出/输入端与I/O卡的第一信号输入/输出端对应相接,计算机的第三信号输出/输入端与RS232串口的第一信号输入/输出端对应相接;GPIB卡的第二信号输入/输出端与频率计的信号输出/输入端对应相接,I/O卡的第二信号输入/输出端与背板PCB线路的第一信号输出/输入端对应相接,背板PCB线路的第二信号输出/输入端与测试卡的第一信号输入/输出端对应相接,测试卡的第二信号输入/输出端与被测件的第一信号输出/输入端对应相接;RS232串口的第二信号输入/输出端与高低温交变试验箱的第一信号输出/输入端对应相接,高低温交变试验箱的第二信号输出/输入端与测试卡的第三信号输入/输出端对应相接;被测件的信号输出端与频率计的信号输入端对应相接;电源的电源输出端分别与GPIB卡、被测件的电源输入端对应相接。
 本发明的优点:
1)由于人工定点测量可能由于疏忽发生漏测等现象,同时人工读数必然带有其操作人员的个人习惯,带来测量误差。本系统可大幅度减小人工测量带来的误差和错误;
2)不必有专人负责测试,节省了人力、提高了效率、降低了成本、提高了市场竞争力。
附图说明
图1是恒温晶体振荡器温度稳定性自动测试系统结构框图。
图2是恒温晶体振荡器温度稳定性自动测试系统的软件工作框图。
图中的1是计算机、2是GPIB卡、3是电源、4是频率计、5是I/O卡、6是背板PCB线路、7是RS232串口、8是高低温交变试验箱、9是测试卡10是被测件、11是操作界面、12是硬件控制模块、13是位置选择模块、14是计算模块、15是数据库读写模块。
具体实施方式
对照图1,恒温晶体振荡器温度稳定性自动测试系统,其结构包括计算机1GPIB卡2电源3频率计4I/O卡5背板PCB线路6RS232串口7、高低温交变试验箱8、测试卡9被测件10其中计算机1的第一信号输出/输入端与GPIB卡2的第一信号输入/输出端对应相接,计算机1的第二信号输出/输入端与I/O卡5的第一信号输入/输出端对应相接,计算机1的第三信号输出/输入端与RS232串口7的第一信号输入/输出端对应相接;GPIB卡2的第二信号输入/输出端与频率计4的信号输出/输入端对应相接,I/O卡5的第二信号输入/输出端与背板PCB线路6的第一信号输出/输入端对应相接,背板PCB线路6的第二信号输出/输入端与测试卡9的第一信号输入/输出端对应相接,测试卡9的第二信号输入/输出端与被测件10的第一信号输出/输入端对应相接;RS232串口7的第二信号输入/输出端与高低温交变试验箱8的第一信号输出/输入端对应相接,高低温交变试验箱8的第二信号输出/输入端与测试卡9的第三信号输入/输出端对应相接;被测件10的信号输出端与频率计4的信号输入端对应相接;电源3的电源输出端分别与GPIB卡2、被测件10的电源输入端对应相接。
所述的电源3用于给测试卡9和被测件10提供电压,频率计4用于测试被测件10的频率,I/O卡5用于背板PCB线路6与计算机1之间的通信,背板PCB线路6用于实现系统中测试卡9位置选择、分频等功能,测试卡9用于装载被测件。操作界面11用于输入设定的参数值,硬件控制模块12用于将操作界面11中设定的参数通信到相应硬件中,位置选择模块13用于选择被测件10的行、列和序号,让系统按序测量被测件10,计算模块14用于拟合计算老化值并绘制图表,数据库读写模块15用于将原始数据和计算后的数值及图表存储到相应位置,并能随时被调用。
恒温晶体振荡器温度稳定性自动测试方法,包括,在正常运行前,将电源和频率计使用GPIB卡与计算机(研华610L)相连,被测件良好插在测试卡上,测试通过金手指插槽与背板PCB线路相连,背板PCB线路通过I/O卡与计算机相连;将背板PCB线路、测试卡和被测件安置在高低温交变试验箱里,电源、计算机、频率计安置在机架上。
正常运行时,操作员在操作界面11中输入电源电压、限制电流、频率计门时间、测试温度点等参数。点击开始键,系统运行。硬件控制模块12将操作界面11设置的参数通过GPIB卡2通信到电源3和频率计4中,初始化并控制硬件。当高低温交变试验箱内温度达到设定的温度点,位置选择模块13开始工作,通过I/O卡5从预先设定的行、列、序号位置的被测件10开始,在频率计4采集完数据之后,自行跳至下一位置,有序测量。频率计4采集的数据通过GPIB卡2传输到计算机1中。直至采集完最后一颗被测件8,停止采集数据。计算模块14开始工作,将原始数据拟合计算,计算出不同温度点产品的频偏量,并绘制出图形。数据库读写模块15开始工作,将原始数据、计算获得的温频数据存储到相应路径,并能被随时调用。

Claims (2)

1.恒温晶体振荡器温度稳定性自动测试系统,其特征是包括计算机GPIB卡电源频率计I/O卡背板PCB线路RS232串口、高低温交变试验箱、测试卡被测件其中计算机的第一信号输出/输入端与GPIB卡的第一信号输入/输出端对应相接,计算机的第二信号输出/输入端与I/O卡的第一信号输入/输出端对应相接,计算机的第三信号输出/输入端与RS232串口的第一信号输入/输出端对应相接;GPIB卡的第二信号输入/输出端与频率计的信号输出/输入端对应相接,I/O卡的第二信号输入/输出端与背板PCB线路的第一信号输出/输入端对应相接,背板PCB线路的第二信号输出/输入端与测试卡的第一信号输入/输出端对应相接,测试卡的第二信号输入/输出端与被测件的第一信号输出/输入端对应相接;RS232串口的第二信号输入/输出端与高低温交变试验箱的第一信号输出/输入端对应相接,高低温交变试验箱的第二信号输出/输入端与测试卡的第三信号输入/输出端对应相接;被测件的信号输出端与频率计的信号输入端对应相接;电源的电源输出端分别与GPIB卡、被测件的电源输入端对应相接。
2.如权利要求1的恒温晶体振荡器温度稳定性自动测试系统的测试方法,其特征是包括,在正常运行前,将电源和频率计使用GPIB卡与计算机相连,被测件良好插在测试卡上,测试通过金手指插槽与背板PCB线路相连,背板PCB线路通过I/O卡与计算机相连;将背板PCB线路、测试卡和被测件安置在高低温交变试验箱里,电源、计算机、频率计安置在机架上;
正常运行时,操作员在操作界面中输入电源电压、限制电流、频率计门时间、测试温度点参数,点击开始键,系统运行;硬件控制模块将操作界面设置的参数通过GPIB卡传输到电源和频率计中,初始化并控制硬件;当高低温交变试验箱内温度达到设定的温度点,位置选择模块开始工作,通过I/O卡从预先设定的行、列、序号位置的被测件开始,在频率计采集完数据之后,自行跳至下一位置,有序测量;频率计采集的数据通过GPIB卡传输到计算机中;直至采集完最后一颗被测件,停止采集数据;计算模块开始工作,将原始数据拟合计算,计算出不同温度点产品的频偏量,并绘制出图形;数据库读写模块开始工作,将原始数据、计算获得的温频数据存储到相应路径,并能被随时调用。
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