CN201355367Y - 一种测试探针 - Google Patents
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Abstract
一种测试探针，包括针套和探针针体，所述探针针体的前部为用于接触测试点的探测头，所述探针针体的后部装于所述针套的头部，所述针套的尾部通过导线与测试机相连接，所述的探测头上套设有一绝缘套，所述的绝缘套高出所述的探测头。所述针套的头部设有插接所述探针针体的插槽，将所述的探针针体的后部插于所述针套的头部，所述探针针体的探测头接触测试点，所述针套的尾部通过导线与测试机连接起来。所述的绝缘套高出所述的探测头，可以测试在绝缘套所覆盖范围内的插件，能准确测试，可以防止探测头的滑动带来测试的不准。由于探测头上套设有绝缘套，因此即使在测试测试点较密集的检测件时相互间也不会产生干扰。
Description
(一)技术领域
本实用新型涉及测试器具，尤其涉及一种测试探针。
(二)背景技术
一般情况下，印刷电路板及芯片在完成线路布置后，为确定每一条线路皆可正常导通，通常必须予以测试，以将电子线路完好的印刷电路板及芯片挑出，再将各电子元件固定在该印刷电路板及芯片上。现有的测试探针由针套和针体组成，针体套于针套的前端，外露的部分形成探测头。在使用时，针体的探测头与测试点相接触，针套的尾部通过导线连接测试机。其存在的缺点是：1.如果探测头呈圆弧状，在测试测试点时容易滑动，就不能很好的对准测试点，也很容易测错测试点。2.进行测试时，如果电路板或芯片上的焊接点较密时，用于测试的测试探针排列的就较紧密，在通电测试时测试探针之间就会相互影响，严重时甚至会产生电火花。
(三)发明内容
为了克服现有测试探针在测试测试点时容易滑动的不足，本实用新型提供一种在测试时不易滑动且能很快对准测试点的测试探针。
本实用新型的另一目即使在测试点较密集的检测件时相互间也不会产生干扰的绝缘测试探针。
本实用新型解决其技术问题的技术方案是：一种测试探针，包括针套和探针针体，所述探针针体的前部为用于接触测试点的探测头，所述探针针体的后部装于所述针套的头部，所述针套的尾部通过导线与测试机相连接，所述的探测头上套设有一绝缘套，所述的绝缘套高出所述的探测头。
所述针套的头部设有插接所述探针针体的插槽，便于将探针针体固定在针套上。
所述探测头的结构可以根据不同测试点的实际情况而定，所述的探测头可以呈圆弧状，所述的探测头还可以具有齿口。
本实用新型在使用时，将所述的探针针体插于所述针套的头部的插槽内，所述探针针体的探测头接触测试点，所述针套的尾部通过导线与测试机连接起来。
本实用新型的有益效果在于：1.所述的绝缘套高出所述的探测头，可以测试在绝缘套所覆盖范围内的插件，能准确测试，可以防止探测头的滑动带来测试的不准。2.由于探测头上套设有一绝缘套，因此即使在测试测试点较密集的检测件时相互间也不会产生干扰。
(四)附图说明
图1是本实用新型测试探针的结构示意图。
(五)具体实施方式
下面结合附图和具体实施方式对本实用新型作进一步详细说明。
图1是本实用新型测试探针的结构图，包括针套1和探针针体2，所述探针针体2的前部为用于接触测试点的探测头3，所述探针针体2的后部装于所述针套1的头部，所述针套1的尾部通过导线与测试机相连接，所述的探测头3上套设有一绝缘套4，所述绝缘套4高出所述的探测头3。所述针套1的头部设有插接所述探针针体2的插槽，将所述的探针针体2插于所述针套1头部的插槽内，所述的探测头3呈圆弧状，所述探针针体2的探测头3接触测试点，所述针套1的尾部与导线相连接，然后导线与测试机连接起来。由于探测头3上套设有一绝缘套4，且绝缘套4高出探测头3，可以测试在绝缘套4所覆盖范围内的插件，并能准确测试，可以防止探测头3的滑动带来测试的不准。由于探测头3上套设有绝缘套4，即使在测试测试点较密集的检测件时相互间也不会产生干扰。
Claims (4)
1.一种测试探针，包括针套和探针针体，所述探针针体的前部为用于接触测试点的探测头，所述探针针体的后部装于所述针套的头部，所述针套的尾部通过导线与测试机相连接，其特征在于：所述的探测头上套设有一绝缘套，所述的绝缘套高出所述的探测头。
2.按照权利要求1所述的一种测试探针，其特征在于：所述针套的头部设有插接所述探针针体的插槽。
3.按照权利要求1所述的一种测试探针，其特征在于：所述的探测头呈圆弧状。
4.按照权利要求1所述的一种测试探针，其特征在于：所述的探测头上具有齿口。
Priority Applications (1)
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|---|---|---|---|
| CNU200920114182XU CN201355367Y (zh) | 2009-02-26 | 2009-02-26 | 一种测试探针 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| CNU200920114182XU CN201355367Y (zh) | 2009-02-26 | 2009-02-26 | 一种测试探针 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN201355367Y true CN201355367Y (zh) | 2009-12-02 |
Family
ID=41411709
Family Applications (1)
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| CNU200920114182XU Expired - Fee Related CN201355367Y (zh) | 2009-02-26 | 2009-02-26 | 一种测试探针 |
Country Status (1)
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| CN (1) | CN201355367Y (zh) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103808982A (zh) * | 2012-11-14 | 2014-05-21 | 华为技术有限公司 | 一种电压探头 |
| CN104714062A (zh) * | 2013-12-13 | 2015-06-17 | 神讯电脑(昆山)有限公司 | 防短路信号测试探针 |
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2009
- 2009-02-26 CN CNU200920114182XU patent/CN201355367Y/zh not_active Expired - Fee Related
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|---|---|---|---|---|
| CN103808982A (zh) * | 2012-11-14 | 2014-05-21 | 华为技术有限公司 | 一种电压探头 |
| CN104714062A (zh) * | 2013-12-13 | 2015-06-17 | 神讯电脑(昆山)有限公司 | 防短路信号测试探针 |
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Legal Events
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Assignee: Ningbo Ke Sheng Electronics Co., Ltd. Assignor: Shen Fangzhen Contract record no.: 2010330001693 Denomination of utility model: Test probe apparatus Granted publication date: 20091202 License type: Exclusive License Record date: 20100819 |
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Assignee: Ningbo Ke Sheng Electronics Co., Ltd. Assignor: Shen Fangzhen Contract record no.: 2010330001693 Denomination of utility model: Test probe apparatus Granted publication date: 20091202 License type: Exclusive License Record date: 20100819 |
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| LICC | Enforcement, change and cancellation of record of contracts on the licence for exploitation of a patent or utility model | ||
| CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |
Granted publication date: 20091202 Termination date: 20150226 |
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