CN221039146U - 一种翻盖式芯片测试座 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及一种芯片测试座，具体是一种翻盖式芯片测试座，包括：测试台，所述测试台的底部设有电路盒，所述测试台的后端通过转轴转动连接有防护盖，所述测试台的顶部开设有凹槽，所述测试台凹槽的内部中心固定连接有冷却台，且测试台凹槽的内部两侧均开设有滑槽。本实用新型通过转轴能够将防护盖转开，根据芯片尺寸的大小，利用金属伸缩杆的拉伸或收缩，配合滑槽中滑块的使用，能够调节两金属滑轨之间的距离，通过金属活动块，能够对顶针进行移动，将需要测试芯片放置在冷却台上，利用金属活动块将顶针滑动至与芯片的测试点相接触，从而能够对尺寸不同的同类芯片进行测试，提升本装置的适用性。

Description

一种翻盖式芯片测试座

技术领域

本实用新型涉及一种芯片测试座，具体是一种翻盖式芯片测试座。

背景技术

芯片有称集成电路，最先进的集成电路是微处理器或多核处理器的核心，可以控制计算机到手机到数字微波炉的一切。虽然设计开发一个复杂集成电路的成本非常高，但是当分散到通常以百万计的产品上，每个集成电路的成本最小化。集成电路的性能很高，因为小尺寸带来短路径，使得低功率逻辑电路可以在快速开关速度应用。

专利申请公告号CN219657712U的专利公开了一种高散热性的芯片测试座，包括铜座和金刚石层，金刚石层设于铜座的芯片老化测试区，铜座和金刚石层上设有贯穿的吸附孔。本申请通过在在铜座上设置金刚石层增加散热效果，并设置吸附孔来固定测试芯片以及增加芯片的散热，提升老化测试座的散热效果，更好的保护芯片完成老化测试。各种吸附孔的设置可以针对不同的固定要求，实现更好的芯片测试固定，并且更换方便，操作简单，提升芯片测试的工作效率，有利于自动化生产。

但是上述技术方案中提供的一种高散热性的芯片测试座在实际运用时，仍旧存在较多缺点，例如结构固定，与芯片测试点的连接件位置不可调节，使得在使用时，不能够测试尺寸不同的同类芯片，导致适用性较差。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种翻盖式芯片测试座，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：

一种翻盖式芯片测试座，包括：测试台，所述测试台的底部设有电路盒，所述测试台的后端通过转轴转动连接有防护盖，所述测试台的顶部开设有凹槽，所述测试台凹槽的内部中心固定连接有冷却台，且测试台凹槽的内部两侧均开设有滑槽，所述测试台的两侧均开设有多个连接口。

所述冷却台的两侧均设有金属滑轨，所述滑槽的两端均固定连接有金属伸缩杆，所述金属伸缩杆与金属滑轨的两端通过滑块连接，所述金属滑轨的内部滑动连接有金属活动块，所述金属活动块的顶部螺纹连接有顶针。

如上所述的翻盖式芯片测试座：所述电路盒的底部固定连接有底板，所述底板的底部四角均固定连接有垫脚。

如上所述的翻盖式芯片测试座：所述电路盒的两侧均固定连接有安装板，所述安装板与测试台之间通过螺纹杆连接。

如上所述的翻盖式芯片测试座：所述电路盒的前侧和后侧均开设有网口，所述电路盒的顶面与测试台的底面相贴合。

如上所述的翻盖式芯片测试座：所述冷却台的一侧螺纹连接有密封塞，所述冷却台的顶面与顶针的顶面相齐平，所述冷却台的内部为空心结构。

如上所述的翻盖式芯片测试座：所述金属滑轨远离冷却台的一侧固定连接有伸缩柱，所述伸缩柱的顶端固定连接有压板，所述伸缩柱的外侧套设有弹簧。

如上所述的翻盖式芯片测试座：所述弹簧的一端与金属滑轨之间为固定连接，且弹簧的另一端与压板之间为固定连接。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：通过转轴能够将防护盖转开，根据芯片尺寸的大小，利用金属伸缩杆的拉伸或收缩，配合滑槽中滑块的使用，能够调节两金属滑轨之间的距离，通过金属活动块，能够对顶针进行移动，将需要测试芯片放置在冷却台上，利用金属活动块将顶针滑动至与芯片的测试点相接触，从而能够对尺寸不同的同类芯片进行测试，提升本装置的适用性。

附图说明

图1为翻盖式芯片测试座的整体立体结构示意图。

图2为翻盖式芯片测试座的底部立体结构示意图。

图3为翻盖式芯片测试座的局部立体结构示意图。

图4为翻盖式芯片测试座中的测试台立体结构示意图。

图中：1、测试台；2、电路盒；3、防护盖；4、冷却台；5、滑槽；6、金属滑轨；7、金属伸缩杆；8、金属活动块；9、顶针；10、底板；11、垫脚；12、安装板；13、螺纹杆；14、网口；15、密封塞；16、伸缩柱；17、压板；18、弹簧。

具体实施方式

以下将参考附图详细说明本申请的各种示例性实施例、特征和方面。附图中相同的附图标记表示功能相同或相似的元件。尽管在附图中示出了实施例的各种方面，但是除非特别指出，不必按比例绘制附图。

在这里专用的词“示例性”意为“用作例子、实施例或说明性”。这里作为“示例性”所说明的任何实施例不必解释为优于或好于其它实施例。

另外，为了更好的说明本申请，在下文的具体实施例中给出了众多的具体细节。本领域技术人员应当理解，没有某些具体细节，本申请同样可以实施。在一些实例中，对于本领域技术人员熟知的方法、手段、元件未作详细描述，以便于凸显本申请的主旨。

请参阅图1-4，本实用新型实施例中，一种翻盖式芯片测试座，包括：测试台1，测试台1的底部设有电路盒2，测试台1的后端通过转轴转动连接有防护盖3，测试台1的顶部开设有凹槽，测试台1凹槽的内部中心固定连接有冷却台4，且测试台1凹槽的内部两侧均开设有滑槽5，测试台1的两侧均开设有多个连接口，进一步的，冷却台4的一侧螺纹连接有密封塞15，冷却台4的顶面与顶针9的顶面相齐平，冷却台4的内部为空心结构，旋转密封塞15，能够向冷却台4内部注入冷却液，从而在测试芯片时，对芯片起到冷却散热的作用。

冷却台4的两侧均设有金属滑轨6，滑槽5的两端均固定连接有金属伸缩杆7，金属伸缩杆7与金属滑轨6的两端通过滑块连接，金属滑轨6的内部滑动连接有金属活动块8，金属活动块8的顶部螺纹连接有顶针9，利用金属伸缩杆7的拉伸或收缩，配合滑槽5中滑块的使用，能够调节两金属滑轨6之间的距离，通过金属活动块8，能够对顶针9进行移动，将需要测试芯片放置在冷却台4上，利用金属活动块8将顶针9滑动至与芯片的测试点相接触，从而能够对尺寸不同的同类芯片进行测试。

在本实施例中，电路盒2的底部固定连接有底板10，底板10的底部四角均固定连接有垫脚11，通过垫脚11能够将本装置放置在外界水平面上撑起，配合底板10的使用，能够对电路盒2底部起到保护作用，防止电路盒2底部造成磨损。

在本实施例中，电路盒2的两侧均固定连接有安装板12，安装板12与测试台1之间通过螺纹杆13连接，旋转螺纹杆13，配合安装板12的使用，能够将测试台1与电路盒2拆开，便于对本装置进行拆装，进一步的，电路盒2的前侧和后侧均开设有网口14，电路盒2的顶面与测试台1的底面相贴合，网口14的设置，便于对电路盒2内部进行散热。

在本实施例中，金属滑轨6远离冷却台4的一侧固定连接有伸缩柱16，伸缩柱16的顶端固定连接有压板17，伸缩柱16的外侧套设有弹簧18，进一步的，弹簧18的一端与金属滑轨6之间为固定连接，且弹簧18的另一端与压板17之间为固定连接，通过弹簧18的弹力，配合伸缩柱16的使用，能够将压板17压在芯片的顶部，防止芯片与顶针9的连接松动。

工作原理：在使用本装置时，首先通过垫脚11能够将本装置放置在外界水平面上撑起，配合底板10的使用，能够对电路盒2底部起到保护作用，防止电路盒2底部造成磨损，电路盒2内部电路器件，能够在测试芯片时保证电路的接通，网口14的设置，便于对电路盒2内部进行散热，通过转轴能够将防护盖3转开，根据芯片尺寸的大小，利用金属伸缩杆7的拉伸或收缩，配合滑槽5中滑块的使用，能够调节两金属滑轨6之间的距离，通过金属活动块8，能够对顶针9进行移动，将需要测试芯片放置在冷却台4上，利用金属活动块8将顶针9滑动至与芯片的测试点相接触，从而能够对尺寸不同的同类芯片进行测试，提升本装置的适用性，通过弹簧18的弹力，配合伸缩柱16的使用，能够将压板17压在芯片的顶部，防止芯片与顶针9的连接松动，旋转密封塞15，能够向冷却台4内部注入冷却液，从而在测试芯片时，对芯片起到冷却散热的作用，旋转螺纹杆13，配合安装板12的使用，能够将测试台1与电路盒2拆开，便于对本装置进行拆装，测试台1上连接口，便于连接外界电子设备。

对于本领域技术人员而言，显然本实用新型不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本实用新型的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本实用新型。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本实用新型的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本实用新型内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。

此外，应当理解，虽然本说明书按照实施方式加以描述，但并非每个实施方式仅包含一个独立的技术方案，说明书的这种叙述方式仅仅是为清楚起见，本领域技术人员应当将说明书作为一个整体，各实施例中的技术方案也可以经适当组合，形成本领域技术人员可以理解的其他实施方式。

Claims (7)

1.一种翻盖式芯片测试座，其特征在于，包括：测试台(1)，所述测试台(1)的底部设有电路盒(2)，所述测试台(1)的后端通过转轴转动连接有防护盖(3)，所述测试台(1)的顶部开设有凹槽，所述测试台(1)凹槽的内部中心固定连接有冷却台(4)，且测试台(1)凹槽的内部两侧均开设有滑槽(5)，所述测试台(1)的两侧均开设有多个连接口；

所述冷却台(4)的两侧均设有金属滑轨(6)，所述滑槽(5)的两端均固定连接有金属伸缩杆(7)，所述金属伸缩杆(7)与金属滑轨(6)的两端通过滑块连接，所述金属滑轨(6)的内部滑动连接有金属活动块(8)，所述金属活动块(8)的顶部螺纹连接有顶针(9)。

2.根据权利要求1所述的翻盖式芯片测试座，其特征在于，所述电路盒(2)的底部固定连接有底板(10)，所述底板(10)的底部四角均固定连接有垫脚(11)。

3.根据权利要求1所述的翻盖式芯片测试座，其特征在于，所述电路盒(2)的两侧均固定连接有安装板(12)，所述安装板(12)与测试台(1)之间通过螺纹杆(13)连接。

4.根据权利要求1所述的翻盖式芯片测试座，其特征在于，所述电路盒(2)的前侧和后侧均开设有网口(14)，所述电路盒(2)的顶面与测试台(1)的底面相贴合。

5.根据权利要求1所述的翻盖式芯片测试座，其特征在于，所述冷却台(4)的一侧螺纹连接有密封塞(15)，所述冷却台(4)的顶面与顶针(9)的顶面相齐平，所述冷却台(4)的内部为空心结构。

6.根据权利要求1所述的翻盖式芯片测试座，其特征在于，所述金属滑轨(6)远离冷却台(4)的一侧固定连接有伸缩柱(16)，所述伸缩柱(16)的顶端固定连接有压板(17)，所述伸缩柱(16)的外侧套设有弹簧(18)。

7.根据权利要求6所述的翻盖式芯片测试座，其特征在于，所述弹簧(18)的一端与金属滑轨(6)之间为固定连接，且弹簧(18)的另一端与压板(17)之间为固定连接。