CN201035046Y - 一种双头测试探针 - Google Patents

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CN201035046Y CNU2007201083399U CN200720108339U CN201035046Y CN 201035046 Y CN201035046 Y CN 201035046Y CN U2007201083399 U CNU2007201083399 U CN U2007201083399U CN 200720108339 U CN200720108339 U CN 200720108339U CN 201035046 Y CN201035046 Y CN 201035046Y
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Abstract

一种双头测试探针，包括针套，针套内设有轴向的压簧，还包括用于探测测试点的探测针头和用于连接测试机的探测针尾，探测针头套于针套的前端，探测针尾套于针套的后端，探测针头和探测针尾通过压簧连接，探测针头外露于针套外的部分形成探测头，探测针尾外露于针套外的部分形成连接针尾；探测针头和探测针尾上均设有防止其滑出针套的止退台阶，针套的两端为与止退台阶相配合的收口。本实用新型的有益效果在于：在进行测试时，探测针尾的连接针尾直接连接测试机，不必再在针套的尾部连接导线，操作简便，也解决了导线的缠绕问题。

Description

一种双头测试探针
(一)技术领域
本实用新型涉及一种测试探针。
(二)背景技术
一般情况下，印刷电路板及芯片等完成线路布置后，为确定每条线路皆可正常导通，必须用测试探针予以测试。现有的测试探针由针套、针体和压簧组成，针体套于针套的前端，外露的部分形成探测头，借助压簧的伸缩力，使针体在针套内具有弹性伸缩的回复力，为了防止针体从针套内滑出，针体上均设有防止其滑出针套的止退台阶，针套的前端为与该止退台阶相配合的收口。在使用时，针体的探测头与测试点相接触，针套的尾部通过导线连接测试机。其存在的缺点是：进行测试时，需在针套的尾部连接导线，操作麻烦，而且测试时都是多点测试，各导线之间易产生缠绕。
(三)发明内容
为了克服现有测试探针使用时须在针套尾部连接导线、操作麻烦的不足，本实用新型提供一种用时无须在针套尾部连接导线、操作简便的双头测试探针。
本实用新型解决其技术问题的技术方案是：一种双头测试探针，包括针套，所述的针套内设有轴向的压簧，还包括用于探测测试点的探测针头和用于连接测试机的探测针尾，所述的探测针头套于所述针套的前端，所述的探测针尾套于所述针套的后端，所述的探测针头和所述的探测针尾通过所述的压簧连接，探测针头外露于所述针套外的部分形成探测头，探测针尾外露于所述针套外的部分形成连接针尾；所述的探测针头和探测针尾上均设有防止其滑出针套的止退台阶，所述针套的两端为与所述的止退台阶相配合的收口。
所述探测针头的顶部根据不同测试点的具体情况，可设计成不同的形状，如：所述探测针头的顶部呈圆锥状；或者：所述探测针头的顶部呈圆弧状；或者：所述探测针头的顶部具有齿尖。
在使用时，探测针头的顶部与测试点相接触，探测针尾的连接针尾直接连接测试机。
本实用新型的有益效果在于：在进行测试时，探测针尾的连接针尾直接连接测试机，不必再在针套的尾部连接导线，操作简便，也解决了导线的缠绕问题。
(四)附图说明
图1是本实用新型的半剖图。
图2是另一种结构的探测针头的结构示意图。
图3是另一种结构的探测针头的结构示意图。
(五)具体实施方式
下面结合附图和具体实施方式对本实用新型作进一步详细说明。
参照图1，一种双头测试探针，包括针套1，所述的针套1内设有轴向的压簧2，还包括用于探测测试点的探测针头3和用于连接测试机的探测针尾4，所述的探测针头3套于所述针套1的前端，所述的探测针尾4套于所述针套1的后端，所述探测针头3的顶部呈圆锥状。
所述的探测针头3和所述的探测针尾4通过所述的压簧2连接，探测针头3外露于所述针套1外的部分形成探测头5，探测针尾4外露于所述针套1外的部分形成连接针尾6。
所述的探测针头3和探测针尾4上均设有防止其滑出针套1的止退台阶，所述针套1的两端为与所述的止退台阶相配合的收口。
在使用时，探测针头3的顶部与测试点相接触，探测针尾4的连接针尾6直接连接测试机。在进行测试时，探测针尾的连接针尾直接连接测试机，不必再在针套的尾部连接导线，操作简便，也解决了导线的缠绕问题。
所述探测针头的顶部根据不同测试点的具体情况，可设计成不同的形状，如图2所示的圆弧状，图3所示的齿尖状。

Claims (4)

1.一种双头测试探针，包括针套，所述的针套内设有轴向的压簧，其特征在于：还包括用于探测测试点的探测针头和用于连接测试机的探测针尾，所述的探测针头套于所述针套的前端，所述的探测针尾套于所述针套的后端，所述的探测针头和所述的探测针尾通过所述的压簧连接，探测针头外露于所述针套外的部分形成探测头，探测针尾外露于所述针套外的部分形成连接针尾；
所述的探测针头和探测针尾上均设有防止其滑出针套的止退台阶，所述针套的两端为与所述的止退台阶相配合的收口。
2.如权利要求1所述的双头测试探针，其特征在于：所述探测针头的顶部呈圆锥状。
3.如权利要求1所述的双头测试探针，其特征在于：所述探测针头的顶部呈圆弧状。
4.如权利要求1所述的双头测试探针，其特征在于：所述探测针头的顶部具有齿尖。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104034927A (zh) * 2014-05-15 2014-09-10 珠海市运泰利自动化设备有限公司 高精度双头测试探针
CN111604446A (zh) * 2020-06-01 2020-09-01 渭南高新区木王科技有限公司 一种双头探针用组装机

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Assignor: Shen Fangzhen

Contract fulfillment period: 2008.10.7 to 2007.4.18

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Denomination of utility model: Double-ended test probe

Granted publication date: 20080312

License type: Exclusive license

Record date: 20081020

LIC Patent licence contract for exploitation submitted for record

Free format text: EXCLUSIVE LICENSE; TIME LIMIT OF IMPLEMENTING CONTACT: 2008.10.7 TO 2007.4.18; CHANGE OF CONTRACT

Name of requester: NINGBO KESHENG ELECTRONICS CO., LTD.

Effective date: 20081020

EE01 Entry into force of recordation of patent licensing contract

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Assignor: Shen Fangzhen

Contract fulfillment period: 2008.10.7 to 2017.4.18

Contract record no.: 2008330001191

Denomination of utility model: Double-ended test probe

Granted publication date: 20080312

License type: Exclusive license

Record date: 20081020

LIC Patent licence contract for exploitation submitted for record

Free format text: EXCLUSIVE LICENSE; TIME LIMIT OF IMPLEMENTING CONTACT: 2008.10.7 TO 2017.4.18; CHANGE OF CONTRACT

Name of requester: NINGBO KESHENG ELECTRONICS CO., LTD.

Effective date: 20081020

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CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

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