CN1877709A - 评价装置、评价方法和光盘制造方法 - Google Patents

Abstract

一种用于评价记录在光盘记录介质上的次级数据的记录质量的评价装置，其中在光盘记录介质上，初级数据被记录为凹坑和岸台的组合，所述评价装置包括以下元件：读取单元，其可操作用于读取基于照射在光盘记录介质上的重放功率的激光束的反射光信息的信号；二元化单元，其可操作用于在预定级别处对读取单元读取的信号分片，并输出结果作为二元信号；以及抖动计算单元，其可操作用于基于边缘偏移量的标准偏差和平均值以及关于预定最小偏移量的信息来计算边缘偏移量的抖动，预定最小偏移量被确定为可由二元判决检测为边缘偏移的最小偏移量。

Description

评价装置、评价方法和光盘制造方法

技术领域

本发明涉及用于评价记录在光盘记录介质上的次级数据的记录质量的评价装置和评价方法，其中在光盘记录介质上，不同于次级数据的初级数据被记录为凹坑(pit)和岸台(land)的组合，次级数据是通过以预定记录功率的激光束照射形成在多个位置处的凹坑和岸台的边缘部分来引入边缘偏移而记录的。

本发明还涉及用于通过基于由评价装置获得的评价结果记录次级数据来制造上述光盘记录介质的光盘制造方法。

背景技术

光盘，尤其是只可重放型ROM盘，在世界范围内被广泛用作包封介质，这是因为利用印模通过塑料注模可以在短时期内量产复制衬底。例如，光盘(CD)和数字通用光盘(DVD)被广泛用作用于记录诸如音乐和视频之类的信息的ROM盘。

所谓的盗版盘是通过非法地复制基于销售作为这种包封介质的ROM盘的记录数据来生产的，并且版权侵犯已经成为一个问题。

已经提出了用于防止盗版盘的制造的各种技术。这些技术中的一种例如已知是额外记录对于每个盘不同的标识信息。通过额外记录对于每个盘不同的标识信息，可以配置这样一个系统：其中重放装置读取标识信息，并经由网络将标识信息发送到外部服务器。利用这种系统，例如当生产并销售盗版盘时，服务器检测到许多条相同的标识信息，从而检测到盗版盘的存在。通过定位发送检测到的标识信息的重放装置，可以定位盗版盘制造者。

一种用于在ROM盘上额外记录标识信息的已知技术包括在盘上除了记录凹坑和岸台的区域之外的区域中，提供用于标识信息的额外记录区域，如烧录区(BCA，burst cutting area)。

然而，当在除了记录凹坑和岸台的区域之外的区域中执行记录时，很难在标识信息的读/写期间施加循轨伺服。在记录时，有必要形成具有相对较大的宽度的记录标记。

如所公知的，标识信息是通过烧掉反射层而写入在BCA中的。如上所述，由于有必要形成具有大宽度的记录标记，因此有必要以激光束照射盘相对较长的时间段。从而，很难高效地记录标识信息。

具体而言，用于版权保护的标识信息的记录在量产的ROM盘上是顺序执行的。当无法高效地执行记录时，ROM盘的交付可能滞后于进度。

提出了一种用于在ROM盘上额外记录标识信息的技术，例如“Postscribed ID^TM”(Sony公司的商标)(例如，见URL：http：//postscribed.com/index_jam，2005年5月6日搜索)。

Postscribed ID^TM是一种在盘上记录凹坑和岸台的区域中预先确定用于写标识信息的区域，并且在该区域中记录用于形成凹坑和岸台之间的边缘部分的预定模式数据的技术。

然后，通过以高输出记录激光束照射/不照射边缘部分来记录标识信息，从而引入/不引入边缘偏移。换句话说，盘具有多个区域，在这多个区域中，记录有上述预定模式数据。在一个区域中引入边缘偏移，而在另一区域中不引入边缘偏移，从而记录标识信息“0”和“1”。

重放装置重放盘上的每个预定区域。当区域中的重放数据与预定模式数据相同时，确定记录了值“0”。当重放数据与预定模式数据不同时，确定记录了值“1”。

根据上述记录技术，通过偏移凹坑和岸台之间的边缘部分可以将标识信息额外记录在数据被记录为凹坑和岸台的区域中。因此，与BCA的情形相比，可以极大地减小记录标记自身的大小，也可以极大地减少记录用激光束的照射时间。即，可以减少用于额外记录标识信息的时间。

发明内容

为了稳定标识信息的记录，在通过偏移ROM盘上的凹坑和岸台之间的边缘部分而额外记录标识信息的情形中，希望评价通过引入边缘偏移记录的信号，并基于评价结果调整例如包括激光功率在内的参数，从而使记录最优化。

然而，本发明的发明人认识到，迄今为止还未提出过用于适当地评价通过引入这种边缘偏移而额外记录的信息的技术。

根据本发明的实施例，提供了一种用于评价记录在光盘记录介质上的次级数据的记录质量的评价装置，其中在光盘记录介质上，不同于次级数据的初级数据被记录为凹坑和岸台的组合，次级数据是通过以预定记录功率的激光束照射形成在多个位置处的凹坑和岸台之间的边缘部分来引入边缘偏移而被记录的。评价装置包括以下元件：读取装置，其用于读取基于照射在光盘记录介质上的重放功率的激光束的反射光信息的信号；二元化装置，其用于在预定级别处对读取装置读取的信号分片，并输出结果作为二元信号；以及抖动计算装置，其用于在形成在多个位置处的凹坑和岸台之间的边缘部分中，计算引入了边缘偏移的部分中的边缘偏移量的抖动，其中边缘偏移量是基于由二元化装置获得的二元信号来测量的，抖动是基于边缘偏移量的标准偏差和平均值以及关于预定最小偏移量的信息来计算的，预定最小偏移量被确定为可由二元判决检测为边缘偏移的最小偏移量。

根据前述的评价装置，如同对光盘记录介质所作的那样，基于边缘偏移量的标准偏差和平均值计算了代表凹坑和岸台之间的边缘部分中边缘偏移量的分布在时域中的波动的抖动。

然而，根据前述的评价装置，抖动不是对于记录为凹坑和岸台的组合的初级数据计算的，而是对于通过引入边缘偏移记录的次级数据计算的。从而，很难仅仅基于边缘偏移量的分布的标准偏差和平均值来计算准确的评价指标。

这可以通过检查次级数据重放操作来加以理解。具体而言，重放装置基于从光盘记录介质读取的信号的二元判决的结果，确定是否已引入了边缘偏移。即，以1T(信道位)为单位检测边缘偏移量。为了在重放时检测边缘偏移，有必要使偏移量大于或等于可被检测为1T偏移量的最小偏移量(例如0.5T)。

相反，在如同初级数据的抖动计算中那样(在过去是这样作的)，通过仅仅基于分布的平均值除偏移量的分布的标准偏差来计算抖动的情形中，用于计算抖动的参考范围包括从初始边缘部分(即，偏移量为0的位置)起的范围。换句话说，当仅仅应用已知的抖动计算时，小于或等于最小偏移量的范围被包括在抖动计算区域中。假定如同在本发明实施例中那样，要获得用于通过引入边缘偏移记录的次级数据的记录质量的评价值，则很难获得准确的评价值。

因此，如同在本发明实施例中那样，基于边缘偏移量的分布的标准偏差和平均值以及关于最小偏移量的信息来计算抖动，从而仅仅基于这样一个范围来计算准确的抖动，在该范围中，边缘偏移可由重放装置进行的二元判决检测到。

根据本发明的实施例，提供了一种用于适当地评价记录在光盘记录介质上的次级数据的记录质量的评价指标，其中在光盘记录介质上，不同于次级数据的初级数据被记录为凹坑和岸台的组合，次级数据是通过在形成在多个位置处的凹坑和岸台之间的边缘部分中引入边缘偏移而被记录的。

附图说明

图1是用在本发明实施例中的光盘记录介质(初级数据记录盘)的横截面图；

图2的数据结构图图示了记录在图1所示的光盘记录介质上的数据的数据结构；

图3的数据结构图图示了记录在光盘记录介质上的数据帧内的数据结构；

图4图示了本实施例的记录方法；

图5示出了在通过使岸台变凹坑引入边缘偏移时盘的外观，边缘偏移之后的记录波形，以及作为其结果获得的调制位和数据位的值；

图6示出了在通过使凹坑变岸台引入边缘偏移时盘的外观，边缘偏移之后的记录波形，以及作为其结果获得的调制位和数据位的值；

图7示出了在采用根据本实施例的记录方法的情形中边缘偏移的所有可能模式；

图8的框图示出了用于实现根据本实施例的记录方法的记录装置的内部配置；

图9的数据结构图示出了存储在记录装置中的数据内容；

图10的流程图示出了记录装置为实现根据本实施例的记录方法而执行的操作；

图11的示意图示出了每种类型的边缘偏移部分中的偏移量的波动；

图12图示了本实施例中的抖动的概念；

图13的框图示出了根据本实施例的评价装置的内部配置；

图14图示了根据本实施例的评价值测量操作；

图15的流程图示出了评价装置为实现根据本实施例的评价值测量操作而执行的操作；

图16图示了用于制造使用本实施例的评价装置的光盘记录介质的方法；

图17图示了根据第一修改形式的记录方法；

图18示出了根据第一修改形式在通过使岸台变凹坑引入边缘偏移时盘的外观，边缘偏移之后的记录波形，以及作为其结果获得的调制位和数据位的值；

图19示出了根据第一修改形式在通过使凹坑变岸台引入边缘偏移时盘的外观，边缘偏移之后的记录波形，以及作为其结果获得的调制位和数据位的值；

图20示出了在采用根据第一修改形式的记录方法的情形中边缘偏移的所有可能模式；

图21图示了根据第二修改形式的记录方法；

图22示出了根据第二修改形式在通过使岸台变凹坑引入边缘偏移时盘的外观，边缘偏移之后的记录波形，以及作为其结果获得的调制位和数据位的值；以及

图23的示意图示出了在采用根据第二修改形式的记录方法的情形中每种类型的边缘偏移部分中的偏移量的波动。

具体实施方式

下面将以下列顺序来描述本发明的优选实施例(下文中称为实施例)。

1.光盘记录介质

2.记录方法

3.记录装置

4.次级数据评价值

5.评价装置

6.评价值测量操作

7.使用评价装置的光盘制造方法

8.修改形式

1.光盘记录介质

图1是用在本发明实施例中的光盘记录介质(初级数据记录盘D16)的横截面图。

用在实施例中的初级数据记录盘D16是只可重放型ROM盘。具体而言，初级数据记录盘D16遵从被称为“蓝光光盘(Blu-Ray Discs)”的盘结构和盘格式。

如图1所示，盘D16包括衬底101、层叠在衬底101上的反射层102和附着到反射层102的覆盖层103。与反射层102相接触的衬底101的表面有不平坦的横截面。形成凹槽的部分被称为“凹坑”，平滑(未凹进)的部分被称为“岸台(land)”。在盘D16上，数据被记录为凹坑和岸台的组合。具体而言，数据依赖于凹坑长度和岸台长度而被记录。

反射层102通过层叠在衬底101上，而具有基于凹坑和岸台的形状的不平坦横截面。反射层102例如是金属层。如图1所示，通过利用由物镜收集的激光束经由覆盖层103照射反射层102，获得了基于不平坦度的反射光。基于从反射层102反射的激光束的反射光，记录装置50(将在后面描述)可以读取被记录为凹坑和岸台的组合的数据。

对于本实施例的初级数据记录盘D16，选择反射层102的材料使得反射层102的材料属性不会由于重放功率的激光束的照射而改变，但是当被具有充分高于重放功率的记录功率的激光束照射时，反射层102熔化，并且其材料属性改变。

对于通常的光盘记录介质，铝被用作反射层的材料。例如对于初级数据记录盘D16，铝和钛的合金或者包括银在内的合金被选择作为反射层102的材料。

关于由这种材料构成的反射层102，获得了下面的实验结果。即，当以上述预定记录功率的激光束照射反射层102时，岸台部分的反射率接近于凹坑部分的反射率。结果，岸台部分的重放信号电平减小到某一被当作是凹坑部分的重放信号电平的电平。下面是上述结果的可能原因。具体而言，当以上述记录功率的激光束照射时，反射层102熔化，结果，金属层的氧化状态和晶体状态(无定形状态)改变。另外，与反射层102相接触的衬底101和/或覆盖层103被高输出的激光照射加热，这导致衬底101和/或覆盖层103的形状改变。

根据实验，获得了下面的结果。当通过从记录功率开始改变激光功率来以激光束照射根据本实施例的包括由上述材料构成的反射层102的盘16，以使得岸台部分的反射率接近于凹坑部分的反射率时，凹坑部分的反射率接近于岸台部分的反射率，结果，凹坑部分的重放信号电平增大到某一被当作是岸台部分的重放信号电平的电平。作为其原理或起因，可以观察到由于高输出的激光束的照射而引起的反射层102的氧化状态和晶体状态的改变以及衬底101和/或覆盖层103的形状改变。

下文中，岸台部分的反射率接近于凹坑部分的反射率并且岸台部分的重放信号电平减小到某一被当作是凹坑部分的重放信号电平的电平的情形被称为“使岸台变凹坑”，相反地，凹坑部分的反射率接近于岸台部分的反射率并且凹坑部分的重放信号电平增大到某一被当作是岸台部分的重放信号电平的电平的情形被称为“使凹坑变岸台”。

在本发明的实施例中，为了确认，应当理解评价值是基于对边缘偏移量的测量结果计算的，其中边缘偏移是由于在岸台或凹坑的边缘部分中使岸台变凹坑或使凹坑变岸台而引入的，并且引入边缘偏移的原理并不局限于此。即，本发明也可以优先地适用于基于除上述原理以外的要素和原理而通过使凹坑变岸台或使岸台变凹坑引入边缘偏移的情形。

图2示出了记录在初级数据记录盘D16上的初级数据的数据结构。

如图2所示，定义了一个被称为RUB的记录单元。一个RUB包括16个扇区和2个链接帧。每个链接帧被提供作为两个RUB之间的缓冲区域。

如图2所示，每个扇区包括31个帧。一个帧具有1288个数据位。这种情况下，一个帧形成一个地址单元。

初级数据被记录在本实施例的盘16上，随后受到运行长度受限(RLL)(1，7)奇偶校验保护/禁止(PP)调制和非回零逆转(NRZI)调制，这两种调制将在下面描述。因此，如图2所示，一帧具有1932个信道位区域，以用于要实际记录的调制数据。

在上述RLL(1，7)PP调制中，符号“0”和“1”的运行长度，即凹坑长度和岸台长度，受限于范围从2T(信道位)到8T的长度。在每个帧开头的同步中，不遵从RLL(1，7)PP调制规则的9T符号串被插入，以用于检测帧同步信号。

图3示出了图2所示的一帧中的数据结构。

如图3所示，一帧存储了在“同步”(也在图2中示出)后的25数据位的数据区域和1数据位的DC控制位。这种情况下，同步具有20数据位的未调制数据。

在25数据位区域之后是DC控制位，在DC控制位之后，包括45数据位的数据区域和1数据位的DC控制位的模式对于图2所示的一帧进行重复，即对于总共1288数据位进行重复。

在本实施例中，一帧具有这样的数据结构。另外，上述同步之后的25数据位的数据区域在其开头具有分配给ID位写区域的24数据位区域，ID位写区域用于写入构成不同于上述初级数据的次级数据的位的值。在本实施例中，该ID位写区域包括两个区域，包括第一位写区域和第二位写区域。因此，在每一帧中可以记录两个次级数据值。

这种情况下，被分配以便对于每个盘D16唯一的标识信息(也可被称为“ID位”)被记录作为次级数据。

由于总共24数据位被划分为两个区域，因此12数据位被分配给每个位写区域。如图3所示，值B43(十六进制符号)被存储在每个位写区域中。因此，如图3所示，当每个位写区域中的数据受到RLL-(1，7)-PP调制、NRZI调制并被实际记录为盘D16上的凹坑和岸台时，获得了其中5T岸台和5T凹坑彼此相邻的扇区。

具体而言，B43(101101000011)受到RLL-(1，7)-PP调制，以产生图3中所示的“001000010000100100”作为调制位。如图3中的NRZI位流1和NRZI位流2所示，NRZI调制之后的记录波形或者包括5T凹坑和5T岸台的组合，或者包括5T岸台和5T凹坑的组合。结果，获得了其中5T岸台和5T凹坑彼此相邻的扇区。

有必要假定，对于相同的调制位，NRZI位流1和NRZI位流2具有不同的极性，这是因为依赖于紧邻前一帧中结束位的值，在第一位写区域开头的NRZI的极性可以不同。

2.记录方法

如上所述，在本实施例中，其中预定长度的岸台和凹坑彼此相邻的扇区被包括在每个ID位写区域内的第一位写区域和第二位写区域中的每一个中，并且岸台和凹坑之间的边界偏移/不偏移，从而记录标识信息的值。

即，标识信息的值以这样的方式记录：当图3中要被偏移边缘的部分(下文中称为“要偏移边缘部分sft”)偏移时记录“1”，而当要偏移边缘部分sft不偏移时记录“0”。

图4示出了根据本实施例的标识信息(次级数据)的记录操作的特定实例。

在包括图4在内的下面的描述中，描述了这样的示例：其中边缘偏移是通过使充当要偏移边缘部分sft的岸台边缘部分变为凹坑而引入的。在这种情况下，边缘偏移量为1T。

如图3中一样，图4示出了存储在ID位写区域中的数据值(数据位)、基于数据位的调制位以及相反极性的NRZI位流1和NRZI位流2(其可以基于调制位获得)的记录波形之间的关系。

如上所述，在这种情况下，边缘偏移是通过使岸台边缘部分变为凹坑而引入的。在NRZI位流1和NRZI位流2中的任何一个中，边缘偏移是通过以记录功率的激光束照射岸台边缘部分从而执行记录而引入的。

应当考虑到，在NRZI位流1的极性情形和NRZI位流2的极性情形中，以不同的定时执行激光束的照射。

换句话说，如图4所示，在NRZI位流1的极性情形中，在第一位写区域和第二位写区域的每一个中的适当的激光照射点是从其开头起第八个信道位，而在NRZI位流2的极性情形中，适当的激光照射点是从其开头起第七个信道位。

当考虑到这一点时，有必要识别要记录的帧中的NRZI的极性信息，以便可以引入适当的边缘偏移。

例如，这种情况下，假定作为标识信息的值，在第一位写区域中记录“1”，在第二位写区域中记录“0”。

这种情况下，基于分配在每个位写区域中的标识信息值，确定是否在该位写区域中引入边缘偏移。即，这种情况下，基于上述分配的值“1”和“0”来确定要在第一位写区域中引入边缘偏移。

依赖于要记录的帧中的NRZI位流的极性，适当的边缘偏移位置有所不同。从而，有必要根据帧中的极性在适当的位置执行激光束的照射。即，如图4所示，在NRZI位流1的极性情形中，在从第一位写区域开头起的第八个信道位执行激光束的照射，从而适当地偏移充当要偏移边缘部分sft的岸台边缘部分。

在NRZI位流2的极性情形中，在从第一位写区域开头起的第七个信道位执行激光束的照射，从而适当地偏移充当要偏移边缘部分sft的岸台边缘部分。

这种情况下，利用该操作，只在第一位写区域中记录“1”。结果，上述“1”和“0”被记录在ID位写区域中。

尽管图4只示出了一帧中的ID位写区域，但是在其他帧中类似地提供ID位写区域。通过在多个帧中执行这种记录操作，可以记录构成标识信息的所有值。

记录值的确定，即标识信息的重放可以以下面的方式执行。

在重放装置一侧，记录在每个帧中的ID位写区域中的数据(初级数据)被重放。

如图3所示，在本实施例中，应当存储的数据值和ID位写区域的位置由格式限定。这允许重放装置识别ID位写区域的位置。类似地，重放装置可以预先识别存储在ID位写区域内的每个位写区域中的数据(初级数据)值。

重放装置重放ID位写区域中的数据，并且在每个位写区域中，将被重放的数据与应当存储在该位写区域中的数据值(这种情况下是B43)相比较。

当位写区域中的被重放数据与B43一致时，确定没有引入边缘偏移，即记录了“0”。相反地，当被重放数据与B43不一致时，确定引入了边缘偏移，即记录了“1”。

这样，可以重放标识信息。

在上述描述中，两个标识信息值可以记录在每个帧中这一事实意味着可以记录通过将帧的数目乘以2而获得的最大位数。然而，这并不一定意味着标识信息应当记录在所有帧中。例如，当要记录为标识信息的位数小于或等于帧×2的总数时，标识信息可以记录在某些帧中，这些帧的数目足以记录构成标识信息的所有位。

为了参考，图5示出了当引入边缘偏移时的盘的外观、边缘偏移之后的记录波形，以及作为结果获得的数据位和调制位的值。

参考图3和4可以理解，在图5中指定为“类型1”的记录波形对应于在NRZI位流1的极性的情形下每个位写区域中的记录波形。

指定为“类型2”的记录波形对应于在NRZI位流2的极性的情形下每个位写区域中的记录波形。从而可以清楚，这种情况下每个位写区域中的记录波形可以是这两种类型之一。

如图5所示，当记录波形是上述类型1时，边缘偏移之后的调制位具有值“001000001000100100”。当记录波形是上述类型2时，边缘偏移之后的调制位具有值“001000100000100100”。

如图5所示，当根据RLL(1，7)PP调制规则解调时，这些值分别被解调为B82(101110000011)和843(100001000011)。在本实施例中，应当存储在ID位写区域的每个字节中的值被设为满足这样的条件：即在偏移后获得的值可以适当地进行RLL-(1，7)-PP解调，即，该值遵循调制规则。这禁止了以下的情形出现：即由于数据不遵循调制规则而导致重放装置难以重放初级数据。

在该实施例中，根据前面的描述，B43被设为存储在ID位写区域内的每个位写区域中的数据值。因此，每个位写区域中的要偏移边缘部分sft是5T的岸台和凹坑之间的边缘部分，并且在边缘偏移后获得的调制位的值遵循调制规则。

在本实施例中，要偏移边缘部分sft是5T的相对较长量的岸台和凹坑之间的边缘部分的这一事实是因为，当要偏移边缘部分sft的岸台长度和凹坑长度相对较长时，例如在通过激光照射变形的区域增加的情况下，可以减少影响非目标边缘的可能性。换句话说，可以减少标识信息的记录错误的发生。

这种情况下，要偏移边缘部分sft的岸台长度和凹坑长度越长，防止记录错误发生的效果就越明显。换句话说，这种情况下岸台长度和凹坑长度不限于5T。通过将岸台长度和凹坑长度设为较长长度，可以更可靠地防止记录错误的发生。

在本实施例中，充当要存储在每个位写区域中的数据值的B43是满足以下两个条件的值的一个示例：一个条件是要偏移边缘部分sft是具有预定长度或更长的岸台和凹坑之间的边缘部分以防止这种记录错误；另一个条件是边缘偏移之后的调制位遵循调制规则。只要满足这些条件，任意值都可以被设为数据值。

在下面的修改形式中描述数据值的另一示例。

如上所述，在该示例中，充当要偏移边缘部分sft的岸台边缘部分被变为凹坑以引入边缘偏移。相反地，可以观察到，通过使充当要偏移边缘部分sft的凹坑边缘部分变为岸台，可以类似地执行通过引入边缘偏移而进行的记录。

图6示出了当通过使凹坑变岸台引入边缘偏移时盘的外观、边缘偏移之后的记录波形，以及作为其结果获得的数据位和调制位的值，这些都与图5中所示的类似。

这种情况下，图6中所示的类型1的记录波形是在NRZI位流1的极性的情形下每个位写区域中的记录波形，类型2的记录波形是在NRZI位流2的极性的情形下每个位写区域中的记录波形。

如图6所示，在通过使凹坑变岸台引入边缘偏移的情况下，以激光束照射充当要偏移边缘部分sft的凹坑边缘部分。与照射岸台边缘部分的情形相反，在类型1(NRZI位流1的极性)的情形中边缘偏移位置是从每个位写区域的开头起的第七个信道位；而在类型2(NRZI位流2的极性)的情形中边缘偏移位置是从每个位写区域的开头起的第八个信道位。

如图6所示，在类型1的情形中，通过使凹坑变岸台而引入的边缘偏移之后的调制位具有值“001000100000100100”。在类型2的情形中，边缘偏移之后的调制位具有值“001000001000100100”。如图6所示，这些调制位的值可以分别被RLL-(1，7)-PP解调为843(100001000011)和B83(101110000011)。

即，这种情况下，根据存储在每个位写区域中的数据值B43，即使当通过使凹坑变岸台而引入边缘偏移时，也可以获得遵循RLL-(1，7)-PP调制规则的边缘偏移之后的调制位的值。

为了参考，图7示出了这种情况下根据存储在每个位写区域中的数据值B43的边缘偏移的所有可能模式。

在图7中，边缘偏移的所有可能模式由正和负的边缘偏移量指示。例如，当边缘偏移量为“+”时，意味着要偏移边缘部分sft的位置向正方向(相对于重放方向的正方向)偏移。即，“+”边缘偏移量的模式对应于这样的情形：在图5所示的类型1(图4中NRZI位流1的极性)的情形中通过使岸台变凹坑引入边缘偏移的情形，以及在图6所示的类型2(NRZI位流2的极性)的情形中通过使凹坑变岸台引入边缘偏移的情形。

相反地，当边缘偏移量为“-”时，意味着要偏移边缘部分sft的位置向负方向(相对于重放方向的相反方向)偏移。具体而言，这些边缘偏移模式对应于这样的情形：在图5所示的类型2(NRZI位流2的极性)的情形中通过使岸台变凹坑引入边缘偏移的情形，以及在图6所示的类型1(NRZI位流1的极性)的情形中通过使凹坑变岸台引入边缘偏移的情形。

参考图7可以理解，根据本实施例中的B43，无论在使岸台变凹坑的情形中，还是在使凹坑变岸台的情形中，都可以处理高至3T的边缘偏移。

具体而言，在使岸台变凹坑并且记录波形是类型1的情形中，随着边缘偏移量以+1T、+2T和+3T的顺序增大，边缘偏移之后的调制位具有值“001000001000100100”、“001000000100100100”和“001000000010100100”，其可以分别被RLL-(1，7)-PP解调为数据位值B83(101110000011)、B08(101100001000)和DC1(110111000001)。在类型2的记录波形的情形中，随着边缘偏移量以-1T、-2T和-3T的顺序增大，边缘偏移之后的调制位具有值“001000100000100100”、“001001000000100100”和“001010000000100100”，其可以分别被RLL-(1，7)-PP解调为数据位值843(100001000011)、AC3(101011000011)和883(100010000011)。

因此，在使岸台变凹坑的情形中，在类型1和类型2的记录波形的情形中，都可以获得遵循偏移量范围从1T到3T的调制规则的调制位。换句话说，可以处理从1T到3T的范围。

在使凹坑变岸台并且记录波形是类型1的情形中，随着边缘偏移量以-1T、-2T和-3T的顺序增大，边缘偏移之后的调制位与上述使岸台变凹坑并且记录波形是类型2的情形具有相同的值。因此，这种情况下也可以处理高至3T的边缘偏移。

在使凹坑变岸台并且记录波形是类型2的情形中，随着边缘偏移量以+1T、+2T和+3T的顺序增大，边缘偏移之后的调制位与上述使岸台变凹坑并且记录波形是类型1的情形具有相同的值。因此，这种情况下也可以处理高至3T的边缘偏移。

因此，即使在使凹坑变岸台时，也可以处理1T到3T的边缘偏移。

3.记录装置

参考图8描述用于实现根据上述本实施例的记录操作的记录装置的配置示例。

作为ROM盘的初级数据记录盘D16被置于可旋转(未示出)的主轴马达51上，并且被主轴马达51根据预定旋转和驱动方法旋转。光拾取器OP(图8中所示)从旋转的盘D16中读取记录信号(记录数据)。

光拾取器OP包括充当图8中的激光源的激光二极管LD、用于收集激光束并且照射盘D16的记录表面的物镜52a和用于检测由于激光照射而从盘D16反射的光的光电检测器PD。

光拾取器OP还包括用于沿聚焦和循轨方向可移动地夹持物镜52a的双轴机构52。双轴机构52基于来自双轴驱动电路56(将在下面描述)的聚焦驱动信号FD和循轨驱动信号TD，沿聚焦和循轨方向驱动物镜52a。

为了确认，聚焦方向是相对盘D16的接触/分离方向。

这种情况下，利用405nm的激光波长λ和数值孔径(NA)为0.85的物镜52a来记录/重放盘D16。

由光拾取器OP中的光电检测器PD检测到的反射光信息被IV转换器电路53转换为电信号，并且该电信号被提供到矩阵电路54。基于来自IV转换器电路53的反射光信息，矩阵电路54生成重放信号RF、循轨误差信号TE和聚焦误差信号FE。

响应于来自矩阵电路54的循轨误差信号TE和聚焦误差信号FE，伺服电路55执行预定操作，如用于相位补偿的环路增益处理和滤波，以生成循轨伺服信号TS和聚焦伺服信号FS。伺服电路55将循轨伺服信号TS和聚焦伺服信号FS提供到双轴驱动电路56。

基于循轨伺服信号TS和聚焦伺服信号FS，双轴驱动电路56生成循轨驱动信号TD和聚焦驱动信号FD，并将这些信号TS和FD提供到循轨线圈和聚焦线圈。

光电检测器PD、IV转换器电路53和矩阵电路54构成循轨伺服环路，伺服电路55、双轴驱动电路56和双轴机构52构成聚焦伺服环路。利用循轨伺服环路和聚焦伺服环路执行控制使得照射在盘D16上的激光束的光点对形成在盘D16上的凹坑序列(记录轨道)进行示踪，并且维持在适当的聚焦状态。

由矩阵电路54生成的重放信号RF被提供到二元化电路57，并且被转换为二元数据“0”和“1”。二元数据被提供到同步检测电路58、锁相环(PLL)电路59和地址检测电路60。

PLL电路59生成与所提供的二元数据同步的时钟CLK，并将该时钟CLK提供作为每个部件所需的工作时钟。具体而言，时钟CLK被提供作为二元化电路57、同步检测电路58、地址检测电路60和记录脉冲发生器61的工作时钟，这些部分将在下面描述。

同步检测电路58从所提供的二元数据中检测插入在图2所示的每个帧中的同步模式。具体而言，同步检测电路58检测9T扇区(这种情况下被当作是同步模式)，并执行帧同步检测。

帧同步信号被提供到每个必要部件，如地址检测电路60。

地址检测电路60基于帧同步信号和所提供的二元数据检测地址信息ADR。所检测到的地址信息ADR被提供到控制器65。地址信息ADR还被提供到记录脉冲发生器61中的记录脉冲生成电路63。

如图8所示，记录脉冲发生器61包括记录脉冲生成电路63和随机访问存储器(RAM)62。

应当额外记录在盘D16上的标识信息(ID位)和指示每个帧中NRZI极性的极性信息被从外部输入到记录脉冲发生器61。另外，来自地址检测电路60的地址信息ADR和来自PLL电路59的时钟CLK被提供到记录脉冲发生器61。

为了实现上述根据本实施例的记录标识信息的操作，有必要将应当额外记录的标识信息值和每个帧中NRZI的极性信息输入到记录装置50。换句话说，标识信息值的输入能够确定是否在每个帧内的每个位写区域中引入边缘偏移。如上所述，与边缘偏移位置依赖于NRZI的极性而有所不同(从每个位写区域开头起的第八或第七个信道位)这一事实相关联的，NRZI的极性信息是根据NRZI极性在正确的位置引入边缘偏移所必需的信息。

为了确认，这种情况下的记录装置50是由初级数据记录盘D16(盘100)的制造商管理的装置。从而，可以预先检测要记录在盘16(ROM盘)上的记录数据值。由于要记录在盘D16上的记录数据值可以预先检测，因此每个帧中的NRZI的极性信息也可以由制造商预先检测。

在记录脉冲发生器61中，标识信息值和极性信息被输入到记录脉冲生成电路63。记录脉冲生成电路63将标识信息值和每个帧中(每个地址处)的极性信息存储在RAM 62中。

图9示出了存储在RAM 62中的数据内容。

如图9所示，输入的标识信息值通过被分配给每个地址处(每个帧中)的每个位写区域而被存储。另外，指示NRZI极性的信息相对于每个地址进行存储。

这种情况下，极性信息“1”指示上述NRZI位流1的极性，“0”指示NRZI位流2的极性。

返回参考图8，记录脉冲生成电路63基于图9中所示的存储在RAM62中的信息、时钟CLK和地址信息ADR，生成仅在边缘偏移位置处变高的记录脉冲信号Wrp(将在下面描述)。

基于从记录脉冲生成电路63输出的记录脉冲信号Wrp，激光控制器64控制光拾取器OP中激光二极管LD的激光功率。具体而言，这种情况下，激光控制器64控制激光二极管LD，从而使在记录脉冲信号Wrp处于低电平时可以获得重放功率的激光输出，而在记录脉冲信号Wrp处于高电平时可以获得记录功率的激光输出。这种情况下，假定通过使岸台变凹坑引入边缘偏移，并且记录功率被设为能够以这种方式使岸台变凹坑的激光功率。

控制器65例如包括微计算机，并且执行记录装置50的总体控制。

例如，控制器65向伺服电路55指示目标地址，从而执行搜索操作控制。换句话说，通过指定目标地址，控制器65允许伺服电路55执行目标在目标地址处的光拾取器OP的访问操作。

通过向伺服电路55给出循轨跳过命令，控制器65可以允许伺服电路55关闭循轨伺服环路，并执行循轨跳过操作。

具有上述配置的记录装置50执行下面的操作以在初级数据记录盘D16上额外记录标识信息。

如上所述，以示例方式描述通过使岸台变凹坑引入边缘偏移的情形。

基于存储在RAM 62中的每个地址处(每个帧中)的标识信息值，图8中所示的记录脉冲生成电路63指定要记录的每个帧中要引入边缘偏移的位写区域。

基于相对于帧存储的信息“0”和“1”，记录脉冲生成电路63确定该帧中NRZI的极性。

之后，记录脉冲生成电路63基于指定的位写区域信息和极性信息，识别ID位写区域中的边缘偏移位置。

这种情况下，当极性为“1”时，可清楚看出，第一位写区域和第二位写区域中的边缘偏移位置都是从其开头起的第八个信道位。当极性为“0”时，第一位写区域和第二位写区域中的边缘偏移位置都是从其开头起的第七个信道位。

基于这些信息和关于指定的要在其中引入边缘偏移的位写区域的信息，可以识别适当的边缘偏移位置。

在根据分配给每个帧的值和极性信息识别了适当的边缘偏移位置后，记录脉冲生成电路63在每个帧中生成用于某一帧的数据序列，该帧在所识别的边缘偏移位置具有“1”，而在其余位置具有“0”。

具体而言，例如，假定“1”被记录作为某一帧内所有位写区域中的标识信息值，并且该帧的极性为“1”，则在一帧具有1932个信道位的情形中，生成了在从每个位写区域的开头起的第八个信道位具有“1”，而在其余1930个信道位具有“0”的一帧的数据序列。

记录脉冲生成电路63为要记录标识信息的所有帧生成这种数据序列。

在实际的记录中，在重放初级数据记录盘D16的同时，记录脉冲生成电路63将记录脉冲信号Wrp提供到激光控制器64，记录脉冲信号Wrp在值为“0”时变低，在值为“1”时变高。

如上所述，激光控制器64控制激光二极管LD的激光输出，从而使当记录脉冲信号Wrp为低时激光输出为重放功率，而当记录脉冲信号Wrp为高时激光输出是记录功率。因此，在初级数据记录盘D16上，只有那些要引入边缘偏移的部分可以用记录功率的激光束照射，从而在盘D16上适当地记录输入标识值。

参考图10的流程图，详细描述这种情况下用于记录标识信息的记录装置50的操作。

参考图10，在步骤S101中，加载初级数据记录盘D16。

在步骤S102中，输入要额外记录的标识信息值。

在步骤S103中，记录脉冲生成电路63存储相对于每个地址处的每个位写区域的输入标识信息值。

例如，这种情况下，标识信息值被顺序分配给帧，从第一帧开始。在步骤S103中，输入值被顺序存储在RAM 62中的帧内相应位写区域的存储区域中。

在步骤S104中，输入极性信息。在步骤S105中，记录脉冲生成电路63存储相对于每个地址的极性信息。

由于极性信息是指示每个地址处的NRZI极性的信息，因此记录脉冲生成电路63将指示存储区域中的极性的值“0”和“1”存储在图9所示的RAM 62中，从而可以维护对应关系。

极性信息的输入和存储也可以在标识信息的输入和存储之前执行。

尽管以示例方式描述了标识信息值和极性信息被单独输入的情形，但是被同时输入的标识信息值和极性信息也可以通过单独的存储操作存储。

尽管在这种情况下标识信息和极性信息是在加载盘D16之后输入的，但是信息也可以在盘D16的加载之前输入。

在步骤S106中，地址值N被设为初始值N0。

步骤S106的操作由记录脉冲生成电路63通过将内部计数器值设为初始值N0来执行，以生成每个地址的数据序列，这将在下面描述。

在步骤S107中，记录脉冲生成电路63执行操作以指定N地址处要记录“1”作为标识信息值(ID位)的位写区域。即，步骤S107中记录脉冲生成电路63的操作包括参考RAM 62中要存储在N地址处的每个位写区域中的标识信息值，并指定其中值为“1”的位写区域。

在步骤S108中，确定N地址处的极性。换句话说，记录脉冲生成电路63确定相对于N地址存储在RAM 62中的指示极性的值是“0”还是“1”。

在步骤S109中，记录脉冲生成电路63生成在根据指定位写区域的边缘偏移位置具有“1”，而在其余位置具有“0”的一帧的数据序列。

如上所述，当极性为“1”时，在第一位写区域和第二位写区域中，充当要偏移边缘部分sft的岸台边缘部分都是从开头起的第八个信道位。当极性为“0”时，在第一位写区域和第二位写区域中，边缘部分都是从开头起的第七个信道位。

基于在步骤S107中指定的位写区域信息和在步骤S109中确定的极性信息，记录脉冲生成电路63可以指定边缘偏移位置。

记录脉冲生成电路63生成在边缘偏移位置具有“1”，而在其余位置具有“0”的一帧的数据序列，其中边缘偏移位置可以根据指定的位写区域和极性指定。

在步骤S109中生成的每个帧的数据序列被相对于每个地址保存在RAM 62等中，这是因为该数据序列后面将用来生成记录脉冲信号Wrp。

在生成了一帧的数据序列后，记录脉冲生成电路63确定是否已处理了所有的地址(S110)。即，确定是否已对预先分配用于记录标识信息的所有帧完全生成了数据序列。步骤S110中的操作通过确定计数器值是否已达到了预定值来执行，其中计数器值已在步骤S106中被记录脉冲生成电路63设为初始值N0。

当判决结果为否，从而意味着计数器值还未达到预定值时，地址值N递增1(步骤S111)，并且操作返回到步骤S107。因此，对于分配用来记录标识信息的所有帧生成了数据序列。

当在步骤S110中确定计数器值已经达到预定值，并且所有地址都已被处理时，在步骤S112中，图8中所示的控制器65被通知数据生成的完成。即，响应于已对所有帧完全生成数据序列的这一事实，记录脉冲生成电路63通知控制器65数据生成完成。

响应于该通知，控制器65执行控制操作以搜索分配用来记录标识信息的第一帧(地址)(步骤S113)。该搜索操作可由控制器65通过基于盘D16上的第一帧的地址信息(已预先存储)向伺服电路55指定目标地址来执行。

响应于对第一地址的搜索操作，记录脉冲生成电路63输出基于在步骤S109中对每个帧生成的数据序列的记录脉冲信号Wrp(步骤S114)。基于数据序列的记录脉冲信号Wrp是基于时钟CLK的定时输出的，以便与要重放的数据同步。记录脉冲信号Wrp的输出可以响应于由地址检测电路60提供指示充当地址信息ADR的第一地址的信息而开始。

在步骤S114中输出的记录脉冲信号Wrp被获得作为仅在适当的边缘偏移位置处变高的信号，该适当的边缘偏移位置是基于输入标识信息值和极性信息的。即，基于记录脉冲信号Wrp，激光控制器64控制激光二极管LD的激光输出从重放功率改变为记录功率，从而适当地在盘D16上记录输入标识信息值。

尽管在图10中标识信息值是从外部输入的，但是也可以提供用于在每次加载盘D16时生成新的序列号的电路，并且由该电路输出的标识信息值可以顺序存储在RAM 62中。

关于极性信息，具有相同标题(意味着记录相同数据)的盘D16具有相同的帧对极性的对应关系。对于这种具有相同标题的盘D16，可以省略图10中所示的在每次加载盘时执行的输入和存储极性信息的处理(步骤S104和S105)。

4.次级数据评价值

如上所述，根据本实施例的记录方法，以预定模式记录数据，以在作为ROM盘的盘D16上的多个预定位置处的凹坑和岸台之间形成边缘部分，并且利用高输出功率的激光束照射边缘部分以引入边缘偏移，从而额外记录不同于初级数据(记录为凹坑和岸台的组合)的次级数据。

记录有上述次级数据的盘100上的数据被重放装置重放。通过基于重放结果确定是否获得了对应于上述预定模式的在上述预定位置处的数据模式，可以检测次级数据值“0”和“1”，即来重放次级数据。

如上所述，下文中记录有次级数据(标识信息)的初级数据记录盘D16被称为盘100。

重放装置以重放时钟确定的定时来检测从盘D100读取的信号的值“0”和“1”。即，当通过引入边缘偏移而额外记录有次级数据的部分被重放时，该部分被检测为根据重放时钟以1T为单位的偏移。

然而，当从盘100读取的信号以小于重放时钟的时间为单位观察时，引入了边缘偏移的部分中的偏移量示出了一定程度的波动，这种波动例如依赖于每个盘D16(盘100)的特性以及记录装置50的记录精度的分散和波动。

图11的示意图示出了在每种类型的边缘偏移部分中偏移量的波动。

图11示出了存储在每个帧内的ID位写区域中的第一位写区域和第二位写区域中的数据位的值和通过RLL-(1，7)-PP调制数据位而获得的调制位的值。这种情况下，存储在每个位写区域中的数据值是B43。

在图11中，以示例方式描述边缘偏移量是1.5T的情形。

继续参考图11，(a)部分示出了根据存储值B43获得的NRZI位流1的记录波形和RF信号波形(非写)，其下方示出了通过引入边缘偏移获得的RF信号波形和记录波形(被写的位流1)。

(b)部分示出了根据存储值B43获得的NRZI位流2的记录波形和RF信号波形(非写)，其下方示出了通过引入边缘偏移获得的RF信号波形和记录波形(被写的位流2)。

每种波形，尤其是通过引入边缘偏移获得的RF信号波形和记录波形(被写的位流)(其在图11的(a)和(b)部分中示出)是通过将在盘100上的帧内的每个ID位写区域中在相同条件下获得的波形彼此叠加而生成的。具体而言，图11的(a)部分中所示的第一位写区域中的每个波形是通过将在具有NRZI位流1的极性的帧中的第一位写区域内的第一位写区域中的所有波形彼此叠加而生成的。第二位写区域中的每个波形是通过将在具有NRZI位流1的极性的帧中的第二位写区域内的第二位写区域中的所有波形彼此叠加而生成的。

类似地，图11的(b)部分中所示的第一位写区域中的每个波形是通过将在具有NRZI位流2的极性的帧中的第一位写区域内的第一位写区域中的所有波形彼此叠加而生成的。第二位写区域中的每个波形是通过将在具有NRZI位流2的极性的帧中的第二位写区域内的第二位写区域中的所有波形彼此叠加而生成的。

图11的(c)部分示出了相对于四种条件归类的边缘偏移量的分布：第一位写区域、第二位写区域和NRZI的极性。

如图11所示，当边缘偏移部分中的RF信号波形彼此叠加时，这些波形并不彼此重合，并且示出了一定程度的波动。

在信号通信技术和信号记录技术的领域中，这种波动已知会引起通信错误和记录错误。为了量化波动作为信号质量的评价指标，根据通信系统或记录系统定义了评价方法。

在本实施例中，定义了评价指标，用于评价通过引入边缘偏移记录的次级数据(标识信息)的记录信号质量。

在光盘记录介质的领域中，被称为抖动的评价值是针对时域中的波动计算的，其用作用于评价记录信号质量的指标。在本实施例中，用于评价通过引入边缘偏移记录的次级数据的记录信号质量的评价指标是基于这种针对时域中的波动的抖动定义的。

返回参考图11，下面将检查边缘偏移部分中信号波形的波动。

从图11中可以理解，根据本实施例的记录方法，依赖于NRZI的极性，每个位写区域中的边缘偏移方向是相反的。更具体而言，由于这种情况下的边缘偏移例如是通过使岸台变凹坑引入的，因此在第一位写区域中的NRZI位流1的极性的情形中，相对于要偏移边缘部分sft沿正方向引入了偏移。相反地，在第一位写区域中的NRZI位流2的极性的情形中，边缘相对于要偏移边缘部分sft沿负方向偏移。因此，这两种情况下的边缘偏移方向是彼此相反的。这也适用于第二位写区域。

当边缘偏移方向不同时，每个边缘偏移部分中信号波形的波动特性也是不同的。从图11的(a)部分和(b)部分的比较可见，由于边缘偏移方向的不同而引起波动特性不同这一事实是可以明显地受被偏移部分是变为台还是变为坑影响的。

还可以观察到，边缘偏移部分中的信号波形的波动特性在第一和第二位写区域中的每一个内是不同的。从而可以观察到，在位写区域中采样的边缘偏移量在每个第一位写区域和每个第二位写区域中具有不同的分布。

因此，相对于四种条件总共有四种分布：第一位写区域、第二位写区域和NRZI的极性(见图11的(c)部分)。

具有NRZI位流1的极性的第一位写区域中的边缘偏移量由ΔTbit11表示，具有NRZI位流2的极性的第一位写区域中的边缘偏移量由ΔTbit12表示。另外，具有NRZI位流1的极性的第二位写区域中的边缘偏移量由ΔTbit21表示，具有NRZI位流2的极性的第二位写区域中的边缘偏移量由ΔTbit22表示。

对于边缘偏移量的四种分布，计算其平均值(ΔTbit11、ΔTbit12、ΔTbit21和ΔTbit22)和标准偏差(σ₁₁、σ₁₂、σ₂₁和σ₂₂)。

然后，对于边缘偏移量的四种分布，利用下面的公式(1)计算作为这些分布中的抖动的抖动分量J₁₁、J₁₂、J₂₁和J₂₂：

$J_{11}=\frac{{\mathrm{\σ}}_{11}}{2\×(\stackrel{\‾}{\mathrm{\ΔTbit}11}-0.5T)},J_{12}=\frac{{\mathrm{\σ}}_{12}}{2\×(\stackrel{\‾}{\mathrm{\ΔTbit}12}-0.5T)}$

$J_{21}=\frac{{\mathrm{\σ}}_{21}}{2\×(\stackrel{\‾}{\mathrm{\ΔTbit}21}-0.5T)},J_{22}=\frac{{\mathrm{\σ}}_{22}}{2\×(\stackrel{\‾}{\mathrm{\ΔTbit}22}-0.5T)}...\left(1\right)$

基于抖动分量J₁₁、J₁₂、J₂₁和J₂₂，利用下面的公式(2)计算用于通过在盘100上引入边缘偏移而记录的次级数据的记录质量的综合评价指标(综合抖动JA)：

$\mathrm{JA}=\sqrt{\frac{{J_{11}}^2+{J_{12}}^2+{J_{21}}^2+{J_{22}}^2}{4}}...\left(2\right)$

现在参考图12描述根据本实施例如上计算的抖动的概念。

图12只示出了具有NRZI位流1的极性的第一位写区域中的边缘偏移量(ΔTbit11)的分布，和具有NRZI位流2的极性的第一位写区域中的边缘偏移量(ΔTbit12)的分布，这两种情况在图11的(c)部分中示出。

如图12所示，在每种分布的频率峰顶处的偏移量被表示为偏移量的平均值(ΔTbit11和ΔTbit12)。即，在具有NRZI位流1的极性的第一位写区域中的边缘偏移量(ΔTbit11)的分布中，平均值ΔTbit11指示在频率峰顶处的偏移量。类似地，在具有NRZI位流2的极性的第一位写区域中的边缘偏移量(ΔTbit12)的分布中，平均值ΔTbit12指示在频率峰顶处的偏移量。

每个标准偏差σ示出每种分布的扩展。

基于图12检查通过公式(1)计算的抖动分量J。如同过去计算初级数据的抖动一样，抖动基本上是通过将标准偏差σ除以平均值的2倍来计算的。

在图12中，利用这种已知的抖动计算公式，计算反映从要偏移边缘部分sft到平均值的2倍(图12中的A11和A12)的范围内的分布扩展的指标。

当原样应用已知的抖动计算公式时，基于包括要偏移边缘部分sft(即偏移量为0的部分)在内的范围执行计算。当在本实施例中希望计算用于评价通过引入边缘偏移记录的次级数据的记录质量的评价值时，很难获得准确的评价值。

下面将检查通过引入边缘偏移记录的次级数据。在重放时，在边缘偏移量等于1T时可以检测到边缘偏移。具体而言，重放装置通过以重放时钟为单位对重放信号分片(slice)，来执行二元判决。利用这种二元判决，可以在边缘偏移量大于或等于可以检测到作为边缘偏移的最小偏移量(下文中称为最小偏移量)时检测到边缘偏移。

如上所述，根据已知的抖动概念，参考范围是从要偏移边缘部分sft(即偏移量为0的部分)起的范围。结果，即使是未实际检测到偏移边缘的部分也被包括在参考范围内以用于计算抖动。因此，利用已知的抖动计算公式计算的抖动不足以充当用于准确地评价通过引入边缘偏移记录的次级数据的记录质量的指标。

通常，利用二元判决，在边缘偏移0.5T或更大时检测到1T的边缘偏移。在本实施例中，为了评价通过引入边缘偏移记录的次级数据的记录质量，有必要使参考范围只包括可以检测到边缘偏移的0.5T或更大的范围。

为此，如公式(1)所示，关于每种分布的平均值(ΔTbit11、ΔTbit12、ΔTbit21和ΔTbit22)，每种分布的标准偏差(σ₁₁、σ₁₂、σ₂₁和σ₂₂)被除以充当参考范围的2×(平均值-0.5T)，从而计算每个抖动分量J(J₁₁、J₁₂、J₂₁和J₂₂)。

根据本实施例的抖动分量J，未检测到边缘偏移的部分没有被包括在参考范围内。从而，可以获得用于准确地评价通过引入边缘偏移记录的次级数据的记录质量的评价指标。

根据上述实施例，每个抖动分量J(J₁₁、J₁₂、J₂₁和J₂₂)在相对于其关联的位写区域和边缘偏移方向归类的每种边缘偏移量的分布中是独立获得的。然后，利用公式(2)，计算等同于这些抖动分量J的绝对值的平均值的值作为综合抖动JA。

即使当边缘偏移量的分布特性依赖于边缘偏移方向和位写区域的类型而有所不同时，也可以计算更加精确的综合抖动JA。

尽管最小偏移量被设为一般为0.5T的值，但是其并不限于此，其也可以设为可以检测到边缘偏移的值。

5.评价装置

图13的框图示出了评价装置1的内部配置，评价装置1用于基于来自盘100的重放信号实际计算如上所述根据本实施例的评价值。

在评价装置1中，盘100被置于可旋转(未示出)的主轴马达2上，并且被主轴马达2根据预定旋转和驱动方法旋转。光拾取器OP(图13中所示)从旋转的盘100中读取记录信号(初级数据)。

光拾取器OP包括充当图13中的激光源的激光二极管LD、用于收集激光束并且照射盘100的记录表面的物镜21a和用于检测由于激光照射而从盘100反射的光的光电检测器PD。

光拾取器OP还包括用于沿聚焦和循轨方向可移动地夹持物镜21a的双轴机构21。双轴机构21基于来自双轴驱动电路7(将在下面描述)的聚焦驱动信号FD和循轨驱动信号TD，沿聚焦和循轨方向驱动物镜21a。

为了确认，由评价装置1照射在盘100上的激光束具有记录功率。尽管未在图13中示出，但是这种情况下激光二极管LD的激光功率受到所谓的APC控制，在APC控制中，激光输出水平例如被包括在光拾取器OP中的监视检测器监视，从而使激光功率维持在重放功率水平。

这种情况下，激光波长λ是405nm，物镜21a的数值孔径(NA)是0.85。

由光拾取器OP中的光电检测器PD检测到的反射光信息被IV转换器电路3转换为电信号，并且该电信号被提供到矩阵电路4。基于来自IV转换器电路3的反射光信息，矩阵电路4生成重放信号RF、循轨误差信号TE和聚焦误差信号FE。

伺服电路6与图8中所示的伺服电路55具有类似的配置。基于来自矩阵电路4的循轨误差信号TE和聚焦误差信号FE，伺服电路6生成循轨伺服信号TS和聚焦伺服信号FS。伺服电路6将循轨伺服信号TS和聚焦伺服信号FS提供到双轴驱动电路7。

基于循轨伺服信号TS和聚焦伺服信号FS，双轴驱动电路7生成循轨驱动信号TD和聚焦驱动信号FD，并将这些信号TS和FD提供到循轨线圈和聚焦线圈。

同样在这种情况下，光电检测器PD、IV转换器电路3和矩阵电路4构成循轨伺服环路，伺服电路6、双轴驱动电路7和双轴机构21构成聚焦伺服环路。利用循轨伺服环路和聚焦伺服环路执行控制使得照射在盘100上的激光束的光点对形成在盘100上的凹坑序列(记录轨道)进行示踪，并且维持在适当的聚焦状态。

由矩阵电路4生成的重放信号RF被提供到高通滤波器(HPF)8，并且移去重放信号RF的低频分量。所得到的重放信号RF被提供到前低通滤波器(前LPF)9。为了防止在后续阶段的模数(A/D)转换器10采样时的重叠，前LPF 9移去了重放信号RF中大于或等于A/D转换器10的采样频率的一半的频率分量。

A/D转换器10以由PLL电路16(将在下面描述)提供的时钟CLK确定的定时对前LPF 9提供的重放信号RF进行采样。

前均衡器11接收由A/D转换器10提供的重放信号RF的采样数据，并且执行均衡等以移去基于包括盘100和光拾取器OP在内的信号读取系统的传输特性的符号间干扰。前均衡器11例如是具有抽头系数(k、1、1和k)的横向滤波器。

限制均衡器12增强受到前均衡器11均衡的重放信号RF的采样数据的高频分量，从而不增加符号间干扰。受到限制均衡器12的高频增强的重放信号RF的采样数据被数模(D/A)转换器13转换为模拟信号，并且该模拟信号被提供到后LPF 14。

受到限制均衡器12的高频增强的重放信号RF的采样数据被分支出来，并且被提供到PLL电路16。PLL电路16基于重放信号RF的采样数据生成时钟CLK。该时钟CLK被提供到上述的A/D转换器10、前均衡器11、限制均衡器12和D/A转换器13。时钟CLK还被提供作为评价装置1中每个部件必需的工作时钟，这些部件包括初级数据抖动测量电路17、地址检测电路18、同步检测电路19和次级数据抖动测量电路20，这些部分将在下面描述。

为了防止D/A转换器13的D/A转换中的重叠，后LPF 14提取所提供的重放信号RF中的低频分量(基带分量)，并将所提取的频率分量提供到二元化电路15。

二元化电路15用作例如包括比较器的分片器(slicer)。二元化电路15基于预定阈值对后LPF 14提供的重放信号RF分片，并且输出结果作为二元信号。

如图13所示，该二元信号被提供到初级数据抖动测量电路17、地址检测电路18、同步检测电路19和次级数据抖动测量电路20。

由图13中的虚线包围的部分(从HPF 8到后LPF 14)的配置的主要用于对波形整形以增强重放信号RF的高频分量(即，重放信号RF中标记长度短的部分)，而不引起符号间干扰。利用这种配置，在本实施例的盘100(盘D16)的情形中，当以相对较高的记录密度记录信号时，可以获得适合于测量评价值的二元信号。

由虚线包围的配置在日本未审查专利申请公布No.2003-303474中也有所描述。

同步检测电路19基于所提供的二元信号检测插入在图2(图3)所示的每个帧中的同步部分。

帧同步信号被提供到包括地址检测电路18在内的每个必要部分。尤其在这种情况下，地址信息ADR还被提供到次级数据抖动测量电路20。

地址检测电路18基于帧同步信号和二元信号检测地址信息ADR。所检测的地址信息ADR被提供到执行评价装置1的总体控制的控制器5。地址信息ADR还被提供到次级数据抖动测量电路20。

初级数据抖动测量电路17基于来自二元化电路15的二元信号和时钟CLK测量初级数据的抖动。尽管未在图13中示出，但是测量值被提供到控制器5。

基于二元信号、时钟CLK、帧同步信号(sync)和地址信息ADR，次级数据抖动测量电路20测量用于评价通过在盘100上引入边缘偏移记录的次级数据的抖动(综合抖动JA)。尽管未在图13中示出，但是由次级数据抖动测量电路20测得的综合抖动JA被提供到控制器5。

次级数据抖动测量电路20的抖动测量操作将在后面描述。

控制器5例如包括微计算机，并且执行评价装置1的总体控制。

例如，响应于从操作单元(未示出)输入的操作，控制器5控制每个必要的部分，从而可以执行目标为指定地址的读操作。换句话说，通过向伺服电路6指定目标地址，伺服电路6执行目标为目标地址的光拾取器OP的访问操作。

尽管未在图13中示出，但是控制器5包括显示单元，显示单元包括诸如液晶显示器(LCD)之类的显示设备。控制器5可以利用显示单元显示各种类型的信息。

在上述情形中，由虚线包围的用于对波形整形的配置被提供用来计算记录在具有相对较高的记录密度的盘100上的信号的抖动。然而，并不是该配置中的所有部分对于计算诸如光盘(CD)之类的盘(其不具有高记录密度)上的抖动都是必需的。

尽管在上述情形中，初级数据抖动测量电路17被提供用来基于二元信号测量记录在盘100上的初级数据的抖动，但是初级数据抖动测量电路17也可以省略。

6.评价值测量操作

图14的图示意性地示出了由图13中所示的次级数据抖动测量电路20执行的操作。

如图14的(a)部分所示，次级数据抖动测量电路20测量每种类型的位写区域中的边缘偏移量。具体而言，次级数据抖动测量电路20保存在第一位写区域中测得的边缘偏移量作为第一位写区域中的测量值，并且保存在第二位写区域中测得的边缘偏移量作为第二位写区域中的测量值。这样，副数据抖动测量电路20测量了每种类型的位写区域中的边缘偏移量。

如图14的(a)部分中的分布示例所示，每种类型的位写区域中的边缘偏移量分布在三个峰上：一种分布具有在“+1”附近的峰；另一种分布具有在“-1”附近的峰；另一种分布具有在“0”附近的峰。

边缘偏移量的分布具有在“+1”附近的峰和在“-1”附近的另一个峰是因为，如上参考图11所述，即使在相同的位写区域中，依赖于NRZI的极性边缘偏移方向也是不同的(正方向和负方向)。边缘偏移量的分布还具有在“0”附近的峰是因为存在有记录标识信息值“0”(即未引入边缘偏移)的位写区域。

在每种类型的位写区域中的边缘偏移量已如上所述测量后，测量值，即在第一位写区域中测得的边缘偏移量ΔTbit1和在第二位写区域中测得的边缘偏移量ΔTbit2被基于预定阈值th1和th2进行归类。

如上所述，即使在相同类型的位写区域中，依赖于NRZI的极性也有两种边缘偏移模式：一种沿正方向偏移，另一种沿负方向偏移。依赖于模式，分布特性是不同的。因此，测量值相对于正偏移方向和负偏移方向进行归类。

这种情况下，相对于正偏移方向和负偏移方向对测量值归类是基于图14的(a)部分中所示的阈值th1＝-0.5T和th2＝+0.5T来执行的。即，假定沿负方向的边缘偏移量小于-0.5T，则当测量值ΔTbit(ΔTbit1和ΔTbit2)小于阈值th1时，其被保存作为沿负方向的边缘偏移(-1T的偏移)的采样数据。

类似地，假定沿正方向的边缘偏移量大于+0.5T，则当测量值ΔTbit大于阈值th2时，其被保存作为沿正方向的边缘偏移(+1T的偏移)的采样数据。

当测量值ΔTbit大于阈值th1并且小于阈值th2时，测量值ΔTbit被保存作为0T偏移的采样数据，即记录标识信息值“0”的无边缘偏移的采样数据。该测量值ΔTbit被排除用来计算抖动，这将在下面描述。

这种情况下，小于阈值th1，因而被当作负方向偏移的第一位写区域中的测量值ΔTbit1被称为采样数据ΔTbit11-1-n，其在图14的(b)部分中示出。

同样，大于阈值th2，因而被当作正方向偏移的测量值ΔTbit1被称为采样数据ΔTbit12-1-n。

另外，小于阈值th1，因而被当作负方向偏移的第二位写区域中的测量值ΔTbit2被称为采样数据ΔTbit21-1-n。同样，大于阈值th2，因而被当作正方向偏移的测量值ΔTbit2被称为采样数据ΔTbit22-1-n。

采样数据的条数类似地由“1-n”指定。然而，这种情况下“n”仅仅代表变量，并不是所有的采样数据都具有相同数目的数据。

在图14的(a)和(b)部分所示的操作的描述中，为了方便起见，在每种类型的位写区域中的边缘偏移量已被测量后，这些测量值ΔTbit被基于阈值th1和th2进行归类(归类为偏移方向和无边缘偏移的组)。然而，在实际操作中，优选地在测量了在一个位置处的边缘偏移量后，基于阈值th1和th2对该测量值进行归类。这样，增加了效率，从而减少了测量时间。

在测量值ΔTbit相对于第一和第二位写区域进行了归类，然后相对于其关联的偏移方向进行了归类之后，计算测量值ΔTbit的每个归类组的平均值和标准偏差，如图14的(c)部分所示。

具体而言，对于归类为第一位写区域中的负方向偏移的采样数据ΔTbit11-1-n，计算平均值ΔTbit11和标准偏差σ₁₁。

同样，对于归类为第一位写区域中的正方向偏移的采样数据ΔTbit12-1-n，计算平均值ΔTbit12和标准偏差σ₁₂。

类似地，对于归类为第二位写区域中的负方向偏移的采样数据ΔTbit21-1-n，计算平均值ΔTbit21和标准偏差σ₂₁。对于归类为第二位写区域中的正方向偏移的采样数据ΔTbit22-1-n，计算平均值ΔTbit22和标准偏差σ₂₂。

然后，如图14的(d)部分所示，基于计算的ΔTbit11、ΔTbit12、ΔTbit21和ΔTbit22，标准偏差σ₁₁、σ₁₂、σ₂₁和σ₂₂，以及预定的最小偏移量(0.5T)，执行公式(1)的计算，从而计算抖动分量J₁₁、J₁₂、J₂₁和J₂₂。

在计算了抖动分量J₁₁、J₁₂、J₂₁和J₂₂之后，利用公式(2)计算与J₁₁、J₁₂、J₂₁和J₂₂的绝对值的平均值相对应的综合抖动JA。

现在参考图15的流程图描述在评价装置1中执行的与上述抖动测量操作相关联的操作。

在图15中，假定盘100已经加载到评价装置1中。

在步骤201中，图13中所示的控制器5设置测量起始地址。测量起始地址是在盘100上预先分配用于记录标识信息的区域中的第一帧的地址。例如响应于盘100的加载，控制器5向伺服电路6指定测量起始地址。作为对此的响应，执行测量起始地址充当目标地址的搜索操作。

在步骤S202中，地址值N被设为初始值N0。

步骤S202中的操作由次级数据抖动测量电路20执行以将内部计数器值设为初始值N0，以便对测量边缘偏移量的帧的数目进行计数，这将在下面描述。

在步骤S203中，次级数据抖动测量电路20等待第一帧的重放开始。具体而言，在根据步骤S201中的测量起始地址的设置进行搜索操作之后，次级数据抖动测量电路20等待第一帧的重放开始，第一帧包括盘100上的标识信息记录区域。可以响应于从同步检测电路19提供帧同步信号，而检测到第一帧的重放开始。

在步骤S204中，测量第一位写区域中的边缘偏移量。具体而言，次级数据抖动测量电路20基于由二元化电路15提供的二元数据和时钟CLK测量第一位写区域中的边缘偏移量。

边缘偏移量例如可通过测量要偏移边缘部分sft的边缘位置已经移动了多远来加以测量。

从上述描述中可以理解，根据本实施例的记录方法，要偏移边缘部分sft的位置可由格式预先定义。例如，预先已知要偏移边缘部分sft的位置在哪一个时钟(从帧同步开始计数)发生。因此，时钟计数从帧同步开始，并且检测在第一位写区域中的预定要偏移边缘部分sft之前和之后若干个时钟内获得的二元信号的边缘定时。由于这种情况下假定引入了1T的边缘偏移，因此在要偏移边缘部分sft之前和之后的两到三个时钟的有效间隔内检测到边缘定时。

然后，计算以这种方式检测到的边缘定时和由格式定义的要偏移边缘部分sft的定时之间的差，从而测量边缘偏移量。

这种情况下，当以时钟CLK为单位检测到边缘位置时，所测得的边缘偏移量也是以时钟CLK为单位的，并且其采样数据可能不适合于测量抖动。因此，基于周期充分短于时钟CLK的时钟来检测边缘位置。

在步骤S205中，测量第二位写区域中的边缘偏移量。

在第二位写区域中，预先已知要偏移边缘部分sft的位置在哪一个时钟(从帧同步开始计数)发生。检测在预定要偏移边缘部分sft之前和之后若干个时钟内获得的二元信号的边缘定时。计算检测到的边缘定时和由格式定义的要偏移边缘部分sft的定时之间的差，从而测量边缘偏移量。

在步骤S206中，确定是否已处理了所有受到测量的帧。具体而言，次级数据抖动测量电路20确定是否已在所有在盘100上分配用来记录标识信息的帧中进行了测量。该判决是由副数据抖动测量电路20通过确定已在步骤S202中被设为初始值N0的计数器值是否达到了预定值来执行的。当判决结果为否，意味着计数器值还未达到预定值时，在步骤S07中，次级数据抖动测量电路20等待下一帧中帧同步的检测。即，次级数据抖动测量电路20等待由同步检测电路19提供的新的帧同步信号。当检测到下一帧中的帧同步时，在步骤S208中，地址值N递增1(步骤S111)，并且操作返回到步骤S204。因此，测量了被分配用来记录标识信息的所有帧中的每个位写区域内的边缘偏移量。

当在步骤S206中确定计数器值已经达到了预定值，并且已经处理了所有受到测量的帧时，在步骤S209中，在第一位写区域中测得的边缘偏移量(测量值)ΔTbit1和在第二位写区域中测得的边缘偏移量(测量值)ΔTbit2被基于阈值th1和th2分别归类为采样数据ΔTbit11-1-n和ΔTbit12-1-n以及采样数据ΔTbit21-1-n和ΔTbit22-1-n。

即，次级数据抖动测量电路20基于设置的阈值th1和th2，相对于下面的条件：“ΔTbit1＜阈值th1”、“阈值th1＜ΔTbit1＜阈值th2”和“阈值th2＜ΔTbit1”对在第一位写区域中测得的每个测量值ΔTbit1进行归类。

在测量值ΔTbit1中，落在条件“ΔTbit1＜阈值th1”和“阈值th2＜ΔTbit1”下面的测量值ΔTbit1分别被保存作为负方向边缘偏移的采样数据ΔTbit11-1-n和正方向边缘偏移的采样数据ΔTbit12-1-n。

落在条件“阈值th1＜ΔTbit1＜阈值th2”下面的测量值ΔTbit1被排除用来计算抖动，这是因为这些测量值ΔTbit1被当作没有边缘偏移。

类似地，在第二位写区域中测得的边缘偏移量(测量值)ΔTbit2被相对于下面的条件进行归类：“ΔTbit2＜阈值th1”、“阈值th1＜ΔTbit2＜阈值th2”和“阈值th2＜ΔTbit2”。

在测量值ΔTbit2中，落在条件“ΔTbit2＜阈值th1”和“阈值th2＜ΔTbit2”下面的测量值ΔTbit2分别被保存作为负方向边缘偏移的采样数据ΔTbit21-1-n和正方向边缘偏移的采样数据ΔTbit21-1-n。同样在这种情况下，落在条件“阈值th1＜ΔTbit2＜阈值th2”下面的测量值ΔTbit2被排除用来计算抖动。

如上所述，在已经测量了每种类型的位写区域中的边缘偏移量之后，这些测量值ΔTbit被基于阈值th1和th2进行归类。然而，在实际操作中，优选地在测量了一个位置处的边缘偏移量之后，基于阈值th1和th2对该测量值进行归类。这样，增加了效率，从而减少了测量时间。

换句话说，优选地在步骤S204和S205中同时执行在步骤S209中执行的基于阈值th1和th2进行的相对于正偏移方向和负偏移方向的归类，在步骤S204和S205中，对于每个位写区域执行测量。

在步骤S210中，计算平均值ΔTbit11、ΔTbit12、ΔTbit21和ΔTbit22以及标准偏差σ₁₁、σ₁₂、σ₂₁和σ₂₂。

具体而言，次级数据抖动测量电路20计算被归类为第一位写区域中的负方向偏移的采样数据ΔTbit11-1-n的平均值ΔTbit11和标准偏差σ₁₁。同样，次级数据抖动测量电路20计算被归类为第一位写区域中的正方向偏移的采样数据ΔTbit12-1-n的平均值ΔTbit12和标准偏差σ₁₂。

类似地，次级数据抖动测量电路20计算被归类为第二位写区域中的负方向偏移的采样数据ΔTbit21-1-n的平均值ΔTbit21和标准偏差σ₂₁。同样，次级数据抖动测量电路20计算被归类为第二位写区域中的正方向偏移的采样数据ΔTbit22-1-n的平均值ΔTbit22和标准偏差σ₂₂。

然后，基于计算的ΔTbit11、ΔTbit12、ΔTbit21和ΔTbit22，标准偏差σ₁₁、σ₁₂、σ₂₁和σ₂₂，以及预定的最小偏移量(0.5T)，执行公式(1)的计算，从而计算抖动分量J₁₁、J₁₂、J₂₁和J₂₂。

在步骤S212中，基于抖动分量J₁₁、J₁₂、J₂₁和J₂₂，利用公式(2)计算综合抖动JA。

尽管未在图15中示出，但是关于以这种方式由次级数据抖动测量电路20计算的综合抖动JA的信息被实际提供到控制器5，以便显示在显示单元上。

7.使用评价装置的光盘制造方法

现在参考图16描述根据本实施例使用评价装置1制造盘100的方法。

在图16中，直到盘形成步骤S15为止的步骤用于制造初级数据记录盘D16，在盘D16上，只有初级数据被记录为凹坑和岸台的组合。

首先，在格式化步骤S11中，应当记录在初级数据记录盘D16上的内容数据(用户数据)被转换为遵从预定标准的格式数据序列。即，在本实施例中，执行转换从而生成图2和3中所示的遵从“蓝光光盘”标准的数据序列。在实际的操作中，错误检测代码和错误纠正代码被添加和交织在用户数据中。格式化步骤例如利用计算机执行。

在可变长调制步骤S12中，在格式化步骤S11中生成的数据序列受到可变长调制。在本实施例中，数据序列受到RLL-(1，7)-PP调制和NRZI调制，从而生成“0”和“1”的模式，其充当要记录作为初级数据记录盘D16(盘100)上的凹坑和岸台的组合的初级数据。

随后，执行主盘(master)生产步骤S13。该主盘生产步骤S13利用主盘装置执行。

在主盘生产步骤S13中，利用光刻胶涂覆玻璃主盘。在旋转的同时，根据在上述可变长调制步骤S12中生成的初级数据利用激光束照射涂覆有光刻胶的玻璃主盘，从而形成沿记录轨道的不平坦模式，即凹坑和岸台。

对形成有凹坑和岸台的光刻胶显影，并将其固定在玻璃主盘上。对主盘表面进行电解质电镀以生成图16中所示的金属主盘D14。

利用以这种方式生产的金属主盘D14，执行盘形成步骤S15。

在盘形成步骤S15中，基于金属主盘D14制作印模(stamper)。印模被放置在模塑外壳中，并且衬底101利用注入模塑机由透明树脂(如聚碳酸酯树脂或丙烯酸树脂)形成。在衬底101上，沿记录轨道形成根据在前述调制步骤S12中生成的初级数据的凹坑和岸台的模式。

反射层102通过气相沉积等层叠在衬底101上，并且覆盖层103键合到反射层102上。结果，形成了数据(初级数据)被记录为凹坑和岸台的组合的初级数据记录盘D16。

通过下面的步骤，充当次级数据的标识信息被额外记录在以这种方式制造的初级数据记录盘D16上，从而制造根据本实施例的盘100。

首先，执行次级数据额外记录步骤S17。

该次级数据额外记录步骤是利用上述记录装置50执行的。由于已经描述了次级数据额外记录操作，因此省略其重复描述。

在次级数据额外记录步骤S17中，只生产了若干个测试盘来充当盘D100(第一次级数据记录步骤)。

利用以上述方式记录有次级数据的测试盘100，执行图16中所示的评价步骤Ss1。具体而言，测试盘100被加载到上述的评价装置1中，并且测量盘100的综合抖动JA。由于已经描述了评价装置1测量抖动JA的操作，因此省略其重复描述。

基于以这种方式测得的综合抖动JA，执行参数调整步骤Ss2。具体而言，调整用于记录次级数据的记录装置50的各种参数(例如记录脉宽和激光功率)，从而可以改进次级数据的记录质量。

已经调整了各种参数的记录装置50再次执行上述次级数据额外记录步骤S17以量产盘100(第二次级数据记录步骤)。

根据本实施例的盘制造方法，可以基于由评价装置1测得的关于综合抖动JA的信息来调整记录装置50的记录参数，该信息充当用于评价次级数据的记录质量的准确评价指标。换句话说，可以可靠地调整记录装置50以便改进次级数据的记录质量。结果，可以制造具有高次级数据记录质量的盘100。

8.修改形式

下面描述本实施例的修改形式。

图17图示了根据本实施例第一修改形式的记录方法。

在第一修改形式的记录方法中，存储在第一位写区域和第二位写区域中的数据值从B43变为B47。

如图17所示，利用数据值B47，每个位写区域中的调制位具有值“001000010000100101”。如同B43的情形一样，从每个位写区域的开头起的第七个时钟是要偏移边缘部分sft，其是预定长度(这种情况下是5T)的岸台和凹坑之间的边缘部分。

参考NRZI调制之后的记录波形，在图4所示的B43的情形中，在第一和第二位写区域中获得了相同的记录波形，而在B47的情形中，在第一位写区域和第二位写区域中获得了不同极性的记录波形。

在第一修改形式的记录方法中，当通过如上所述使岸台变凹坑引入边缘偏移时，图17中所示的具有NRZI位流1的极性的第一位写区域中的边缘偏移位置是从开头起的第八个信道位，第二位写区域中的边缘偏移位置是从开头起的第七个信道位。

在NRZI位流2的极性的情形中，第一位写区域中的边缘偏移位置是从开头起的第七个信道位，第二位写区域中的边缘偏移位置是从开头起的第八个信道位。

为了确认，在第一修改形式中，格式化是在上述图16所示的格式化步骤S11中进行的，以获得图17所示的ID位写区域中的数据结构。

图18示出了根据第一修改形式的记录方法通过引入边缘偏移获得的类型1和类型2的记录波形。在图18中，以示例方式示出了通过使岸台变凹坑引入1T边缘偏移的情形。

参考图18，从图17中可以理解，类型1示出了具有NRZI位流1的极性的第一位写区域中的记录波形和具有NRZI位流2的极性的第二位写区域中的记录波形。类型2示出了具有NRZI位流2的极性的第一位写区域中的记录波形和具有NRZI位流1的极性的第二位写区域中的记录波形。即，通过第一修改形式的记录方法获得的每个位写区域中的可能记录波形只有类型1和类型2。

如图18所示，在类型1的记录波形的情形中，当通过使岸台变凹坑引入1T边缘偏移时，调制位具有值“001000001000100101”，其可以被RLL-(1，7)-PP解调为底部所示的具有值B87(101110000111)的数据位。

在类型2的记录波形的情形中，当通过使岸台变凹坑引入1T边缘偏移时，调制位具有值“001000100000100101”，其可以被RLL-(1，7)-PP解调为底部所示的具有值847(100001000111)的数据位。

因此，即使利用第一修改形式的记录方法，与通过使岸台变凹坑引入1T边缘偏移的情形相关联的，也可以获得在边缘偏移之后的具有遵循RLL-(1，7)-PP调制规则的值的调制位。

图19示出了根据第一修改形式的记录方法通过引入边缘偏移获得的类型1和类型2的记录波形。在图19中，以示例方式示出了通过使凹坑变岸台引入1T边缘偏移的情形。

如图19所示，当通过使凹坑变岸台引入1T边缘偏移时，与使岸台变凹坑的情形相比，类型1的记录波形(在具有NRZI位流1的极性的第一位写区域中和在具有NRZI位流2的极性的第二位写区域中)具有在从位写区域的开头起的第七个信道位的边缘偏移位置。与使岸台变凹坑的情形相比，类型2的记录波形(在具有NRZI位流2的极性的第一位写区域中和在具有NRZI位流1的极性的第二位写区域中)具有在从位写区域的开头起的第八个信道位的边缘偏移位置。

从图18与图19的对比可见，边缘偏移之后的类型1和类型2的调制位具有与图18所示情形相反的值。换句话说，类型1的调制位具有值“001000100000100101”，其可以被RLL-(1，7)-PP解调为底部所示的具有值847(100001000111)的数据位。

类型2的调制位具有值“00100000100100101”，其可以被RLL-(1，7)-PP解调为底部所示的具有值B87(101110000111)的数据位。

因此，与通过使凹坑变岸台引入1T边缘偏移的情形相关联的，即使利用由第一修改形式的记录方法存储的数据值B47，也可以获得在边缘偏移之后的具有遵循RLL-(1，7)-PP调制规则的值的调制位。

为了参考，图20示出了根据第一修改形式在存储在每个位写区域中是数据值B47的情形中边缘偏移的所有可能模式。

在图20中，如同在图7中一样，边缘偏移的所有可能模式由正边缘偏移和负边缘偏移的量指示。即，当边缘偏移量是“+”时，则意味着要偏移边缘部分sft的位置沿正方向偏移。“+”边缘偏移量对应于在类型1的情形(图18中类型1的情形)中使岸台变凹坑的情形和在类型2的情形(图19中类型2的情形)中使凹坑变岸台的情形。

相反地，当边缘偏移量是“-”时，则意味着要偏移边缘部分sft的位置沿负方向偏移。“-”边缘偏移量对应于在类型2的情形(图18中类型2的情形)中使岸台变凹坑的情形和在类型1的情形(图19中类型1的情形)中使凹坑变岸台的情形。

参考图20可以理解，根据这种情况下的B43，在使岸台变凹坑的情形中和使凹坑变岸台的情形中都可以处理高至3T的边缘偏移。

具体而言，在使岸台变凹坑并且记录波形是类型1的情形中，随着边缘偏移量以+1T、+2T和+3T的顺序增大，边缘偏移之后的调制位具有值“001000001000100101”、“001000000100100101”和“001000000010100101”，其可以分别被RLL-(1，7)-PP解调为数据位值B87(101110000111)、B0F  (101100001111)和DCF(110111001111)。在记录波形是类型2的情形中，随着边缘偏移量以-1T、-2T和-3T的顺序增大，边缘偏移之后的调制位具有值“001000100000100101”、“001001000000100101”和“001010000000100101”，其可以分别被RLL-(1，7)-PP解调为数据位值847(100001000111)、AC7(101011000111)和887(100010000111)。

因此，在使岸台变凹坑的情形中，在类型1和类型2的记录波形的情形中，都可以获得遵循偏移量范围从1T到3T的调制规则的调制位。换句话说，可以处理从1T到3T的范围。

在使凹坑变岸台并且记录波形是类型1的情形中，随着边缘偏移量以-1T、-2T和-3T的顺序增大，边缘偏移之后的调制位与上述使岸台变凹坑并且记录波形是类型2的情形具有相同的值。因此，这种情况下也可以处理高至3T的边缘偏移。

在使凹坑变岸台并且记录波形是类型2的情形中，随着边缘偏移量以+1T、+2T和+3T的顺序增大，边缘偏移之后的调制位与上述使岸台变凹坑并且记录波形是类型1的情形具有相同的值。因此，这种情况下也可以处理高至3T的边缘偏移。

因此，即使在使凹坑变岸台时，也可以处理1T到3T的边缘偏移。

即使利用第一修改形式的记录方法，也可以通过使用评价装置1执行与上述类似的操作来类似地获得综合抖动JA。

具体而言，在每个第一位写区域和每个第二位写区域中测量边缘偏移量，并且相对于其关联的偏移方向将所测得的每种类型的位写区域中的边缘偏移量归类为正方向偏移和负方向偏移。基于测量值的归类组(ΔTbit11-1-n、ΔTbit12-1-n、ΔTbit21-1-n和ΔTbit22-1-n)，计算其平均值(ΔTbit11、ΔTbit12、ΔTbit21和ΔTbit22)和标准偏差(σ₁₁、σ₁₂、σ₂₁和σ₂₂)。

然后，利用公式(1)计算抖动分量J₁₁、J₁₂、J₂₁和J₂₂，并利用公式(2)计算综合抖动JA。

因此，可以获得用于准确地评价通过引入边缘偏移记录的次级数据的记录质量的评价指标。

同样在这种情况下，抖动分量J(J₁₁、J₁₂、J₂₁和J₂₂)是对于相对于其关联的边缘偏移方向和位写区域归类的边缘偏移量的分布独立计算的，然后通过取这些抖动分量J的绝对值的平均值来计算综合抖动JA。即使当边缘偏移量的分布特性依赖于边缘偏移方向和位写区域的类型而有所不同时，也可以获得更加准确的综合抖动JA。

图21示出了根据第二修改形式的记录方法。

如图21所示，在第二修改形式的记录方法中，总共为24个数据位的ID位写区域具有三个位写区域，包括第一到第三位写区域。

同样在这种情况下，预定模式的数据值被存储在第一到第三位写区域中的每一个内，这种预定模式的确定使得其边缘偏移之后的调制位具有遵循RLL-(1，7)-PP调制规则的值。由于24位区域被划分为三个区域，因此预定模式具有8位值。具体而言，如图21所示，存储了46h(01000110)。

在数据值46h的情形中，调制位具有值“010000100001”，如图21所示。如NRZI位流1和NRZI位流2所指示的，形成了预定长度(5T)的岸台和凹坑之间的边缘部分，并且该边缘部分充当要偏移边缘部分sft。

如上述第一修改形式中那样，即使在相同的NRZI位流的情形中，也存在具有不同记录波形的位写区域。这种情况下，第一位写区域和第三位写区域中的记录波形具有相同极性，只有第二位写区域中的记录波形具有不同极性。

图22示出了根据第二修改形式的记录方法通过引入边缘偏移获得的类型1和类型2的记录波形。在图22中，以示例方式示出了通过使岸台变凹坑引入1T边缘偏移的情形。

这种情况下，可能的记录波形只有图22中所示的类型1和类型2。参考图21可以理解，类型1示出了在具有NRZI位流1的极性的第一位写区域和第三位写区域中的记录波形，以及在具有NRZI位流2的极性的第二位写区域中的记录波形。类型2示出了在具有NRZI位流2的极性的第一位写区域和第三位写区域中的记录波形，以及在具有NRZI位流1的极性的第二位写区域中的记录波形。

如图22所示，在通过使岸台变凹坑引入1T边缘偏移并且记录波形是类型1的情形中，边缘偏移位置是从位写区域的开头起的第七个信道位。相反，当记录波形是类型2的情形中，边缘偏移位置是从位写区域的开头起的第六个信道位。

在类型1的记录波形的情形中，当通过使岸台变凹坑引入1T边缘偏移时，调制位具有值“010000010001”，其可以被RLL-(1，7)-PP解调为底部所示的具有值26h(00100110)的数据位。

在类型2的记录波形的情形中，当通过使岸台变凹坑引入1T边缘偏移时，调制位具有值“010001000001”，其可以被RLL-(1，7)-PP解调为底部所示的具有值6Eh(01101110)的数据位。

因此，与通过使岸台变凹坑引入1T边缘偏移的情形相关联的，即使利用第二修改形式的记录方法，也可以获得在边缘偏移之后的具有遵循RLL-(1，7)-PP调制规则的值的调制位。

尽管未在图22中示出，但是在通过类似地使岸台变凹坑引入2T边缘偏移的情形中，在类型1中调制位具有值“010000001001”，其可以被RLL-(1，7)-PP解调为2Ah(00101010)，在类型2中调制位具有值“010010000001”，其可以被RLL-(1，7)-PP解调为4Ah(01001010)。

从图7和20的描述清楚可见，在通过使岸台变凹坑引入边缘偏移和通过使凹坑变岸台引入边缘偏移的情形中，边缘偏移之后的调制位具有相同的值，除了依赖于是偏移类型1的记录波形还是偏移类型2的记录波形会获得相反的值以外。换句话说，即使通过使岸台变凹坑引入2T边缘偏移时也可以获得遵循调制规则的值这一事实意味着当使凹坑变岸台时，也可以类似地获得在2T边缘偏移之后的具有遵循调制规则的值的调制位。

根据第二修改形式，在数据值46h的情形中，在使岸台变凹坑的情形中和在使凹坑变岸台的情形中，都可以处理高至2T的边缘偏移。

在第二修改形式中，格式化是在上述图16所示的格式化步骤S11中进行的，以获得图21所示的帧中的数据结构。

图23示意性地示出了在采用根据第二修改形式的记录方法的情形中，每种类型的边缘偏移部分中的偏移量的波动。

如同图11中一样，图23示出了存储在每个帧内的ID位写区域中的第一到第三位写区域的每一个中的数据位的值(46h)和在RLL-(1，7)-PP调制之后获得的调制位的值。在图23中，以示例方式示出了引入1.5T边缘偏移的情形。

参考图23，(a)部分示出了根据存储值46h获得的NRZI位流1的记录波形和RF信号波形(非写)，其下方示出了通过引入边缘偏移获得的RF信号波形和记录波形(被写的位流1)。

图23的(b)部分示出了根据存储值46h获得的NRZI位流2的记录波形和RF信号波形(非写)，其下方示出了通过引入边缘偏移获得的RF信号波形和记录波形(被写的位流2)。

图23的(a)和(b)部分中所示的每种波形，尤其是通过引入边缘偏移获得的RF信号波形和记录波形(被写的位流)是通过将在盘100上的帧内的ID位写区域中在相同条件下获得的波形彼此叠加而生成的。具体而言，图23的(a)部分中所示的每个位写区域中的每个波形是通过将在具有NRZI位流1的极性的每种类型的位写区域中的所有波形彼此叠加而生成的。类似地，图23的(b)部分中所示的每种类型的位写区域中的每个波形是通过将在具有NRZI位流2的极性的每个位写区域中的所有波形彼此叠加而生成的。

图23的(c)部分示出了相对于六种条件的边缘偏移量的分布：第一、第二和第三位写区域，以及每个位写区域中NRZI的极性。

参考图23可以理解，即使当采用第二修改形式的记录方法时，依赖于NRZI的极性，每个位写区域中的边缘偏移方向也是不同的。

在第二修改形式中，每个ID位写区域被划分为三个位写区域。如上所述，由于不同的NRZI极性导致偏移方向不同，因此每个位写区域具有两种分布，导致边缘偏移量总共有六种分布，如图23的(c)部分中所示。

当边缘偏移方向不同时，分布特性也不同。从而，有必要相对于边缘偏移方向处理边缘偏移量的测量值，尤其是当计算准确的抖动时。

由于边缘偏移量的分布特性在每个位写区域中可以是不同的，因此优选地边缘偏移量的测量值在每种类型的位写区域中被单独处理。

第二修改形式的评价装置1在每种类型的位写区域中单独测量边缘偏移量。另外，每种类型的位写区域中的边缘偏移量的测量值被归类为是正边缘偏移还是负边缘偏移。然后，计算测量值的每个归类组的平均值和标准偏差。

如图23的(c)部分中所示，平均值ΔTbit11和标准偏差Ω₁₁是基于被确定为是第一位写区域中的负方向的边缘偏移的测量值计算的。平均值ΔTbit12和标准偏差Ω₁₂是基于被确定为是第一位写区域中的正方向的边缘偏移的测量值计算的。

类似地，平均值ΔTbit21和ΔTbit22以及标准偏差Ω₂₁和Ω₂₂分别是基于被确定为是第二位写区域中的负方向和正方向的边缘偏移的测量值计算的。另外，平均值ΔTbit31和ΔTbit32以及标准偏差Ω₃₁和Ω₃₂分别是基于被确定为是第三位写区域中的负方向和正方向的边缘偏移的测量值计算的。

同样在这种情况下，每种类型的位写区域中的测量值是由评价装置1基于阈值th1和阈值th2的设置归类的。

在第二修改形式中，从帧同步开始要偏移边缘部分sft的位置不同于上述实施例中的情形。通过检测有效间隔(该有效间隔的范围是根据在不同位置处的要偏移边缘部分sft的)内的二元信号的边缘位置，可以准确地检测在边缘偏移之后的要偏移边缘部分sft的边缘位置。

这种情况下，计算边缘偏移量的总共六种分布的平均值(ΔTbit11、ΔTbit12、ΔTbit21、ΔTbit22、ΔTbit31和ΔTbit32)和标准偏差(Ω₁₁、Ω₁₂、Ω₂₁、Ω₂₂、Ω₃₁和Ω₃₂)，然后利用下面的公式(3)计算基于相应分布的六个抖动分量J₁₁、J₁₂、J₂₁、J₂₂、J₃₁和J₃₂：

$J_{11}=\frac{{\mathrm{\σ}}_{11}}{2\×(\stackrel{\‾}{\mathrm{\ΔTbit}11}-0.5T)},J_{12}=\frac{{\mathrm{\σ}}_{12}}{2\×(\stackrel{\‾}{\mathrm{\ΔTbit}12}-0.5T)}$

$J_{21}=\frac{{\mathrm{\σ}}_{21}}{2\×(\stackrel{\‾}{\mathrm{\ΔTbit}21}-0.5T)},J_{22}=\frac{{\mathrm{\σ}}_{22}}{2\×(\stackrel{\‾}{\mathrm{\ΔTbit}22}-0.5T)}$

$J_{31}=\frac{{\mathrm{\σ}}_{31}}{2\×(\stackrel{\‾}{\mathrm{\ΔTbit}31}-0.5T)},J_{32}=\frac{{\mathrm{\σ}}_{32}}{2\×(\stackrel{\‾}{\mathrm{\ΔTbit}32}-0.5T)}...\left(3\right)$

然后，基于六个抖动分量J₁₁、J₁₂、J₂₁、J₂₂、J₃₁和J₃₂，利用下面的公式(4)计算综合抖动JA：

$\mathrm{JA}=\sqrt{\frac{{J_{11}}^2+{J_{12}}^2+{J_{21}}^2+{J_{22}}^2+{J_{31}}^2+{J_{32}}^2}{6}}...\left(4\right)$

同样在这种情况下，由于每个抖动分量J是利用相应的公式(3)基于每种分布的平均值和标准偏差以及最小偏移量获得的，因此可以获得相对于可以检测到边缘偏移的范围的抖动。即，可以获得适合于评价通过引入边缘偏移记录的次级数据的记录质量的抖动分量J。

因此，如公式(4)所示，根据对应于抖动分量J(其绝对值)的平均值的综合抖动JA，可以获得用于准确地评价通过引入边缘偏移记录的次级数据的记录质量的评价指标。

同样在这种情况下，在相对于其关联的边缘偏移方向和位写区域归类的边缘偏移量的每种分布中，独立获得每个抖动分量J(J₁₁、J₁₂、J₂₁、J₂₂、J₃₁和J₃₂)，然后计算等同于这些抖动分量J的绝对值的平均值的综合抖动JA。因此，即使当边缘偏移量的分布特性依赖于边缘偏移方向和位写区域的类型而有所不同时，也可以计算更加准确的综合抖动JA。

尽管已经描述了本发明的实施例，但是本发明并不限于此。

例如，在实施例中，以示例方式描述了评价装置1与通过使岸台变凹坑引入边缘偏移的盘100相关联的情形。然而，当通过使凹坑变岸台引入边缘偏移时，也可以通过类似的操作实现类似的优点。即，由于通过使凹坑变岸台引入的边缘偏移的变化，只有偏移方向变反。执行类似操作的评价装置1可以类似地测量综合抖动JA。

在实施例中，考虑到了以下两个事实：即边缘偏移量的分布特性依赖于边缘偏移方向而有所不同，以及边缘偏移量的分布特性依赖于位写区域的类型而有所不同，并且测量值是相对于其关联的位写区域和边缘偏移方向而进行归类的。对于测量值的归类组的分布，计算抖动分量J，并基于抖动分量J计算综合抖动JA。

然而例如，可以只考虑这两个事实中的一个，并且可以相对于其关联的位写区域或其关联的边缘偏移方向对测量值归类。对于测量值的归类组的分布，可以计算抖动分量J，并且可以基于抖动分量J计算综合抖动JA。

在实施例中，测量值是相对于其关联的偏移方向基于阈值th1和阈值th2进行归类的。然而，也可以使用许多其他方法。

例如，参考图11可以理解，当要存储的数据值是B43时，在通过使岸台变凹坑引入边缘偏移的情形中，在NRZI位流1的极性的情形中的边缘偏移在第一位写区域和第二位写区域中都是沿正方向。在NRZI位流2的极性的情形中，边缘偏移在第一位写区域和第二位写区域中都是沿负方向。现在，每个帧中的极性信息可以被输入到评价装置1。在测量边缘偏移量时，测量值可以基于每个帧中的极性信息进行归类。

这样，测量值可以更可靠地关于正偏移方向和负偏移方向进行归类。同样在这种情况下，对应于无边缘偏移的测量值可以基于阈值th1和阈值th2类似地排除。

当使凹坑变岸台时，只有极性和偏移方向与使岸台变凹坑时的情形相反。通过以与上述相反的方式对测量值归类，可以关于正方向和负方向更准确地对测量值归类。

将来，次级数据可以通过同时实现使岸台变凹坑和使凹坑变岸台来引入边缘偏移，而额外记录在一个盘100上。

当以这种方式额外记录次级数据时，期望通过使岸台变凹坑引入边缘偏移的部分和通过使凹坑变岸台引入边缘偏移的部分具有不同的边缘偏移量的分布特性。因此，可能希望在通过使岸台变凹坑引入边缘偏移的边缘偏移部分中和在通过使凹坑变岸台引入边缘偏移的边缘偏移部分中进行单独的偏移量的采样，从而独立计算抖动分量J。

然而，利用已在本实施例中描述的基于阈值th1和阈值th2的方法，很难区分通过使岸台变凹坑引入边缘偏移的边缘偏移部分和通过使凹坑变岸台引入边缘偏移的边缘偏移部分。

为了区分这两种类型的边缘偏移部分，基于上述每个帧中的极性信息的归类方法是有效的。

例如，参考图5和6检查存储B43的情形。在使岸台变凹坑和使凹坑变岸台时，偏移之后的边缘偏移位置是不同的。换句话说，在图5中的使岸台变凹坑的情形中，在类型1(即，NRZI位流1的极性)的情形中的边缘偏移位置是从开头起的第八个时钟(7+1T偏移)，在类型2(即，NRZI位流2的极性)的情形中的边缘偏移位置是从开头起的第六个时钟(7-1T偏移)。相反地，在图6中的使凹坑变岸台的情形中，类型1中的边缘偏移位置是从开头起的第六个时钟，类型2中的边缘偏移位置是从开头起的第八个时钟。

关于这两种情形(使岸台变凹坑的情形和使凹坑变岸台的情形)中由帧的极性确定的边缘位置的信息是在评价装置1中预先设置的。另外，每个帧中的极性信息被给予到评价装置1，从而可以检测边缘偏移量被测量的帧的极性。

因此，基于给出的每个帧中的极性信息，评价装置1可以检测执行测量的帧中的极性信息。基于极性信息，评价装置1可以获得两种情形(使岸台变凹坑的情形和使凹坑变岸台的情形)下该帧中的边缘位置信息。之后，通过确定所测得的边缘位置对应的边缘位置，评价装置1可以确定检测值是通过使岸台变凹坑获得的还是通过使凹坑变岸台获得的。基于该信息，对测得的边缘偏移量进行归类，从而将测量值归类为使岸台变凹坑和使凹坑变岸台。

这种情况下，在检测每种类型的位写区域中的边缘位置并且测量相应偏移量的同时，评价装置1将每种类型的位写区域中的测量值归类为使岸台变凹坑的组和使凹坑变岸台的组，并进一步关于正偏移方向和负偏移方向对测量值归类。然后，对于采样数据的归类组计算抖动分量J，并计算抖动分量J的绝对值的平均值作为综合抖动JA。

这样，可以计算适当的综合抖动JA，该适当的综合抖动JA考虑到了以下事实：即分布特性依赖于正/负偏移方向和边缘偏移是通过使岸台变凹坑引入的还是通过使凹坑变岸台引入的而有所不同。

如同第一和第二修改形式中那样，在归类为使岸台变凹坑和使凹坑变岸台时，当相同帧中的记录波形依赖于位写区域的类型而具有不同极性时(如同在B43的情形中那样)，很难仅仅基于每个帧中的极性信息和关于根据每种极性的偏移之后的边缘偏移位置来确定边缘偏移是通过使岸台变凹坑引入的还是通过使凹坑变岸台引入的。

即，该情况下还需要具有关于在每种类型的位写区域中通过使岸台变凹坑引入的边缘偏移位置和通过使凹坑变岸台引入的边缘偏移位置的信息。

更具体而言，这种情况下，除了检测执行测量的帧的极性所必需的每个帧中的NRZI极性信息外，还有必要向评价装置1提供以下信息：在帧的极性对应于NRZI位流1时关于每个位写区域中通过使岸台变凹坑和通过使凹坑变岸台引入的偏移的边缘位置的信息，在帧的极性对应于NRZI位流2时关于每个位写区域中通过使岸台变凹坑和通过使凹坑变岸台引入的偏移的边缘位置的信息。

这使得评价装置1能够在测量时基于给出的每个帧中的NRZI极性信息检测帧的极性。由于评价装置1可以检测帧的极性，因此评价装置1也可以检测在该帧的每个位写区域中通过使岸台变凹坑和通过使凹坑变岸台引入的偏移的位置。

在每个位写区域中，确定检测到的边缘位置对应于以这种方式归类的通过使岸台变凹坑和通过使凹坑变岸台引入的边缘位置中的哪些，从而确定该位写区域中的边缘偏移是通过使岸台变凹坑引入的还是通过使凹坑变岸台引入的。即，基于判决信息对测得的边缘偏移量进行归类，从而将测量值归类为使岸台变凹坑的情形和使凹坑变岸台的情形。

在本实施例中，以示例方式描述了根据本发明实施例的评价装置被包括在用于重放光学记录介质的配置中的情形。然而，图13中所示的次级数据抖动测量电路20也可以在用于光盘记录介质的重放装置的外部。这种情况下，有必要使评价装置至少包括次级数据抖动测量电路20。

本领域技术人员应当理解，依赖于设计需求和其他因素，可以进行各种修改、组合、子组合和变更，只要这些修改、组合、子组合和变更落在所附权利要求或其等同物的范围内即可。

本发明包含的主题与2005年6月10日向日本专利局提交的日本专利申请JP 2005-171645有关，这里通过引用并入其全部内容。

Claims (10)

1.一种用于评价记录在光盘记录介质上的次级数据的记录质量的评价装置，其中在所述光盘记录介质上，不同于所述次级数据的初级数据被记录为凹坑和岸台的组合，所述次级数据是通过以预定记录功率的激光束照射形成在多个位置处的凹坑和岸台之间的边缘部分来引入边缘偏移而被记录的，所述评价装置包括：

读取装置，用于读取基于照射到所述光盘记录介质上的重放功率的激光束的反射光信息的信号；

二元化装置，用于在预定级别处对所述读取装置读取的信号分片，并输出结果作为二元信号；以及

抖动计算装置，用于在形成在所述多个位置处的凹坑和岸台之间的边缘部分中，计算引入了边缘偏移的部分中的边缘偏移量的抖动，其中所述边缘偏移量是基于由所述二元化装置获得的二元信号来测量的，所述抖动是基于所述边缘偏移量的标准偏差和平均值以及关于预定最小偏移量的信息来计算的，所述预定最小偏移量被确定为可由二元判决检测为边缘偏移的最小偏移量。

2.如权利要求1所述的评价装置，其中所述抖动计算装置通过将所述标准偏差除以通过从所述平均值减去所述最小偏移量而获得的差的两倍，来计算所述抖动。

3.如权利要求1所述的评价装置，其中

所述初级数据是在受到RLL(1，7)PP调制和NRZI调制后记录的，并且

所述抖动计算装置关于关联的边缘偏移方向对测得的边缘偏移量进行归类，并基于所述边缘偏移量的每个归类组计算所述抖动。

4.如权利要求1所述的评价装置，其中

所述初级数据是在受到RLL(1，7)PP调制和NRZI调制后记录的，

所述初级数据中预定长度的每个帧包括具有预定数目的连续位写区域的次级数据写区域，所述位写区域中每一个都包括凹坑和岸台之间充当要被偏移边缘部分的边缘部分，并且存储预定的相同模式数据，从而所述偏移之后的初级数据遵循所述RLL(1，7)PP调制规则，并且

所述抖动计算装置关于关联的所述帧中位写区域的类型对测得的边缘偏移量进行归类，并基于所述边缘偏移量的每个归类组计算所述抖动。

5.如权利要求1所述的评价装置，其中

所述初级数据是在受到RLL(1，7)PP调制和NRZI调制后记录的，

所述初级数据中预定长度的每个帧包括具有预定数目的连续位写区域的次级数据写区域，所述位写区域中每一个都包括凹坑和岸台之间充当要被偏移边缘部分的边缘部分，并且存储预定的相同模式数据，从而所述偏移之后的初级数据遵循所述RLL(1，7)PP调制规则，

所述抖动计算装置关于关联的所述帧中位写区域的类型对测得的边缘偏移量进行归类，进一步关于关联的边缘偏移方向对所述边缘偏移量进行归类，并基于所述边缘偏移量的每个归类组计算所述抖动，并且

所述抖动计算装置通过取所述抖动的绝对值的平均值来计算综合抖动。

6.一种用于评价记录在光盘记录介质上的次级数据的记录质量的评价装置，其中在所述光盘记录介质上，不同于所述次级数据的初级数据被记录为凹坑和岸台的组合，所述次级数据是通过以预定记录功率的激光束照射形成在多个位置处的凹坑和岸台之间的边缘部分来引入边缘偏移而被记录的，所述评价装置包括：

抖动计算装置，用于在形成在所述多个位置处的凹坑和岸台之间的边缘部分中，计算引入了边缘偏移的部分中的边缘偏移量的抖动，其中所述边缘偏移量是基于通过重放所述光盘记录介质而获得的二元信号来测量的，所述抖动是基于所述边缘偏移量的标准偏差和平均值以及关于预定最小偏移量的信息来计算的，所述预定最小偏移量被确定为可由二元判决检测为边缘偏移的最小偏移量。

7.一种用于评价记录在光盘记录介质上的次级数据的记录质量的评价方法，其中在所述光盘记录介质上，不同于所述次级数据的初级数据被记录为凹坑和岸台的组合，所述次级数据是通过以预定记录功率的激光束照射形成在多个位置处的凹坑和岸台之间的边缘部分来引入边缘偏移而被记录的，所述评价方法包括以下步骤：

在形成在所述多个位置处的凹坑和岸台之间的边缘部分中，计算在引入了边缘偏移的部分中测得的边缘偏移量的抖动，其中所述抖动是基于所述边缘偏移量的标准偏差和平均值以及关于预定最小偏移量的信息来计算的，所述预定最小偏移量被确定为可由二元判决检测为边缘偏移的最小偏移量。

8.一种用于制造光盘记录介质的光盘制造方法，在所述光盘记录介质上，初级数据被记录为凹坑和岸台的组合，并且不同于所述初级数据的次级数据通过以预定记录功率的激光束照射形成在多个位置处的凹坑和岸台之间的边缘部分来引入边缘偏移而被记录，所述光盘制造方法包括以下步骤：

生产主盘，在所述主盘上，记录有所述初级数据，并且在多个位置处形成凹坑和岸台之间的边缘部分；

利用基于所述主盘制作的印模生成盘衬底，并且在所述盘衬底上至少层叠反射层和覆盖层，以产生记录有所述初级数据的初级数据记录盘；

利用记录装置，通过以所述预定记录功率的激光束照射形成在所述初级数据记录盘上多个位置处的凹坑和岸台之间的边缘部分来引入边缘偏移，记录不同于所述初级数据的次级数据；

在形成在记录有所述次级数据的光盘记录介质上的多个位置处的凹坑和岸台之间的边缘部分中，计算在引入了边缘偏移的部分中测得的边缘偏移量的抖动，所述抖动是基于所述边缘偏移量的标准偏差和平均值以及关于预定最小偏移量的信息来计算的，所述预定最小偏移量被确定为可由二元判决检测为边缘偏移的最小偏移量；

基于所计算的抖动调整用于记录所述次级数据的记录装置的参数；以及

利用调整了参数的记录装置在所述初级数据记录盘上记录所述次级数据。

9.一种用于评价记录在光盘记录介质上的次级数据的记录质量的评价装置，其中在所述光盘记录介质上，不同于所述次级数据的初级数据被记录为凹坑和岸台的组合，所述次级数据是通过以预定记录功率的激光束照射形成在多个位置处的凹坑和岸台之间的边缘部分来引入边缘偏移而被记录的，所述评价装置包括：

读取单元，可操作用于读取基于照射到所述光盘记录介质上的重放功率的激光束的反射光信息的信号；

二元化单元，可操作用于在预定级别处对所述读取单元读取的信号分片，并输出结果作为二元信号；以及

抖动计算单元，可操作用于在形成在所述多个位置处的凹坑和岸台之间的边缘部分中，计算引入了边缘偏移的部分中的边缘偏移量的抖动，其中所述边缘偏移量是基于由所述二元化单元获得的二元信号来测量的，所述抖动是基于所述边缘偏移量的标准偏差和平均值以及关于预定最小偏移量的信息来计算的，所述预定最小偏移量被确定为可由二元判决检测为边缘偏移的最小偏移量。

10.一种用于评价记录在光盘记录介质上的次级数据的记录质量的评价装置，其中在所述光盘记录介质上，不同于所述次级数据的初级数据被记录为凹坑和岸台的组合，所述次级数据是通过以预定记录功率的激光束照射形成在多个位置处的凹坑和岸台之间的边缘部分来引入边缘偏移而被记录的，所述评价装置包括：

抖动计算单元，可操作用于在形成在所述多个位置处的凹坑和岸台之间的边缘部分中，计算引入了边缘偏移的部分中的边缘偏移量的抖动，其中所述边缘偏移量是基于通过重放所述光盘记录介质而获得的二元信号来测量的，所述抖动是基于所述边缘偏移量的标准偏差和平均值以及关于预定最小偏移量的信息来计算的，所述预定最小偏移量被确定为可由二元判决检测为边缘偏移的最小偏移量。

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