CN202255778U - 一种用于检测电子产品结构密闭性测试的实验装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种用于检测电子产品结构密闭性测试的实验装置，其包括支架，并且所述支架上设置有能旋转的箱体，所述箱体用于放置试件与粉尘，所述箱体与一用于驱动箱体旋转的驱动机构相连接。本实用新型通过将试件与粉尘放置在箱体内，然后驱动箱体按照预设的旋转速度以及旋转次数旋转，使试件在粉尘环境下进行充分震荡，然后将试件取出测试试件各项功能是否正常，显示屏内是否有明显灰尘，从而提高了电子产品结构密闭性检测的准确性，其操作简便，检测效率高，是现有技术的极大进步。

Description

一种用于检测电子产品结构密闭性测试的实验装置

技术领域

本实用新型涉及一种用于检测电子产品结构密闭性测试的实验装置。

背景技术

随着科学技术的飞速发展，电子产品逐步进入到人们的生活中，比如手机、MP4等电子产品。电子产品中均设置有多个电子单元，电子单元之间通过弱电信号进行通信，如果电子单元上掉落粉尘容易造成短路，损害电子产品中的电路，加速电子产品的老化，缩短电子产品的寿命，短路电流甚至造成电子产品的爆炸，给用户带来较大的损失，增加用户的使用成本。

尤其是电子产品一般均设置有显示屏，以方便用户体验，显示屏是一种将一定的电子文件通过特定的传输设备仪器显示到屏幕上再反射到人眼的一种显示工具，其主要包括TFT液晶显示屏、UFB液晶显示屏、STN屏幕以及AMOLED屏幕，如果显示屏上覆盖较多粉尘，则降低了其显示效果，给用户带来诸多不便。但目前在粉尘环境下对电子产品进行结构密闭性测试的设备尚未见诸报道。

由此可见，现有技术有待于更进一步的改进和发展。

实用新型内容

本实用新型为解决上述现有技术中的缺陷提供一种用于检测电子产品结构密闭性测试的实验装置，解决不能在粉尘环境下对电子产品进行结构密闭性测试的技术问题，以提高电子产品结构密闭性检测的准确性，方便操作。

为解决上述技术问题，本实用新型方案包括：

一种用于检测电子产品结构密闭性测试的实验装置，其包括支架，其中，所述支架上设置有旋转的箱体，所述箱体用于放置试件与粉尘，所述箱体与一用于驱动箱体旋转的驱动机构相连接。

所述的实验装置，其中，所述箱体相向的侧壁上分别设置有转轴，两个转轴位于同一轴线，一个转轴设置在支架的轴承内，另一个转轴与所述驱动机构相连接。

所述的实验装置，其中，所述驱动机构包括一减速电机，所述减速电机的动力输出轴与一联轴器相连接，所述联轴器与所述另一个转轴相连接；所述减速电机上设置有一转速控制器，所述转速控制器上设置有用于记录所述箱体旋转次数的计数器。

所述的实验装置，其中，所述支架底部均匀设置有多个可调脚垫。

所述的实验装置，其中，所述箱体的任一侧壁上设置有一用于放入试件与粉尘的入口，与设置有所述入口的侧壁相向之侧壁的下部设置有粉尘清理出口，所述入口配置有一密封门体，所述粉尘清理出口配置有一旋塞。

所述的实验装置，其中，所述入口为方形，所述粉尘清理出口为圆形。

本实用新型提供了一种用于检测电子产品结构密闭性测试的实验装置，通过将试件与粉尘放置在箱体内，然后驱动箱体按照预设的旋转速度以及旋转次数旋转，使试件在粉尘环境下进行充分震荡，然后将试件取出测试试件各项功能是否正常，显示屏内是否有明显灰尘，从而提高了电子产品结构密闭性检测的准确性，其操作简便，检测效率高，是现有技术的极大进步。

附图说明

图1是本实用新型中实验装置的结构简图；

图2是本实用新型中实验装置的后视结构简图。

具体实施方式

本实用新型提供了一种用于检测电子产品结构密闭性测试的实验装置，为了使本实用新型的目的、技术方案以及优点更清楚、明确，以下将结合附图与实施例，对本实用新型进一步详细说明。

本实用新型提供了一种用于检测电子产品结构密闭性测试的实验装置，采用机械结构检测电子产品，比如手机、MP4等电子产品结构的密闭性，提高了电子产品结构密闭性检测的准确性。如图1所示的，其包括支架101，所述支架101可以采用由钢材焊接制成的普通支架，比如大体呈长方体的支架，并在其上预留多个布置空间，方便了各个部件的安装，当然所述支架101也可以采用现有技术其他形式技术手段。所述支架101上设置有能旋转的箱体102，所述箱体102用于放置试件与粉尘，试件可以采用手机、MP4等电子产品，粉尘一般采用300目的滑石粉来模拟环境中的粉状物，显然的，将试件与粉尘放置在所述箱体102内进行实验时，其实验过程中所述箱体102始终处于密闭状态。所述箱体102与一用于驱动箱体旋转的驱动机构相连接，进而控制所述箱体102的旋转速度、旋转次数、旋转时间等因素，更进一步的检测了电子产品尤其是小型电子产品在恶劣气候环境中可靠性。

为了更进一步提高本实用新型的性能，所述箱体101相向的侧壁上分别设置有转轴103与转轴104，如图1与图2所示的，转轴103与转轴104位于同一轴线，使所述箱体102旋转更流畅，一个转轴103设置在所述支架101的轴承105内，另一个转轴104与所述驱动机构相连接，显然的，转轴104也可以设置在所述支架101另一轴承106内，然后再与所述驱动机构相连接，使所述箱体101运行更稳定。

更进一步的，所述驱动机构包括一减速电机107，所述减速电机107也可以采用伺服电机，还可以采用现有技术中其他的技术形式。所述减速电机107的动力输出轴与一联轴器108相连接，所述联轴器108与所述另一个转轴104相连接；所述减速电机107上设置有一转速控制器109，所述转速控制器109控制所述减速电机107的旋转方向、旋转次数、旋转速度等设置，提高了本实用新型的操控性，所述转速控制器109上设置有用于记录所述箱体101旋转次数的计数器110，也可以在所述计数器110上预设所述减速电机107的旋转次数，进而当所述箱体102旋转到预设次数时，所述减速电机107停止旋转，使本实用新型操作更加方便。

更进一步的，所述支架101底部均匀设置有多个可调脚垫111，例如所述支架101底部为方形时，可以在所述支架101底部的四角分别设置一个可调脚垫111，从而可以调整所述支架101底部始终处于水平状态，进而提高了检测的稳定性。

更进一步的，所述箱体102的任一侧壁上设置有一用于放入试件与粉尘的入口，为了描述方便假定所述入口设置在前侧壁112上，如图2所示的，与所述前侧壁112相向的后侧壁113的下部设置有粉尘清理出口，所述入口配置有一密封门体114，所述粉尘清理出口配置有一旋塞115，用户可以将所述密封门体114打开进而将试件与粉尘放入所述箱体102内，也可以将试件从所述密封门体114取出，而将所述旋塞115打开，将粉尘从所述粉尘清理出口清理、排放出去。

更进一步的，所述入口为方形，方便了取放试件与粉尘，并且其加工工艺简单，降低了其制造成本，而所述粉尘清理出口为圆形，在保证了能将粉尘彻底清理的前提下，提高了所述箱体101的密闭性，提高了测试的准确性。

应当理解的是，上述针对较佳实施例的描述较为详细，并不能因此而认为是对本实用新型专利保护范围的限制，本领域的普通技术人员在本实用新型的启示下，在不脱离本实用新型权利要求所保护的范围情况下，还可以做出替换、简单组合等多种变形，这些均落入本实用新型的保护范围之内，本实用新型的请求保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (6)

1.一种用于检测电子产品结构密闭性测试的实验装置，其包括支架，其特征在于，所述支架上设置有旋转的箱体，所述箱体用于放置试件与粉尘，所述箱体与一用于驱动箱体旋转的驱动机构相连接。

2.根据权利要求1所述的实验装置，其特征在于，所述箱体相向的侧壁上分别设置有转轴，两个转轴位于同一轴线，一个转轴设置在支架的轴承内，另一个转轴与所述驱动机构相连接。

3.根据权利要求2所述的实验装置，其特征在于，所述驱动机构包括一减速电机，所述减速电机的动力输出轴与一联轴器相连接，所述联轴器与所述另一个转轴相连接；所述减速电机上设置有一转速控制器，所述转速控制器上设置有用于记录所述箱体旋转次数的计数器。

4.根据权利要求1所述的实验装置，其特征在于，所述支架底部均匀设置有多个可调脚垫。

5.根据权利要求1所述的实验装置，其特征在于，所述箱体的任一侧壁上设置有一用于放入试件与粉尘的入口，与设置有所述入口的侧壁相向之侧壁的下部设置有粉尘清理出口，所述入口配置有一密封门体，所述粉尘清理出口配置有一旋塞。

6.根据权利要求5所述的实验装置，其特征在于，所述入口为方形，所述粉尘清理出口为圆形。

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