CN204495942U - 电子芯片管脚测试仪 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开一种电子芯片管脚测试仪，包括：稳压电路，用于将220V交流电转化成5V直流电，为后续电路提供供电电压；测试电路，与所述稳压相连，用于实现对芯片管脚的测试功能。其中所述测试电路包括偶数条测试支路，对称分布在被测芯片的管脚两侧，每条测试支路与被测芯片的一个管脚相连，所述测试支路包括：三相开关，一端与芯片的一个待测试管脚相连，另一端选择性地连接5V电源、接地或者悬空；发光二极管，一端与所述待测试管脚相连，另一端连接一接地电阻。本实用新型能够快速检测芯片管脚是否正常，有利于减轻教师的测试工作量，提高学生的自主学习能力。

Description

电子芯片管脚测试仪

技术领域

本实用新型涉及电子元件测试技术领域，特别涉及一种能够快速测试芯片管脚的电子芯片管脚测试仪。

背景技术

电子技术与人们的日常生活生产密切相关，是工科专业学生必须具备的岗位基本能力，是学生后续课程学习的必备基础。数字电子技术是一门理论和实践结合很强的课程，例如：基本逻辑门电路的测试、组合逻辑电路的设计与制作、计数器的应用、寄存器的应用等等实训内容都是学生必须掌握的基本技能。例如，某高等职业院校的电子实训室，每学期该实训室承担450学时左右，需要用到大量的芯片，各种芯片的消耗量巨大，经常一节课下来，10多个芯片被损坏。因此课前测量芯片好坏的工作非常繁琐，给老师带来的很大的工作量。

目前国内外的数字电子实验装置很多，主要有亚龙、天煌等教学实训台。教学上数字电子套实验台较多，数字电子芯片都是插接在电路板上的，无法判断芯片功能是否正常，影响实验实训的正常进行。而当需要检测芯片管脚的好坏时，只能通过繁琐的导线连接，非常费时费力且容易出错。

发明内容

本实用新型的目的是解决目前高等院校实验室中电子元器件多、测试工作量大、难以管理的问题，提供一种能够快速测试芯片管脚质量的技术方案。

为达上述目的，本实用新型提出了一种电子芯片管脚测试仪，包括：

稳压电路，用于将220V交流电转化成5V直流电，为后续电路提供供电电压；

测试电路，与所述稳压相连，用于实现对芯片管脚的测试功能。

根据本实用新型提出的电子芯片管脚测试仪，其中，所述测试电路包括偶数条测试支路，对称分布在被测芯片的管脚两侧，每条测试支路与被测芯片的一个管脚相连，所述测试支路包括：

三相开关，一端与芯片的一个待测试管脚相连，另一端选择性地连接5V电源、接地或者悬空；

发光二极管，一端与所述待测试管脚相连，另一端连接一接地电阻。

根据本实用新型提出的电子芯片管脚测试仪，其中，当所述三相开关连接5V电源时，被测管脚输入高电平；当所述三相开关接地时，被测管脚输入低电平；当所述三相开关悬空时，被测管脚输出高电平或者低电平。

根据本实用新型提出的电子芯片管脚测试仪，其中，当所述被测管脚的输出为高电平时，所述发光二极管导通灯亮；当所述被测管脚的输出为低电平时，所述发光二极管截止。

根据本实用新型提出的电子芯片管脚测试仪，其中，还包括脉冲电路，和所述测试电路相连，用于向所述测试电路提供脉冲信号。

根据本实用新型提出的电子芯片管脚测试仪，其中，所述脉冲电路是由555芯片构成的振荡电路。

根据本实用新型提出的电子芯片管脚测试仪，其中，所述测试电路包括16条测试支路。

与现有技术相比，本实用新型提供的电子芯片管脚测试仪测试方法简单快速，能够大大减轻教师的测试工作量；同时可提高学生的自主学习能力及爱惜数字芯片的意识，增强师生的自主创新能力。

附图说明

图1为本实用新型的电子芯片管脚测试仪的逻辑框图；

图2为本实用新型的电子芯片管脚测试仪中测试电路的电路图。

具体实施方式

以下结合附图，就本实用新型上述的和另外的技术特征和优点做进一步地说明。

请参阅图1，为本实用新型的电子芯片管脚测试仪的逻辑框图。图1中本实用新型主要包括稳压电路、脉冲电路和测试电路三部分，其中稳压电路为交流/直流转换电路，用于将220V交流电转化成5V直流电，为测试电路提供供电电压；脉冲电路为可选电路，只在被测芯片需要时序脉冲时与测试电路相连，具体的可采用由555芯片构成的振荡电路；当被测芯片不需外加脉冲信号时(如简单的逻辑门电路芯片)可去除该脉冲电路；测试电路为本实用新型的主体，用于对电子芯片的引脚功能进行测试。

继续参阅图2，为本实用新型的电子芯片管脚测试仪中测试电路的电路图。在图2所示的实施例中，本实用新型的测试电路总共包括16条测试支路，对称地分布在被测芯片的两侧，分别与被测芯片的各个管脚相连。其中每条测试支路包括相并联的三相开关和发光二极管，三相开关用于将被测芯片的管脚置于不同状态，发光二极管用于显示被测管脚的电平状态。具体的，三相开关包括连接5V电压、接地和悬空三种连接方式，分别对应相关管脚的高电平、低电平和待测三种状态。其中当相关管脚作为输出端进行测试时，与之相连的三相开关为悬空状态，通过观察发光二极管的发光情况来明确该管脚的输出状态，从而判断管脚是否能够正常工作。例如，当发光二极管导通灯亮时，证明该被测管脚的输出为高电平；当发光二极管截止不发光时，证明该被测管脚的输出为低电平时。由此可判断出电子芯片的管脚功能是否受损。

综上所述，本实用新型提出的电子芯片管脚测试仪可测试包括8、14、16管脚的所有芯片各个管脚是否正常工作。本实用新型测试方法简单，一方面可大大减轻教师在课下的测试负担，另一方面可使学生根据芯片的管脚功能表独立测试芯片好坏，培养学生爱惜数字电子芯片的意识，减少芯片损耗，节约耗材成本。

以上说明对本实用新型而言只是说明性的，而非限制性的，本领域普通技术人员理解，在不脱离本实用新型所附权利要求所限定的精神和范围的情况下，可做出许多修改，变化，或等效，但都将落入本实用新型的保护范围内。

Claims (6)

1.一种电子芯片管脚测试仪，其特征在于，包括：

稳压电路，用于将220V交流电转化成5V直流电，为后续电路提供供电电压；

测试电路，与所述稳压电路相连，用于实现对芯片管脚的测试功能；

其中，所述测试电路包括偶数条测试支路，对称分布在被测芯片的管脚两侧，每条测试支路与被测芯片的一个管脚相连，所述测试支路包括：

三相开关，一端与芯片的一个待测试管脚相连，另一端选择性地连接5V电源、接地或者悬空；

发光二极管，一端与所述待测试管脚相连，另一端连接一接地电阻。

2.根据权利要求1所述的电子芯片管脚测试仪，其特征在于，当所述三相开关连接5V电源时，被测管脚输入高电平；当所述三相开关接地时，被测管脚输入低电平；当所述三相开关悬空时，被测管脚输出高电平或者低电平。

3.根据权利要求2所述的电子芯片管脚测试仪，其特征在于，当所述被测管脚的输出为高电平时，所述发光二极管导通灯亮；当所述被测管脚的输出为低电平时，所述发光二极管截止。

4.根据权利要求1所述的电子芯片管脚测试仪，其特征在于，还包括脉冲电路，和所述测试电路相连，用于向所述测试电路提供脉冲信号。

5.根据权利要求4所述的电子芯片管脚测试仪，其特征在于，所述脉冲电路是由555芯片构成的振荡电路。

6.根据权利要求1所述的电子芯片管脚测试仪，其特征在于，所述测试电路包括16条测试支路。