CN201514385U - 磁片表面缺陷检测设备 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及一种磁片表面检测设备，其包括有工作台，工作台上设置有可围绕自身中轴线旋转的第一基座以及第一支架。其中第一基座与一第一电机驱动装置连接，并可在其驱动下进行旋转；且基座上还设置有若干存储槽。第一支架上设置有检测用第一照相机，其用于为待检测的放置于第一基座收容槽内的待检测磁片进行拍照以获得待测磁片的表面图像信息。这些图像信息将被输送至图像分析系统，图像分析系统对输送的待测磁片的图片信息进行分析，并根据分析结果以确定待测磁片是否表面无缺陷。

Description

磁片表面缺陷检测设备

技术领域

本实用新型涉及一种磁片表面缺陷检测设备，尤其是一种用于检测经电镀后的磁片，其表面是否存在缺陷的检测设备。

背景技术

目前，随着计算机技术的发展，用于存储计算机数据的磁片技术也得到了广泛的应用和发展。而计算机硬件中，比较常见的硬盘内就会设置有若干用于存储数据的磁片，这些磁片在设置到硬盘内之前，通常会经过测试程序，以确保其品质。

在检测磁片品质的测试程序中，通常都会包括有一道检测磁片电镀后，其表面是否存在表面缺陷的检测程序。而磁片表面缺陷，通常是指其外观缺陷，包括生锈、针孔/烂毛、污斑/黄斑/烧焦、磕边、镀层划痕、变形、破角、白雾、杂物、阴裂、刀丝/切割痕、突起、亮斑、叠印、氧化凹陷等等。业界对于电镀后磁片表面缺陷的检测，一般都是采用人工检测的方式，通过操作人员的视觉检测来确定磁片表面是否存在上述的缺陷。

而对于人工检测方式而言，一方面费时费力，工作效率不高，另一方面，其检测精度并不能保证，具有一定的检测不确定性。对于一些磁片表面上的细微瑕疵，采用人工检测方式，很可能会被忽略。这样，就会遗漏一些有品质缺陷的磁片，从而导致后续产品的品质瑕疵。

因此，业界急需一种磁片表面缺陷检测设备，来改善或解决上述问题。

实用新型内容

为了克服现有业界采用的磁片表面缺陷人工检测方式，所带来的检测的不确定性，且工作效率低下的问题。本实用新型提供一种磁片表面缺陷检测设备，其工作效率较高，并可实现对磁片表面缺陷较高效率的检测。

本实用新型所采用的技术方案是：一种磁片表面缺陷检测设备，其包括有工作台，工作台上设置有可围绕自身中轴线旋转的第一基座以及第一支架。其中第一基座与一第一电机驱动装置连接，并可在其驱动下进行旋转；且基座上还设置有若干存储槽。第一支架上设置有检测用第一照相机，其用于为待检测的放置于第一基座收容槽内的待检测磁片进行拍照以获得待测磁片的表面图像信息。这些图像信息将被输送至图像分析系统，图像分析系统对输送的待测磁片的图片信息进行分析，并根据分析结果以确定待测磁片是否表面无缺陷。其中涉及使用的检测方式是根据业界已知的机器视觉技术来进行的全自动检测。

进一步的，在不同实施方式中，其中第一支架上还设置有灯光装置，其设置于检测用第一照相机的下方。

进一步的，在不同实施方式中，其中工作台上还设置有第二支架，其上设置有检测用第二照相机。

进一步的，在不同实施方式中，其中第二支架上还设置有条形灯光装置，其设置于检测用第二照相机的下方。

进一步的，在不同实施方式中，其中其还包括有第二基座，其上设置有转动盘和设置于其下的固定盘。其中转动盘与一第二电机驱动装置连接，并可在其驱动下进行旋转，且转动盘朝向下的一面上设置有若干用于收容磁片的收容槽。第二基座的下方还设置有检测用的第三照相机。

进一步的，在不同实施方式中，其中第一基座与第二基座在空间上部分重叠，而重叠部分，第二基座的转动盘位于第一基座的上方。

进一步的，在不同实施方式中，其中第二基座的转动盘上还设置有真空吸附装置，其用于将放置在第一基座收容槽内的待测磁片吸附到第二基座转动盘的收容槽内。

进一步的，在不同实施方式中，其中第二基座的下方还设置有第四检测用照相机。

进一步的，其中第三、第四检测用照相机都是镜头朝上，以正对第二基座转动盘上设置的开口向下的存储槽。

进一步的，在不同实施方式中，其中工作台上还设置有送料装置。其用于存放并输出通过检测的正品磁片。

进一步的，在不同实施方式中，其中工作台上还设置有次品存放装置。其用于存放未通过检测的次品磁片。

进一步的，在不同实施方式中，其中工作台上还设置有待定品存放装置。其用于存放品质待定的磁片。

进一步的，为了进一步的提高本实用新型涉及的磁片表面瑕疵检测设备的工作效率，本实用新型的又一个实施方式提供了一种用于输送待测磁片的送料装置，其可自动的连续输送待测磁片，进一步的提高了整个检测设备的工作效率。

其采用的技术方案为，一种待测磁片的送料装置，其包括有第一、第二传送带装置。其还包括有若干用于放置在传送带上进行输送的储料盒，每个储料盒内都设有存储空间。储料盒的存储空间在上部开口以放入待测磁片，且其底部也设置有一个开孔以连通内外。第一传送带装置上也设置有一个开口，其下方设置有一个顶杆，顶杆与一个动力装置连接，并可在动力装置的驱动下进行上下方向上的往返运动，在向上运动时，其可在第一传送带装置的开口处向上顶出。

使用时，若干待测磁片从储料盒的上部开口以叠压的方式依次放置到储料盒的存储空间内。当存放有磁片的储料盒移动到第一传送带装置上的开口处时，顶杆在动力装置的驱动下向上顶起，其会通过第一传送带装置的开口以及储料盒底部的开孔，进入到储料盒的内部，进而顶起其内存储的磁片向上。然后顶出储料盒的磁片可被放置到第一基座的收容槽内，进行后续的检测。

进一步的，在不同实施方式中，其中与顶杆连接的动力装置为驱动马达装置。

进一步的，在不同实施方式中，其中第一传送带装置和第二传送带装置并列相邻设置。

进一步的，在不同实施方式中，其中第一传送带装置和第二传送带装置的输送方向相反。

进一步的，在不同实施方式中，其中其还包括有推动装置，其与一个动力装置连接，并可在动力装置的驱动下，将位于第一传送带装置上的储料盒推送到第二传送带装置上。

进一步的，在不同实施方式中，其中推动装置可以是一个推板装置。

进一步的，在不同实施方式中，其中与推动装置连接的动力装置为气缸动力装置。

进一步的，为了保证传送带装置上的储料盒在输送过程中，不会因为输送过程中传送带的运动或其他意外因素而脱离传送带，本实用新型的又一个实施方式提供了一种用于与传送带装置配合使用的夹紧装置，其与传送带装置配合使用，以确保传送带装置上输送的物体，能够稳固的放置在传送带装置上。

其采用的技术方案为，一种用于与传送带装置配合使用的夹紧装置，其包括有用于安装到传送带装置上的并可进行枢轴转动的转动挡钩以及动力装置。其中动力装置可推动转动挡钩进行枢轴转动，如此使得转动挡钩能够挡在传送带装置的输送方向上。

进一步的，在不同实施方式中，其中转动挡钩转动的最大角度为90度。如此使得转动后的转动挡钩的位置垂直于传送带的输送方向。

进一步的，在不同实施方式中，其中转动挡钩包括有支柱以及枢轴安转在其上的成L型的挡钩。其中其L型的长边用于抵挡，而短边则用于被推动。

进一步的，在不同实施方式中，其中用于推动挡钩的动力装置为气缸装置。

进一步的，在不同实施方式中，其中其还包括有推杆，动力装置先推动推杆，然后在由推杆推动挡钩转动。

进一步的，在不同实施方式中，其中其还包括有固定挡钩。其用于与转动挡钩配合使用。两者通常一前一后设置，以将输送物稳固的放置在两者之间。

进一步的，在不同实施方式中，其中使用的传送带装置的动力装置为电机驱动装置。

具体使用时，将夹紧装置包括的固定挡钩设置在传送带装置的后部，然后将转动挡钩设置在固定挡钩的前方，当需要输送的物体放置到传送带装置上后，待输送物体的后部被固定挡钩挡住，然后气缸装置推动推杆，进而在由推杆推动转动挡钩进行枢轴转动，使其挡住待输送物体的前部。如此，待输送物体就会稳固的放置在传送带上，不会在输送过程中，轻易的脱离传送带。

进一步的，为了将本实用新型涉及的输送装置输送的待测磁片，能够自动的放置到本实用新型涉及的磁片表面缺陷检测设备的第一基座的收容槽内，本实用新型的又一个实施方式提供了一种取料装置，其可自动地实现待测磁片从送料装置到磁片检测基座间的转移，更进一步的提高了整个设备的工作效率，同时也可避免由人工操作可能带来的问题，例如，人工操作时，因操作不当而损坏磁片表面。

其采用的技术方案为，一种取料装置，其包括有支撑架，其上设置有横向延伸的导轨，导轨上设置有可沿导轨移动的吸附装置。吸附装置与一个第一动力装置连接，并可在其驱动下，沿着导轨进行运动。吸附装置包括有一个基部，其下部设置有一个吸料口，吸料口内设置有一个气管，气管与一个吸气装置连接。

使用时，第一动力装置先将吸附装置沿着导轨移动到预定取料位置，然后吸气装置进行吸气，通过气管，吸料口位置附近形成低气压，进而可吸取其附近的待移动磁片。吸取后，第一动力装置在移动吸附装置沿着导轨移动到放料位置，吸气装置放气，通过气管，吸料口附近的气压恢复正常，磁片在自身重力作用下掉落。如此，完成一次取料、放料操作。

进一步的，在不同实施方式中，其中第一动力装置为横向气缸装置。

进一步的，在不同实施方式中，其中吸附装置还与一个第二动力装置连接，并可在其驱动下，进行竖直向的往返运动。如此，通过在竖直向的高度调整，可使得吸附装置能够更好的吸附待移动的物体。

进一步的，在不同实施方式中，其中与吸附装置连接的第二动力装置为竖直气缸装置。

本实用新型的有益效果是，提供了一种磁片表面缺陷检测装置，利用机器视觉技术自动的进行磁片表面缺陷的检测，省时省力，可有效的提高检测磁片表面缺陷的工作效率，节省了大量的人力和时间。同时，也可在一定程度上确保磁片表面缺陷的检测效果，提高了检测效果的确定性。

附图说明

图1是本实用新型一个实施方式涉及的磁片表面缺陷检测设备的结构示意图；

图2是图1所示的磁片输送装置的结构示意图；

图3是图2所示的磁片输送装置又一个角度下的结构示意图；

图4是本实用新型涉及的用于与图2所示的磁片输送装置配合使用的夹紧装置的结构示意图；

图5是图1所示的取料装置的结构示意图；

图6是图5所示的取料装置又一个角度下的结构示意图；

图7是图1所示的磁片表面缺陷检测设备的第二基座的结构示意图；

图8是图7所示的第二基座的吸料装置的结构示意图；

图9是图1所示的磁片表面缺陷检测设备又一个角度下的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图详细说明本实用新型的具体实施方式。

请参阅图1所示，本实用新型涉及的一种磁片表面缺陷检测设备100，其包括有工作台110，工作台110上设置有送料装置120、取料装置130、第一支架140、第二支架150、第一检测用基座160、第二检测用基座170以及出料装置180。其中送料装置120用于将待测磁片输送到预定地点，而取料装置130则将待测磁片依次传递给第一检测用基座，然后再由第二检测用基座进行检测，最后合格磁片则会输送给出料装置输出。另外，工作台110上，还设置有次品存放装置112以及待定品存放装置114，用于分别存放次品和待定品。

请参阅图2、3所示，送料装置120包括有并排设置的但两者输送方向相反的第一、第二传送带装置122、124。其中第一传送带装置122上设置有若干储料盒121。每个储料盒内都设置有一个存储空间，其上部开口，且底部也设置有一个开孔以连通内外。

进一步的，在第一传送带装置120的前部上也设置有一个开口123，其下方设置有一个顶杆125，顶杆与一个驱动马达127连接，并可在气缸动力装置127的驱动下进行上下方向上的往返运动，进而可在第一传送带装置122的开口处123向上顶出。

进一步的，送料装置120在第一传送带装置前端的一侧还设置有推板装置126，其与一个气缸动力装置128连接，并可在气缸动力装置的驱动下，进行横向的往返运动。

进一步的，为了保证传送带装置上的储料盒在输送过程中，不会因为输送过程中传送带的运动或其他意外因素而脱离传送带，送料装置120上还设置有用于与传送带装置配合使用的夹紧装置190。

请参阅图4所示，一种用于与传送带装置配合使用的夹紧装置，其包括有用于安装到传送带装置上的并可进行枢轴转动的转动挡钩192以及用于驱动其进行转动的气缸动力装置194。进一步的，气缸动力装置194是通过一个推杆196，进而推动转动挡钩192进行转动的。进一步的，转动挡钩192包括有支柱193以及枢轴安转在其上的成L型的挡钩191，其中其L型的长边用于抵挡，而短边则用于被推动。

气缸动力装置192不推动转动挡钩192旋转时，转动挡钩192基本平行于传送带装置；而当其短边被推动，使得其进行枢轴旋转时，其转动的最大角度使得其基本垂直于传送带装置。

进一步的，其还包括有固定挡钩195(如图1所示)，其与转动挡钩两者一前一后设置(如图1所示)，两者配合使用，以确保固定效果更好。

进一步的，请参阅图5、6所示，取料装置130，其包括有支撑架132，其上设置有水平向延伸的导轨134，导轨上设置有可沿导轨移动的吸附装置136。进一步的，吸附装置136与一个水平向气缸装置138连接，并可在其驱动下，沿着导轨134进行运动。

进一步的，吸附装置136包括有一个基部131，其下部设置有一个吸料口133，吸料口内设置有一个气管135，气管与一个吸气装置(未图示)连接。进一步的，吸附装置136还与一个竖直向的气缸装置137连接，并可在其驱动下进行竖直向的运动。

进一步的，工作台110上设置的第一支架140和第二支架150上，分别设置有用于与第一检测用基座160配合使用的第一检测用照相机142和第二检测用照相机152。在检测用照相机142、152的下方还设置有灯光装置144、154。对于采用的灯光装置，其具体可根据实际的检测需要而定。例如，在本实施方式中，与第二检测用照相机配合使用的灯光装置，即为发射出条形灯光的条形灯光装置。

进一步的，可围绕自身中轴线旋转的第一基座160，其上设置有若干用于存放待测磁片的存储槽162。进一步的，其还与一个驱动电机装置连接，并可在其驱动下进行旋转。如此，通过第一基座的旋转，使得其上设置的存储槽162内的磁片，都可以被检测用照相机拍摄到。

进一步的，请参阅图7所示，第二基座170，其上设置有转盘172和设置于其上的固定盘174。其中第二基座170的下方还设置有检测用的照相机176、178(如图8所示)。进一步的，第一基座与第二基座在空间上部分重叠，而重叠部分，第二基座的转动盘位于第一基座的上方。

进一步的，第二基座的转盘172上还设置有若干朝向下的存储槽171，每个存储槽内都设置有真空吸附装置173，其用于将放置在第一基座收容槽内的待测磁片吸附到第二基座转动盘的收容槽内。进一步的，其中第二基座的转动盘还与一个驱动电机装置175连接，并可在其驱动下进行旋转。如此，通过第二基座转动盘的旋转，使得其上设置的存储槽171内的磁片，都可以被检测用照相机176、178拍摄到。

使用时，若干待测磁片从储料盒的上部开口以叠压的方式依次放置到储料盒121的存储空间内。为了确保储料盒能够稳固的放置在送料装置120的传送带装置上，不会在输送过程中，轻易的脱离传送带。夹紧装置190的固定挡钩会挡住储料盒的后部，然后气缸装置194会推动推杆196，进而在由推杆196推动转动挡钩192进行枢轴转动，使其挡住储料盒121的前部。如此，储料盒就会稳固的放置在传送带上，不会在输送过程中，轻易的脱离传送带。

进一步的，当存放有磁片的储料盒121移动到第一传送带装置122上的开口处123时，顶杆125在驱动马达127的驱动下向上顶起，其会通过第一传送带装置的开口以及储料盒底部的开孔，进入到储料盒的内部，进而顶起其内存储的磁片向上。

然后取料装置130会相应的吸取顶出的磁片，将其放置到第一基座160的收容槽162内，进行后续的检测。具体为，竖直向气缸装置137会先驱动吸附装置136向下，使得其吸料口133贴近顶出磁片，然后吸气装置进行吸气，通过气管135，在吸料口位置附近形成低气压，进而吸取其附近的待移动磁片。吸取后，竖直向气缸装置137驱动吸附装置回复原位，然后吸附装置会在水平向气缸装置138的驱动下沿着导轨134移动到第一基座的存储槽162的上方，位置下降后，吸气装置放气，通过气管，吸料口附近的气压恢复正常，磁片在自身重力作用下落入存储槽内。

第一基座160在驱动电机的驱动下进行转动，使得其存储槽内的磁片都会经过第一支架140及第二支架150上设置的检测用照相机的142、152下方，以进行磁片正面图像获得。相应的，当检测后的磁片，在随同第一基座160转动，转动到与第二基座170的转盘172的下方时，第二基座170的转盘上设置的存储槽171，会通过其内设置的真空吸附装置173，将磁片吸附到其内，然后随着转盘172的转动，第二基座170下方设置的检测用照相机176、178对磁片的反面进行图像获得。随着转盘的转动，当检测完成后，确定了不同品质的磁片，会在不同的位置被放下(存储槽171内的真空吸附装置173停止工作，即可使得磁片在自身重力的作用下，落下)，以进行收集。相应的，工作台上除了出料装置180外，还设置了次品和待定品存放装置112、114。进一步的，对于出料装置，其结构类似于送料装置，只是不需设置顶杆，因此，对于其采用的具体结构，此处不再赘述。

本实用新型的有益效果是，提供了一种磁片表面缺陷检测装置，利用机器视觉技术自动的进行磁片表面缺陷的检测，省时省力，可有效的提高检测磁片表面缺陷的工作效率，节省了大量的人力和时间。同时，也可在一定程度上确保磁片表面缺陷的检测效果，提高了检测效果的确定性。

以上所述仅为本实用新型的较佳实施方式，本实用新型的保护范围并不以上述实施方式为限，但凡本领域普通技术人员根据本实用新型所揭示内容所作的等效修饰或变化，皆应纳入权利要求书中记载的保护范围内。

Claims (10)

1.一种磁片表面缺陷检测设备，其特征在于，其包括有工作台，所述工作台上设置有可围绕自身中轴线旋转的第一基座以及第一支架；其中所述第一基座与一第一电机驱动装置连接，并可在其驱动下进行旋转；且所述基座上还设置有若干存储槽；所述第一支架上设置有检测用第一照相机，其用于为待检测的放置于第一基座收容槽内的待检测磁片进行拍照以获得待测磁片的表面图像信息。

2.根据权利要求1所述的磁片表面缺陷检测设备，其特征在于，其中所述第一支架上还设置有灯光装置，其设置于所述检测用第一照相机的下方。

3.根据权利要求1所述的磁片表面缺陷检测设备，其特征在于，其中所述工作台上还设置有第二支架，其上设置有检测用第二照相机。

4.根据权利要求3所述的磁片表面缺陷检测设备，其特征在于，其中所述第二支架上还设置有条形灯光装置，其设置于所述检测用第二照相机的下方。

5.根据权利要求1所述的磁片表面缺陷检测设备，其特征在于，其其还包括有第二基座，其上设置有转动盘和设置于其下的固定盘；其中所述转动盘与一第二电机驱动装置连接，并可在其驱动下进行旋转，且所述转动盘朝向下的一面上设置有若干用于收容磁片的收容槽；而所述第二基座的下方还设置有检测用的第三照相机。

6.根据权利要求5所述的磁片表面缺陷检测设备，其特征在于，其中所述第一基座与第二基座在空间上部分重叠，而重叠部分，所述第二基座的转动盘位于所述第一基座的上方。

7.根据权利要求5所述的磁片表面缺陷检测设备，其特征在于，其中所述第二基座的转动盘上还设置有真空吸附装置，其用于将放置在所述第一基座收容槽内的待测磁片吸附到所述第二基座转动盘的收容槽内。

8.根据权利要求5所述的磁片表面缺陷检测设备，其特征在于，其中所述第二基座的下方还设置有第四检测用照相机。

9.根据权利要求1所述的磁片表面缺陷检测设备，其特征在于，其中所述工作台上还设置有送料装置。

10.根据权利要求1所述的磁片表面缺陷检测设备，其特征在于，其中所述工作台上还设置有次品存放装置以及待定品存放装置。

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