CN109540477A - 一种tft测试装置及其测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种TFT测试装置及其测试方法，操作台表面形成TFT屏幕测试工位，上述夹具对应配合该TFT屏幕测试工位，测试柜与上部的显示设备柜之间形成隔板所述隔板处吊装有3台工业相机，其中，一台工业相机位于中间，位于中间的该台工业相机垂直投射于下部的TFT屏幕测试工位，另外两台工业相机设置于中间那台工业相机的两侧，两侧的两台工业相机斜向投射于下部的TFT屏幕测试工位，三台工业相机设在同一水平面上呈三角形状分布，三台工业相机分别位于三角形状的一个顶角位处，每台工业相机配置一LED补光灯。相比于传统使用单个相机的测试TFT屏幕，在测试流程中使用三个相机方案理增加了采样图片的处理，以保证后续参数比对的准确性。

Description

一种TFT测试装置及其测试方法

技术领域

本发明涉及TFT测试系统的技术领域，尤其是一种TFT测试装置，特别涉及装置的机械结构及其测试方法。

背景技术

随着科技的发展，生活电器产品的操作界面越来越人性化智能化，由传统的按钮界面再到颜色单调的LED、LCD界面，如今色彩鲜艳、可触摸操作的界面被广泛应用在生活电器上。这也伴随着生产过程中如何有效监测这类界面的问题出现，而其中TFT材质的屏幕测试难度较大，且测试指标具有典型性。

目前TFT屏幕的测试项目包括：亮度、分辨率、对比度、像素、像素点距等。其中像素点的测试对图像的采样有着极高的要求。传统的测试方式是通过一个高精度的相机，在屏幕的正上方拍照采样，而由于焦距和光线拍摄角度等问题，可靠的采样范围十分有限。

发明内容

本发明的目的在于提供一种TFT测试装置，采用三台工业相机同时拍摄的方案，在相同区域，将拍摄时光线角度的影响消除，同时对同一像素点测量时，通过三组数据的计算减小系统误差对测试的影响。解决了现有技术中存在的问题。

为了实现上述目的，本发明的技术方案为：一种TFT测试装置，所述装置包括装置机架，装置机架的下部为电控柜，装置机架的上部形成显示设备柜，装置机架中部形成测试柜，测试柜的底面设有操作台，操作台处设有一套夹具，操作台表面形成TFT屏幕测试工位，上述夹具对应配合该TFT屏幕测试工位，测试柜与上部的显示设备柜之间形成隔板所述隔板处吊装有3台工业相机，其中，一台工业相机位于中间，位于中间的该台工业相机垂直投射于下部的TFT屏幕测试工位，另外两台工业相机设置于中间那台工业相机的两侧，两侧的两台工业相机斜向投射于下部的TFT屏幕测试工位，三台工业相机设置在同一水平面上，并且在同一水平面上呈三角形状分布，三台工业相机分别位于三角形状的一个顶角位处，每台工业相机配置一LED补光灯。

本发明还公开了一种TFT测试装置的测试方法，所述测试方法为

S1:将被测TFT屏幕放置在TFT屏幕测试工位上，夹具将被测TFT屏幕固定在屏幕测试工位上，三台工业相机同时对下方的TFT屏幕进行拍照采样，并将三张采样图像传送到电脑主机；

S2：电脑主机将三张拍摄TFT屏幕的图片处理成为一张图片，降低系统误差导致的物理数据不准确，根据数据算法的处理，将拍摄时光线角度的影响消除，同时对同一像素点测量时，通过三组数据的计算减小系统误差对测试的影响，所述数据算法在模糊控制器的模糊推理中完成，本算法中可以分为三个部分，输入变量，模糊控制器，控制对象，

s1输入变量：给出定值，由于三个相机参数完全相同，即采样图片的像素点数相同,同时为了提高测试效率，根据TFT屏幕的大小差异，对采样图片的区域进行提取，即仅针对采样图片中TFT屏幕区域进行算法处理；由于将图片剪切出一块区域的技术比较成熟，这里不再赘述；

s2模糊控制器：

a)模糊化：

由于对TFT屏幕的测试包括亮度、分辨率、对比度、像素、像素点距等项目，在处理图片时，对图片内容数据化处理。对每个像素点定坐标，即(x,y)。在针对像素点进行颜色的RGB(red,green,blue)分析，即得到(r,g,b)。假设一张图片中有n个像素点，最后可得到n*[(x,y,r)，(x,y,g)，(x,y,b)]，n组三维矩阵。

同时经过RGB运算，可以得到颜色(Hue)，饱和度(Sat)，亮度(Lum)等数据，即可得到n*[(x,y,h)，(x,y,s)，(x,y,l)]，n组三维矩阵。

最后将像素点根据(x,y)进行降阶运算，即由多维的非线性离散数据降阶为离散的二维数组，即可得到n个(i,j)。完成对给定量的模糊化处理。

b)模糊推理：

三张采样图片模糊化处理后，生成三组二维数组，由于采样图片的像素点数相同，即三组数据位置一一对应。对每组点进行拟合，其中，将正上方相机采样的图片拟合得到的曲线设为标准曲线，其他两组针对标准量进行误差处理，最后为标准曲线进行修正。

c)非模糊化：

将模糊推理拟合的数据重新离散化n个(i,j)，再进行逆运算生成n*[(x,y,r)，(x,y,g)，(x,y,b)]，n*[(x,y,h)，(x,y,s)，(x,y,l)]，将RGB数据代入正上方拍摄的图片中进行修正。

d)知识库：

知识库中包括颜色RGB的合成和分解运算；矩阵的运算；微分运算；积分运算；拟合运算。

s3控制对象,此时处理完成的图片即为整个算法的被控对象。

S3：电脑主机将最终判断结果数据上传到显示器上。

本发明公开了一种TFT测试装置，相比于传统使用单个相机的测试TFT屏幕，在测试流程中使用三个相机方案理增加了采样图片的处理，增加对TFT屏幕参数测试的可靠性；提高TFT屏幕测试的测试效率；增加相机采样的范围，对同一测试站测试产品的类型的扩展，减少重新搭建测试装置的成本，以保证后续参数比对的准确性。

附图说明

图1为TFT测试装置结构示意图。

图2为TFT测试装置立体图。

图3为TFT测试装置测试方法流程图。

图4为模糊控制器流程图。

具体实施方式

下面参照附图，对本发明进一步进行描述。

本发明公开了一种TFT测试装置，其区别于现有技术在于：所述装置包括装置机架1，装置机架1的下部为电控柜2，装置机架1的上部形成显示设备柜3，装置机架1中部形成测试柜4，测试柜4的底面设有操作台5，操作台5处设有一套夹具6，操作台5表面形成TFT屏幕测试工位7，上述夹具6对应配合该TFT屏幕测试工位7，测试柜4与上部的显示设备柜3之间形成隔板8所述隔板8处吊装有3台工业相机9，其中，一台工业相机9位于中间，位于中间的该台工业相机9垂直投射于下部的TFT屏幕测试工位7，另外两台工业相机9设置于中间那台工业相机9的两侧，两侧的两台工业相机9斜向投射于下部的TFT屏幕测试工位7，三台工业相机9设置在同一水平面上，并且在同一水平面上呈三角形状分布，三台工业相机9分别位于三角形状的一个顶角位处，每台工业相机9配置一LED补光灯。

在具体实施时，所述测试柜4的两侧设有向上掀开的测试柜门10。

在具体实施时，所述电控柜2内设有一台电脑主机11，显示设备柜3内设有一台显示器12，显示器一侧的显示设备柜3内设有一台打印机，所述显示显示器与打印机均与电脑主机连接，上述三台工业相机均与电脑主机连接诶。

在具体实施时，每台工业相机处均对应设置有一LED补光灯，LED补光灯13内呈扇形分布有三颗LED灯珠，三颗LED灯珠的铺光范围可最大限度的覆盖下部的TFT屏幕测试工位7。

一种TFT测试装置的测试方法，其区别于现有技术在于：所述测试方法为

S1:将被测TFT屏幕放置在TFT屏幕测试工位上，夹具将被测TFT屏幕固定在屏幕测试工位上，三台工业相机同时对下方的TFT屏幕进行拍照采样，并将三张采样图像传送到电脑主机；

S2：电脑主机将三张拍摄TFT屏幕的图片处理成为一张图片，降低系统误差导致的物理数据不准确，根据数据算法的处理，将拍摄时光线角度的影响消除，同时对同一像素点测量时，通过三组数据的计算减小系统误差对测试的影响，所述数据算法在模糊控制器的模糊推理中完成，本算法中可以分为三个部分，输入变量，模糊控制器，控制对象，

s1输入变量：给出定值，由于三个相机参数完全相同，即采样图片的像素点数相同,同时为了提高测试效率，根据TFT屏幕的大小差异，对采样图片的区域进行提取，即仅针对采样图片中TFT屏幕区域进行算法处理；

s2模糊控制器：

a)模糊化：

由于对TFT屏幕的测试包括亮度、分辨率、对比度、像素、像素点距等项目，在处理图片时，对图片内容数据化处理。对每个像素点定坐标，即(x,y)。在针对像素点进行颜色的RGB(red,green,blue)分析，即得到(r,g,b)。假设一张图片中有n个像素点，最后可得到n*[(x,y,r)，(x,y,g)，(x,y,b)]，n组三维矩阵。

同时经过RGB运算，可以得到颜色(Hue)，饱和度(Sat)，亮度(Lum)等数据，即可得到n*[(x,y,h)，(x,y,s)，(x,y,l)]，n组三维矩阵。

最后将像素点根据(x,y)进行降阶运算，即由多维的非线性离散数据降阶为离散的二维数组，即可得到n个(i,j)。完成对给定量的模糊化处理。

b)模糊推理：

三张采样图片模糊化处理后，生成三组二维数组，由于采样图片的像素点数相同，即三组数据位置一一对应。对每组点进行拟合，其中，将正上方相机采样的图片拟合得到的曲线设为标准曲线，其他两组针对标准量进行误差处理，最后为标准曲线进行修正。

c)非模糊化：

将模糊推理拟合的数据重新离散化n个(i,j)，再进行逆运算生成n*[(x,y,r)，(x,y,g)，(x,y,b)]，n*[(x,y,h)，(x,y,s)，(x,y,l)]，将RGB数据代入正上方拍摄的图片中进行修正。

d)知识库：

知识库中包括颜色RGB的合成和分解运算；矩阵的运算；微分运算；积分运算；拟合运算。

s3控制对象,此时处理完成的图片即为整个算法的被控对象。

S3：电脑主机将最终判断结果数据上传到显示器上。

以上内容是结合具体的优选实施方式对本发明所作的进一步详细说明，不能认定本发明具体实施只局限于上述这些说明。对于本发明所属技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换，都应当视为属于本发明的保护范围。

Claims (3)

1.一种TFT测试装置，其特征在于：所述装置包括装置机架(1)，装置机架(1)的下部为电控柜(2)，装置机架(1)的上部形成显示设备柜(3)，装置机架(1)中部形成测试柜(4)，测试柜(4)的底面设有操作台(5)，操作台(5)处设有一套夹具(6)，操作台(5)表面形成TFT屏幕测试工位(7)，上述夹具(6)对应配合该TFT屏幕测试工位(7)，测试柜(4)与上部的显示设备柜(3)之间形成隔板(8)所述隔板(8)处吊装有3台工业相机(9)，其中，一台工业相机(9)位于中间，位于中间的该台工业相机(9)垂直投射于下部的TFT屏幕测试工位(7)，另外两台工业相机(9)设置于中间那台工业相机(9)的两侧，两侧的两台工业相机(9)斜向投射于下部的TFT屏幕测试工位(7)，三台工业相机(9)设置在同一水平面上，并且在同一水平面上呈三角形状分布，三台工业相机(9)分别位于三角形状的一个顶角位处，每台工业相机(9)配置一LED补光灯，所述电控柜2内设有一台电脑主机(11)，上述三台工业相机均与电脑主机连接诶。

2.根据权利要求1所述的一种TFT测试装置，其特征在于：所述测试柜(4)的两侧设有向上掀开的测试柜门(10)。

3.一种TFT测试装置的测试方法，其特征在于：所述测试方法为

S1:将被测TFT屏幕放置在TFT屏幕测试工位上，夹具将被测TFT屏幕固定在屏幕测试工位上，三台工业相机同时对下方的TFT屏幕进行拍照采样，并将三张采样图像传送到电脑主机；

S2：电脑主机将三张拍摄TFT屏幕的图片处理成为一张图片，降低系统误差导致的物理数据不准确，根据数据算法的处理，将拍摄时光线角度的影响消除，同时对同一像素点测量时，通过三组数据的计算减小系统误差对测试的影响，所述数据算法在模糊控制器的模糊推理中完成，本算法中可以分为三个部分，输入变量，模糊控制器，控制对象，

s1输入变量：给出定值，由于三个相机参数完全相同，即采样图片的像素点数相同,同时为了提高测试效率，根据TFT屏幕的大小差异，对采样图片的区域进行提取，即仅针对采样图片中TFT屏幕区域进行算法处理；

s2模糊控制器：

a)模糊化：

由于对TFT屏幕的测试包括亮度、分辨率、对比度、像素、像素点距等项目，在处理图片时，对图片内容数据化处理。对每个像素点定坐标，即(x,y)。在针对像素点进行颜色的RGB(red,green,blue)分析，即得到(r,g,b)。假设一张图片中有n个像素点，最后可得到n*[(x,y,r)，(x,y,g)，(x,y,b)]，n组三维矩阵。

同时经过RGB运算，可以得到颜色(Hue)，饱和度(Sat)，亮度(Lum)等数据，即可得到n*[(x,y,h)，(x,y,s)，(x,y,l)]，n组三维矩阵。

最后将像素点根据(x,y)进行降阶运算，即由多维的非线性离散数据降阶为离散的二维数组，即可得到n个(i,j)。完成对给定量的模糊化处理。

b)模糊推理：

三张采样图片模糊化处理后，生成三组二维数组，由于采样图片的像素点数相同，即三组数据位置一一对应。对每组点进行拟合，其中，将正上方相机采样的图片拟合得到的曲线设为标准曲线，其他两组针对标准量进行误差处理，最后为标准曲线进行修正。

c)非模糊化：

将模糊推理拟合的数据重新离散化n个(i,j)，再进行逆运算生成n*[(x,y,r)，(x,y,g)，(x,y,b)]，n*[(x,y,h)，(x,y,s)，(x,y,l)]，将RGB数据代入正上方拍摄的图片中进行修正。

d)知识库：

知识库中包括颜色RGB的合成和分解运算；矩阵的运算；微分运算；积分运算；拟合运算。

s3控制对象,此时处理完成的图片即为整个算法的被控对象。

S3：电脑主机将最终判断结果数据上传到显示器上。