CN204256724U - 一种服务器内存测试设备 - Google Patents

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CN204256724U CN201420783847.7U CN201420783847U CN204256724U CN 204256724 U CN204256724 U CN 204256724U CN 201420783847 U CN201420783847 U CN 201420783847U CN 204256724 U CN204256724 U CN 204256724U
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Inventor
沈泽斌
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Hitech Semiconductor Wuxi Co Ltd
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Hitech Semiconductor Wuxi Co Ltd
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Abstract

本实用新型提供一种服务器内存测试设备,包括:多个测试单元,每个测试单元包括多块测试板,其中,每个所述测试板均设有分别用于插设待测试内存的三条内存插槽;每个测试单元,对应连接至少一个电压及温度控制显示单元,所述电压及温度控制显示单元包括设置于所对应测试单元的温度传感器及电压检测器;电源,通过通电线路经由电源主开关及电源分开关连接至所述各测试单元及电压及温度控制显示单元;通过三通道技术及用三根内存组成一个存储阵列,大幅提高内存带宽,测试方便。

Description

一种服务器内存测试设备
技术领域
本实用新型涉及半导体制造技术领域,特别是涉及一种服务器内存测试设备。
背景技术
现有的内存测试系统大部分适用于笔记本和台式机内存的测试,但对服务器内存的测试系统并不多见。
发明内容
鉴于以上所述现有技术的缺点,本实用新型的目的在于提供一种服务器内存测试设备,解决上述现有技术中服务器内存测试系统缺乏的问题。
为实现上述目标及其他相关目标,本实用新型提供一种服务器内存测试设备,包括:多个测试单元,每个测试单元包括多块测试板,其中,每个所述测试板均设有分别用于插设待测试内存的三条内存插槽;每个测试单元,对应连接至少一个电压及温度控制显示单元,所述电压及温度控制显示单元包括设置于所对应测试单元的温度传感器及电压检测器;电源,通过通电线路经由电源主开关及电源分开关连接至所述各测试单元及电压及温度控制显示单元。
可选的,所述服务器内存测试设备还包括:连接于每个测试单元的故障参数采集模块。
如上所述,本实用新型提供一种服务器内存测试设备,包括:多个测试单元,每个测试单元包括多块测试板,其中,每个所述测试板均设有分别用于插设待测试内存的三条内存插槽;每个测试单元,对应连接至少一个电压及温度控制显示单元,所述电压及温度控制显示单元包括设置于所对应测试单元的温度传感器及电压检测器;电源,通过通电线路经由电源主开关及电源分开关连接至所述各测试单元及电压及温度控制显示单元;通过三通道技术及用三根内存组成一个存储阵列,大幅提高内存带宽,测试方便。
附图说明
图1显示为本实用新型的服务器内存测试设备的结构示意图。
元件标号说明
1-   测试单元;
11- 测试板;
2-   电压及温度控制显示单元;
3-   电源主开关;
4-   电源分开关。
具体实施方式
以下通过特定的具体实例说明本实用新型的实施方式,本领域技术人员可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本实用新型的其他优点与功效。本实用新型还可以通过另外不同的具体实施方式加以实施或应用,本说明书中的各项细节也可以基于不同观点与应用,在没有背离本实用新型的精神下进行各种修饰或改变。需说明的是,在不冲突的情况下,本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
如图1所示,本实用新型提供一种服务器内存测试设备,包括:多个测试单元1,每个测试单元1包括多块测试板11,其中,每个所述测试板11均设有分别用于插设待测试内存的三条内存插槽;每个测试单元1,对应连接至少一个电压及温度控制显示单元2,所述电压及温度控制显示单元2包括设置于所对应测试单元1的温度传感器及电压检测器;电源,通过通电线路经由电源主开关3及电源分开关4连接至所述各测试单元1及电压及温度控制显示单元2。
具体的,每个测试单元1可以用于测试单条RDIMM 4GB~32GB不同容量的服务器内存。通过三通道技术及用三根内存组成一个存储阵列,大幅提高内存带宽,采用三通道技术内存带宽提高至PC3-14900MB每秒,最高测试容量达到32GB X 3 = 96GB的容量;其中,所述服务器内存RDIMM(Registered Dual In-line Memory Module),是带寄存器的服务器内存模块。地址和控制信号经过Reg寄存后输出到DRAM芯片,控制器输出的时钟信号经过RCD后到达各DRAM芯片。寄存器地址、控制信号、时钟进行数据纠错,大大提高数据准确性。
再者,通过加装了高低温控制机制及电压控制机制,能够模拟服务器内存在极限环境中的工作状态,通过传感器检测温度或电压来调节,此类控制为常用现有技术故不做赘述,本实用新型仅是利用了该现有技术;另外,还可通过不同测试模式的电压控制电路的自动变化,例如实现电压自动跳变功能,使测试电压在1.28V~1.58V之间变换,确保产品在各种极限电压下工作的稳定性。
在一实施例中,所述服务器内存测试设备还包括:连接于每个测试单元1的故障参数采集模块,所述故障参数采集模块可由电路实现,收集故障时测试单元1输出的电压或电流等信号。
综上所述,本实用新型提供一种服务器内存测试设备,包括:多个测试单元,每个测试单元包括多块测试板,其中,每个所述测试板均设有分别用于插设待测试内存的三条内存插槽;每个测试单元,对应连接至少一个电压及温度控制显示单元,所述电压及温度控制显示单元包括设置于所对应测试单元的温度传感器及电压检测器;电源,通过通电线路经由电源主开关及电源分开关连接至所述各测试单元及电压及温度控制显示单元;通过三通道技术及用三根内存组成一个存储阵列,大幅提高内存带宽,测试方便。上述实施例仅例示性说明本实用新型的原理及其功效,而非用于限制本实用新型。任何熟悉此技术的人士皆可在不违背本实用新型的精神及范畴下,对上述实施例进行修饰或改变。因此,举凡所属技术领域中具有通常知识者在未脱离本实用新型所揭示的精神与技术思想下所完成的一切等效修饰或改变,仍应由本实用新型的权利要求所涵盖。

Claims (3)

1.一种服务器内存测试设备,其特征在于,包括:
多个测试单元,每个测试单元包括多块测试板,其中,每个所述测试板均设有分别用于插设待测试内存的三条内存插槽;
每个测试单元,对应连接至少一个电压及温度控制显示单元,所述电压及温度控制显示单元包括设置于所对应测试单元的温度传感器及电压检测器;
电源,通过通电线路经由电源主开关及电源分开关连接至所述各测试单元及电压及温度控制显示单元。
2.根据权利要求1所述的服务器内存测试设备,所述电压及温度控制显示单元还包括显示器。
3.根据权利要求1所述的服务器内存测试设备,还包括连接于每个测试单元的故障参数采集模块。
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