CN1858137A - 蓝宝石衬底材料抛光液及其制备方法 - Google Patents
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- 238000005498 polishing Methods 0.000 title claims abstract description 37
- 229910052594 sapphire Inorganic materials 0.000 title claims abstract description 26
- 239000010980 sapphire Substances 0.000 title claims abstract description 26
- 239000007788 liquid Substances 0.000 title claims abstract description 14
- 239000000463 material Substances 0.000 title claims description 22
- 238000000034 method Methods 0.000 title abstract description 6
- 239000008367 deionised water Substances 0.000 claims abstract description 11
- 229910021641 deionized water Inorganic materials 0.000 claims abstract description 11
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Chemical compound O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 11
- POAOYUHQDCAZBD-UHFFFAOYSA-N 2-butoxyethanol Chemical compound CCCCOCCO POAOYUHQDCAZBD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 9
- 238000003756 stirring Methods 0.000 claims abstract description 7
- KCXVZYZYPLLWCC-UHFFFAOYSA-N EDTA Chemical compound OC(=O)CN(CC(O)=O)CCN(CC(O)=O)CC(O)=O KCXVZYZYPLLWCC-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 18
- 239000012530 fluid Substances 0.000 claims description 15
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 claims description 13
- 239000002245 particle Substances 0.000 claims description 12
- BYACHAOCSIPLCM-UHFFFAOYSA-N 2-[2-[bis(2-hydroxyethyl)amino]ethyl-(2-hydroxyethyl)amino]ethanol Chemical compound OCCN(CCO)CCN(CCO)CCO BYACHAOCSIPLCM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 9
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- 239000003513 alkali Substances 0.000 claims description 8
- 230000001737 promoting effect Effects 0.000 claims description 8
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 8
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 8
- 239000013543 active substance Substances 0.000 claims description 7
- 150000001412 amines Chemical class 0.000 claims description 7
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 claims description 6
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 3
- 150000007530 organic bases Chemical class 0.000 claims description 3
- 101100203596 Caenorhabditis elegans sol-1 gene Proteins 0.000 claims description 2
- 125000002887 hydroxy group Chemical group [H]O* 0.000 claims description 2
- 229920000768 polyamine Polymers 0.000 claims description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 abstract description 21
- 239000000126 substance Substances 0.000 abstract description 7
- 238000012545 processing Methods 0.000 abstract description 5
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 abstract description 3
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 abstract description 3
- 230000008569 process Effects 0.000 abstract description 3
- 230000008901 benefit Effects 0.000 abstract description 2
- 239000012190 activator Substances 0.000 abstract 2
- RMAQACBXLXPBSY-UHFFFAOYSA-N silicic acid Chemical compound O[Si](O)(O)O RMAQACBXLXPBSY-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract 2
- 239000002738 chelating agent Substances 0.000 abstract 1
- 238000013329 compounding Methods 0.000 abstract 1
- 238000007865 diluting Methods 0.000 abstract 1
- 238000003912 environmental pollution Methods 0.000 abstract 1
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 abstract 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 10
- 239000003082 abrasive agent Substances 0.000 description 6
- 230000009471 action Effects 0.000 description 6
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 6
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 4
- 238000000227 grinding Methods 0.000 description 4
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 4
- XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N Zinc monoxide Chemical compound [Zn]=O XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000007795 chemical reaction product Substances 0.000 description 2
- 239000003153 chemical reaction reagent Substances 0.000 description 2
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 2
- 230000000536 complexating effect Effects 0.000 description 2
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 2
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 2
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 2
- MUJOIMFVNIBMKC-UHFFFAOYSA-N fludioxonil Chemical compound C=12OC(F)(F)OC2=CC=CC=1C1=CNC=C1C#N MUJOIMFVNIBMKC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000010437 gem Substances 0.000 description 2
- 229910001751 gemstone Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000014759 maintenance of location Effects 0.000 description 2
- 238000007517 polishing process Methods 0.000 description 2
- 238000001556 precipitation Methods 0.000 description 2
- 239000000047 product Substances 0.000 description 2
- 230000004044 response Effects 0.000 description 2
- 239000002002 slurry Substances 0.000 description 2
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 1
- 239000002585 base Substances 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 239000010432 diamond Substances 0.000 description 1
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000012895 dilution Substances 0.000 description 1
- 238000010790 dilution Methods 0.000 description 1
- 239000004744 fabric Substances 0.000 description 1
- 238000001764 infiltration Methods 0.000 description 1
- 230000008595 infiltration Effects 0.000 description 1
- 238000005461 lubrication Methods 0.000 description 1
- 238000003754 machining Methods 0.000 description 1
- 239000000395 magnesium oxide Substances 0.000 description 1
- CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N magnesium oxide Inorganic materials [Mg]=O CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- AXZKOIWUVFPNLO-UHFFFAOYSA-N magnesium;oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[Mg+2] AXZKOIWUVFPNLO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000007521 mechanical polishing technique Methods 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- XZWYZXLIPXDOLR-UHFFFAOYSA-N metformin Chemical compound CN(C)C(=N)NC(N)=N XZWYZXLIPXDOLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 238000002161 passivation Methods 0.000 description 1
- 229920000136 polysorbate Polymers 0.000 description 1
- 230000002787 reinforcement Effects 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 1
- 239000003381 stabilizer Substances 0.000 description 1
- ANOBYBYXJXCGBS-UHFFFAOYSA-L stannous fluoride Chemical compound F[Sn]F ANOBYBYXJXCGBS-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 239000004575 stone Substances 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
- 239000011787 zinc oxide Substances 0.000 description 1
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-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/02041—Cleaning
- H01L21/02043—Cleaning before device manufacture, i.e. Begin-Of-Line process
- H01L21/02052—Wet cleaning only
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- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C11—ANIMAL OR VEGETABLE OILS, FATS, FATTY SUBSTANCES OR WAXES; FATTY ACIDS THEREFROM; DETERGENTS; CANDLES
- C11D—DETERGENT COMPOSITIONS; USE OF SINGLE SUBSTANCES AS DETERGENTS; SOAP OR SOAP-MAKING; RESIN SOAPS; RECOVERY OF GLYCEROL
- C11D1/00—Detergent compositions based essentially on surface-active compounds; Use of these compounds as a detergent
- C11D1/66—Non-ionic compounds
- C11D1/72—Ethers of polyoxyalkylene glycols
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C11—ANIMAL OR VEGETABLE OILS, FATS, FATTY SUBSTANCES OR WAXES; FATTY ACIDS THEREFROM; DETERGENTS; CANDLES
- C11D—DETERGENT COMPOSITIONS; USE OF SINGLE SUBSTANCES AS DETERGENTS; SOAP OR SOAP-MAKING; RESIN SOAPS; RECOVERY OF GLYCEROL
- C11D3/00—Other compounding ingredients of detergent compositions covered in group C11D1/00
- C11D3/16—Organic compounds
- C11D3/26—Organic compounds containing nitrogen
- C11D3/30—Amines; Substituted amines ; Quaternized amines
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C11—ANIMAL OR VEGETABLE OILS, FATS, FATTY SUBSTANCES OR WAXES; FATTY ACIDS THEREFROM; DETERGENTS; CANDLES
- C11D—DETERGENT COMPOSITIONS; USE OF SINGLE SUBSTANCES AS DETERGENTS; SOAP OR SOAP-MAKING; RESIN SOAPS; RECOVERY OF GLYCEROL
- C11D2111/00—Cleaning compositions characterised by the objects to be cleaned; Cleaning compositions characterised by non-standard cleaning or washing processes
- C11D2111/10—Objects to be cleaned
- C11D2111/14—Hard surfaces
- C11D2111/22—Electronic devices, e.g. PCBs or semiconductors
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C11—ANIMAL OR VEGETABLE OILS, FATS, FATTY SUBSTANCES OR WAXES; FATTY ACIDS THEREFROM; DETERGENTS; CANDLES
- C11D—DETERGENT COMPOSITIONS; USE OF SINGLE SUBSTANCES AS DETERGENTS; SOAP OR SOAP-MAKING; RESIN SOAPS; RECOVERY OF GLYCEROL
- C11D2111/00—Cleaning compositions characterised by the objects to be cleaned; Cleaning compositions characterised by non-standard cleaning or washing processes
- C11D2111/40—Specific cleaning or washing processes
- C11D2111/46—Specific cleaning or washing processes applying energy, e.g. irradiation
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Oil, Petroleum & Natural Gas (AREA)
- Wood Science & Technology (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
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- Power Engineering (AREA)
- Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)
- Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)
- Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
Abstract
本发明涉及蓝宝石衬底材料表面高精密加工过程中化学机械抛光(CMP)抛光液及其制备方法。抛光液成分和重量%比组成为:硅溶胶1~90、碱性调节剂0.25~5、醚醇类活性剂0.5~10、螯合剂1.25~15、去离子水为余量。该抛光液的配制方法:硅溶胶用不同倍数的去离子水稀释用碱性调节剂调整pH值,然后边搅拌边加入醚醇类活性剂。在相应的抛光工艺条件下进行抛光,可实现蓝宝石衬底材料表面的高精密加工,并能满足工业上对蓝宝石衬底片CMP精密加工的要求。本发明具有成本低、低粗糙、高速率、不污染环境及腐蚀设备的优点。
Description
技术领域
本发明涉及化学机械抛光技术领域,特别是涉及一种用于蓝宝石衬底材料的抛光液及其制备方法。
背景技术
蓝宝石单晶(Sapphire),又称白宝石,分子式为Al2O3,透明,与天然宝石具有相同的光学特性和力学性能,有着很好的热特性,极好的电气特性和介电特性,并且防化学腐蚀,对红外线透过率高,有很好的耐磨性,硬度仅次于金刚石,达莫氏9级,在高温下仍具有较好的稳定性,熔点为2030℃,所以被广泛应用于工业、国防、科研等领域,越来越多地用作固体激光、红外窗口、半导体芯片的衬底片、精密耐磨轴承等高技术领域中零件的制造材料。
作为继Si、GaAs之后的第三代半导体材料的GaN,其在器件上的应用被视为20世纪90年代后半导体最重大的事件,它使半导体发光二极管与激光器上了一个新台阶,由于GaN很难制备体材料,必须在其它衬底材料上生长薄膜,作为GaN的衬底材料有多种,包括蓝宝石、碳化硅、硅、氧化镁、氧化锌等,其中蓝宝石是最主要的衬底材料,目前已能在蓝宝石上外延出高质量的GaN材料,并已研制出GaN基蓝色发光二极管及激光二极管。
蓝宝石由于其硬度高且脆性大,机械加工困难。而蓝宝石衬底是目前最为普遍的一种衬底材料,作为衬底材料对晶体表面提出了超光滑的要求。研究表明器件的质量很大程度上依赖于衬底的表面加工。尤其对用于GaN生长的蓝宝石衬底片精密加工技术更加复杂,是目前重点研究的难题。随着光电技术的飞速发展,光电产品对蓝宝石衬底材料需求量的日益增加,为了满足蓝宝石光学器件发展的需求,蓝宝石化学机械抛光(Chemical-Mechanical Polishing,简称CMP)的机理及技术和相关CMP浆料的选择成为急待解决的重要问题。
目前国内在蓝宝石批量加工的技术还很不成熟,在生产蓝宝石衬底片的时候产生裂痕和崩边现象的衬底片占总数比例比较高,占总数的5%~8%,在之后的研磨和抛光工序中所能够达到的抛光和研磨速率也很低(1~5μm/h),并且很多经过加工之后的蓝宝石片由于表面划痕较重,有20%左右的宝石片表面有粗深痕迹,需要重新研磨抛光,从而导致返工,而部分经过返工的蓝宝石片由于研磨抛光过度,导致厚度过薄而报废,这样就大大提高了蓝宝石衬底片加工的成本。
要实现高速率、低成本、低粗糙度,除设备、抛光布和工艺的硬件外,最关键的是抛光液。而目前抛光液中磨料多选用硬度较大的Al2O3,利用其强的机械作用来提高速率,而我们采用加强化学作用,降低机械作用的方法,实现了高速率,低粗糙,低成本。
发明内容
本发明是为了解决公知蓝宝石衬底材料抛光液在抛光过程中存在的衬底片表面去除速率低、粗糙度高、易划伤、易蹋边等问题,而公开一种化学作用强、去除速率快、表面粗糙度低、无划伤,且成本低的蓝宝石衬底材料抛光液。
本发明蓝宝石衬底材料抛光液,其特征是,所述抛光液成分和重量%比组成如下:
硅溶胶 1~90; 碱性调节剂 1.5~20;
醚醇类活性剂 0.5~10; 去离子水 余量。
本发明所述硅溶胶是粒径15~40nm的SiO2溶胶,其浓度1%~50%。
本发明所述的碱性调节剂为KOH和胺碱,KOH和胺碱的比例为1∶1~15;所述的胺碱是多羟多胺类有机碱,为乙二胺四乙酸四(四羟乙基乙二胺)。
本发明所述的醚醇类活性剂是非离子活性剂,如FA/O表面活性剂、OII-7((C10H21-C6H4-O-CH2CH2O)7-H)、OII-10((C10H21-C6H4-O-CH2CH2O)10-H)、O-20(C12-18H25-37-C6H4-O-CH2CH2O)70-H),OS15的一种。
本发明蓝宝石衬底材料抛光液的制备方法,其特征是,包括以下步骤(组分为重量%):
(1)将粒径15~25nm的磨料用不同倍数的去离子水稀释,去离子水含量0~60%;
(2)用pH调节剂调整pH值,使其pH值控制在11~13.5范围内;
(3)在调整完pH后,边搅拌边加入0.5~10%的醚醇类活性剂,制成抛光液。
本发明具有如下有益效果和优点:
1.选用复合碱,使纳米SiO2溶胶在高pH(>13)值下仍处于稳定状态。
2.选用乙二胺四乙酸四(四羟乙基乙二胺)有机碱作为抛光液pH调节剂,可起到缓冲剂的作用,磨料稳定剂的作用,又可生成大分子产物且溶于水,使反应产物在小的机械作用下即可脱离加工表面,同时还能起到络合及螯合作用,实现反应剂一剂多用,降低成本。
3.选用表面活性剂,增加了高低选择比,大大降低了表面张力、减小了损伤层,增强纳米SiO2溶胶在强碱下的稳定性,提高质量传输速率,增强输运过程,达到高平整高光洁易清洗表面。
4.本发明的碱性抛光液,可对设备无腐蚀,起到钝化作用,硅溶胶稳定性好,解决了酸性抛光液污染重、易凝胶等诸多弊端;利用基片材料的两性性,pH值11以上时,易生成可溶性的化合物,从而易脱离表面;
5.选用纳米SiO2溶胶作为抛光液磨料,其粒径小(15~25nm)、浓度高(40~50%)、硬度6~7(对基片损伤度小)、分散度好(易清洗),可提高表面一致性,同时起到小搅拌器作用,能够达到高速率高平整低损伤抛光、污染小,解决了Al2O3磨料硬度大易划伤、易沉淀等诸多弊端;
6.选用KOH作用强碱,能够快速的与待加工材料进行反应,起到增强化学作用的目的。
目前国际上的水平是:(1)去除速率1~5μm/h;(2)表面粗糙度达到0.1~1nm;(3)平整度<0.5μm/φ75mm。本发明现有水平:去除速率10~18μm/h;表面粗糙度达到0.1~0.3nm。
本发明中各组分的作用分别为:
纳米SiO2溶胶作为抛光液磨料,其粒径小(15~40nm)、浓度高(>40%)、硬度小(对基片损伤度小)、分散度好,能够达到高速率高平整低损伤抛光、污染小,解决了Al2O3磨料硬度大易划伤、易沉淀等诸多弊端;
胺碱作为抛光液pH调节剂,可起到缓冲剂的作用,既可实现高pH值(>13)磨料稳定存在,又可生成大分子产物且溶于水,使反应产物在小的机械作用下即可脱离加工表面,同时还能起到络合及螯合作用,实现反应剂一剂多用,降低成本。
KOH作用强碱,能够快速的与待加工材料进行反应,起到增强化学作用的目的。
表面活性剂可降低表面张力,提高凹凸选择比,又能起到渗透和润滑作用,从而有效的提高了交换速率,增强了输运过程,达到高平整高光洁表面。
具体实施方式
下面结合实施例对本发明做进一步描述。
本发明抛光液实施例1~实施例5的成分和重量%比组成如下:
硅溶胶 | 碱性调节剂 | 醚醇类活性剂 | 去离子水 | |
1 | 浓度50%,粒径30~40nm,40g | KOH 40g,乙二胺四乙酸四(四羟乙基乙二胺)520g | FA/O表面活性剂400g | 3000g |
2 | 浓度40%,粒径15~20nm,2000g | KOH 24g乙二胺四乙酸四(四羟乙基乙二胺)154g | FA/O表面活性剂32g | 1800g |
3 | 浓度30%,粒径25~30nm,3600g | KOH 20g乙二胺四乙酸四(四羟乙基乙二胺)90g | FA/O表面活性剂10g | 280g |
4 | 浓度20%,粒径20~30nm,800g | KOH 40g乙二胺四乙酸四(四羟乙基乙二胺)200g | OII-7((C10H21-C6H4-O-CH2CH2O)7-H)200g | 2600g |
5 | 浓度5%,粒径30~40nm,2000g | KOH 24g乙二胺四乙酸四(四羟乙基乙二胺)154g | OII-10((C10H21-C6H4-O-CH2CH2O)10-H)32g | 1800g |
以实施例1来描述本发明的制备过程:
取粒径30~40nm纳米50%SiO2溶胶40g,边搅拌边放入3000g去离子水,然后称40gKOH用200g去离子水稀释后边搅拌边倒入上述液体。再分别取520g乙二胺四乙酸四(四羟乙基乙二胺),400gFA/O活性剂边搅拌边倒入上述液体。搅拌均匀后得蓝宝石衬底抛光液。
Claims (6)
1.一种蓝宝石衬底材料抛光液,其特征是,所述抛光液成分和重量%比组成如下:
硅溶胶 1~90; 碱性调节剂 1.5~20;
醚醇类活性剂0.5~10; 去离子水 余量。
2.根据权利要求1所述的抛光液,其特征是,所述硅溶胶是粒径15~40nm的SiO2溶胶,其浓度1%~50%。
3.根据权利要求1所述的抛光液,其特征是,所述的碱性调节剂为KOH溶液和胺碱,KOH和胺碱的比例为1∶1~15。
4.根据权利要求1所述的抛光液,其特征是,所述的胺碱是多羟多胺类有机碱,为乙二胺四乙酸四(四羟乙基乙二胺)。
5.根据权利要求1所述的抛光液,其特征在于:所述的醚醇类活性剂为FA/O表面活性剂、OII-7((C10H21-C6H4-O-CH2CH2O)7-H)、OII-10((C10H21-C6H4-O-CH2CH2O)10-H)、O-20(C12-18H25-37-C6H4-O-CH2CH2O)70-H)、OS15的一种。
6.一种蓝宝石衬底材料抛光液的制备方法,其特征是,包括以下步骤(组分为重量%):
(1)将粒径15~25nm的硅溶胶用不同倍数的去离子水稀释,去离子水含量0~60%;
(2)用碱性调节剂调整pH值,使其pH值控制在11~13.5范围内;
(3)在调整完pH后,边搅拌边加入0.5~10%的醚醇类活性剂。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CNA2006100139819A CN1858137A (zh) | 2006-05-31 | 2006-05-31 | 蓝宝石衬底材料抛光液及其制备方法 |
US11/753,219 US7578890B2 (en) | 2006-05-31 | 2007-05-24 | Method for removing contaminants from silicon wafer surface |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CNA2006100139819A CN1858137A (zh) | 2006-05-31 | 2006-05-31 | 蓝宝石衬底材料抛光液及其制备方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN1858137A true CN1858137A (zh) | 2006-11-08 |
Family
ID=37297095
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CNA2006100139819A Pending CN1858137A (zh) | 2006-05-31 | 2006-05-31 | 蓝宝石衬底材料抛光液及其制备方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7578890B2 (zh) |
CN (1) | CN1858137A (zh) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN101901783B (zh) * | 2010-07-21 | 2012-05-30 | 河北工业大学 | 超大规模集成电路铝布线抛光后晶片表面洁净处理方法 |
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2006
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C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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