CN1862322A - Lcos显示芯片的测试电路 - Google Patents

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CN1862322A CN 200510025739 CN200510025739A CN1862322A CN 1862322 A CN1862322 A CN 1862322A CN 200510025739 CN200510025739 CN 200510025739 CN 200510025739 A CN200510025739 A CN 200510025739A CN 1862322 A CN1862322 A CN 1862322A
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印义言
张敏
印义中
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Abstract

本发明涉及一种LCOS显示芯片的测试电路，被测LCOS显示芯片(4)；还包括PC机(5)通过RS232串行接口(6)输出测试命令给微处理器CPU(2)，微处理器CPU(2)控制EEPROM程序存储器(1)的测试程序和EEPROM数据存储器(7)的测试数据以及所需要测试的时钟信号CLK，经测试接口电路(3)送到被测LCOS显示芯片(4)，先将被测LCOS显示芯片(4)复位、SRAM阵列(42)及内部存储器清零，然后LCOS显示芯片(4)执行测试程序进行测试；测试结果通过测试接口电路(3)反馈到微处理器CPU(2)并与EEPROM数据存储器(7)中保存的相应的预期测试结果加以比较经RS232串行接口(6)显示在PC机(5)上；有益效果是：测试设备价格低，测试速度快，降低了测试成本。

Description

LCOS显示芯片的测试电路
技术领域
本发明涉及LCOS(Liquid Crystal On Silicon即基于大规模集成电路上的反射液晶投影技术)领域，尤其涉及一种LCOS中显示芯片的测试电路。
背景技术
LCOS数字电视专用芯片是目前国际上最新的大屏幕高清晰度数字显示技术—LCOS(Liquid Crystal On Silicon即基于大规模集成电路上的反射液晶投影技术)的核心技术。
LCOS是国际上一致看好的，最有可能以其高质量的技术指标和低价位的制造成本能进入普通百姓家庭的HDTV的产品技术，具有十分广阔的市场前景。LCOS数字电视专用芯片采用国际先进的0.35μm和0.25μm的CMOS工艺技术，是一个高性能，低价位的芯片组，芯片组用于三色光学驱动引擎，可产生XGA到UXGA/HDTV解像度的高对比，高亮度，24位彩色影像。该项目达到世界同类产品的最新技术水平。
LCOS技术采用大规模集成电路芯片上制造SRAM(静态随机存储器)阵列，并将液晶盒封装在大规模集成电路芯片上组成反射式液晶光阀。在显示芯片上还集成了产生液晶背电压及象素电压的模拟电压产生电路。是由超大容量静态存储器，逻辑电路，模拟电路组成的复杂系统。
LCOS显示芯片生产后在晶园阶段必须对芯片电路功能，性能及存储器进行全面测试。
目前，常规的测试方法采用通用集成电路测试仪器进行，但测试设备昂贵，且测试时间长，测试成本高。
发明内容
本发明需要解决的技术问题是提供了一种LCOS显示芯片的测试电路，旨在解决上述的缺陷；
为了解决上述技术问题，本发明是通过以下技术方案实现的：
本发明包括：被测LCOS显示芯片；所述的被测LCOS显示芯片包括：控制电路，SRAM阵列，象素电极，模拟开关，模拟电路；还包括：EEPROM程序存储器，微处理器CPU，测试接口电路，PC机，RS232串行接口，EEPROM数据存储器；所述的PC机通过RS232串行接口输出测试命令给微处理器CPU，微处理器CPU控制EEPROM程序存储器的测试程序和EEPROM数据存储器的测试数据以及所需要测试的时钟信号CLK，经测试接口电路送到被测LCOS显示芯片，先将被测LCOS显示芯片复位、SRAM阵列及内部存储器清零，然后LCOS显示芯片执行测试程序进行测试；测试结果通过测试接口电路反馈到微处理器CPU并与EEPROM数据存储器的预期测试结果加以比较经RS232串行接口显示在PC机上。
与现有技术相比，本发明的有益效果是：测试设备价格低，测试速度快，降低了测试成本。
附图说明
图1是本发明的模块方框图；
图2是本发明的测试方法流程图。
具体实施方式
下面结合附图与具体实施方式对本发明作进一步详细描述：
由图1可见：本发明的测试电路包括：被测LCOS显示芯片4；所述的被测LCOS显示芯片4包括：控制电路41，SRAM阵列42，象素电极43，模拟开关44，模拟电路45；还包括：EEPROM程序存储器1，微处理器CPU2，测试接口电路3，PC机5，RS232串行接口6，EEPROM数据存储器7；所述的PC机5通过RS232串行接口6输出测试命令给微处理器CPU2，微处理器CPU2控制EEPROM程序存储器1的测试程序和EEPROM数据存储器7的测试数据以及所需要测试的时钟信号CLK，经测试接口电路(3)送到被测LCOS显示芯片4，先将被测LCOS显示芯片4复位、SRAM阵列42及内部存储器清零，然后LCOS显示芯片4执行测试程序进行测试；测试结果通过测试接口电路3反馈到微处理器CPU2并与EEPROM数据存储器7中保存的相应的预期测试结果加以比较经RS232串行接口6显示在PC机5上；
所述的测试数据包括：写SRAM阵列指令，读SRAM阵列指令，写象素指令，读象素指令，逻辑测试指令；当指令是写SRAM阵列指令或者是写象素指令时，从测试接口电路3向LCOS显示芯片控制电路41送出相应要写的地址和数据，写入SRAM阵列42或象素电极43；当指令是读SRAM阵列指令或者读象素指令或者是逻辑测试指令时，从测试接口电路3将要读的地址送到控制电路41，从相应地址读出SRAM的数据或象素电极的数据或执行相应测试程序；再经测试接口电路3读到微处理器CPU2，并和EEPROM数据存储器7中保存的相应的预期测试结果相比较，经RS232串行接口6显示在PC机5上；
本发明还可以包括：一个与微处理器CPU2相连接的D/A转换器9和A/D转换器10；当指令是模拟量测试指令时，从测试接口电路3向LCOS显示芯片控制电路41送出模拟电路测试指令并打开模拟开关44，同时EEPROM数据存储器7中相应测试数据输入D/A转换器9经模拟开关44送到模拟电路45；模拟电路45再经A/D转换器10输入微处理器CPU2与EEPROM存储器7中存储的预期结果相比较，经RS232串行接口6显示在PC机5上；
本发明还可以包括一个与与微处理器CPU2相连接的显示及输出电路8，用于显示或输出；
所述的微处理器CPU2采用8位微处理器。
所述的PC机5中测试命令还可以编程到EEPROM程序存储器1中。
LCOS显示芯片可以接受的指令除正常运行指令外还包括专用测试指令。测试指令包括写SRAM阵列指令，读SRAM阵列指令，写象素指令，读象素指令，逻辑测试指令，模拟量测试指令。
微处理器CPU采用8位微处理器。EEPROM程序存储器用来存储测试程序，EEPROM数据存储器用于存测试时所需要的数据和测试后的预期测试结果。
测试开始时由PC机通过RS232串行口向CPU发出开始测试命令，CPU通过测试接口电路向LCOS显示芯片发出复位信号RST，使显示芯片复位，并使SRAM阵列及内部存储器清零，并向LCOS显示芯片发出测试时所需要的时钟信号CLK。
对于写SRAM阵列或写象素电极测试指令，PC机通过微处理器CPU及测试接口电路向LCOS显示芯片发出相应测试指令，并从数据口向LCOS显示芯片控制电路送出相应要写的地址和数据。写入SRAM阵列或象素电极。对于读SRAM阵列或读象素电极测试指令，PC机通过微处理器CPU，测试接口电路将相应测试指令送到LCOS显示芯片控制电路。从数据口将要读的地址通过数据口送到控制电路，从相应地址读出SRAM的数据或象素电极的数据。经数据口，测试接口电路读到CPU，并和EEPROM中保存的相应结果数据相比较，得出测试是否正确的结论由显示输出电路显示或输出，或由PC机显示测试结果。
对于逻辑电路测试由PC机经RS232串行口控制微处理器CPU发出逻辑电路测试指令送到LCOS显示芯片控制电路，LCOS显示芯片执行相应测试程序并将测试结果经数据口返回微处理器CPU。CPU将测试结果和EEPROM数据存储器中相应预计测试结果相比较得出测试是否正确的结果由PC机或显示输出电路显示。
对于模拟电路测试由PC机经RS232串行接口向微处理器CPU发出相应指令。CPU经测试接口电路向LCOS显示芯片控制电路发出模拟电路测试指令，控制电路执行相应指令，打开相应的模拟开关。同时CPU将EEPROM数据存储器中相应测试数据输入D/A转换器，将数据转换为对应的模拟量电压输出LCOS显示芯片的模拟开关送到模拟电路，模拟电路输出送到A/D转换器转换为相应数字量在CPU控制下和EEPROM存储器中存储的预期结果相比较，得出测试是否正确的结果送PC机或显示输出电路显示。一个芯片测试完成后在PC机控制下进入下一个芯片测试。
在测试程序进行调试时采用PC机，批量测试时可以将PC机中测试命令编程到EEPROM程序存储器用，则可以脱离PC机进行测试，进一步提高测试速度。测试程序框图见图2。

Claims (10)

1.一种LCOS显示芯片的测试电路，被测LCOS显示芯片(4)；所述的被测LCOS显示芯片(4)包括：控制电路(41)，SRAM阵列(42)，象素电极(43)，模拟开关(44)，模拟电路(45)；其特征在于：还包括：EEPROM程序存储器(1)，微处理器CPU(2)，测试接口电路(3)，PC机(5)，RS232串行接口(6)，EEPROM数据存储器(7)；所述的PC机(5)通过RS232串行接口(6)输出测试命令给微处理器CPU(2)，微处理器CPU(2)控制EEPROM程序存储器(1)的测试程序和EEPROM数据存储器(7)的测试数据以及所需要测试的时钟信号CLK，经测试接口电路(3)送到被测LCOS显示芯片(4)，先将被测LCOS显示芯片(4)复位、SRAM阵列(42)及内部存储器清零，然后LCOS显示芯片(4)执行测试程序进行测试；测试结果通过测试接口电路(3)反馈到微处理器CPU(2)并与EEPROM数据存储器(7)中保存的相应的预期测试结果加以比较经RS232串行接口(6)显示在PC机(5)上。
2.根据权利要求1所述的LCOS显示芯片的测试电路，其特征在于：所述的测试数据包括：写SRAM阵列指令，读SRAM阵列指令，写象素指令，读象素指令，逻辑测试指令；当指令是写SRAM阵列指令或者是写象素指令时，从测试接口电路(3)向LCOS显示芯片控制电路(41)送出相应要写的地址和数据，写入SRAM阵列(42)或象素电极(43)；当指令是读SRAM阵列指令或者读象素指令或者是逻辑测试指令时，从测试接口电路(3)将要读的地址送到控制电路(41)，从相应地址读出SRAM的数据或象素电极的数据或执行相应测试程序；再经测试接口电路(3)读到微处理器CPU(2)，并和EEPROM数据存储器(7)中保存的相应的预期测试结果相比较，经RS232串行接口(6)显示在PC机(5)上。
3.根据权利要求1或2所述的LCOS显示芯片的测试电路，其特征在于：一个与微处理器CPU(2)相连接的D/A转换器(9)和A/D转换器(10)；当指令是模拟量测试指令时，从测试接口电路(3)向LCOS显示芯片控制电路(41)送出模拟电路测试指令并打开模拟开关(44)，同时EEPROM数据存储器(7)中相应测试数据输入D/A转换器(9)经模拟开关(44)送到模拟电路(45)；模拟电路(45)再经A/D转换器(10)输入微处理器CPU(2)与EEPROM存储器(7)中存储的预期结果相比较，经RS232串行接口(6)显示在PC机(5)上。
4.根据权利要求1或2所述的LCOS显示芯片的测试电路，其特征在于：还可以包括一个与与微处理器CPU(2)相连接的显示及输出电路(8)，用于显示或输出。
5.根据权利要求3所述的LCOS显示芯片的测试电路，其特征在于：还可以包括一个与与微处理器CPU(2)相连接的显示及输出电路(8)，用于显示或输出。
6.根据权利要求1或2所述的LCOS显示芯片的测试电路，其特征在于：所述的微处理器CPU(2)采用8位微处理器。
7.根据权利要求3所述的LCOS显示芯片的测试电路，其特征在于：所述的微处理器CPU(2)采用8位微处理器。
8.根据权利要求4所述的LCOS显示芯片的测试电路，其特征在于：所述的微处理器CPU(2)采用8位微处理器。
9.根据权利要求5所述的LCOS显示芯片的测试电路，其特征在于：所述的微处理器CPU(2)采用8位微处理器。
10.根据权利要求1所述的LCOS显示芯片的测试电路，其特征在于：所述的PC机(5)中测试命令还可以编程到EEPROM程序存储器(1)中。
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