CN203300197U

CN203300197U - 一种基板的走线结构及显示装置

Info

Publication number: CN203300197U
Application number: CN2013203313367U
Authority: CN
Inventors: 时凌云; 郑义; 姚金明; 薛子姣
Original assignee: Beijing BOE Optoelectronics Technology Co Ltd
Current assignee: BOE Technology Group Co Ltd; Beijing BOE Optoelectronics Technology Co Ltd
Priority date: 2013-06-08
Filing date: 2013-06-08
Publication date: 2013-11-20
Anticipated expiration: 2023-06-08

Abstract

本实用新型公开了一种涉及显示技术领域，尤其涉及一种基板的走线结构及显示装置，以解决现有技术中基板的走线结构的非信号输入端易发生走线短路，造成液晶显示面板的显示异常等问题。本实用新型的基板的走线结构包括，多条控制信号走线，每条控制信号走线连接一开关，开关的一端与控制信号走线的信号输入端连接，另一端与控制信号走线的非信号输入端连接；控制开关走线与开关连接，用于进行基板测试时，控制开关闭合，不进行基板测试时，控制开关断开；因此走线的非信号输入端即使发生腐蚀产生短路，也不会影响控制信号走线的信号输入端与开关之间的电路；降低了由使控制信号走线的非信号输入端产生腐蚀，导致液晶显示面板的显示异常的概率。

Description

一种基板的走线结构及显示装置

技术领域

本实用新型涉及显示技术领域，尤其涉及一种基板的走线结构及显示装置。

背景技术

现有的薄膜晶体管(Thin Film Transistor，TFT)液晶显示器的制造及检测方法为：在一张较大的基板上形成若干独立的TFT像素阵列区，每个TFT像素阵列区为一个子基板；为了对沉积在基板上的TFT像素阵列区进行信号检测，用于输入测试信号的测试电路也需要随TFT像素阵列一同沉积在基板上，且该测试电路的沉积位置在基板的周围，然后即可通过该测试电路的测试输入端输入测试信号来检测基板上各个面板的电性是否有显示不良的情况发生。测试完毕后，将沉积了TFT像素阵列的基板进行切割，同时切除基板周围的测试电路，从而形成独立的子基板。

如图1所示，为现有技术中基板上形成若干独立的TFT像素阵列区的示意图，该基板包括子基板101，测试电路120；一个TFT像素阵列区对应的一个子基板101，每个子基板上分布有通过控制信号的走线SW，DR，DB，DG，Vcom；进行测试时，通过SW信号打开像素栅极，DR，DB，DG信号分别给R，G，B亚像素源极充电，通过公共电极Vcom与像素源极DR，DB，DG之间的电压差控制液晶的方向，检测TFT像素阵列区对应的面板是否有显示不良的情况。如图2a所示，为一个TFT像素阵列区对应的子基板的示意图，图中虚线部分如图2b所示，从图中可以看出，TFT像素阵列区的走线的非信号输入端直接暴露在空气中。当进行基板测试电路测试时，通常会在各种不利环境中进行测试，如高温环境，高湿环境，在这种环境中测试时，由于走线非信号输入端直接暴露在空气中，走线非信号输入端极易腐蚀，并造成短路等情况，影响该像素阵列区对应的子基板组成的液晶显示面板的显示质量，造成液晶显示面板的显示异常。并且在将基板按照独立的TFT像素阵列区进行切割，切割完成后走线的切割处直接与空气接触，走线的切割处也容易被腐蚀，产生短路等情况。

因此，现有技术中在进行基板测试时，基板的走线结构的非信号输入端直接暴露在测试环境中，极易被腐蚀，导致走线短路；切割完成后走线的切割处直接与空气接触，走线的切割处也容易被腐蚀，产生短路等情况；影响基板组成的液晶显示面板的显示质量，造成液晶显示面板的显示异常等问题。

实用新型内容

本实用新型提供了一种基板的走线结构及显示装置，以解决现有技术中基板的走线结构的非信号输入端直接暴露在空气中，极易被腐蚀，导致走线短路；切割完成后走线的切割处直接与空气接触，走线的切割处也容易被腐蚀，产生短路等情况；影响基板组成的液晶显示面板的显示质量，造成液晶显示面板的显示异常等问题。

本实用新型提供了一种基板的走线结构，该走线结构包括：

多条控制信号走线，每条控制信号走线连接一个开关，所述开关的一端与控制信号走线的信号输入端连接，另一端与控制信号走线的非信号输入端连接；

控制开关走线，与开关连接，用于在进行基板测试时，控制所述开关闭合，不进行基板测试时，控制所述开关断开。

本实用新型提供了一种显示装置，该显示装置包括本实用新型任一所述的走线结构。

本实用新型的基板的走线结构包括，多条控制信号走线，每条控制信号走线连接一个开关，开关的一端与控制信号走线的信号输入端连接，另一端与控制信号走线的非信号输入端连接；控制开关走线，与开关连接，用于在进行基板测试时，控制开关闭合，不进行基板测试时，控制开关断开；由于在每条控制信号走线连接了一个开关，并通过控制开关走线控制控制信号走线的开关，在进行基板测试时，将控制信号走线开关闭合；不进行测试时，将控制信号走线开关断开；此时走线的非信号输入端即使发生腐蚀产生短路等情况，也不会影响控制信号走线的信号输入端与开关之间的电路；同理，当进行基板切割时，由于被切割的每个子基板的每条控制信号走线的开关断开，子基板的控制信号走线的非信号输入端产生短路，也不会影响控制信号走线的信号输入端与开关之间的电路，降低了由控制信号走线的非信号输入端产生腐蚀，导致液晶显示面板的显示异常的概率。

附图说明

图1为背景技术中一种进行基板测试时基板的走线结构的示意图；

图2a为背景技术中一个TFT像素阵列区对应的子基板的示意图；

图2b为背景技术中一个TFT像素阵列区对应的子基板的局部放大示意图；

图3a为本实用新型实施例中一种子基板的走线结构的示意图；

图3b为本实用新型实施例中一种子基板的走线结构的局部放大示意图；

图4为本实用新型实施例中一种进行基板测试时基板的走线结构的示意图。

具体实施方式

本实用新型的基板的走线结构包括，多条控制信号的走线，每条控制信号走线连接一个开关，所述开关的一端与控制信号走线的信号输入端连接，另一端与控制信号走线的非信号输入端连接；控制开关走线，与开关连接，用于在进行基板测试时，控制所述开关闭合，不进行基板测试时，控制所述开关断开；由于每条控制信号走线连接了一个开关，并通过控制开关走线控制控制信号走线的开关，当进行基板测试时，控制控制信号走线的开关闭合；不进行测试时，控制控制信号走线的开关断开，此时控制信号走线的非信号输入端即使发生腐蚀产生短路等情况，也不会影响控制信号走线的信号输入端与开关之间的电路；降低了由控制信号走线的非信号输入端产生腐蚀，导致液晶显示面板的显示异常的概率。

下面结合说明书附图对本实用新型实施例作进一步详细描述。

如图3a所示，为本实用新型实施例中一种子基板的走线结构，该走线结构以每条控制信号走线的开关是MOS管为例，其他情况与之类似，图3b为图3a中虚线部分的放大图，该走线结构包括：

多条控制信号走线，每条控制信号走线连接一个开关，开关的一端与控制信号走线的信号输入端连接，另一端与控制信号走线的非信号输入端连接；

控制开关走线，与开关连接，用于在进行基板测试时，控制开关闭合，不进行基板测试时，控制开关断开。

其中，控制信号走线包括：通过使各像素栅极打开信号的走线SW，通过Data信号的走线DR，DB以及DG，以及加载在公共电极上的走线Vcom。

控制开关走线SSW，控制信号走线的开关通过感应控制开关走线SSW中的信号，进行开关断开或闭合。

控制开关走线根据开关的类型可以有一条，也可以由多条；如控制信号走线连接的开关为MOS管（Metal Oxid Semiconductor，金属氧化物半导体场效应晶体管）时，控制开关走线可以为一条；控制信号走线连接的MOS管感应到控制开关走线中的信号时，开关闭合；控制信号走线连接的MOS管未感应到控制开关走线中的信号时，开关断开。控制信号走线连接的开关为继电器时，控制开关走线可以为多条，一条控制开关走线控制一条控制信号走线连接的开关。

走线结构中每条控制信号走线连接的开关包括但不限于下列器件中的一种：MOS管，薄膜场效应晶体管TFT，继电器。薄膜场效应晶体管TFT，继电器作为开关的原理与MOS管类似，在此不再赘述。

如图4所示，为本实用新型实施例中一种开关为MOS管，进行基板测试时，基板的走线结构的示意图，该基板包括至少两个图3a所示的子基板401，以及测试总线402；进行基板测试时，基板中的全部走线的信号输入端连接到测试总线402上；每个走线的信号输入端与测试总线之间连接有一条测试支路；与同一个测试总线连接的多条测试支路中的每条测试支路的电阻值相同；进行基板测试时，每个子基板的控制开关走线SSW使每条控制信号走线的开关闭合，使每个子基板中的每条控制信号走线中有控制信号通过；当测试完成时，每个子基板的控制开关走线SSW使每条控制信号走线的开关断开，使每个子基板中每条控制信号走线无信号通过。

基板测试通常在在高温环境，高湿环境以及正常环境等各种情况下进行测试，进行基板测试时，控制开关走线SSW中含有使每条控制信号走线的开关闭合的信号，若测试时，子基板中每条控制信号走线中的信号正常，则确定该子基板合格，若子基板显示异常，或者控制信号走线中的信号出现异常，则确定该子基板存在故障，需要进行进一步检测，并对其进行修复。

当基板测试完成时，测试总线402不再输出信号，控制开关走线SSW中不含有信号，每个子基板中每条控制信号走线的开关断开，此时子基板中没有电流通过。

确定基板中合格的子基板，将基板进行切割，较佳地，将整张基板按照行的顺序或列的顺序切割成若干个子基板的集合。再将子基板的集合切割，形成所需的子基板。

基板上的控制信号走线多为金属结构，在高温环境下易产生氧化、腐蚀，因此在控制信号走线的非信号输入端连接一个开关，在进行基板测试的过程中，通过控制开关走线控制控制信号走线开关；当进行基板测试时，将控制信号走线开关闭合；不进行测试时，将控制信号走线开关断开；测试完成后，走线的非信号输入端即使发生腐蚀产生短路等情况，也不会影响控制信号走线的信号输入端与开关之间的电路；同理，当包含本实用新型的走线结构的基板组成液晶模组时，由于控制开关走线控制控制信号走线开关断开，在液晶模组工作的过程中，走线的非信号输入端即使发生腐蚀产生短路等情况，也不会影响控制信号走线的信号输入端与开关之间的电路，不会导致液晶显示面板的显示异常。此外，在进行切割时，开关断开，则切割时走线的切割处被腐蚀，也不会影响控制信号走线的信号输入端与控制信号走线连接的开关之间的电路。

将合格的子基板与其它元器件结合，形成所需的液晶模组。在合格的子基板形成的液晶模组中，由于每条控制信号走线连接的开关始终断开，因此，即使控制信号走线的非信号输入端被腐蚀，产生短路的情况，也不会影响液晶模组，造成显示异常。

基于同一构思，本实用新型实施例中还提供了一种显示装置，由于该显示装置解决问题的原理与本实用新型实施例一种基板的走线结构相似，因此该显示装置的实施可以参见基板的走线结构的实施，重复之处不再赘述。

一种显示装置，该显示装置包括走线结构，该走线结构包括：

控制开关走线根据开关的类型可以有一条，也可以由多条；如控制信号走线连接的开关为MOS管时，控制开关走线可以为一条；控制信号走线连接的MOS管感应到控制开关走线中的信号时，开关闭合；控制信号走线连接的MOS管未感应到控制开关走线中的信号时，开关断开。控制信号走线连接的开关为继电器时，控制开关走线可以为多条，一条控制开关走线控制一条控制信号走线连接的开关。

走线结构中每条控制信号走线连接的开关包括但不限于下列器件中的一种：MOS管，薄膜场效应晶体管TFT，继电器。

该显示装置还包括玻璃基板：玻璃基板上具有布线区；走线结构形成在玻璃基板的布线区上。

显然，本领域的技术人员可以对本实用新型进行各种改动和变型而不脱离本实用新型的精神和范围。这样，倘若本实用新型的这些修改和变型属于本实用新型权利要求及其等同技术的范围之内，则本实用新型也意图包含这些改动和变型在内。

Claims

1.一种基板的走线结构，其特征在于，该走线结构包括：

多条控制信号走线，每条控制信号走线连接一开关，所述开关的一端与控制信号走线的信号输入端连接，另一端与控制信号走线的非信号输入端连接；

2.如权利要求1所述的走线结构，其特征在于，多条控制信号走线分布在至少两个子基板上，每个子基板上的每条控制信号走线连接一开关。

3.如权利要求2所述的走线结构，其特征在于，控制开关走线分布在有所述控制信号走线子基板上，用于在进行基板测试时，控制与子基板的控制信号走线连接的开关闭合，不进行基板测试时，控制与子基板的控制信号走线连接的开关断开。

4.如权利要求1所述的走线结构，其特征在于，所述开关包括下列器件中的一种：

MOS管、薄膜场效应晶体管或继电器。

5.一种显示装置，其特征在于，该显示装置包括权利要求1～4任一所述的走线结构。

6.如权利要求5所述的显示装置，其特征在于，所述显示装置还包括玻璃基板：

玻璃基板上具有布线区；

所述走线结构形成在所述玻璃基板的布线区上。

7.如权利要求5所述的显示装置，其特征在于，所述走线结构中的开关包括下列器件中的一种：

MOS管、薄膜场效应晶体管或继电器。