CN1967636A - 制造平板显示器的方法和设备 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种制造平板显示器的方法和设备,其适合于在制造过程中利用电数据补偿面板缺陷。根据本发明实施例的制造平板显示器的方法包括在平板显示器的检查过程中通过给平板显示器的数据电极提供测试数据和测试扫描信号检查平板显示器;在平板显示器的面板缺陷判断过程中根据检查装置的检查结果判断平板显示器的面板缺陷位置以及在面板缺陷位置处的面板缺陷的程度,并确定用于补偿面板缺陷程度的补偿数据;以及在平板显示器的面板缺陷补偿数据记录过程中在平板显示器的数据调制存储器中存储用于补偿面板缺陷程度的补偿数据。
Description
本申请要求于2005年11月16日提交的韩国专利申请号P2005-0109703的优先权,该文献在此结合作为参考。
技术领域
本发明涉及一种平板显示器,更具体地,涉及一种制造平板显示器的方法和设备,其适合于在制造过程中利用电数据补偿面板缺陷。
背景技术
在现今信息社会,显示器作为可视信息交流媒体,其重要性比以往任何时候都需要强调。目前主流的阴极射线管CRT或Braun管存在的问题在于其重量和尺寸大。已经研制的许多类型的平板显示器,可以克服上述阴极射线管的局限。
平板显示器包括液晶显示器LCD,场致发射显示器FED,等离子体显示板PDP,有机发光二极管OLED等。这些显示器的大多数已经投入实际应用并销售。
平板显示器包括显示图像的显示面板,而且面板缺陷(或云纹缺陷)已经在这种显示面板的测试过程中发现。在此,将面板缺陷定义为显示屏幕上伴随有亮度差别的显示点。面板缺陷主要在制造过程中产生,并且根据它们产生的原因可能具有固定的形式,如点状、线状、带状、圆状、多边形等或不确定的形式。在图1至3中示出具有上述多种形式面板缺陷的例子。
图1表示不确定形式的面板缺陷,图2表示垂直带状(或水平带状)的面板缺陷,以及图3表示固定形式的面板缺陷。它们中垂直带状的面板缺陷主要由于重叠曝光、透镜数量差等而产生,点状的面板缺陷主要通过杂质而产生。在这种面板缺陷位置处显示的图像比周围的无缺陷区域看上去更暗或更亮。同样,当与无缺陷区域相比时产生色差。
根据程度,面板缺陷与产品的缺陷密切相关,并且这种产品的缺陷导致产量下降。此外,即使被发现面板缺陷的产品作为好的产品已出货(ship),而由于面板缺陷使产品的可靠性下降,因此图像质量下降。
因此,已经提出多种方法以便改进面板缺陷。为了减小面板缺陷,主要打算提高至今为止的处理技术。然而,即使处理技术提高,面板缺陷可以减轻,但是面板缺陷不能完全去除。
发明内容
因此,本发明的一个目的是提供一种制造平板显示器的方法和设备,其适合于在制造过程中利用电数据补偿面板缺陷。
为了实现本发明的这些和其他目的,根据本发明一个方面的制造平板显示器的方法,包括:在平板显示器的检查过程中,通过给平板显示器的数据电极提供测试数据和测试扫描信号检查平板显示器;在平板显示器的面板缺陷判断过程中,根据检查装置的检查结果判断平板显示器的面板缺陷位置以及在面板缺陷位置处的面板缺陷的程度,并确定用于补偿面板缺陷程度的补偿数据;以及在平板显示器的面板缺陷补偿数据记录过程中,在平板显示器的数据调制存储器中存储用于补偿面板缺陷程度的补偿数据。
在制造方法中,补偿数据包括表示面板缺陷位置的定位的位置数据;和每个灰度级的补偿数据,其对于将在面板缺陷位置处显示的数据的每个灰度级设置为不同。
在制造方法中,补偿数据包括补偿红色数据的R补偿数据;补偿绿色数据的G补偿数据;和补偿蓝色数据的B补偿数据,其中R补偿数据、G补偿数据和B补偿数据在相同象素位置的相同灰度级中设置为相同的值。
在制造方法中,补偿数据包括补偿红色数据的R补偿数据;补偿绿色数据的G补偿数据;和补偿蓝色数据的B补偿数据,以及R补偿数据、G补偿数据和B补偿数据的至少一个的补偿值在相同象素位置的相同灰度级中与其他补偿数据不同。
在制造方法中,存储器包括其中数据可以被更新的非易失性存储器。
在制造方法中,存储器包括EEPROM和EDID ROM其中任一种。
在制造方法中,平板显示器包括连接到存储器、利用补偿数据调制数据的补偿电路,所述数据将在面板缺陷位置处显示。
在制造方法中,平板显示器包括液晶显示面板,其中多个数据线与多个栅极线相交以及多个液晶盒布置在其中;通过使用利用补偿数据调制的数据驱动数据线的数据驱动电路;将扫描脉冲提供给栅极线的栅极驱动电路;和控制驱动电路并将补偿数据提供给数据驱动电路的时序控制器,以及补偿电路嵌入在时序控制器中。
在制造方法中,补偿电路利用补偿数据增加或减少将在面板缺陷位置处显示的数据。
在制造方法中,补偿电路在m位的红色、m位的绿色和m位的蓝色的数据中提取颜色差信息和n(n是大于m的整数)位的亮度信息,所述数据将在面板缺陷位置处显示;产生n位的亮度信息,其通过利用补偿数据增加或减少n位的亮度信息来调制;以及通过使用n位的已调制亮度信息和未调制的颜色差信息来产生m位的已调制红色数据、m位的已调制绿色数据和m位的已调制蓝色数据。
在制造方法中,补偿数据对于面板缺陷位置的每个位置,以及对于数据的每个灰度级设置为不同,所述数据在面板缺陷位置处显示。
在制造方法中,补偿电路暂时分散补偿数据;并利用该暂时分散的补偿数据而增加或减少将在面板缺陷位置处显示的数据。
在制造方法中,补偿数据通过帧周期的单位进行分散。
在制造方法中,补偿电路空间分散补偿数据;并利用该空间分散的补偿数据增加或减少将在面板缺陷位置处显示的数据。
在制造方法中,补偿数据分散到相邻象素。
在制造方法中,补偿电路暂时和空间分散补偿数据;并利用该暂时和空间分散的补偿数据而增加或减少将在面板缺陷位置处显示的数据。
在制造方法中,补偿数据分散到多个帧周期和相邻象素。
根据本发明另一个方面的制造平板显示器的设备包括检查装置,在平板显示器的检查过程中,通过给平板显示器的数据电极提供测试数据和测试扫描信号检查平板显示器;面板缺陷判断装置,在平板显示器的面板缺陷判断过程中,根据检查装置的检查结果判断平板显示器的面板缺陷位置以及在面板缺陷位置处的面板缺陷的程度,并确定用于补偿面板缺陷程度的补偿数据;和存储器记录装置,在平板显示器的面板缺陷补偿数据记录过程中,在平板显示器的数据调制存储器中存储补偿面板缺陷程度的补偿数据。
在制造设备中,补偿数据包括表示面板缺陷位置的定位的位置数据;和每个灰度级的补偿数据,其对于将在面板缺陷位置处显示的数据的每个灰度级设置为不同。
在制造设备中,补偿数据包括补偿红色数据的R补偿数据;补偿绿色数据的G补偿数据;和补偿蓝色数据的B补偿数据,其中R补偿数据、G补偿数据和B补偿数据在相同象素位置的相同灰度级中设置为相同的值。
在制造设备中,补偿数据包括补偿红色数据的R补偿数据;补偿绿色数据的G补偿数据;和补偿蓝色数据的B补偿数据,以及R补偿数据、G补偿数据和B补偿数据的至少一个的补偿值在相同象素位置的相同灰度级中与其他补偿数据不同。
在制造设备中,存储器包括其中数据可以被更新的非易失性存储器。
在制造设备中,存储器包括EEPROM和EDID ROM其中任一种。
在制造设备中,平板显示器包括连接到存储器、利用补偿数据调制数据的补偿电路,所述数据将在面板缺陷位置处显示。
在制造设备中,平板显示器包括液晶显示面板,其中多个数据线与多个栅极线相交以及多个液晶盒布置在其中;通过使用利用补偿数据调制的数据驱动数据线的数据驱动电路;将扫描脉冲提供给栅极线的栅极驱动电路;和控制驱动电路并将补偿数据提供给数据驱动电路的时序控制器,以及补偿电路嵌入在时序控制器中。
在制造设备中,补偿电路利用补偿数据增加或减少将在面板缺陷位置处显示的数据。
在制造设备中,补偿电路在m位的红色、m位的绿色和m位的蓝色的数据中提取颜色差信息和n(n是大于m的整数)位的亮度信息,所述数据将在面板缺陷位置处显示;产生n位的亮度信息,其通过利用补偿数据增加或减少n位的亮度信息来调制;以及通过使用n位的已调制亮度信息和未调制的颜色差信息来产生m位的已调制红色数据、m位的已调制绿色数据和m位的已调制蓝色数据。
在制造设备中,补偿数据对于面板缺陷位置的每个位置以及对于数据的每个灰度级设置为不同,所述数据在面板缺陷位置处显示。
在制造设备中,补偿电路暂时分散补偿数据;并利用该暂时分散的补偿数据而增加或减少将在面板缺陷位置处显示的数据。
在制造设备中,补偿数据通过帧周期的单位进行分散。
在制造设备中,补偿电路空间分散补偿数据;并利用该空间分散的补偿数据而增加或减少将在面板缺陷位置处显示的数据。
在制造设备中,补偿数据分散到相邻象素。
在制造设备中,补偿电路暂时和空间分散补偿数据;并利用该暂时和空间分散的补偿数据增加或减少将在面板缺陷位置处显示的数据。
在制造设备中,补偿数据分散到多个帧周期和相邻象素。
附图说明
本发明的这些和其他目的将从参考所附附图的本发明实施例的详细描述中显而易见,在附图中:
图1是表示不确定形式的面板缺陷的图;
图2是表示垂直带状的面板缺陷的图;
图3是表示点状的面板缺陷的图;
图4是表示根据本发明实施例的逐步制造平板显示器的方法的流程图;
图5是表示根据本发明实施例的平板显示器,检查装置和面板缺陷补偿装置的框图;
图6是表示伽玛校正曲线的例子的视图,其中面板缺陷补偿数据对于每个灰度级以及将被设置的每个灰度级部分进行划分;
图7是表示根据本发明第一实施例的面板缺陷补偿电路的框图;
图8和9是表示图7所示的面板缺陷补偿电路的面板缺陷补偿结果的例子;
图10A和10B是表示象素排列的两个例子的视图;
图11是表示根据本发明第二实施例的面板缺陷补偿电路的框图;
图12是表示根据本发明第三实施例的面板缺陷补偿电路的框图;
图13是表示帧频控制的例子的视图;
图14是表示抖动的例子的视图;
图15是表示帧频控制和抖动的例子的视图;
图16是表示根据本发明第四实施例的面板缺陷补偿电路的框图;
图17是详细表示图16的第一FRC控制器的框图;
图18是表示根据本发明第五实施例的面板缺陷补偿电路的框图;
图19是详细表示图18所示的第一抖动控制器的框图;
图20是表示根据本发明第六实施例的面板缺陷补偿电路的框图;和
图21是表示图20所示的第一FRC和抖动控制器的框图。
具体实施方式
现在将详细描述本发明的优选实施例,这些例子在所附附图中说明。
参考图4至21,本发明的实施例将如下解释。
参考图4,根据本发明实施例的制造平板显示器的方法在分别得到上板和下板后利用密封剂或熔合玻璃粘合上/下板。(S1,S2,S3)
随后,平板显示器的制造方法在平板显示器的检查过程中,通过将每个灰度级的测试数据施加到上/下板粘合的平板显示器来显示测试图像,并通过图像上的电检查和/或宏观检查(macrography)来检查面板缺陷(defect)即显示点。(S4)以及,如果在检查过程中,在平板显示器上发现面板缺陷(S5),则根据本发明的制造平板显示器的方法,分析面板缺陷出现的位置以及面板缺陷的程度。(S6)
而且,根据本发明的制造平板显示器的方法,在步骤S7和S8中,在平板显示器的面板缺陷判断过程中,确定每个灰度级区域的面板缺陷补偿数据和面板缺陷位置数据,然后,在半板显示器的面板缺陷补偿数据记录过程中,将每个灰度级区域的面板缺陷补偿数据和面板缺陷位置数据存储在非易失性存储器如EEPROM(电可擦除只读存储器)和EDID ROM(扩展显示标识数据ROM)中,这里的EEPROM和EDID ROM可进行数据更新或擦除。面板缺陷位置数据和每个灰度级区域的面板缺陷补偿数据,根据面板缺陷的位置和程度改变。
根据本发明的制造平板显示器的方法,调制在EEPROM中存储的面板缺陷位置数据和面板缺陷补偿数据,并将已调制的数据提供给平板显示器。
另一方面,如果在步骤S5中发现面板缺陷的尺寸、数量和程度不大于好的产品可允许标准值,则平板显示器被判断为可以出货的好产品。(S9)
下面将以有效矩阵型液晶显示器为中心详细描述根据本发明的制造平板显示器的方法。
根据本发明的制造液晶显示器的方法划分为基板清洗过程、基板图案化过程、取向膜形成/摩擦过程、基板粘合/液晶注入过程、安装过程、检查过程、检修过程等。
在基板清洗过程中,利用清洗溶液将杂质去除,具有该杂质,液晶显示器的基板表面被污染。
基板图案化过程划分为上板(滤色片基板)的图案化过程和下板(TFT阵列基板)的图案化过程。滤色片,公共电极,黑色矩阵等形成在上板的基板中。在下板的基板中,信号线如数据线,栅极线等形成,TFT形成在数据线和栅极线的每个相交部分处,以及象素电极形成在栅极线和连接到TFT的源极的数据线之间的象素区域处。
在取向膜形成/摩擦过程中,取向膜展开在上和下板的每个的上方,以及取向膜利用摩擦布等进行摩擦。
在基板粘合/液晶注入过程中,上基板和下基板通过使用密封剂粘合在一起,液晶和衬垫料通过液晶注入孔注入,然后液晶注入孔被密封。
在安装过程中,带式封装(在下文中,称为“TCP”)连接到基板上的焊盘部分,集成电路(在下文中,称为“IC”)如栅极驱动IC和数据驱动IC安装在该带式封装上。驱动IC可以通过芯片固定在玻璃上(COG)的方法直接安装在基板上,该方法不同于利用前述TCP的带式自动焊接(TAB)方法。
检查过程包括:在多种信号线和象素电极形成在下基板中以后进行的电检查,以及在基板粘合/液晶注入过程之后进行的电检查和宏观检查。作为在基板粘合/液晶注入过程之后进行的检查过程的结果,如果发现面板缺陷,则确定面板缺陷的位置数据和补偿数据,以及将位置数据和补偿数据存储在EEPROM中。在这里,EEPROM安装在液晶显示器的印刷电路板PCB上。面板缺陷补偿电路和时序控制器一起安装在印刷电路板上,其中面板缺陷补偿电路通过使用EEPROM的数据调制输入数字视频数据,时序控制器将来自面板缺陷补偿电路的数据提供给数据驱动电路并控制数据驱动电路和扫描驱动电路的操作时序。面板缺陷补偿电路可以嵌入在时序控制器中。被判断为可以出货的最终的好产品的液晶显示器的驱动电路,包括EEPROM和与时序控制器一起的面板缺陷补偿电路,数据驱动电路和扫描驱动电路。
图5表示根据本发明实施例的制造平板显示器的设备。
参考图5,根据本发明实施例的制造平板显示器的设备包括ROM记录器54,其可以访问平板显示器100的EEPROM 53;连接到ROM记录器54的计算机55;和连接到计算机55的检查装置61。
平板显示器100包括平板显示面板60,其中数据线58与扫描线59相交,象素以矩阵形式排列;提供数字视频数据Rc/Gc/Bc的数据驱动电路56,其中面板缺陷被补偿到数据线58;顺序将扫描脉冲提供给扫描线59的扫描驱动电路57;和控制驱动电路56,57的时序控制器52。平板显示器100可为液晶显示器LCD,场致显示器FED,等离子体显示板PDP,有机发光二极管OLED等。
面板缺陷补偿电路51嵌入在时序控制器52中。面板缺陷补偿电路51使相应于面板缺陷位置的输入数字视频数据Ri/Gi/Bi增加和减小补偿数据以调制数字视频数据。下文将详细描述面板缺陷补偿电路51。时序控制器52将由面板缺陷补偿电路51调制的数字视频数据Ri/Gi/Bi和相应于无缺陷区域的未被调制过的数字视频数据Ri/Gi/Bi提供给数据驱动电路56。时序控制器52通过使用垂直和水平同步信号Vsync,Hsync,点时钟DCLK和数据使能信号DE产生控制数据驱动电路56的操作时序的数据驱动控制信号DDC和控制栅极驱动电路57的操作时序的栅极驱动控制信号GDC。
数据驱动电路56将来自时序控制器52的补偿的数字视频数据Rc/Gc/Bc转换为可以表示灰度级的模拟电压或电流,并提供给数据线58。
在时序控制器52的控制下,扫描驱动电路57将扫描脉冲顺序提供给扫描线,以选择将被显示的象素的水平行。
检查装置61将测试数据提供给数据线58,以及将测试扫描脉冲提供给扫描线59,并在驱动电路没有连接到平板显示面板60的状态下,利用图像测量装置或肉眼检查在平板显示器上显示的图像。检查装置61在计算机55的控制下检查在平板显示面板60上显示的测试图像,同时通过从最低的灰度级(或峰值黑色灰度级)到最高的灰度级(或峰值白色灰度级)的灰度级来增加测试数据的灰度级。测试数据应当具有至少不小于8位的分辨率。
计算机55接收对于每个灰度级的通过检查装置61测量的象素的亮度测量值,以计算象素之间的亮度差,并将与其他象素相比时存在亮度差的象素的位置判断为面板缺陷区域。计算机55计算面板缺陷区域的位置数据和用于补偿面板缺陷区域的亮度差的补偿数据。计算机55将已计算的面板缺陷位置信息和面板缺陷补偿数据提供给ROM记录器54。由于处理条件的改变和应用模式之间的差别,或如果面板缺陷位置数据和面板缺陷补偿数据的更新数据由操作者输入,因此需要面板缺陷位置数据和面板缺陷补偿数据更新的情况下,计算机55通过使用通信标准协议如I2C等将更新数据传输到ROM记录器54,使ROM记录器54更新存储在EEPROM 53中的面板缺陷位置数据和面板缺陷补偿数据。
ROM记录器54将来自计算机55的面板缺陷位置数据PD和面板缺陷补偿数据CD提供给EEPROM。在这里,ROM记录器可以通过用户连接器将面板缺陷补偿数据传输到EEPROM 53。面板缺陷补偿数据通过用户连接器连续传输,以及串行时钟,接地电源等也通过用户连接器传输到EEPROM 53。
另一方面,将面板缺陷补偿数据传输到EDID ROM而不是EEPROM 53,EDIDROM可以将面板缺陷补偿数据存储到单独的存储空间。EDID ROM存储销售商/制造商标识信息ID和基本显示器的变量和特征作为不同于面板缺陷补偿数据的监视器信息数据。在面板缺陷补偿数据存储在EDID ROM而不是EEPROM 53中的情况下,ROM记录器54通过DDC(数据显示通道)传输面板缺陷补偿数据。因此,在使用EDID ROM的情况下,EEPROM 53和用户连接器可以被去除,从而存在减少附加研发成本的效果。在下文中,描述将假定面板缺陷补偿数据存储在其中的存储器是EEPROM 53。当然,在下面实施例的解释中,EEPROM 53和用户连接器可以用EDID ROM和DDC取代。
在EEPROM 53中存储的补偿数据具有它们的根据面板缺陷的位置改变的颜色差或亮度的非均匀性,从而补偿数据应当对于每个位置最佳化。此外,考虑到如图6中的伽玛特性,补偿数据应当对于每个灰度级最佳化。因此,补偿数据可以对于R、G和B的每个中的每个灰度级设置,或者可以对于包括图6中的多个灰度级的每个灰度级部分(A,B,C,D)设置。例如,补偿数据可以对于每个位置设置为最佳值,即在‘面板缺陷1’位置为‘+1’,在‘面板缺陷2’位置为‘-1’以及在‘面板缺陷3’位置为‘0’,以及此外可以对于每个灰度级部分设置为最佳值,即在‘灰度级部分A’中为‘0’,在‘灰度级部分B’中为‘0’,在‘灰度级部分C’中为‘1’以及在‘灰度级部分D’中为‘1’。因此,补偿数据可以在相同面板缺陷位置中对于每个灰度级不同,并且可以在相同的灰度级中对于每个面板缺陷位置不同。根据通过包括R、G、B子象素的一个象素单位设置的亮度校正,补偿数据在一个象素的R、G、B数据的每个中设置为相同值。此外,当校正颜色差时,在每个R、G、B数据中设置不同补偿数据。例如,如果红色在特定面板缺陷位置比在无缺陷位置中更显著地显现,则R补偿数据低于G、B补偿值。
EEPROM 53以查找表的形式存储面板缺陷位置数据PD和面板缺陷补偿数据CD和灰度级区域信息(图6中的部分A,B,C,D),并响应来自嵌入在时序控制器52中的面板缺陷补偿电路51的地址控制信号,将来自相应地址的面板缺陷位置数据PD和补偿数据CD提供给面板缺陷补偿电路。
图7至9为解释面板缺陷补偿电路51及其操作的第一实施例的图。
参考图7,面板缺陷补偿电路51包括位置判断部分71,灰度级判断部分72R,72G,72B,地址产生器73R,73G,73B,和计算器74R,74G,74B。EEPROM 53包括第一至第三EEPROM 53R,53G,53B,其每一个对于红R、绿G和蓝B的每一个存储面板缺陷补偿数据CD及其面板缺陷位置数据PD。
在面板缺陷通过子象素单位进行补偿的情况下,或在颜色校正的情况下,存储在第一至第三EEPROM 53中的数据对于在相同位置和相同灰度级中的每个EEPROM设置为不同,但是另一方面,在面板缺陷通过包括红、绿和蓝三个子象素的象素单位进行补偿的情况下,或在亮度校正的情况下,数据对于在相同位置和相同灰度级中的每个EEPROM中设置为相同。
位置判断部分71通过使用垂直/水平同步信号Vsync,Hsync,数据使能信号DE和点时钟DCLK,判断输入数字视频数据Ri/Gi/Bi的显示位置。
灰度级判断部分72R,72G,72B分析红R、绿G、蓝B的输入数字视频数据Ri/Gi/Bi的灰度级。
通过参考EEPROM 53R,53G,53B的面板缺陷位置数据PD,如果输入数字视频数据Ri/Gi/Bi的显示位置相应于面板缺陷位置,则地址产生器73R,73G,73B产生读取面板缺陷位置的面板缺陷补偿数据CD的读取地址,以提供给EEPROM53R,53G,53B。
从EEPROM 53R,53G,53B输出的面板缺陷补偿数据CD根据地址被提供给计算器74R,74G,74B。
计算器74R,74G,74B使输入数字视频数据Ri/Gi/Bi加上或减去面板缺陷补偿数据CD,以调制将在面板缺陷位置中显示的输入数字视频数据Ri/Gi/Bi。在这里,计算器74R,74G,74B可以包括乘法器或除法器,其不同于加法器或减法器,可以使输入数字视频数据Ri/Gi/Bi乘以或除以面板缺陷补偿数据CD。
由面板缺陷补偿电路51产生的面板缺陷补偿的一个例子为R补偿数据,G补偿数据和B补偿数据相同地设置为‘1’,将在面板缺陷位置处显示的、比无缺陷位置低一个灰度级的输入数字视频数据Ri/Gi/Bi的灰度级在每个颜色中相同地增加一个灰度级,从而面板缺陷位置的亮度可以被补偿,如图8所示。此外,由面板缺陷补偿电路51产生的面板缺陷补偿的另一个例子为R补偿数据设置为‘1’,G补偿数据和B补偿数据设置为‘0’,从而将在面板缺陷位置处显示的、红色的纯度比无缺陷位置低的输入数字视频数据Ri/Gi/Bi的颜色差可以被补偿,如图9所示。
平板显示面板60的一个象素可以包括三个子象素:红R、绿G、蓝B,如图10A所示,但是它可以包括四个子象素:红R、绿G、蓝B和白W,如图10B所示。
为了调制如图10B所示的象素排列中的面板缺陷位置的白色数据W,根据本发明第二实施例的面板缺陷补偿电路51进一步包括灰度级判断部分72W,地址产生器73W和计算器74W,如图11所示。EEPROM 53进一步包括第三EEPROM 53W,面板缺陷位置中的白色数据的补偿数据以查找表的形式存储在其中。如果白色数据Wi以该方式补偿,则面板缺陷位置中的亮度补偿可以更容易地实现。另一方面,白色数据Wi从亮度信息Y确定,该亮度信号通过使红,绿和蓝的输入数字视频数据Ri/Gi/Bi作为变量来计算。
图12表示根据本发明第三实施例的面板缺陷补偿电路51和EEPROM 53Y。
参考图12,根据本发明的面板缺陷补偿电路51包括RGB至YUV转换器120,位置判断部分121,灰度级判断部分122,地址产生器123,计算器124和YUV至RGB转换器125。EEPROM 53Y存储对于每个位置和对于每个灰度级的面板缺陷亮度补偿数据,其用于精密地调制输入数字视频数据Ri/Gi/Bi的亮度信息Yi,这些数据将在面板缺陷位置处显示。
RGB至YUV转换器120通过使用具有m/m/m位的R/G/B数据的输入数字视频数据Ri/Gi/Bi的下述数学公式1至3,计算颜色差信息UiVi和n/n/n(n是大于m的整数)位的亮度信息Yi。
[数学公式1]
Yi=0.299Ri+0.587Gi+0.114Bi
[数学公式2]
Ui=-0.147Ri-0.289Gi+0.436Bi=0.492(Bi-Y)
[数学公式3]
Vi=0.615Ri-0.515Gi-0.100Bi=0.877(Ri-Y)
位置判断部分121通过使用垂直/水平同步信号Vsync,Hsync,数据使能信号DE和点时钟DCLK,判断输入数字视频数据(Ri/Gi/Bi)的显示位置。
灰度级判断部分122基于来自RGB至YUV转换器120的亮度信息,分析输入数字视频数据Ri/Gi/Bi的灰度级。
通过参考EEPROM 53Y的面板缺陷位置数据,如果输入数字视频数据Ri/Gi/Bi的显示位置相应于面板缺陷位置,则地址产生器127产生读取面板缺陷位置的面板缺陷亮度补偿数据的读取地址,以提供给EEPROM 53Y。
从EEPROM 53Y输出的面板缺陷亮度补偿数据根据地址被提供给计算器124。
计算器124使来自RGB至YUV转换器120的n位亮度信息Yi加上或减去EEPROM53Y的面板缺陷亮度补偿数据。在这里,计算器124可以包括乘法器或除法器,其不同于加法器或减法器,可以使n位的亮度信息Yi乘以或除以面板缺陷亮度补偿数据。
由计算器124调制的亮度信息Yc增加或减少n位扩展的亮度信息Yi,从而将输入数字视频数据Ri/Gi/Bi的亮度精密地调节到小部分是可能的。
YUV至RGB转换器125通过使用由计算器124调制的亮度信息Yc和来自RGB至YUV转换器120的颜色差信息UiVi作为变量的下述数学公式4至6,计算m/m/m位的调制数据Rc/Gc/Bc。
[数学公式4]
R=Yc+1.140Vi
[数学公式5]
G=Yc-0.395Ui-0.581Vi
[数学公式6]
B=Yc+2.032Ui
以该方式,根据本发明第三实施例的面板缺陷补偿电路通过注意到人眼对亮度差比对颜色差更敏感,将在面板缺陷位置中显示的R/G/B视频数据转换为亮度成分和颜色差成分,以及通过扩展包括亮度信息的Y数据的位数,调节面板缺陷位置的亮度,由此能够精密地控制在平板显示器的面板缺陷位置处的亮度。
根据本发明第四至第六实施例的面板缺陷补偿电路51通过使用帧频控制(在下文中,称为‘FRC’)和抖动,其已知为精密地调节图像质量的方法,调节将在面板缺陷位置处显示的数据。
帧频控制和抖动将参考图13至15进行解释。
在帧频控制中,假定存在一个象素,其中‘0’灰度级和‘1’灰度级顺序对于四帧显示,如果象素对于三帧显示‘0’灰度级,对于剩余的一帧显示‘1’灰度级,如图13的(A)中所示,则观察者由于其视网膜的整体效果,对于该四帧感觉到‘1/4’灰度级。与此不同,如果相同的象素对于两帧显示‘0’灰度级,对于剩余的两帧显示‘1’灰度级,如图13的(B)中所示,则观察者由于其视网膜的整体效果,对于该四帧感觉到‘1/2’灰度级。以及,如果相同的象素对于一帧显示‘0’灰度级,对于剩余的三帧显示‘1’灰度级,如图13的(C)中所示,则观察者由于其视网膜的整体效果,对于该四帧感觉到‘3/4’灰度级。
在抖动中,假定存在包括四个象素P1、P2、P3和P4的单位象素窗,如果该单位象素窗中的三个象素P1、P3和P4显示‘0’灰度级,剩余的一个象素P2显示‘1’灰度级,如图14的(A)中所示,则观察者在单位象素窗中对于相应的周期感觉到‘1/4’灰度级。与此不同,如果该单位象素窗中的两个象素P1和P4显示‘0’灰度级,剩余的两个象素P2和P3显示‘1’灰度级,如图14的(B)中所示,则观察者在单位象素窗中对于相应的周期感觉到‘1/2’灰度级。以及,如果该单位象素窗中的一个象素P1显示‘0’灰度级,剩余的三个象素P2、P3和P4显示‘1’灰度级,如图14的(C)中所示,则观察者在单位象素窗中对于相应的周期感觉到‘3/4’灰度级。
本发明不仅使用帧频控制和抖动的每一个,而且通过混合帧频控制和抖动,如图15所示,精密地调节面板缺陷位置处的数据,以便减小在抖动中显现的分辨率的下降和在帧频控制中产生的闪烁现象。
参考图15,假定包括四个象素P1、P2、P3和P4的单位象素窗对于四个帧顺序显示,如果单位象素窗显示‘1/4’灰度级,同时其中显示‘1’灰度级的一个象素对于四个帧的每一帧不同,如图15的(A)所示,则观察者感觉到单位象素窗的灰度级对于四个帧是‘1/4’灰度级,而几乎感觉不到闪烁和分辨率下降。
与此不同,如果单位象素窗显示‘1/2’灰度级或‘3/4’灰度级,同时其中显示‘1’灰度级的两个或三个象素对于四个帧的每一帧不同,如图15的(B)、(C)所示,则观察者感觉到单位象素窗的灰度级对于四个帧是‘1/2’或‘3/4’灰度级,而几乎感觉不到闪烁和分辨率下降。
在本发明中,帧频控制的帧数或在抖动中在单位象素窗中包括的象素数可以根据需要不同地调节。
图16表示根据本发明第四实施例的面板缺陷补偿电路51和EEPROM 53。
参考图16,面板缺陷补偿电路51包括位置判断部分161,灰度级判断部分162R,162G,162B,地址产生器163R,163G,163B,和FRC控制器164R,164G,164B。EEPROM 53包括第一至第三EEPROM 53FR,53FG,53FB,其每一个对于红R、绿G和蓝B的每一个存储面板缺陷补偿数据CD及其面板缺陷位置数据PD。
位置判断部分161通过使用垂直/水平同步信号Vsync,Hsync,数据使能信号DE和点时钟DCLK,判断输入数字视频数据Ri/Gi/Bi的显示位置。
灰度级判断部分162R,162G,162B分析红R、绿G、蓝B的输入数字视频数据Ri/Gi/Bi的灰度级。
通过参考EEPROM 53R,53G,53B的面板缺陷位置数据PD,如果输入数字视频数据Ri/Gi/Bi的显示位置相应于面板缺陷位置,则地址产生器163R,163G,163B产生读取面板缺陷位置的面板缺陷补偿数据CD的读取地址,以提供给EEPROM 53FR,53FG,53FB。
从EEPROM 53FR,53FG,53FB输出的面板缺陷补偿数据CD根据地址被提供给FRC控制器164R,164G,164B。
FRC控制器164R,164G,164B通过使输入数字视频数据Ri/Gi/Bi增加或减少来自EEPROM 53FR,53FG,53FB的面板缺陷补偿数据CD,调制将在面板缺陷位置处显示的数据,但是其中面板缺陷补偿数据CD增加或减少的帧的数量和顺序根据面板缺陷补偿值而不同,由此将面板缺陷补偿数据CD分散(disperse)到多个帧。例如,如果被设置为补偿值的将在面板缺陷位置中进行补偿的面板缺陷补偿数据CD为‘0.5’灰度级,则FRC控制器164R,164G,164B通过使相应的面板缺陷位置象素的数据对于四个帧中的两个帧周期增加‘1’灰度级,补偿关于数据Ri/Gi/Bi的面板缺陷的‘0.5’灰度级,这些数据将在面板缺陷位置处被显示。FRC控制器164R,164G,164B具有与图17相同的电路结构。
图17详细表示了校正红色数据的第一FRC控制器164R。另一方面,第二和第三控制器164G,164B基本上具有与第一FRC控制器164R相同的电路结构。
参考图17,第一FRC控制器164R包括补偿值判断部分171,帧数量检测部分172和计算器173。
补偿值判断部分171判断R补偿值并利用由补偿值除以帧数计算的值产生FRC数据FD。例如,在将四个帧作为一个帧组的情况下,如果预设置将R面板缺陷补偿数据‘00’识别为‘0’灰度级,将R面板缺陷补偿数据‘01’识别为‘1/4’灰度级,将R面板缺陷补偿数据‘10’识别为‘1/2’灰度级,以及将R面板缺陷补偿数据‘11’识别为‘3/4’灰度级,则补偿值判断部分171判断R面板缺陷补偿数据‘01’作为‘1/4’灰度级被添加到相应面板缺陷位置的数据的显示灰度级的数据。以该方式,如果R面板缺陷补偿数据的灰度级被判断,以便给输入数字视频数据Ri/Gi/Bi补偿‘1/4’灰度级,这些数据将被提供给相应的面板缺陷位置,则补偿值判断部分171对于将被添加到第一至第四帧中任一帧的‘1’灰度级在一个帧周期中产生FRC数据FD‘1’,并对于剩余的三个帧周期产生FRC数据FD‘0’。
帧数量检测部分172通过使用垂直/水平同步信号Vsync,Hsync,点时钟DCLK和数据使能信号DE中的至少任何一个,检测帧的数量。例如,帧数量检测部分172计算垂直同步信号Vsync,从而检测帧的数量成为可能。
计算器173使输入数字视频数据Ri/Gi/Bi增加和减少FRC数据FD,以产生校正的数字视频数据Rc。
通过使输入R.G.B.数字视频数据为每个8位以及使四个帧周期为一个帧组,假定面板缺陷补偿电路51和EEPROM 53暂时分散补偿值,根据本发明第三实施例的面板缺陷补偿电路51和EEPROM 53细分为1021灰度级,以能够精密地校正将在面板缺陷位置处显示的数据。
图18表示根据本发明第五实施例的面板缺陷补偿电路51和EEPROM 53。
参考图18,面板缺陷补偿电路51包括位置判断部分181,灰度级判断部分182R,182G,182B,地址产生器183R,183G,183B,和抖动控制器184R,184G,184B。EEPROM 53包括第一至第三EEPROM 53DR,53DG,53DB,其每一个对于红R、绿G和蓝B的每一个存储面板缺陷补偿数据CD及其面板缺陷位置数据PD。
位置判断部分181通过使用垂直/水平同步信号Vsync,Hsync,数据使能信号DE和点时钟DCLK,判断输入数字视频数据Ri/Gi/Bi的显示位置。
灰度级判断部分182R,182G,182B分析红R、绿G、蓝B的输入数字视频数据Ri/Gi/Bi的灰度级。
通过参考EEPROM 53DR,53DG,53DB的面板缺陷位置数据PD,如果输入数字视频数据Ri/Gi/Bi的显示位置相应于面板缺陷位置,则地址产生器183R,183G,183B产生读取面板缺陷位置的面板缺陷补偿数据CD的读取地址,以提供给EEPROM 53DR,53DG,53DB。
从EEPROM 53DR,53DG,53DB输出的面板缺陷补偿数据CD根据地址被提供给抖动控制器184R,184G,184B。
抖动控制器184R,184G,184B将来自EEPROM 53DR,53DG,53DB的面板缺陷补偿数据CD分散到包括多个象素的单位象素窗的每个象素,以调制将在面板缺陷位置处显示的输入数字视频数据Ri/Gi/Bi。
图19详细地表示了校正红色数据的第一抖动控制器。另一方面,第二和第三抖动控制器184G,184B基本上具有与第一抖动控制器184R相同的电路结构。
参考图19,第一抖动控制器184R包括补偿值判断部分191,象素位置检测部分192和计算器193。
补偿值判断部分191判断R补偿值,并通过使补偿值作为将被分散到在单位象素窗中包括的象素的值而产生抖动数据DD。补偿值判断部分191被编程以根据R补偿值自动输出抖动数据。
例如,补偿值判断部分191被预编程,如果以二进制数据表示的R补偿值是‘00’,则将单位象素窗的抖动补偿值识别为‘1/4’灰度级,如果R补偿值是‘10’则识别为‘1/2’灰度级,以及如果R补偿值是‘11’则识别为‘3/4’灰度级。因此,如果四个象素包括在单位象素窗中并且R补偿值是‘01’,补偿值判断部分191产生‘1’作为单位象素窗中的象素位置中的抖动数据DD,但是另一方面,它产生‘0’作为剩余三个象素位置中的抖动数据DD。对于如图14所示的单位象素窗中的每个象素位置,由计算器132使输入数字视频数据增加或减少抖动数据DD。
象素位置检测部分192通过使用垂直/水平同步信号Vsync,Hsync,点时钟DCLK和数据使能信号DE的至少任何一个,检测象素位置。例如,象素位置检测部分192计算水平同步信号Hsync和点时钟DCLK,从而检测象素位置成为可能。
计算器193使输入数字视频数据Ri/Gi/Bi增加和减少抖动数据DD,以产生校正的数字视频数据Rc。
假定单位象素窗由四个象素构成,根据本发明第四实施例的面板缺陷补偿电路51和EEPROM 53可以精密地利用补偿值调节将在面板缺陷位置处显示的数据,该补偿值对于R、G、B的每个被细分为1021灰度级。
图20表示根据本发明第六实施例的面板缺陷补偿电路51和EEPROM 53。
参考图20,面板缺陷补偿电路51包括位置判断部分201,灰度级判断部分202R,202G,202B,地址产生器203R,203G,203B,和FRC&抖动控制器204R,204G,204B。EEPROM 53包括第一至第三EEPROM 53FDR,53FDG,53FDB,其每一个对于红R、绿G和蓝B的每一个存储面板缺陷补偿数据CD及其面板缺陷位置数据PD。
位置判断部分201通过使用垂直/水平同步信号Vsync,Hsync,数据使能信号DE和点时钟DCLK,判断输入数字视频数据Ri/Gi/Bi的显示位置。
灰度级判断部分202R,202G,202B分析红R、绿G、蓝B的输入数字视频数据Ri/Gi/Bi的灰度级。
通过参考EEPROM 53FDR,53FDG,53FDB的面板缺陷位置数据PD,如果输入数字视频数据Ri/Gi/Bi的显示位置相应于面板缺陷位置,则地址产生器203R,203G,203B产生读取面板缺陷位置的面板缺陷补偿数据CD的读取地址,以提供给EEPROM 53FDR,53FDG,53FDB。
FRC&抖动控制器204R,204G,204B将来自EEPROM 53FDR,53FDG,53FDB的面板缺陷补偿数据CD分散到包括多个象素的单位象素窗的每个象素以及将面板缺陷补偿数据CD分散到多个帧周期,以调制将在面板缺陷位置处显示的输入数字视频数据Ri/Gi/Bi。
图21详细地表示了校正红色数据的第一FRC&抖动控制器204R。另一方面,第二和第三FRC&抖动控制器204G,204B基本上具有与第一FRC&抖动控制器204R相同的电路结构。
参考图21,第一FRC&抖动控制器204R包括补偿值判断部分211,帧数量检测部分223,象素位置检测部分224和计算器222。
补偿值判断部分221判断R补偿值,并通过对于帧周期使补偿值作为将被分散到在单位象素窗中包括的象素的值,产生FRC&抖动数据FDD。补偿值判断部分221被编程以根据R补偿值自动输出FRC&抖动数据。
例如,补偿值判断部分221被预编程,如果R补偿数据是‘00’,则将补偿值识别为‘0’灰度级,如果R补偿数据是‘01’,则识别为‘1/4’灰度级,如果R补偿数据是‘10’,则识别为‘1/2’灰度级,以及如果R补偿数据是‘11’,则识别为‘3/4’灰度级。假定R面板缺陷补偿数据是‘01’,四个帧周期是一个FRC帧组以及四个象素构成抖动的一个单位象素窗,则补偿值判断部分221对于四个帧周期产生‘1’作为单位位置中一个象素位置中的FRC&抖动数据FDD,并在剩余的三个象素位置中产生‘0’作为FRC&抖动数据FDD,但是每帧改变其中产生‘1’的象素的位置。
帧数量检测部分223通过使用垂直/水平同步信号Vsync,Hsync,点时钟DCLK和数据使能信号DE的至少任何一个,检测帧的数量。例如,帧数量检测部分223可以通过计算垂直同步信号Vsync检测帧的数量。
象素位置检测部分224通过使用垂直/水平同步信号Vsync,Hsync,点时钟DCLK和数据使能信号DE的至少任何一个,检测象素位置。例如,象素位置检测部分224计算水平同步信号Hsync和点时钟DCLK,从而检测象素位置成为可能。
计算器222使输入数字视频数据Ri/Gi/Bi增加和减少FRC&抖动数据FDD,以产生校正的数字视频数据Rc。
假定单位象素窗由四个象素构成以及四个帧周期是一个FEC帧组,根据本发明第五实施例的面板缺陷补偿电路51和EEPROM 53可以精密地利用补偿值调节将在面板缺陷位置处显示的数据,该补偿值对于R、G、B的每个被细分为1021灰度级,同时几乎没有闪烁和分辨率下降。
如上所述,根据本发明的制造平板显示器的方法和设备可以精密地补偿面板缺陷的亮度和色度,以及可以利用电补偿数据补偿面板缺陷,而不管制造过程中面板缺陷的尺寸或形状。
尽管本发明已经通过在上述附图中所示的实施例进行了解释,但是本领域技术人员应当理解,本发明不限于这些实施例,多种改变或变形是可能的,只要不偏离本发明的精神。因此,本发明的范围由所附权利要求及其等同物来确定。
Claims (34)
1.一种制造平板显示器的方法,包括:
在平板显示器的检查过程中,通过给平板显示器的数据电极提供测试数据和测试扫描信号检查平板显示器;
在平板显示器的面板缺陷判断过程中,根据检查装置的检查结果,判断平板显示器的面板缺陷位置以及在面板缺陷位置处的面板缺陷的程度,并确定用于补偿面板缺陷程度的补偿数据;以及
在平板显示器的面板缺陷补偿数据记录过程中,在平板显示器的数据调制存储器中存储用于补偿面板缺陷程度的补偿数据。
2.根据权利要求1的制造方法,其特征在于,该补偿数据包括:
表示面板缺陷位置的定位的位置数据;和
每个灰度级的补偿数据,其对于将在面板缺陷位置处显示的数据的每个灰度级设置为不同。
3.根据权利要求1的制造方法,其特征在于,该补偿数据包括:
补偿红色数据的R补偿数据;
补偿绿色数据的G补偿数据;和
补偿蓝色数据的B补偿数据,
其中R补偿数据、G补偿数据和B补偿数据在相同象素位置的相同灰度级中设置为相同的值。
4.根据权利要求1的制造方法,其特征在于,该补偿数据包括:
补偿红色数据的R补偿数据;
补偿绿色数据的G补偿数据;和
补偿蓝色数据的B补偿数据,以及
其中R补偿数据、G补偿数据和B补偿数据的至少一个的补偿值在相同象素位置的相同灰度级中与其他补偿数据不同。
5.根据权利要求1的制造方法,其特征在于,该存储器包括:
其中数据可以被更新的非易失性存储器。
6.根据权利要求5的制造方法,其特征在于,该存储器包括:EEPROM和EDIDROM其中任一种。
7.根据权利要求5的制造方法,其特征在于,该平板显示器包括:
连接到存储器、利用补偿数据调制数据的补偿电路,所述数据将在面板缺陷位置处显示。
8.根据权利要求7的制造方法,其特征在于,该平板显示器包括:
液晶显示面板,其中多个数据线与多个栅极线相交以及多个液晶盒布置在其中;
通过使用利用补偿数据调制的数据驱动数据线的数据驱动电路;
将扫描脉冲提供给栅极线的栅极驱动电路;和
控制驱动电路并将补偿数据提供给数据驱动电路的时序控制器,以及
其中补偿电路嵌入在时序控制器中。
9.根据权利要求8的制造方法,其特征在于,该补偿电路利用补偿数据增加或减少将在面板缺陷位置处显示的数据。
10.根据权利要求8的制造方法中,其特征在于,该补偿电路在m位的红色、m位的绿色和m位的蓝色的数据中提取颜色差信息和n(n是大于m的整数)位的亮度信息,所述数据将在面板缺陷位置处显示;产生n位的亮度信息,其通过利用补偿数据增加或减少n位的亮度信息来调制;以及通过使用n位的已调制亮度信息和未调制的颜色差信息来产生m位的已调制红色数据、m位的已调制绿色数据和m位的已调制蓝色数据。
11.根据权利要求10的制造方法,其特征在于,该补偿数据对于面板缺陷位置的每个位置以及对于数据的每个灰度级设置为不同,所述数据在面板缺陷位置处显示。
12.根据权利要求8的制造方法,其特征在于,该补偿电路暂时分散补偿数据;并利用该暂时分散的补偿数据而增加或减少将在面板缺陷位置处显示的数据。
13.根据权利要求12的制造方法,其特征在于,该补偿数据通过帧周期的单位进行分散。
14.根据权利要求8的制造方法,其特征在于,该补偿电路空间分散该补偿数据;并利用该空间分散的补偿数据增加或减少将在面板缺陷位置处显示的数据。
15.根据权利要求14的制造方法,其特征在于,该补偿数据分散到相邻象素。
16.根据权利要求8的制造方法,其特征在于,该补偿电路暂时和空间分散补偿数据;并利用该暂时和空间分散的补偿数据增加或减少将在面板缺陷位置处显示的数据。
17.根据权利要求16的制造方法,其特征在于,该补偿数据分散到多个帧周期和相邻象素。
18.一种制造平板显示器的设备,包括:
检查装置,在平板显示器的检查过程中,通过给平板显示器的数据电极提供测试数据和测试扫描信号检查平板显示器;
面板缺陷判断装置,在平板显示器的面板缺陷判断过程中,根据检查装置的检查结果判断平板显示器的面板缺陷位置以及在面板缺陷位置处的面板缺陷的程度,并确定用于补偿面板缺陷程度的补偿数据;和
存储器记录装置,在平板显示器的面板缺陷补偿数据记录过程中,在平板显示器的数据调制存储器中存储补偿面板缺陷程度的补偿数据。
19.根据权利要求18的制造设备,其特征在于,该补偿数据包括:
表示面板缺陷位置的定位的位置数据;和
每个灰度级的补偿数据,其对于将在面板缺陷位置处显示的数据的每个灰度级设置为不同。
20.根据权利要求18的制造设备,其特征在于,该补偿数据包括:
补偿红色数据的R补偿数据;
补偿绿色数据的G补偿数据;和
补偿蓝色数据的B补偿数据,
其中R补偿数据、G补偿数据和B补偿数据在相同象素位置的相同灰度级中设置为相同的值。
21.根据权利要求18的制造设备,其特征在于,该补偿数据包括:
补偿红色数据的R补偿数据;
补偿绿色数据的G补偿数据;和
补偿蓝色数据的B补偿数据,以及
其中R补偿数据、G补偿数据和B补偿数据的至少一个的补偿值在相同象素位置的相同灰度级中与其他补偿数据不同。
22.根据权利要求18的制造设备,其特征在于,该存储器包括:其中数据可被更新的非易失性存储器。
23.根据权利要求22的制造设备,其特征在于,该存储器包括:EEPROM和EDID ROM其中任一种。
24.根据权利要求22的制造设备,其特征在于,该平板显示器包括:
连接到存储器、利用补偿数据调制数据的补偿电路,所述数据将在面板缺陷位置处显示。
25.根据权利要求24的制造设备,其特征在于,该平板显示器包括:
液晶显示面板,其中多个数据线与多个栅极线相交以及多个液晶盒布置在其中;
通过使用利用补偿数据调制的数据驱动数据线的数据驱动电路;
将扫描脉冲提供给栅极线的栅极驱动电路;和
控制驱动电路并将补偿数据提供给数据驱动电路的时序控制器,以及
其中补偿电路嵌入在时序控制器中。
26.根据权利要求25的制造设备,其特征在于,该补偿电路利用补偿数据而增加或减少将在面板缺陷位置处显示的数据。
27.根据权利要求26的制造设备,其特征在于,该补偿电路在m位的红色、m位的绿色和m位的蓝色的数据中提取颜色差信息和n(n是大于m的整数)位的亮度信息,所述数据将在面板缺陷位置处显示;产生n位的亮度信息,其通过利用补偿数据增加或减少n位的亮度信息来调制;以及通过使用n位的已调制亮度信息和未调制的颜色差信息来产生m位的已调制红色数据、m位的已调制绿色数据和m位的已调制蓝色数据。
28.根据权利要求27的制造设备,其特征在于,该补偿数据对于面板缺陷位置的每个位置以及对于数据的每个灰度级设置为不同,所述数据在面板缺陷位置处显示。
29.根据权利要求25的制造设备,其特征在于,该补偿电路暂时分散补偿数据;并利用该暂时分散的补偿数据增加或减少将在面板缺陷位置处显示的数据。
30.根据权利要求29的制造设备,其特征在于,该补偿数据通过帧周期的单位进行分散。
31.根据权利要求25的制造设备,其特征在于,该补偿电路空间分散补偿数据;并利用该空间分散的补偿数据增加或减少将在面板缺陷位置处显示的数据。
32.根据权利要求31的制造设备,其特征在于,该补偿数据分散到相邻象素。
33.根据权利要求25的制造设备,其特征在于,该补偿电路暂时和空间分散补偿数据;并利用该暂时和空间分散的补偿数据增加或减少将在面板缺陷位置处显示的数据。
34.根据权利要求33的制造设备,其特征在于,该补偿数据分散到多个帧周期和相邻象素。
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