CN203552697U - 自组装磁存储记忆体 - Google Patents

自组装磁存储记忆体 Download PDF

Info

Publication number
CN203552697U
CN203552697U CN201320427733.4U CN201320427733U CN203552697U CN 203552697 U CN203552697 U CN 203552697U CN 201320427733 U CN201320427733 U CN 201320427733U CN 203552697 U CN203552697 U CN 203552697U
Authority
CN
China
Prior art keywords
magnetic storage
memory body
storage memory
self assembly
magnetic
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
CN201320427733.4U
Other languages
English (en)
Inventor
徐永兵
杨阳
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
JIANGSU HINANO PRECISION ASSEMBLY CO., LTD.
Original Assignee
HINANO PRECISION ASSEMBLY & NANO MATERIALS Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by HINANO PRECISION ASSEMBLY & NANO MATERIALS Co Ltd filed Critical HINANO PRECISION ASSEMBLY & NANO MATERIALS Co Ltd
Priority to CN201320427733.4U priority Critical patent/CN203552697U/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN203552697U publication Critical patent/CN203552697U/zh
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Magnetic Record Carriers (AREA)

Abstract

本实用新型提供自组装磁存储记忆体,包括记忆体本体,记忆体本体包括圆盘形硬盘衬底,硬盘衬底一其圆心为中心,设有若干条环形轨道凹槽,轨道凹槽中设有二氧化硅纳米球阵列,二氧化硅纳米球接触空气的表面设有铁铂薄膜,形成铁铂纳米点阵。本实用新型的自组装磁存储记忆体,最大限度地降低了磁畴间的耦合效应;在满足高磁记录密度条件的同时兼具环境稳定性的优越性。

Description

自组装磁存储记忆体
技术领域
本实用新型涉及超高密度磁存储技术领域,尤其涉及一种高密度垂直磁存储,高密度离散介质存储的自组装磁存储记忆体。 
背景技术
计算机中的信息操作是建立在二进制基础上的。这反映在基础层面上便是计算机磁盘中的两种不同磁畴磁化方向,分别对应“0”和“1”。自计算机问世以来,磁记录就一直面临着在保证存储稳定性的前提下,不断提升存储密度的问题。磁盘中每一块均匀磁化的区域称为一个磁畴,对应一个字节。因此,磁畴尺寸的大小就直接决定了磁盘的存储密度。目前市场上普遍应用的磁记录技术密度约为100Gb/inch2,相应的磁畴特征尺寸约100nm。 
从物理层面上讲,相邻磁畴间的耦合效应是限制磁存储密度进一步提高的一个理论瓶颈。也即,当代表两个不同二进制字节的磁畴相互靠近时,彼此间会产生较强的电磁干扰,从而使信号被打乱。 
从磁记录方式上区分,当下的磁存储可以区分为垂直记录和平行记录两种。垂直磁记录中磁畴的磁化方向竖直排列在磁盘平面上,回避了相邻磁畴间磁极相对的局面,耦合效应较平行磁记录低出许多。 
从磁记录介质上区分,磁存储又可分为连续介质记录和离散介质记录两种。离散介质记录运用纳米微加工手段将存储载体的各个磁畴进行物理分割,从而有效地降低了耦合效应,是未来磁存储的重要发展方向。 
除了磁畴间的必要间距,每个磁畴自身的尺寸也是制约着磁存储密度进一步提升的又一物理瓶颈。也即,磁畴磁化方向的稳定性存在着一个量子物理极限——超顺磁极限,当每一个磁畴对应的磁各向异性能Ea降低到与热激发能KBT相比时(其中,KB代表玻尔兹曼常数,T代表温度),磁畴磁化方向就会因热扰动而发生翻转,导致存储信息的丢失。磁各向异性能由Ea=KuV决定(其中,Ku代表磁各项异性常数,V代表磁畴体积),随磁畴尺寸的降低而减小,从而逼近超顺磁极限。因此,在对高密度存储的追求中,人们需要从材料性质出发,寻找具备高磁各向异性常数Ku存储介质。 
发明内容
本实用新型的目的在于提供一种高密度垂直磁存储,高密度离散介质存储的自组装磁存储记忆体,及超高真空磁性材料蒸镀技术及纳米点阵自组装加工的自组装磁存储记忆体的形成方法。 
为了实现上述目的,本实用新型提供的自组装磁存储记忆体,包括:记忆体本体,记忆体本体包括圆盘形硬盘衬底,硬盘衬底一其圆心为中心,设有若干条环形轨道凹槽,轨道凹槽中设有二氧化硅纳米球阵列,二氧化硅纳米球接触空气的表面设有铁铂薄膜层。 
在一些实施方式中,铁铂薄膜层在二氧化硅纳米球表面其随纬度梯度形成连续的厚度变化,在二氧化硅纳米球边缘处厚度减小为零,自然地隔离了相邻二氧化硅纳米球之间的磁耦合关联。 
在一些实施方式中,二氧化硅纳米球的直径为20nm-50nm。 
在一些实施方式中,铁铂薄膜层最高点的厚度为10nm。 
在一些实施方式中,轨道凹槽的宽度为二氧化硅纳米球直径的整数倍。 
在一些实施方式中,每一个铁铂纳米点阵形成一个单磁畴,对应一个独立二进制字节。 
本实用新型的自组装磁存储记忆体具有以下优点: 
1.本实用新型的自组装磁存储记忆体,整合了垂直记录及离散介质存储的双重优势,最大限度地降低了磁畴间的耦合效应;同时,还是为数不多的具备高磁各向异性常数Ku的理想材料。将铁铂磁存储记忆体制造成具有周期结构的纳米点阵,阵列中每个纳米点形成离散的单磁畴,存储一个二进制字节的信息。相关科学研究已表明,这样的铁铂纳米点阵具有垂直磁化的的特性,可作为垂直记录载体。此外,铁铂材料具有高的磁各向异性常数7×107ergs/cm3,且不含稀土元素,在满足高磁记录密度条件的同时兼具环境稳定性的优越性。
2.本实用新型的自组装磁存储记忆体的形成方法,以铁铂材料的高磁各向异性常数及垂直磁化性质为基础,提出离散纳米点阵的设计及制造方案,突破传统连续磁存储介质的物理瓶颈。 
附图说明
图1为本实用新型一种实施方式的自组装磁存储记忆体的结构示意图; 
图2为图1所示的自组装磁存储记忆体中铁铂纳米点阵的结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图及具体实施例来对本实用新型作进一步的详细描述说明。 
显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。 
图1至图3示意性地显示了根据本实用新型一种实施方式的自组装磁存储记忆体及其形成方法。 
如图1所示,本实用新型的自组装磁存储记忆体,包括记忆体本体1,记忆体本体1包括圆盘形硬盘衬底101,硬盘衬底101一其圆心为中心,设有若干条环形轨道凹槽1011,轨道凹槽1011中设有二氧化硅纳米球1012阵列。 
轨道凹槽1011的宽度为二氧化硅纳米球1012直径的整数倍,由此制约二氧化硅纳米球1012的自组装排列,使其规整完备地分布在轨道凹槽1011内。在本实用新型的此实施方式中,二氧化硅纳米球1012的直径为50nm,对于特征尺寸为50nm的二氧化硅纳米球1012,设计轨道凹槽1011的宽度为0.5um,因此,每条轨道凹槽1011中沿硬盘半径方向恰好可存放10个二氧化硅纳米球1012。 
二氧化硅纳米球1012接触空气的表面设有铁铂薄膜层1201,形成铁铂纳米点阵。铁铂薄膜层1201在二氧化硅纳米球1012表面其随纬度梯度形成连续的厚度变化,在二氧化硅纳米球1012边缘处厚度减小为零,自然地隔离了相邻二氧化硅纳米球1012之间的磁耦合关联。在本实用新型的此实施方式中,铁铂薄膜层1201最高点的厚度为10nm。 
综上,本实用新型的自组装磁存储记忆体。每一个铁铂纳米点阵形成一个单磁畴,对应一个独立二进制字节。 
利用本实用新型的自组装磁存储记忆体的形成方法生成的自组装磁存储记忆体,不仅整合了垂直记录及离散介质存储的双重优势,最大限度地降低了磁畴间的耦合效应;同时,还是为数不多的具备高磁各向异性常数Ku的理想材料。将铁铂磁存储记忆体制造成具有周期结构的纳米点阵,阵列中每个纳米点形成离散的单磁畴,存储一个二进制字节的信息。相关科学研究已表明,这样的铁铂纳米点阵具有垂直磁化的的特性,可作为垂直记录载体。此外,铁铂材料具有高的磁各向异性常数7×107ergs/cm3,且不含稀土元素,在满足高磁记录密度条件的同时兼具环境稳定性的优越性。 

Claims (5)

1.自组装磁存储记忆体,其特征在于,包括记忆体本体(1),所述记忆体本体(1)包括圆盘形硬盘衬底(101),所述硬盘衬底(101)一其圆心为中心,设有若干条环形轨道凹槽(1011),所述轨道凹槽(1011)中设有二氧化硅纳米球(1012)阵列,所述二氧化硅纳米球(1012)接触空气的表面设有铁铂薄膜层(1201)。
2.根据权利要求1所述的自组装磁存储记忆体,其特征在于,所述铁铂薄膜层(1201)在所述二氧化硅纳米球(1012)表面其随纬度梯度形成连续的厚度变化,在所述二氧化硅纳米球(1012)边缘处厚度减小为零,自然地隔离了相邻二氧化硅纳米球(1012)之间的磁耦合关联。
3.根据权利要求2所述的自组装磁存储记忆体,其特征在于,所述二氧化硅纳米球(1012)的直径为20nm-50nm。
4.根据权利要求2所述的自组装磁存储记忆体,其特征在于,所述铁铂薄膜层(1201)最高点的厚度为10nm。
5.根据权利要求1至4中任一所述的自组装磁存储记忆体,其特征在于,所述轨道凹槽(1011)的宽度为所述二氧化硅纳米球(1012)直径的整数倍。
CN201320427733.4U 2013-07-18 2013-07-18 自组装磁存储记忆体 Expired - Fee Related CN203552697U (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201320427733.4U CN203552697U (zh) 2013-07-18 2013-07-18 自组装磁存储记忆体

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201320427733.4U CN203552697U (zh) 2013-07-18 2013-07-18 自组装磁存储记忆体

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN203552697U true CN203552697U (zh) 2014-04-16

Family

ID=50470778

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201320427733.4U Expired - Fee Related CN203552697U (zh) 2013-07-18 2013-07-18 自组装磁存储记忆体

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN203552697U (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105097006A (zh) * 2014-04-17 2015-11-25 华为技术有限公司 一种存储单元、存储器及存储单元控制方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105097006A (zh) * 2014-04-17 2015-11-25 华为技术有限公司 一种存储单元、存储器及存储单元控制方法
CN105097006B (zh) * 2014-04-17 2017-09-19 华为技术有限公司 一种存储单元、存储器及存储单元控制方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Richter et al. Recording potential of bit-patterned media
JP5103712B2 (ja) ナノホール構造体の製造方法
JP5799035B2 (ja) 塗布型磁気記録媒体、磁気記録装置、および磁気記録方法
US8634167B2 (en) Magnetic head with self compensating dual thermal fly height control
US8243390B2 (en) Reading multi-layer continuous magnetic recording media
CN100555418C (zh) 垂直磁记录介质、及其制造方法
CN100351906C (zh) 垂直磁记录介质
JP2007250059A (ja) 磁気記録媒体及びその製造方法
JP5340301B2 (ja) 磁気記録媒体
JP2006075942A (ja) 積層構造体、磁気記録媒体及びその製造方法、磁気記録装置及び磁気記録方法、並びに、該積層構造体を用いた素子
JP2008293559A (ja) 磁気記録媒体及び磁気記憶装置
US20100103783A1 (en) Thermally assisted magnetic head
US8233236B2 (en) Magnetic write head with side shield and gap layer
CN102682788A (zh) 在硬盘介质记录信息的热辅助磁记录方法
JP2007323736A (ja) 情報記録媒体
CN203552697U (zh) 自组装磁存储记忆体
CN1109329C (zh) 磁记录方法和磁记录设备
CN103456319B (zh) 自组装磁存储记忆体及其形成方法
JP2007276104A (ja) ナノホール構造体及びその製造方法、並びに、磁気記録媒体及びその製造方法
US9177598B2 (en) Device, method of fabricating a media and method of servo writing
JP2005327368A (ja) 磁気記録装置用保護層、磁気ヘッドおよび磁気記録装置
JPWO2004061829A1 (ja) 垂直磁気記録媒体
CN101814295B (zh) 电场辅助磁存储器件及其制造方法
US20120250178A1 (en) Magnetic media with thermal insulation layer for thermally assisted magnetic data recording
JP4878168B2 (ja) ナノホール構造体及びその製造方法、並びに、磁気記録媒体及びその製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
C56 Change in the name or address of the patentee

Owner name: JIANGSU HINANO PRECISION EQUIPMENT CO., LTD.

Free format text: FORMER NAME: JIANGSU HINANO PRECISION ASSEMBLY + NANO MATERIALS CO., LTD.

CP03 Change of name, title or address

Address after: 226009 Jiangsu city of Nantong Province, Nantong economic and Technological Development Zone, Road No. 1692 building 10 Yuan electric machine on the east side of the bottom

Patentee after: JIANGSU HINANO PRECISION ASSEMBLY CO., LTD.

Address before: 226000 Jiangsu city of Nantong Province Economic and Technological Development Zone Tongsheng Road No. 188 B block 4 layer

Patentee before: Jiangsu Haina Magnetic Nano New Material Technology Co., Ltd.

CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20140416

Termination date: 20170718

CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee