CN1992003A

CN1992003A - 光盘记录、再现装置及其试写方法

Info

Publication number: CN1992003A
Application number: CNA2006101643418A
Authority: CN
Inventors: 山田敦史; 西村孝一郎
Original assignee: Hitachi Ltd; Hitachi LG Data Storage Inc
Current assignee: Hitachi Consumer Electronics Co Ltd
Priority date: 2005-12-28
Filing date: 2006-12-14
Publication date: 2007-07-04
Anticipated expiration: 2026-12-14
Also published as: JP2007179668A; US7701821B2; CN100527235C; US20070147205A1

Abstract

可以提高最适宜功率计算的精度和记录质量的记录动作中的试写方法和具有该方法的光盘记录、再现装置，该装置在内圆周侧和外圆周侧形成有试写区域，并且，当在该内圆周侧和外圆周侧之间形成有可以记录的区域的光盘上，照射规定的功率的激光来记录数据，或者，利用其反射光对记录的数据进行再现，控制电路(9)当在记录处理中执行对上述规定的功率的激光进行设定的试写处理的情况下，根据当前设定的在光盘内圆周和外圆周上的功率，与记录于所装载的光盘中的在内圆周及外圆周上的控制数据之间的差的比例，选择在该差的比例大的圆周侧的试写区域上执行上述试写处理。

Description

光盘记录、再现装置及其试写方法

技术领域

本发明涉及用于在光盘中记录、再现信息的光盘记录、再现装置及该装置中的试写方法，特别是，涉及在记录处理中的试写区域的判定方法。

背景技术

圆板形状的光信息记录介质的光盘，作为非接触、大容量且低价格的可高速数据访问的介质，例如，用于数字视频数据或数字动画数据的记录、再现，并且，作为计算机的外部存储装置，被广泛地利用。在涉及的光盘中，为了调整激光的记录功率，在它的内圆周一侧和外圆周一侧设置有夹着用户所利用的程序区域的称为试写区域的区域(PCA)。

如上所述，由于在盘的内外圆周存在试写区域，因此，在光盘记录装置中，通常为了适宜地调节激光的功率，在装置的启动时等，基本上由盘的内外圆周的两者来实施。一方面，在光盘记录装置中，即使在记录处理中产生错误时，也基于激光的功率不适合等的理由，实施上述试写。而且，在此情况下，如上所述，由于试写区域通常存在于光盘内外圆周上，因此基本上是在内外圆周的两者上实施，但是，在装置的记录处理中实施的试写，由于超时(由于OS等规定的规定持续期内不能执行处理，传送速率的低下)的关系等，因此多数情况是只在内圆周或外圆周的其中一个的区域实施。

例如，在以下的专利文献1中得知如下记录装置，在记录数据的时候，在程序区域的内圆周和外圆周上设置的PCA中，通过选择距离数据的记录位置近的一方的PCA进行试写，由此，以最适合的记录功率记录数据。

另外，在以下的专利文献2中得知，考虑了CD-R等的光盘的色素的涂敷不匀或翘起等的物理特性的不均衡，为了用最适合的激光功率进行记录，在执行试写的时候，与所希望的信息的记录开始位置及记录结束位置相对应，在光盘的内圆周侧和外圆周侧的试写区域的任何一者或两者中进行。

专利文献1特开2005-209241号公报

专利文献2特开2003-168216号公报

发明内容

如上所述，在现有技术中，作为确定试写实施区域的方法，在离记录位置近的一侧的试写区域进行试写，或者，与记录开始位置及记录结束位置相适应地确定试写实施区域。然而，在一个区域上的试写与在内外圆周的两者实施的试写相比，求得在将要记录数据的位置上的最适宜功率的精度下降。另外，由试写得到的激光功率也未必是最合适的，有必要在其后根据需要来进行，因此，适宜地确定执行试写的区域(内圆周或外圆周)对于将实施次数抑制在最小限度、提高记录质量来说是很重要的。

然而，上述的现有技术的试写实施区域的确定方法如以下所述，在由在装置的启动时的试写处理求出不适宜的功率的情况下，其后的处理未必充分，在这里，本发明的目的是，尤其是进行在记录动作中实施的试写的时候，可在适宜的区域实施，因此，将实施次数抑制在最小限度，在防止传送速率降低的同时，提高最适合的功率的算出的精度，提高记录质量。

根据本发明，为了达到上述目的，提供了一种光盘记录、再现装置。首先，在内圆周侧和外圆周侧形成有试写区域，并且，在该内圆周侧和外圆周侧之间形成有可以记录数据的区域的光盘上，照射规定的功率的激光来记录数据，或者，利用其反射光对记录的数据的进行再现的光盘记录再现装置中，用于控制该装置的动作的控制单元，当在该装置的记录处理中执行对上述规定的功率的激光进行设定的试写处理时，根据当前设定的在光盘内圆周和外圆周上的功率，与记录在所装载的光盘中的在内圆周和外圆周上的控制数据的差的比例，选择该差的比例大的圆周侧的试写区域来，并执行上述试写处理。

另外，在本发明中优选为，在如上所述的光盘记录、再现装置中，该装置的控制单元，在光盘的装载起动时，在该光盘的内圆周侧和外圆周侧的试写区域上执行上述试写处理，并求出激光的在内圆周和外圆周上的设定值，并且，具有存储由此得到的激光在内圆周和外圆周上的设定值的单元；而且还优选为，该装置的上述控制单元，在光盘的装载起动时，还读出记录在所装载的光盘中的在内圆周和外圆周上的控制数据，并存储在上述存储单元中。

而且，根据本发明，在如上所述的光盘记录、再现装置中，在内圆周侧和外圆周侧上形成有试写区域，并且，在该内圆周侧和外圆周侧之间形成有可以记录数据的区域的上述光盘可以是局部CAV(PCAV)方式的光盘。

此外，根据本发明，也是为了达到上述目的，提供了一种光盘记录、再现装置的试写方法，在内圆周侧和外圆周侧形成有试写区域，并且，在该内圆周侧和外圆周侧之间形成有可以记录数据的区域的光盘上，照射规定的功率的激光来记录数据，或者，利用其反射光对记录的数据进行再现的光盘记录再现装置中，当在该装置的记录处理中执行对上述规定的功率的激光进行设定的试写处理时，算出当前设定的在光盘内圆周及外圆周上的功率，与记录在所装载的光盘中的在内圆周和外圆周上的控制数据的差的比例，根据该算出的差的比例，选择该差的比例大的圆周侧的试写区域，并执行上述试写处理。

另外，在本发明中，在如上所述的试写方法中，优选在光盘的装载起动时，在该光盘的内圆周侧和外圆周侧的试写区域上执行上述试写处理，并存储由此得到的激光的在内圆周和外圆周上的设定值；而且，还读出记录在所装载的光盘中的在内圆周和外圆周上的控制数据，并进行存储。然后，优选利用上述存储的激光的在内圆周和外圆周上的设定值，以及记录在上述所装载的光盘中的在内圆周和外圆周上的控制数据，算出上述差的比例。

附图说明

图1是表示本发明的实施方式的光盘记录、再现装置的概略结构的方框图。

图2是用于说明上述光盘、再现装置的执行本发明的试写区域的判定方法的原理的图。

图3是用于说明本发明的试写区域的判定方法的动作的图。

图4是用于说明本发明的试写区域的判定方法的详细情况的流程图。

具体实施方式

以下，将参照附图，对本发明的实施方式进行详细说明。

图1是表示本发明的实施方式的光盘记录、再现装置的方框图。在图中，将可在其记录面上记录信息的光盘1，装载于安装在主轴电动机3的旋转轴上的装配的转台上并以规定的速度(CAV方式、ZCLV方式)进行旋转。另外，由电动机驱动电路4进行该主轴电动机3的旋转控制。

另一方面，在激光头2中，例如，经由包括图未示的物镜的光学系统，将由半导体激光器发生的激光照射在上述光盘1的记录面上，因此，对数据进行记录，或者，利用对来自上述光盘的反射光束进行检测的未图示的光检测器，对记录的数据进行再现。而且，在该激光头2中，由激光器驱动电路5控制记录时的半导体激光器的发光功率。另外，利用未图示的执行机构等安装该激光头2，并使其可在光盘的半径方向上自由移动。

图的再现处理电路6处理由上述光盘1再现的数据，缺陷检测电路(信号检测电路)7通过取得再现信号的包络检测出光盘的缺陷等。而且，功率控制电路8生成执行试写处理时的测试信号(记录功率可变信号)。另外，控制电路9例如，包括CPU，进行包括试写处理的装置全体的控制。而且，如图示可知，该光盘记录、再现装置具有接口电路10，由此，利用来自装置外部的主机装置20(例如，个人计算机)的指令，执行数据的记录或再现处理。

下面，参照图2和图3，对本实施方式的记录处理中的试写方法，特别是，试写区域的判定方法，进行详细说明。而且，在这里，作为一个例子表示如下，例如，使称为局部CAV(PCAV)方式的用于调整激光的记录功率的试写区域(PCA)，夹持有用户所利用的程序区域，并设置在其内圆周和外圆周上的光盘，特别是，使其内圆周为CAV方式，使其外圆周为ZCLV方式。

即，在该PCAV方式的光盘中，使从其最内圆周到达旋转方式切换位置为止的区域为，其线速度(图的右侧的纵轴所示)以一定的比例上升的CAV方式；使从该旋转方式切换位置到最外圆周的区域为ZCLV方式。而且，在上述的PCAV方式的盘中，通常在插入该盘并起动装置的时候的起动动作中，利用设置在其内圆周侧和外圆周侧上的试写区域(PCA)，求出最适宜的记录激光功率(图的左侧的纵轴所示)，然后，根据在内圆周和外圆周上求出的最适合的记录激光功率，设定在程序区域的最适宜的激光功率。

而且，在图2(A)中，首先，在设置在内圆周和外圆周上的试写区域(PCA)上，适宜地求出激光功率的情况下，相对于盘半径位置(图的横轴)的激光功率的变化状况，以线A-B′(较大的情况)、A-B″(较小的情况)、实线的折线A-B来表示各个区的功率。接着，在盘的外圆周侧的试写区域(PCA)上，求出的激光功率不适宜的情况的例子由虚线的折线A-B′(较大的情况)、A-B″(较小的情况)来表示。另外，在图2(B)中，与适宜地求出的激光功率(实线的折线A-B)一起，在盘的外圆周一侧的试写区域(PCA)上求出的激光功率不适宜的情况的例子由虚线的折线A′-B(较大的情况)、A″-B(较小的情况)来表示。

接着，在附图3中，特别是，如上述图2(A)所示，在内圆周适宜地求出，但在设置于外圆周侧上的试写区域(PCA)上，具体地说是，不适宜地求出激光功率，即为大于实际的适宜值B的值B′的情况下，相对于盘位置(图的横轴)的激光功率的变化的状况由虚线来表示(另外，适宜的情况下的变化用实线表示)。其结果是，在图中由C所表示的位置，即在程序区域的内圆周侧(和图的中间点相比位于最内圆周一侧)上，在记录处理中产生任何错误的情况下实施试写，在此情况下，在上述的现有技术中，尽管在外圆周侧上的设定是不适宜的，也根据设置在内圆周侧的试写区域(PCA)进行试写。因此，这样的话，无论实施多少次试写处理，也不能改正其不适宜的设定。

即，在上述的图3中，在将C点作为试写的呼出位置时，在现有技术中，由于当前位置处于靠内圆周，因此，执行在内圆周侧的试写。然而，由该图可知，由于实际上功率偏离的是外圆周侧，有必要在外圆周执行试写。下面，说明用于解决相关的问题的本发明的一个实施方式。在试写处理中，进行必要的速度设定之后，对激光的功率进行设定，向试写区域(PCA)写入试写数据，接着，读出这个试写数据，检测出表示再现数据的错误率和抖动量(jitter)、信号振幅等的记录及、或再现特性的参数。然后，利用表示该记录和、或再现特性的参数来判断激光的功率是否适合于记录。

本实施方式是鉴于上述的现有技术的问题而完成的，具体地说，如附图4(A)中所示，首先，在上述光盘记录、再现装置中装载光盘1并启动时，在设置于光盘1的内圆周侧和外圆周侧的试写区域(PCA)上实施试写处理，并将求得的激光功率值：(当前的内圆周侧设定功率：A′，当前的外圆周侧设定功率：B′)存储到例如作为存储装置的存储器中(S101)。而且，同时，同样也将记载在盘1中的基准功率的控制数据的内外圆周基准功率存储于存储器(S102)。在上述图1所示上述光盘记录、再现装置中，利用构成控制电路9的CPU等来执行这些处理。而且，在此之后，在再次实施试写处理的情况下，重复进行与上述同样的处理，通常，存储最新的设定功率和控制数据。

在此之后，如来自附图4(B)的记录处理的试写实施区域判定处理的流程所示，当因任何的理由，从数据的记录处理产生试写要求时，例如，由以下的公式，分别求出当前设定的内外圆周的功率与在盘上记载的控制数据的内外圆周的基准功率之间的差，并算出在内外圆周上该差相对于基准功率的比率(比例)(S103)。如上述图2所示，当存在内圆周侧上的激光功率不适宜的情况，或者外圆周侧上的激光功率不适宜的情况下，才引起如上所述的发布试写处理要求。

内圆周的差的比例：|A′-A|/A

外圆周的差的比例：|B′-B|/B

接着，根据在上述的处理S103求出的结果，决定将其的比率(比例)较大的一侧的区域作为实施试写的区域(S104)。即，通过算出当前的设定功率和控制数据之间的功率的差的比例，判断是否有必要在内外圆周的任何一者的区域重新实施试写。即，在判定为|A′-A|/A＞|B′-B|/B的情况下，根据上述图2(B)，选择盘的内圆周侧的试写区域作为实施试写的区域，在该内圆周侧的试写区域上实施试写(S105)。另一方面，在判定为|B′-B|/B＞|A′-A|/A的情况下，根据上述图2(A)，选择盘的外圆周侧的试写区域作为实施试写的区域，在该外圆周侧的试写区域上实施试写(S106)。

根据在以上的记录处理中的试写区域的判定方法，例如，如上述的图3所示，现有技术的试写方法，即，并不是在盘半径上距离进行写入位置较近侧(内圆周侧或外圆周侧)进行试写(在图3的例子中，在内圆周侧的区域上执行试写)，而是根据当前设定的内外圆周侧的功率和控制数据的内外圆周的基准功率之间的差相对于基准功率的比率(比例)，换句话说，就是选择实际当前设定的功率与作为基准的功率之间的差较大的、实际上功率与适宜值偏离的可能性较高的一侧作为需要进行试写的区域。即，在上述的图3的例子中，如右侧的箭头“修正”所示，选择功率与适宜的值偏离的外圆周侧的区域作为需要进行试写的区域。另一方面，在如上述图2(B)的例子所示的情况下，由于表示了实际的功率与适宜的值偏离的内圆周侧的比率(比例)为较大的值，因此，选择内圆周侧的区域作为需要进行试写的区域。

通过这样的方式，可以确实地以更少的实施次数，将以前起动时求得的虚线折线A-B′所表示激光功率修正为适宜变化的实线的折线A-B，因此，在防止传送率的下降的同时，能提高最适宜的功率计算的精度，并可提高记录质量。即，在本实施方式中，与位置无关，通过以当前设定的功率来判定实施试写的区域，可以在被认为有必要进行试写的区域进行试写，可求出在该记录位置上的适宜的激光功率。由此，可实现记录质量的提高。

另外，当在记录中发生错误等并有必要进行试写的情况下，按照上述的本发明的实施方式在被认为是最适合的一侧(Side)实施试写，尽管如此，重试的结果，另外，在不能消除错误的情况下，在相反的一侧(Side)实施试写。具体地说，在由“Write”指令变成“发生错误”的情况下，执行“Write重试”，进行“功率不正确：试写CALL”，并执行“实施试写”。在此之后，执行“Write重试”，另外，在成为“发生错误”的情况下，执行“功率不正：试写CALL”，但在这时，进行“在与上次相反的一侧(side)上试写实施”，并进行重试。

在以上的说明中，如上述的图2及图3所示，对于适用于本实施方式的试写区域的判定方法的光盘，特别是，对于在内圆周侧及外圆周侧的试写区域(PCA)之间，形成有在内圆周侧上为CAV方式的程序区域，在外圆周侧上为ZCLV方式的程序区域的所谓局部CAV(PCAV)方式的盘进行了说明，但是本实施方式不仅限于上面所叙述的内容，例如，也可以是，在内圆周侧和外圆周侧的试写区域(PCA)之间没有旋转方式切换位置，形成只为CAV方式的程序区域的盘，或者是，形成只为ZCLV方式的程序区域的盘，对本领域技术人员来说是明确的。

如上所述，根据本发明，针对现有技术，与盘上的位置无关，而是通过以当前设定的功率来判定试写实施区域，而在有必要实施试写的区域进行试写，因此，能够求出在该记录位置上的适宜的激光功率，由此，可以实现记录质量的提高，并在实用上也可以发挥良好的效果。

Claims

1.一种光盘记录、再现装置，其特征在于：在内圆周侧和外圆周侧形成有试写区域，并且，在该内圆周侧和外圆周侧之间形成有可以记录数据的区域的光盘上，照射规定功率的激光来记录数据，或者，利用其反射光对记录的数据进行再现的光盘记录再现装置中，用于控制该装置的动作的控制单元，当在该装置的记录处理中执行对所述规定的功率的激光进行设定的试写处理时，根据当前设定的在光盘内圆周和外圆周上的功率，与记录在所装载的光盘中的在内圆周和外圆周上的控制数据的差的比例，选择该差的比例大的圆周侧的试写区域，并执行所述试写处理。

2.如权利要求1所述的光盘记录、再现装置，其特征在于：

该装置的所述控制单元，在光盘的装载起动时，在该光盘的内圆周侧和外圆周侧的试写区域上，执行所述试写处理，并求出激光在内圆周和外圆周上的设定值，并且，具有存储由此得到的激光在内圆周及外圆周上的设定值的单元。

3.如权利要求1所述的光盘记录、再现装置，其特征在于：

该装置的所述控制单元，在光盘的装载起动时，还读出记录在所装载的光盘中的在内圆周和外圆周上的控制数据，并存储在所述存储单元中。

4.如权利要求1所述的光盘记录、再现装置，其特征在于：

在内圆周侧和外圆周侧上形成有试写区域，并且，在该内圆周侧和外圆周侧之间形成有可以记录数据的区域的所述光盘为局部CAV(PCAV)方式的光盘。

5.一种光盘记录、再现装置的试写方法，其特征在于：在内圆周侧和外圆周侧形成有试写区域，并且，在该内圆周侧和外圆周侧之间形成有可以记录数据的区域的光盘上，照射规定功率的激光来记录数据，或者，利用其反射光对记录的数据进行再现的光盘记录再现装置中，当在该装置的记录处理中执行对所述规定的功率的激光进行设定的试写处理时，算出当前设定的在光盘内圆周和外圆周上的功率，与记录在所装载的光盘中的在内圆周和外圆周上的控制数据的差的比例，根据该算出的差的比例，选择该差的比例大的圆周侧的试写区域，并执行所述试写处理。

6.如权利要求5所述的光盘记录、再现装置的试写方法，其特征在于：在光盘的装载起动时，在该光盘的内圆周侧和外圆周侧的试写区域上执行所述试写处理，并存储由此得到的激光的在内圆周和外圆周上的设定值。

7.如权利要求6所述的光盘记录、再现装置的试写方法，其特征在于：在光盘的装载起动时，还读出记录在所装载的光盘中的在内圆周和外圆周上的控制数据，并进行存储。

8.如权利要求7所述的光盘记录、再现装置的试写方法，其特征在于：利用所述存储的激光在内圆周和外圆周上的设定值，以及记录在所述所装载的光盘中的在内圆周和外圆周上的控制数据，算出所述差的比例。