CN201885666U - 一种面型检定仪 - Google Patents

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Abstract

本实用新型提供一种面型检定仪,包括测量基板、指示类传感器、测量头、螺钉和3个柱销;所述3个柱销固定于所述测量基板上,所述指示类传感器通过螺钉固定于所述测量基板中心处,所述测量头连接所述指示类传感器。本实用新型通过连接指示类传感器的测量头与3个柱销底面所在平面之间的差异,可以快速判断出测量平面与基准平面之间的差距;本实用新型可以简单、快速、准确的检测不同口径加工面的面形情况,本实用新型可以通过更改3个柱销的位置、测量基板的大小来调整测量面的大小;更换精度更高的指示类传感器来提高测量的精度值;更换不同的标准件可以分别对球面、平面面形进行相应的测量。

Description

一种面型检定仪
【技术领域】
[0001] 本实用新型涉及测量技术领域,特别涉及一种面型检定仪。 【背景技术】
[0002] 现行的加工技术中关于加工面面形的检测没有一个比较好的办法,在实际的加工 过程中存在着一定的弊端:测量成本高、测量难度大、不利于现场加工和生产。
【实用新型内容】
[0003] 本实用新型的目的是提供一种面型检定仪,以解决上述技术问题。
[0004] 为了实现上述目的,本实用新型采用如下技术方案:
[0005] 一种面型检定仪,包括测量基板、指示类传感器或指示表、测量头、螺钉和3个柱 销;所述3个柱销固定于所述测量基板上,所述指示类传感器或指示表通过螺钉固定于所 述测量基板中心处,所述测量头连接所述指示类传感器或指示表。
[0006] 3个柱销底部共面。
[0007] 所述指示表为千分表。
[0008] 与现有技术相比,本实用新型具有以下优点:本实用新型一种面型检定仪通过设 置一测量基板,基板上固定有3个底部共面的柱销,基板中心处固定有一个指示类传感器, 通过连接指示类传感器的测量头与3个柱销底面所在平面之间的差异,可以快速判断出测 量平面与基准平面之间的差距;本实用新型可以简单、快速、准确的检测不同口径加工面的 面形情况,本实用新型可以通过更改3个柱销的位置、测量基板的大小来调整测量面的大 小;更换精度更高的指示类传感器来提高测量的精度值;更换不同的标准件可以分别对球 面、平面面形进行相应的测量。
【附图说明】
[0009] 图1为本实用新型一种面型检定仪的结构示意图。 【具体实施方式】
[0010] 下面结合附图对本实用新型做进一步详细描述。
[0011] 请参阅图1所示,本实用新型一种面型检定仪包括测量基板1、指示表或指示类传 感器2、测量头21、螺钉3和柱销4。
[0012] 本实施例使用千分表作为指示表2,在测量时使用一个标准平板作为标准件进行 对比测量。使用时首先将3个柱销4安装到测量基板1上,将千分表安装到测量基板1的 中心位置,用螺钉3进行固定;其次将面型检定仪放到标准平板上,调节千分尺的测量头21 的位置使千分尺对零,3个柱销4和测量头21的底部共面;最后将对零好的面型检定仪放 到待检测件的表面上,根据千分表中的读数可以判断出测量平面与标准平板之间的差距。
[0013] 在实际测量中可以更改3个柱销的位置、测量基板1的大小来调整测量面的大小;更换精度更高的指示类传感器2来提高测量的精度值;更换不同的标准件可以分别对球 面、平面面形进行相应的测量。

Claims (3)

1. 一种面型检定仪,其特征在于:包括测量基板(1)、指示类传感器或指示表(2)、测量 头(21)、螺钉(3)和3个柱销(4);所述3个柱销(4)固定于所述测量基板⑴上,所述指 示类传感器或指示表(2)通过螺钉(3)固定于所述测量基板(1)中心处,所述测量头(21) 连接所述指示类传感器或指示表(2)。
2.如权利要求1所述一种面型检定仪,其特征在于:3个柱销(4)底部共面。
3.如权利要求1或2所述一种面型检定仪,其特征在于:所述指示表(2)为千分表。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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CN104330009A (zh) * 2014-10-17 2015-02-04 中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所 零件高度尺寸测量方法及测量工装

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