CN201600928U - 一种芯片测试系统及自动测试向量发生器atpg - Google Patents
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Abstract
一种能对不同型号的闪存芯片进行测试与软件加载的系统。它利用现场可编程门阵列FPGA芯片设计一个引脚可配置芯片测试座，结合自动测试向量发生器ATPG功能，克服了现有边界扫描测试与加载设备测试脚本编写困难的不足，大幅缩短了测试周期，降低了测试成本。
Description
所属技术领域
本实用新型涉及一种芯片测试系统，它具有自动测试向量发生器ATPG功能，尤其适合对不同型号的闪存芯片进行测试与软件加载。
背景技术
目前，闪存芯片的测试与软件加载主要通过边界扫描测试与加载设备进行。使用者要针对不同型号的闪存芯片分别编写测试脚本，通过测试脚本产生相应的测试向量，才能进行测试。但测试脚本编写有一定难度，工作量大，通用性差，延长了测试周期，加大了测试成本。
发明内容
为了克服现有的边界扫描测试与加载设备测试脚本编写困难的不足，本实用新型提供一种测试系统和自动测试向量发生器ATPG，该测试系统能对不同型号的闪存芯片进行自动测试。
本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：利用现场可编程门阵列FPGA芯片，设计一个引脚可配置芯片测试座，使FPGA芯片IO引脚与芯片测试座引脚固定连接，通过配置芯片，对FPGA芯片IO引脚功能与输入/输出属性进行重新配置，从而与不同型号被测闪存芯片交互数据。
自动测试向量发生器ATPG根据被测闪存型号，产生相应测试向量，通过现场可编程门阵列FPGA芯片IO引脚送入被测闪存芯片，把闪存输出数据与期望值对比，达到故障诊断与定位的目的。
本实用新型的有益效果是，用户只需把被测闪存芯片型号输入计算机，不用编写测试脚本，大幅缩短了测试周期，降低了测试成本。
附图说明
下面结合附图和实施例对本实用新型进一步说明。
图1是本实用新型的系统框图。
图2是引脚可配置芯片测试座的电路原理框图。
具体实施方式
在图1中，在控制软件模块控制下，通过所述控制计算机USB接口，向所述配置芯片发送配置数据，向所述Nand Flash发送待加载数据，从被测闪存芯片数据总线读出闪存输出数据，把该输出数据送回计算机并与期望值对比。若输出数据与期望值相同，则被测存储单元正常；若不相同，则被测存储单元损坏；若被测闪存是Nor Flash，则判定整个芯片损坏；若被测闪存是Nand Flash，则进行坏块标注，若损坏单元超过限度，判定整个Nand Flash芯片损坏。
在图2中，USB接口控制器首先接收控制计算机发送的现场可编程门阵列FPGA配置文件，并将其写入配置芯片；USB接口控制器再接收控制计算机发送的待加载数据，并将其写入Nand Flash；最后，USB接口控制器接收控制计算机发送的自动测试向量发生器ATPG产生的测试向量，并将其写入Nand Flash。
配置芯片对FPGA进行配置。FPGA正常工作后，向被测闪存地址总线、数据总线、控制总线写入测试向量，从数据总线读出被测闪存输出数据。该输出数据由USB接口控制器送回控制计算机，由控制计算机进行数据分析，给出故障诊断与定位结果。
若被测闪存没有故障，FPGA则将Nand Flash中的待加载数据写入被测闪存。至此闪存的测试与加载结束。
所述自动测试向量发生器ATPG可产生4种长度可变的测试向量：
00000000 全0序列
00000001 走步1序列，只有一个1，其余位均为0
00000010 走步1序列
10000000 走步1序列
11111110 走步0序列，只有一个0，其余位均为1
11111101 走步0序列
01111111 走步0序列
11111111 全1序列
以上4种序列产生容易，测试完备性较好，非常适合闪存芯片的测试。
Claims (6)
1.一种引脚可配置芯片测试座，包括：
1组IO口；一个边界扫描JTAG接口；一个通用串行总线USB接口；
其特征在于，所述引脚可配置芯片测试座还包括：
一个现场可编程门阵列FPGA芯片；一个配置芯片；一个Nand Flash闪存芯片；一个自动测试向量发生器ATPG。
2.如权利要求1所述的引脚可配置芯片测试座，其特征在于，所述IO口功能与输入/输出属性可通过现场可编程门阵列FPGA芯片重新配置。
3.如权利要求1所述的引脚可配置芯片测试座，其特征在于，所述IO口功能可被重新配置，用于与不同型号被测闪存芯片交互数据。
4.如权利要求1所述的引脚可配置芯片测试座，其特征在于，所述自动测试向量发生器ATPG可自动产生被测芯片地址向量、数据向量、控制向量。
5.如权利要求1所述的引脚可配置芯片测试座，其特征在于，所述通用串行总线USB接口用于与控制计算机进行配置与控制数据交互。
6.一种芯片测试系统，包括：
1台具有USB接口的控制计算机；被测闪存芯片；控制软件模块；一个引脚可配置芯片测试座；其特征在于，所述芯片测试系统，在控制软件模块控制下，通过控制计算机USB接口，与引脚可配置芯片测试座交互数据，达到重新配置引脚功能与输入/输出属性，并向自动测试向量发生器ATPG发送控制数据。
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