CN204102576U - 芯片测试装置 - Google Patents

Abstract

一种芯片测试装置，用于测试芯片，该测试装置包括一固定架、一主板、一按压组件及一测试治具，固定架包括一立板、两调节件、连接于该两调节件并用于支撑测试治具的一支撑板及一滑动组件，滑动组件包括一第一滑动件及一第二滑动件，该按压组件包括两气缸及两按压部，按压部设有按压芯片的压块，主板设有插槽，该测试治具包括一支撑件、插接于插槽的一电路板、一夹持件及两定位板，该电路板设有焊盘，电路板夹置于支撑件与夹持件之间，夹持件设有导电件，定位板固定于夹持件且设有收容芯片的定位口，导电件的两端能够分别电连接芯片及电路板的焊盘。测试时，芯片通过压块的按压及导电件的导通而电连接于电路板，芯片更换及测试方便，效率提高。

Description

芯片测试装置

技术领域

本实用新型涉及一种芯片测试装置。

背景技术

在现今信息化爆炸的时代，个人计算机的使用已经与日俱增。内存条作为计算机的重要组成部分，其芯片的性能测试变得尤为重要。一般而言，现有的测试内存条芯片的方法是先将芯片焊接于一内存条的电路板上，再将电路板插入主板进行测试，此种方法，过程繁琐，效率低。

实用新型内容

鉴于以上，有必要提供一过程简单且测试效率高的芯片测试装置。

一种芯片测试装置，用于测试若干芯片，该芯片测试装置包括一固定架、一主板、一按压组件及一测试治具，该固定架包括一立板、两调节件、用于支撑该测试治具的一支撑板及一滑动组件，该主板平行地固定于该立板的前侧，每一调节件包括一沿上下方向滑动地装设于该立板的的前侧的第一块体及自该第一块体的下部延伸出的一第二块体，该支撑板沿前后方向滑动地装设于该两调节件的第二块体，该滑动组件包括一沿左右方向滑动地装设于该立板上部的第一滑动件及一沿上下方向滑动地装设于该第一滑动件的前侧的第二滑动件，该按压组件包括固定于该第二滑动件的前侧的两气缸及连接于该两气缸的活塞杆的底端的两按压部，该支撑板位于该两按压部的下方，每一按压部的底端设有用于按压芯片的若干压块，该主板设有一插槽，该测试治具包括支撑于该支撑板上的一支撑件、一插接于该主板的插槽的电路板、一夹持件及两定位板，该电路板设有若干焊盘，该电路板夹置于该支撑件与该夹持件之间且焊盘朝上，该夹持件于这些焊盘的上方装设有若干导电件，该两定位板固定于该夹持件的上方且于这些导电件的上方设有若干收容这些芯片的定位口，每一导电件的两端能够分别电连接芯片及电路板的焊盘。

优选地，每一调节件的第一块体设有一沿竖直方向延伸的长形的滑槽，该立板对应于该两调节件的滑槽设有两锁固孔，两螺丝穿过该两滑槽后锁入该两锁固孔，使该两调节件的第一块体沿上下方向滑动地装设于该立板。

优选地，每一调节件的第二块体的顶面设有一固定孔，该支撑板的两端对应于该两固定孔分别设有一沿垂直于该立板的方向延伸的长形的滑槽，两螺丝穿过该两滑槽后锁入该两固定孔，使该支撑板沿前后方向滑动地装设于该两第二块体。

优选地，该第一滑动件包括一主体块及自该主体块的前侧向下延伸出的一延伸板，该主体块的底部支撑于该立板的顶面，该延伸板邻近两端分别设有一沿该延伸板的长度方向延伸的滑槽，该立板的顶部对应于该两滑槽设有两螺孔，两螺丝穿过该两滑槽后锁入该两螺孔，使该第一滑动件沿左右方向滑动地装设于该立板。

优选地，该第二滑动件包括一固定于气缸的固定块及自该固定块的两侧的底部向下延伸出的两滑块，每一滑块设有一竖直的长形的滑槽，该主体块对应于该两滑块的滑槽设有两螺孔，两螺丝穿过该两滑块的滑槽后锁入该主体块的两螺孔，使该第二滑动件沿上下方向滑动装设于该第一滑动件。

优选地，该主板的四角分别设有一穿孔，该立板对应于这些穿孔设有四凸柱，每一凸柱沿轴向开设一螺孔，四螺丝穿过这些穿孔后锁入这些凸柱的螺孔，使该主板固定于该立板。

优选地，该固定架还包括一底板，该立板自该底板的中部垂直向上延伸出。

优选地，该支撑件的顶面开设一收容该电路板的收容槽，该电路板的两端分别设有一第一卡固口，该支撑件于该收容槽的两端分别设有一卡固于对应的第一卡固口内的定位片。

优选地，该夹持片对应该电路板上的这些焊盘设有若干通孔，这些导电件分别装设于这些通孔内，每一导电件包括一绝缘的安装块及安装于该安装块并与该电路板的其中一焊盘相对应的若干探针。

优选地，该夹持件上表面的中部沿该夹持片的长度方向开设两定位槽，这些导电件分别装设于该两定位槽内，每一定位槽内设有若干铁销，该两定位板分别收容于该两定位槽内且每一定位板设有若干收容对应定位槽的铁销的定位孔，每一定位孔的上部设有一吸附对应铁销的磁铁块。

相较现有技术，本实用新型芯片测试装置在测试时，这些芯片通过按压组件的按压及导电件的导通而电连接于电路板，无需焊接芯片及反复插拔电路板，过程简单易于操作，芯片更换及测试方便，效率得到提高。

附图说明

图1是本实用新型芯片测试装置的较佳实施方式的立体分解图。

图2是图1的立体组装图。

图3是图2的芯片测试装置的测试治具及主板的立体图。

图4是图3的测试治具的立体分解图。

图5是图4的测试治具于另一个方向的视图。

图6是图2的芯片测试装置的另一状态的视图。

具体实施方式

请参照图1及图2，本实用新型芯片测试装置的较佳实施方式，用于测试芯片100。该芯片测试装置包括一固定架10、一主板20、一按压组件30及一测试治具40。在本实施方式中，芯片100为内存条的芯片。

该固定架10包括一底板11、自该底板11的中部垂直向上延伸出的一立板12、两调节件15、一长形的支撑板16及一滑动组件18。该立板12邻近四角分别设有一凸柱120。每一凸柱120沿轴向设有一螺孔121。该立板12的上部邻近两侧分别设有一锁固孔122。该立板12邻近顶部设有左右排列的两螺孔123。每一调节件15包括一第一块体150及自该第一块体150的下部延伸出的一第二块体151。每一第一块体150设有一竖向延伸的长形的滑槽153。每一第二块体151的顶面设有一固定孔155。该支撑板16邻近两端处分别设有一沿垂直于支撑板16的长度方向延伸的长形的滑槽160。该滑动组件18包括一第一滑动件181及一第二滑动件182。该第一滑动件181包括一长方体状的主体块183及自该主体块183的前侧向下延伸出的一延伸板185。该主体块183设有沿其长度方向排列的两螺孔186。该延伸板185邻近两端处分别设有一沿该延伸板185的长度方向延伸的长形的滑槽187。该第二滑动件182包括一方形的固定块188及自该固定块188的两侧的底部向下延伸出的两滑块189。每一滑块189设有一竖直的长形的滑槽180。

请一并参照图3，该主板20的四角分别设有一穿孔21。该主板20邻近一侧设有一插槽23。

该按压组件30包括两气缸33及分别连接于该两气缸33的活塞杆331的底端的两按压部35。每一按压部35背向气缸33的一侧设有四个压块351。本实施方式中，该两按压部35的八个压块351排成一列。

请参照图4及图5，该测试治具40包括一支撑件41、一电路板43、一夹持件45及两定位件49。

该支撑件41包括一长方形的基板411、自该基板411前侧的中部向前延伸出的一延伸板413及若干定位柱415。该基板411与该延伸板413的顶面共同开设一收容槽416。该收容槽416延伸至该延伸板413的两端与前侧，该基板411前侧的两端分别向收容槽416内延伸形成一定位片417。该基板411的顶面于收容槽416的后侧沿该基板411的长度方向开设若干螺孔418及若干卡孔419。这些定位柱415的底端卡固于该基板411对应的卡孔419内。

该电路板43的前侧缘设有金手指431。该电路板43上表面的中部沿其长度方向设有若干用于粘贴芯片100的焊盘433。该电路板43相对的两端均开设一第一卡固口435及一第二卡固口436。该电路板43的每一端的第二卡固口436较对应的第一卡固口435更邻近金手指431。本实施方式中，该电路板43为一内存条的电路板。

该夹持件45包括一长方形的夹持片451。该夹持片451的上表面的中部沿该夹持片451的长度方向开设两定位槽455。每一定位槽455远离另一定位槽455的一端延伸至该夹持片451的端面。该夹持片451的上表面于定位槽455的后侧沿夹持片451的长度方向开设若干沉头孔456及若干通孔457。每一定位槽455的底面的后部的两端设有两铁销453。该夹持片451的前侧的两端分别设有一缺口459。该夹持片451于每一定位槽455的底面设有若干沿该夹持片451的长度方向排列的通孔，每一通孔内装设有一导电件450。每一导电件450包括一绝缘的安装块452及安装于该安装块452并与该电路板43其中一焊盘433相对应的若干探针454。在本实施方式中，每一探针454的表面镀金以提高该导电件450的导电性。

每一定位件49包括一长方形的定位板491及两圆柱形的磁铁块493。该定位板491顶面的前侧沿其长度方向开设若干用于收容芯片100的贯穿定位板491底面的定位口495。这些定位口495的大小可根据芯片100的大小来开设。该定位板491顶面的后侧的两端开设两定位孔497。每一定位孔497包括一位于上部的大孔498及一位于下部的小孔499。每一定位孔497的大孔498与小孔499之间形成一环形的支撑面490。每一定位口495的顶面四周设有一倾斜的倒角492。

组装该测试治具40时，将磁铁块493卡固于定位件49的定位孔497的大孔498内，使每一磁铁块493支撑于对应的支撑面490上。将电路板43的下部收容于该支撑件41的收容槽416内，使该支撑件41的两定位片417卡固于该电路板43的两第一卡固口435内。此时，该电路板43的焊盘433朝上。将该夹持件45盖于该基板411上，使该基板411上的两定位柱415插入对应的通孔457内，且这些导电件450正对该电路板43上的焊盘433。若干螺钉（图中未示）穿过该夹持件45的沉头孔456螺接于对应的螺孔418内。此时，该电路板43夹持于该基板411与该夹持件45之间，每一导电件450抵顶于对应的焊盘433，该电路板43的金手指431伸出该延伸板413及夹持片451的前侧面，且该电路板43的两第二卡固口436位于该夹持件45的两缺口459的正下方。将每一定位件49收容于该夹持件45对应的定位槽455内，使每一定位槽455内的两铁销453插入对应的定位件49的两定位孔497的小孔499内。此时，每一定位件49的磁铁块493吸附于对应的铁销453以防止该定位件49脱离该夹持件45。每一定位件49的定位口495正对相应的导电件450。

请一并参照图6，组装该测试装置时，将该主板20的穿孔21正对该立板12的凸柱120，四螺丝50穿过该四穿孔21后锁入该四凸柱120的螺孔121，使该主板20平行地固定于该立板12的前侧。两螺丝60穿过该两调节件15的滑槽153后锁入该两锁固孔122，使该两调节件15的第一块体150可沿上下方向滑动地装设于该立板12的前侧。该两调节件15位于该主板20的两侧。将该支撑板16的两端放置于该两调节件15的第二块体151的顶面，两螺丝70穿过该两滑槽160后锁入该两固定孔155，使该支撑板16沿前后方向滑动地连接于该两调节件15的第二块体151。将该滑动组件18的第一滑动件181放置于该立板12的顶部，该主体块183的底部支撑于该立板12的顶面，并使该第一滑动件181的两滑槽187正对该立板12的两螺孔123。两螺丝80穿过该两滑槽187后锁入该两螺孔123，使该第一滑动件181沿左右方向滑动地装设于该立板12。将两螺丝90穿过该两第二滑动件182的滑槽180后锁入该第一滑动件181的两螺孔186，使该第二滑动件182沿上下方向滑动地装设于该第一滑动件181的前侧。将该按压组件30的两气缸33固定于该第二滑动件182的前侧并位于该支撑板16的上方。将该测试治具40的电路板43插接于该主板20的插槽23且支撑于该支撑板16。

测试时，将这些芯片100分别置于该两定位件49的定位口495，使每一芯片100沿着对应的倒角492滑入定位口495内。此时每一芯片100的锡球或引脚正对相应导电件450的探针454的顶端。通过与该两气缸33电连接的开关控制该两气缸33，使该两气缸33的活塞杆331向下运动。这些压块351随活塞杆331向下运动而插入对应的定位口495内且抵压对应的芯片100，使这些芯片100的锡球或引脚抵顶对应的导电件450的探针454的顶端，且使这些探针454的底端抵顶该电路板43上的对应焊盘433，从而实现这些芯片100与电路板43的电性连接。运行该主板20，即可进行测试。

当该测试装置的主板20的尺寸及该插槽23在主板20上的相对位置不同时，插槽23在该测试装置上的位置也不同。此时，通过该调节件15上下滑动、该支撑板16的前后滑动、该第一滑动件181的左右滑动及该第二滑动件182的上下滑动，可相应的调整该固定架10，以适用不同尺寸的主板20及插槽23的不同位置。

本实用新型测试装置测试时，这些芯片100通过按压组件30的按压及导电件450的导通而电性连接于电路板43，无需焊接芯片100及反复插拔电路板43，过程简单易于操作，芯片更换及测试方便，效率得到提高。

Claims (10)

1.一种芯片测试装置，用于测试若干芯片，其特征在于：该芯片测试装置包括一固定架、一主板、一按压组件及一测试治具，该固定架包括一立板、两调节件、用于支撑该测试治具的一支撑板及一滑动组件，该主板平行地固定于该立板的前侧，每一调节件包括一沿上下方向滑动地装设于该立板的的前侧的第一块体及自该第一块体的下部延伸出的一第二块体，该支撑板沿前后方向滑动地装设于该两调节件的第二块体，该滑动组件包括一沿左右方向滑动地装设于该立板上部的第一滑动件及一沿上下方向滑动地装设于该第一滑动件的前侧的第二滑动件，该按压组件包括固定于该第二滑动件的前侧的两气缸及连接于该两气缸的活塞杆的底端的两按压部，该支撑板位于该两按压部的下方，每一按压部的底端设有用于按压芯片的若干压块，该主板设有一插槽，该测试治具包括支撑于该支撑板上的一支撑件、一插接于该主板的插槽的电路板、一夹持件及两定位板，该电路板设有若干焊盘，该电路板夹置于该支撑件与该夹持件之间且焊盘朝上，该夹持件于这些焊盘的上方装设有若干导电件，该两定位板固定于该夹持件的上方且于这些导电件的上方设有若干收容这些芯片的定位口，每一导电件的两端能够分别电连接芯片及电路板的焊盘。

2.如权利要求1所述的芯片测试装置，其特征在于：每一调节件的第一块体设有一沿竖直方向延伸的长形的滑槽，该立板对应于该两调节件的滑槽设有两锁固孔，两螺丝穿过该两滑槽后锁入该两锁固孔，使该两调节件的第一块体沿上下方向滑动地装设于该立板。

3.如权利要求1所述的芯片测试装置，其特征在于：每一调节件的第二块体的顶面设有一固定孔，该支撑板的两端对应于该两固定孔分别设有一沿垂直于该立板的方向延伸的长形的滑槽，两螺丝穿过该两滑槽后锁入该两固定孔，使该支撑板沿前后方向滑动地装设于该两第二块体。

4.如权利要求1所述的芯片测试装置，其特征在于：该第一滑动件包括一主体块及自该主体块的前侧向下延伸出的一延伸板，该主体块的底部支撑于该立板的顶面，该延伸板邻近两端分别设有一沿该延伸板的长度方向延伸的滑槽，该立板的顶部对应于该两滑槽设有两螺孔，两螺丝穿过该两滑槽后锁入该两螺孔，使该第一滑动件沿左右方向滑动地装设于该立板。

5.如权利要求4所述的芯片测试装置，其特征在于：该第二滑动件包括一固定于气缸的固定块及自该固定块的两侧的底部向下延伸出的两滑块，每一滑块设有一竖直的长形的滑槽，该主体块对应于该两滑块的滑槽设有两螺孔，两螺丝穿过该两滑块的滑槽后锁入该主体块的两螺孔，使该第二滑动件沿上下方向滑动装设于该第一滑动件。

6.如权利要求1所述的芯片测试装置，其特征在于：该主板的四角分别设有一穿孔，该立板对应于这些穿孔设有四凸柱，每一凸柱沿轴向开设一螺孔，四螺丝穿过这些穿孔后锁入这些凸柱的螺孔，使该主板固定于该立板。

7.如权利要求1所述的芯片测试装置，其特征在于：该固定架还包括一底板，该立板自该底板的中部垂直向上延伸出。

8.如权利要求1所述的芯片测试装置，其特征在于：该支撑件的顶面开设一收容该电路板的收容槽，该电路板的两端分别设有一第一卡固口，该支撑件于该收容槽的两端分别设有一卡固于对应的第一卡固口内的定位片。

9.如权利要求1所述的芯片测试装置，其特征在于：该夹持片对应该电路板上的这些焊盘设有若干通孔，这些导电件分别装设于这些通孔内，每一导电件包括一绝缘的安装块及安装于该安装块并与该电路板的其中一焊盘相对应的若干探针。

10.如权利要求1或9所述的芯片测试装置，其特征在于：该夹持件上表面的中部沿该夹持片的长度方向开设两定位槽，这些导电件分别装设于该两定位槽内，每一定位槽内设有若干铁销，该两定位板分别收容于该两定位槽内且每一定位板设有若干收容对应定位槽的铁销的定位孔，每一定位孔的上部设有一吸附对应铁销的磁铁块。