CN1982954A - 一种平板显示器的检测方法 - Google Patents
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Abstract
本发明一种平板显示器的检测方法是通过取像设备获取处于工作状态的平板显示器样板的第一数字化图像，通过取像设备获取处于工作状态的待测平板显示器的第二数字化图像，通过图像处理设备对该第一、第二数字化图像进行比对分析，如第一、第二数字化图像的差异处于设定范围内，则待测平板显示器合格；如第一、第二数字化图像的差异处于设定范围外，则待测平板显示器不合格。当待测平板显示器在生产线上经过取像设备时，该取像设备即可获取该显示器处于工作状态的图像，并将该图像与平板显示器样板的图像进行比较，从而能快速的进行检测，适于工业化生产。
Description
【技术领域】
本发明是关于一种检测平板显示器的检测方法。
【背景技术】
移动电话、PDA、MP3、笔记本电脑等各种便携式电子器件的需求的增长及Desk Top Monitor、家用电视等的大面积化和低辐射、低能耗、体积小等环保便利的要求促成了平板显示产业飞速发展。各种平板显示器件包括液晶显示(LCD)器件、等离子显示(PDP)器件，场致发射显示(FED)器件以及真空荧光显示(VDF)等，而其中LCD器件因为大规模生产技术简单、驱动系统容易并且图像质量高等优点而得到了飞速的发展。
随着平板显示产业的飞速发展，对平板显示屏功能快速、准确的测量与分析也日益凸显其重要性。现有的检测分析方法主要分为两大类：目视与仪器检测。目视方法具有成本低廉、能迅速全面检测多方面特性的优势，但是其容易受人为偶然因素影响，不能迅速准确的量化等缺点；另一类是仪器检测，现有多种检测仪器，但多数具有价格昂贵、只能测量显示屏的一个较小的局部范围的少数特定点的特性。
【发明内容】
本发明的目的在于提供一种能快速检测平板显示器的方法。
本发明的目的是这样实现的：该平板显示器的检测方法是通过取像设备获取处于工作状态的平板显示器样板的第一数字化图像，通过取像设备获取处于工作状态的待测平板显示器的第二数字化图像，通过图像处理设备对该第一、第二数字化图像进行比对分析，如第一、第二数字化图像的差异处于设定范围内，则待测平板显示器合格；如第一、第二数字化图像的差异处于设定范围外，则待测平板显示器不合格。
所述的图像处理设备对第一、第二数字化图像的像素矩阵R(1...N，1...M)和T(1...N，1...M)中的各个对应像素进行比对分析。
所述的进行比对分析时，先选取同一对位基准，将像素矩阵R(1...N，1...M)和T(1...N，1...M)分别转换为矩阵R’(1...N’，1...M’)和T’(1...N’，1...M’)，然后再通过图像处理设备对R’(1...N’，1...M’)和T’(1...N’，1...M’)的各个对应像素进行比对分析。
所述对于差异的设定按照如下判据：对于第二数字化图像中相邻区域间的像素判定为恒合格。
所述对于差异的设定还按照如下判据：对于第二数字化图像中的各像素，其中：
红色：[R’(n，m)-T’(n，m)]/[R’(n，m)+T’(n，m)]＜k1
绿色：[R’(n，m)-T’(n，m)]/[R’(n，m)+T’(n，m)]＜k2
蓝色：[R’(n，m)-T’(n，m)]/[R’(n，m)+T’(n，m)]＜k3；
其中，k1、k2及k3为设计值。
所述的图像处理设备将第一、第二数字化图像转换为变换域后再进行比对分析。
与现有技术相比，本发明具有如下优点：1)当待测平板显示器在生产线上经过取像设备时，该取像设备即可获取该显示器处于工作状态的图像，并将该图像与平板显示器样板的图像进行比较，从而能快速的进行检测，适于工业化生产；2)取像设备可以完整地获取平板显示器所显示的图形，从而使可供检测的数据更多，从而也提高了检测的准确性。
【附图说明】
图1是本发明的流程框图。
图2是本发明的流程图。
【具体实施方式】
请参阅图1及图2，本发明一种平板显示器的检测方法是利用取像设备获取处于工作状态的待测平板显示器的图形，并将该图形以数字化的形式输入图像分析设备，然后将待测平板显示器的图形与预先获取的平板显示器样板的图形进行比对分析，从而实现对待测平板显示器的分析评价。该检测方法包括如下进程：1)通过取像设备获取处于工作状态的平板显示器样板的图形并将该图形输入图形分析设备，以形成第一数字化图像；2)通过取像设备获取处于工作状态的待检测平板显示器的图形并将该图形输入图形分析设备，以形成第二数字化图像；3)通过图像分析设备将该第一、第二数字化图像进行比对，如第一、第二数字化图像的差异处于设定范围内，则待测平板显示器合格；如第一、第二数字化图像的差异处于设定范围外，则待测平板显示器不合格。进行比对时，可以对第一、第二数字化图像中各个像素进行比对；也可以将该数字化图像转换为变换域，通过对平板显示器样板和待测平板显示器的比对来判断是否合格。
取像设备可以为数码相机或其他照相设备。为了对平板显示器的功能进行检测，应该对工作状态下的平板显示器取像，对于成品的平板显示器，可以直接加电使其工作，从而获得其图形；对于半成品，可通过附加夹具使平板显示器能正常工作以获得图形。对于数码相机，则直接将该图形以数字化方式存入计算机中，对于扫描仪，则可直接获得数字化图像。
对于平板显示器样板的数字化图像的输入，可以通过与测试品同样的方法输入并保存以备测量分析时使用。该样板指的是在平板显示器生产流程中经从产品开发阶段制造出来的经多方共同确认的标准样品，使用该产品的下游开发均基于样板来进行，而批量生产的目标是尽量对样板进行复制。为了在图像对比分析过程中减少不必要的麻烦，样板图像获取方法(包括位置、角度、放大倍数)与待测产品的图像获取方法一致。
对于第一、第二数字化图像的比对分析，是将第一、第二数字化图像的各像素进行比对。在该比对过程中，由于各次录入的待测平板显示器的图形可能在位置、角度或放大倍数上存在差异，所以该对比分析还包括了一个对图形进行相应调整的预处理步骤。该预处理步骤如下：设R(1...N，1...M)为平板显示器样板像素矩阵，T(1...N，1...M)为待测平板显示器像素矩阵。在矩阵R(n，m)中定义四个比较容易识别的对位标记，如玻璃边沿或彩色滤光膜的BM边沿，则可以通过简单的线性拉伸与旋转将次这四个边界内区域的电映射到一个矩阵内R’(1...N’，1...M’)。同样，待测平板显示器的信息矩阵T(n，m)中以同样的对位标记为基准作一个线性变换到T’(1...N’，1...M’)，使其对位基准与样板对位基准对应重合，以后的比对分析都通过基于R’(1...N’，1...M’)与T’(1...N’，1...M’)的分析来作为对样板与待测平板显示器的分析。
由于在生产过程中存在一定的可容忍的差异值，所以对于待测平板显示器与样板的对比还可包括一个差异容忍判断步骤。该差异容忍判断步骤如下：对于平板显示器样板像素矩阵R’(1...N’，1...M’)与待测平板显示器像素矩阵T’(1...N’，1...M’)，一个区域与另一个区域间(如两相邻像素之间或两相邻图形之间)的信息点可能因数据采集与预处理过程的偏位产生偏差，故对此区域在对比时可以充分放宽为判据恒合格(后续对于变换域的分析可以作为在此舍弃部分信息的补充)，对于常见的的点阵式矩形器件，可以通过设定简单的周期性条件来去除，而对于图形式的或其他非规则显示器件(如字符型显示器件)则需要通过输入设定某些特定点来去除，对除以上区域的电可以为：
红色：[R’(n，m)-T’(n，m)]/[R’(n，m)+T’(n，m)]＜k1
绿色：[R’(n，m)-T’(n，m)]/[R’(n，m)+T’(n，m)]＜k2
蓝色：[R’(n，m)-T’(n，m)]/[R’(n，m)+T’(n，m)]＜k3
其中，k1、k2及k3根据实际检测要求设置，即如同时满足上述该三个条件，则判定为合格，如有任一个不合格，则判定为不合格。
第一、第二数字化图像也可以通过傅利叶变换、z变换或整行或整列求和等正交变换或非正交变换而变换为变化域。现有应用于数据处理的变换公式如傅立叶变换公式：
r(u，v)＝F{R’(n，m)}
t(u，v)＝F{T’(n，m)}
对于将平板显示器样板和待测平板显示器的变换域的比对分析，由于各次录入的图形可能在位置、角度或放大倍数上存在差异，故此对比分析也包括了一个对图形进行相应调整的预处理过程，该预处理过程与前述对应像素的预处理一致。同样一般生产过程中存在一定得克容忍的差异值，故对于测量品与样板的对比一般还应提供一个一定的判据。通过对变换域的对比分析可以发现一些大面积亮度波动等通过像素比对难以发现的缺陷。该差异容忍判断的判据为：
红色：[r(n，m)-t(n，m)]/[r(n，m)+t(n，m)]＜j(n，m)
绿色：[r(n，m)-t(n，m)]/[r(n，m)+t(n，m)]＜j(n，m)
蓝色：[r(n，m)-t(n，m)]/[r(n，m)+t(n，m)]＜j(n，m)
其中，j(n，m)为根据要求对高频与低频的不同要求设定出的数值，如同时满足上述三个条件，则判定为合格，如有任一条件不满足，则不合格。
本发明中，可以直接将产品像素特性和变换域特性各项指标或是否良品的判定结果输出在计算机屏幕上或输入文件以方便保存或打印。
本发明中，将待测平板显示器的图形、样板图像录入后可由计算机自动完成比对分析，整个分析过程可在数秒至数分钟中完成。
Claims (6)
1.一种平板显示器的检测方法，其特征在于：通过取像设备获取处于工作状态的平板显示器样板的第一数字化图像，通过取像设备获取处于工作状态的待测平板显示器的第二数字化图像，通过图像处理设备对该第一、第二数字化图像进行比对分析，如第一、第二数字化图像的差异处于设定范围内，则待测平板显示器合格；如第一、第二数字化图像的差异处于设定范围外，则待测平板显示器不合格。
2.如权利要求1所述的一种平板显示器的检测方法，其特征在于：所述的图像处理设备对第一、第二数字化图像的像素矩阵R(1...N，1...M)和T(1...N，1...M)中的各个对应像素进行比对分析。
3.如权利要求2所述的一种平板显示器的检测方法，其特征在于：所述的进行比对分析时，先选取同一对位基准，将像素矩阵R(1...N，1...M)和T(1...N，1...M)分别转换为矩阵R’(1...N’，1...M’)和T’(1...N’，1...M’)，然后再通过图像处理设备对R’(1...N’，1...M’)和T’(1...N’，1...M’)的各个对应像素进行比对分析。
4.如权利要求3所述的一种平板显示器的检测方法，其特征在于：所述对于差异的设定按照如下判据：对于第二数字化图像中相邻区域间的像素判定为恒合格。
5.如权利要求4所述的一种平板显示器的检测方法，其特征在于：所述对于差异的设定还按照如下判据：对于第二数字化图像中的各像素，其中：
红色：[R’(n，m)-T’(n，m)]/[R’(n，m)+T’(n，m)]＜k1
绿色：[R’(n，m)-T’(n，m)]/[R’(n，m)+T’(n，m)]＜k2
蓝色：[R’(n，m)-T’(n，m)]/[R’(n，m)+T’(n，m)]＜k3；
其中，k1、k2及k3为设计值。
6.如权利要求1-5中任意一项所述的一种平板显示器的检测方法，其特征在于：所述的图像处理设备将第一、第二数字化图像转换为变换域后再进行比对分析。
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