CN201115957Y - 上下片机构 - Google Patents

上下片机构 Download PDF

Info

Publication number
CN201115957Y
CN201115957Y CNU2007203049053U CN200720304905U CN201115957Y CN 201115957 Y CN201115957 Y CN 201115957Y CN U2007203049053 U CNU2007203049053 U CN U2007203049053U CN 200720304905 U CN200720304905 U CN 200720304905U CN 201115957 Y CN201115957 Y CN 201115957Y
Authority
CN
China
Prior art keywords
mechanical arm
wafer
contraposition
platform
following
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
CNU2007203049053U
Other languages
English (en)
Inventor
唐小飞
胡泓
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
SHENZHEN SIDEA SEMICONDUCTOR EQUIPMENT CO Ltd
Original Assignee
SHENZHEN SIDEA SEMICONDUCTOR EQUIPMENT CO Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by SHENZHEN SIDEA SEMICONDUCTOR EQUIPMENT CO Ltd filed Critical SHENZHEN SIDEA SEMICONDUCTOR EQUIPMENT CO Ltd
Priority to CNU2007203049053U priority Critical patent/CN201115957Y/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN201115957Y publication Critical patent/CN201115957Y/zh
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Abstract

一种自动上下片机构,包括送片机构、预对位机构和机械臂组件机构,机械臂组件机构中的机械臂从送片机构上方的花篮中取出晶圆片送到预对位机构进行预对位,然后机械臂组件机构旋转90°把晶圆片送到测试装置的承片台上进行相关测试;待测试完成后,机械臂再把晶圆片从测试装置的承片台上卸下来,送回花篮,同时送上另外一片已经预对位好的晶圆片,如此反复直至完成整个测试。由于本实用新型采用了两个机械臂,使得整个上下片过程变得快速、流畅,从而节省了换片时间,提高了整机的测试效率。

Description

上下片机构
技术领域
本实用新型涉及一种半导体产品的自动测试装置,特别是一种晶圆片的机械传送机构。
背景技术
晶圆片的机械传送机构是全自动探针台的一个重要组成部分,主要功能是实现晶圆片在堆放装置与测试装置之间自动快速、稳定可靠的传输。
目前,国内大部分测试厂家使用的都是手动上下晶圆片的探针台,这种手动上下晶圆片的探针台有以下三大不足之处:(1)由于每完成一片晶圆测试,设备都要中断,然后人工卸片(下片)、装片,这样既影响测试效率,又耗费大量人工;(2)在手动装片、卸片过程中,晶圆片容易被污染;(3)随着半导体行业的发展,8英寸、12英寸晶圆片越来越多,手动上下晶圆片的探针台已经不能满足使用要求。
实用新型内容
本实用新型的目的是提供一种全自动的晶圆片传送机构,以实现晶圆片自动快速、稳定可靠的传输。
为实现上述目的,本实用新型的自动上下片机构,包括送片机构、预对位机构和机械臂组件机构;送片机构包括堆放装置和连接在其下方的使其升降的升降组件;预对位机构包括预对位台和连接在其下方控制其上下运动的预对位装置;
机械臂组件机构包括上机械臂、下机械臂和机械臂驱动装置,机械臂驱动装置使上机械臂和下机械臂来回水平直线运动;
上机械臂与下机械臂纵向并列布置;
上机械臂和下机械臂的中轴线位于同一垂直平面内;
机械臂组件机构与一转动装置相连,转动装置可使机械臂组件机构水平转动。
所述上机械臂借助一悬臂支架置于下机械臂正上方。
所述堆放装置位于上机械臂和下机械臂的水平直线运动轨迹上。
所述预对位台的中心位于上机械臂和下机械臂的中轴线所在的垂直平面内。
所述预对位机构还包括一位于预对位台侧上方的传感器。
工作时,机械臂组件机构从送片机构的堆放装置中取出待测的晶圆片,放在预对位机构上进行预对位,然后将待测的晶圆片送到测试装置的承片台上进行测试,最后将测试好的晶圆片送回堆放装置中。由于设计了两个机械臂,在测试装置的承片台上进行晶圆片上下片时,下机械臂先把测试装置上测试好的晶圆片取下,随后上机械臂把早已预对位好的晶圆片立刻送上,这样就使得整个上下片过程变得快速、流畅,从而节省了换片时间,提高了整机的测试效率。
附图说明
图1为本实用新型所述自动上下片机构的结构示意图。
图2为本实用新型所述送片机构的结构示意图。
图3为本实用新型所述升降组件的结构示意图。
图4为本实用新型机械臂组件机构的主视图。
图5为图4中上、下机械臂组件的连接结构示意图。
图6为本实用新型预对位机构的连接结构示意图。
具体实施方式
下面将结合附图对本实用新型作进一步说明。
参照图1至图6,本实用新型包括:送片机构1、预对位机构2和机械臂组件机构3。
送片机构1包括堆放装置11、升降组件12和固定安装在堆放装置上的花篮13,晶圆片放于花篮13内,升降组件12位于堆放装置11的下方,可以使堆放装置11上下移动;预对位机构2和机械臂组件机构3位于旋转座4上,旋转座4下方设有转动装置5,转动装置5可带动旋转座4在0°和90°位置上来回旋转(以图1所示的位置定义为0°位置)。
如图2和图3所示,堆放装置11通过与导向轴固定上块121的连接固定在升降组件12的上端。而升降组件12是由滚珠丝杠副122、丝杠螺母座123、导向轴124、丝杠固定端125、大步进电机127、导向轴固定上块121和导向轴固定下块126及标准件组成。滚珠丝杠副122及导向轴124的两端分别固定在导向轴固定上块121、导向轴固定下块126上。这样大步进电机127通过联轴器来驱动滚珠丝杠副122(丝杠螺母已锁定不动),三根导向轴124起导向作用,从而使得固定在堆放装置11上的花篮13可以在滚珠丝杠副122有效的行程范围内升、降到任意位置。
如图4和图5所示,机械臂组件机构3的旋转运动是由转动装置5来完成的。主动轮-小齿轮52安装在步进电机51的轴上,从动轮-大齿轮53固定在旋转轴(图中未示出)上,旋转座4锁定在大齿轮53上端,从而通过步进电机51带动大齿轮53旋转,就可以完成机械臂组件机构3在0°和90°位置上来回的自由旋转,在0°时机械臂组件机构3正对花篮13,在90°时机械臂组件机构3正对测试装置(图中未示出)。
机械臂组件机构3包括上机械臂31、下机械臂32和机械臂驱动装置,上机械臂31与下机械臂32纵向并列布置,上机械臂31借助一悬臂支架311置于下机械臂32正上方,上机械臂31、下机械臂32中轴线位于同一垂直平面内,机械臂驱动装置使得上机械臂31、下机械臂32实现水平方向上的来回直线运动,机械臂驱动装置采用常用的同步带传动机构。
同步带传动机构是由小步进电机34、机械臂同步带36、机械臂同步轮37、导向轴33和直线轴承组件35等构成的。其中直线轴承组件35套在两根平行的导向轴33上,使得直线轴承组件35可以在导向轴33上来回的直线滑动。三个同步轮中的两个通过旋转轴和轴承分别安装在两个轴承座上,另一个同步轮安装在小步进电机34的电机轴上,两两同向的同步轮之间分别用同步带连接传动,而直线轴承组件35通过夹片连接在第二根同步带上(以跟步进电机直接相连的同步带为第一根),机械臂则固定在直线轴承组件35上。这样步进电机就可以通过同步带传动使得机械臂实现自由的来回直线运动。如图5所示,图中能清楚的看见的是上机械臂31的驱动装置,下机械臂32的驱动装置与上机械臂31的驱动装置对称布置。虽然上机械臂31、下机械臂32不能上下运动,但通过升降组件12的升降运动,就可以实现上机械臂31、下机械臂32能够取到花篮13中的每一片晶圆片。
当机械臂组件机构3从花篮13中取出或放回晶圆片时,堆放装置11位于上机械臂31和下机械臂32的水平直线运动轨迹上。
如图6所示,预对位机构2包括预对位台21、预对位装置22和切边传感器23(见图5),预对位台21的中心位于上机械臂31和下机械臂32的中轴线所在的垂直平面内,预对位装置22连接于预对位台21下方,使预对位台21上下运动。预对位台21的旋转运动是通过预对位步进电机222、预对位同步带及同步轮221和其它零部件、标准件来实现的。预对位台21和步进电机222等组件都安装在活动连接块224上,薄型汽缸225和导向组件223的直线轴承部件锁定在固定块226上,导向组件223的导向轴则固定在活动连接块224上,与活动连接块224相连的还有薄型汽缸225的活塞杆,而整个预对位机构2通过固定块226安装在旋转座4上。这样,当薄型汽缸225动作时,就可以带动活动连接块224,从而实现预对台21在高位和低位之间进行相互位置转换。机构在执行预对位时,上机械臂31先把晶圆片拖到预对位台21的中心,然后薄型汽缸225动作,使得预对位台21升到高位(不工作时,预对台21在低位),从而托起晶圆片,步进电机222随后带动其旋转一周,同时切边传感器23(图5所示)采集数据并计算出晶圆片的偏心距离和角度,然后再配合上机械臂31就可以完成晶圆片的预对位。
自动上下片机构工作时,升降组件12驱动堆放装置11使之处于与上机械臂31匹配的位置,上机械臂31从花篮13中取出一片晶圆片并夹持着晶圆片到预对位位置,预对位机构2驱动预对位台21使之处于与上机械臂31匹配的位置,上机械臂31将晶圆片放在预对位台21上,预对位机构2对晶圆片完成预对位后,转动装置5将旋转座4转动90°,上机械臂31将晶圆片从预对位台21上取下,放在测试装置的承片台上进行测试,然后,旋转座4返回原位置,升降组件12驱动堆放装置11使之处于与上机械臂31匹配的位置,上机械臂31从花篮13中取出另一片晶圆片并夹持着晶圆片到预对位位置,预对位装置2驱动预对位台21使之处于与上机械臂31匹配的位置,上机械臂31将晶圆片放在预对位台21上进行预对位,之后,旋转座4旋转90°,下机械臂32从测试装置的承片台上取下测试好的晶圆片,上机械臂31将另一待测的晶圆片放在测试装置的承片台上,然后旋转座4回到原位置,升降组件12驱动堆放装置11使之处于与下机械臂32匹配的位置,下机械臂32将测试好的晶圆片送回花篮13,升降组件12驱动堆放装置11使之处于与上机械臂31匹配的位置,上机械臂31取出另一片晶圆片。重复进行上述步骤,对所有晶圆片进行测试。
本实用新型的自动上下片机构能实现晶圆片在堆放装置与测试装置之间自动快速、稳定可靠的传输,且结构简单、安装维修方便、性能安全可靠、经济实用,使得全自动探针台的整机性价比大大提高。

Claims (5)

1、一种上下片机构,其特征在于,包括送片机构、预对位机构和机械臂组件机构;送片机构包括堆放装置和连接在其下方的使其升降的升降组件;预对位机构包括预对位台和连接在其下方控制其上下运动的预对位装置;
机械臂组件机构包括上机械臂、下机械臂和机械臂驱动装置,机械臂驱动装置使上机械臂和下机械臂来回水平直线运动;
上机械臂与下机械臂纵向并列布置;
上机械臂和下机械臂的中轴线位于同一垂直平面内;
机械臂组件机构与一转动装置相连,转动装置可使机械臂组件机构水平转动。
2、根据权利要求1所述的上下片机构,其特征在于,所述上机械臂借助一悬臂支架置于下机械臂正上方。
3、根据权利要求1所述的上下片机构,其特征在于,所述堆放装置位于上机械臂和下机械臂的水平直线运动轨迹上。
4、根据权利要求1所述的上下片机构,其特征在于,所述预对位台的中心位于上机械臂和下机械臂的中轴线所在的垂直平面内。
5、根据权利要求1所述的上下片机构,其特征在于,所述预对位机构还包括一位于预对位台侧上方的传感器。
CNU2007203049053U 2007-11-30 2007-11-30 上下片机构 Expired - Lifetime CN201115957Y (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CNU2007203049053U CN201115957Y (zh) 2007-11-30 2007-11-30 上下片机构

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CNU2007203049053U CN201115957Y (zh) 2007-11-30 2007-11-30 上下片机构

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN201115957Y true CN201115957Y (zh) 2008-09-17

Family

ID=39990530

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CNU2007203049053U Expired - Lifetime CN201115957Y (zh) 2007-11-30 2007-11-30 上下片机构

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN201115957Y (zh)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102659021A (zh) * 2012-05-16 2012-09-12 硅密(常州)电子设备有限公司 带有感应晶圆花篮功能的起吊装置
CN110092189A (zh) * 2018-01-31 2019-08-06 深圳市矽电半导体设备有限公司 一种自动上下料系统

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102659021A (zh) * 2012-05-16 2012-09-12 硅密(常州)电子设备有限公司 带有感应晶圆花篮功能的起吊装置
CN110092189A (zh) * 2018-01-31 2019-08-06 深圳市矽电半导体设备有限公司 一种自动上下料系统

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN103212543B (zh) 一种自动称重分拣实现方法和装置
CN203156747U (zh) 一种自动化上下料机械手
CN205852794U (zh) 真空吸附抓取机械手
CN103722376A (zh) 遥控器组装设备
CN105355833A (zh) 电池注液机
CN108775887A (zh) 一种锂电池的检测方法
CN106624815A (zh) 一种二胡弦轴自动加工机
CN204172030U (zh) 一种机械手结构
CN203649904U (zh) 遥控器组装设备
CN206241631U (zh) 一种二胡弦轴自动加工机
CN108759750A (zh) 新能源电池检验设备
CN105109995B (zh) 基于凸轮结构的高速拉料定位装置
CN221395834U (zh) 一种轴承检测下料装置
CN201841122U (zh) 用于全自动太阳能电池测试分选设备的定位装置
CN201115957Y (zh) 上下片机构
CN103894806B (zh) 自动举升平移旋转式工作站
CN208712601U (zh) 一种电池滚槽机
CN108767285A (zh) 一种方形锂电池检验机
CN219255021U (zh) 一种曲轴偏心磨削自动加工设备
CN208305034U (zh) 轴承连线抓取装置
CN215789039U (zh) 一种三轴显示屏抛光机
CN207448500U (zh) 一种背光模组组装用导光板自动上料机械手
CN210210401U (zh) 旋转移载送料装置
CN211920152U (zh) 升降夹板定位机构
CN214454725U (zh) 一种塑料件排列机构

Legal Events

Date Code Title Description
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
C53 Correction of patent for invention or patent application
CB03 Change of inventor or designer information

Inventor after: Wang Shengli

Inventor after: Hu Hong

Inventor before: Tang Xiaofei

Inventor before: Hu Hong

COR Change of bibliographic data

Free format text: CORRECT: INVENTOR; FROM: TANG XIAOFEI; HU HONG TO: WANG SHENGLI; HU HONG

C56 Change in the name or address of the patentee
CP02 Change in the address of a patent holder

Address after: Longgang District of Shenzhen City, Guangdong province 518000 city street in the center city City Industrial Park Road No. 3 building E Tefalongfei business building two floor

Patentee after: Shenzhen Sidea Semiconductor Equipment Co., Ltd.

Address before: Lin Xi Lu Longgang dragon District of Shenzhen city in Guangdong province 518172 Shenzhen Overseas Students Pioneer Park Garden Room 412

Patentee before: Shenzhen Sidea Semiconductor Equipment Co., Ltd.

CX01 Expiry of patent term

Granted publication date: 20080917