CN1828738A - 测试盘 - Google Patents

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Abstract

对于传统的测试盘，当光头用于对DVD－系列的光盘(DVD－R和DVD－RW)和DVD+系列的光盘(DVD+R和DVD+RW)进行信号评测时，更换测试盘很费时间，导致测试效率低下。本发明提供一种测试盘，其在单一玻璃基底上形成有：设有具有凹坑或没有凹坑的区域的多个区，和设有以不同参数形成摆动和平面预刻凹坑的区域的多个区。根据本发明的测试盘能可靠地用于信号评测，使用寿命长，制造成本低。

Description

测试盘
技术领域
本发明涉及一种测试盘(test disc)结构，尤其涉及一种用于检测光盘设备的测试盘结构。
背景技术
在DVD刻录/回放设备的生产线上，在用于将光头(pickup)和前端系统(执行伺服控制的部分)装配起来的组装过程中，当其装配完成后进行对DVD的测试性刻录。如果此时刻录失败，则判断为装配有缺陷，但是仍有必要找出是光头还是前端系统应对刻录失败负责。因此理想的是，在组装过程之前，即在光头的批量生产过程中，由光头自身将光头的性能评测为刻录光头。
作为用于评测光头的测试盘，可使用商用的DVD/CD混合玻璃盘。但是，由于这些测试盘具有DVD-ROM或者CD-ROM的不同格式，因此它们不完全适用于评测刻录光头(对用于回放的测试盘，例如可参见日本专利JP AH9-274740)。对于可刻录DVD(DVD-R，DVD-RW，DVD+R以及DVD+RW)，还有必要附加进行摆动(wobble)信号评测和平面预刻凹坑(land prepit，LPP)信号评测。
因此，在光头批量生产过程中包含对于可刻录DVD的光头信号评测的情况下，进行信号评测的一种方式就是利用商用的测试盘，这种测试盘使用聚碳酸酯作为其基底，并且其格式符合多种可刻录DVD标准。另一方面，例如日本专利JP A H7-93829公开了一种作为测试盘的光盘，其中在有意偏离平面或沟的中心的位置上形成了预定格式的凹坑。
不便之处在于，当上述商用的测试盘用于对DVD-系列光盘(DVD-R及DVD-RW)和DVD+系列光盘(DVD+R及DVD+RW)进行信号评测时，更换测试盘很费时间。此外，如果需要检查光头对低质量光盘的容错能力(这已经成为可刻录DVD市场的一个问题)，则还要更多时间来更换光盘，而这降低了测试效率。另一方面，当上述日本专利JP A H7-93829所公开的光盘用作测试盘时，可以检查光头对具有平面预刻凹坑的低质量DVD-系列光盘的容错能力，却不能对DVD+光盘进行信号评测。因此，这也降低了测试效率。
还存在如下不便之处。使用聚碳酸酯基底的测试盘容易产生翘曲变形。这使得它们不能可靠地用于信号评测。使用聚碳酸酯基底的测试盘也容易受到刮擦，从而缩短其使用寿命。这使得它们在制造成本上是不利的。在记录层中使用有机染料膜的测试盘，如只添加式(append-only)DVD(DVD-R及DVD+R)，其易于发生特性的长期性变化，这也使得它们不能可靠地用于信号评测。
发明内容
本发明的目的在于提供一种测试盘，这种测试盘可以极大地提高对用于DVD刻录的光头的测试效率。
为了达到上述目的，按照本发明的测试盘包括：第一区，其内设有已刻录区和未刻录区；第二区，其内设有已刻录区和未刻录区；第三区，其内设有至少一个摆动频率不同于140kHz的区域；第四区，其内设有至少一个摆动频率不同于817kHz的区域；第五区，其内设有至少一个摆动相位差不同于180度的区域；第六区，其内设有多个区，如在盘平面(land surface)内所看到的，在所述多个区之间形成的平面预刻凹坑的方向彼此不同；及第七区，其内设有多个区，如沿着光轨方向所看到的，在所述多个区之间形成的平面预刻凹坑的长度彼此不同。在这里，第一、第三、第六和第七区用于对DVD-系列的光盘进行信号评测，而第二、第四和第五区用于对DVD+系列的光盘进行信号评测。
利用此结构，可以使用单张光盘对DVD-系列的光盘和DVD+系列的光盘进行光头的信号评测，并且检查光头对低精度的可刻录DVD、例如低质量光盘的容错能力。因此，可以极大提高对用于DVD刻录的光头的测试效率。
根据本发明，优选地，如上述构成的测试盘还包括基底；而且，第一、第二、第三、第四、第五、第六和第七区都形成在基底上；并且，已刻录区形成有凹坑，而未刻录区没有形成凹坑。
利用此结构，凹坑形成于基底上。这样就无需刻录层，并因此消除了对前述的特性长期性变化的担心。
根据本发明，优选地，基底由玻璃形成。这使得测试盘不会产生翘曲变形，能可靠地用于信号评测，并且耐刮擦。因此，该测试盘的使用寿命长，制造成本低。
附图说明
图1为根据本发明的测试盘中设置的玻璃基底的局部剖视图；
图2为根据本发明的测试盘沿径向的不同区的布局的示例图；
图3为在盘平面内沿不同方向形成为点的平面预刻凹坑的示例图；
图4为沿光轨方向形成为不同长度的平面预刻凹坑的示例图；以及
图5为利用根据本发明的测试盘测试光头的过程的流程图。
具体实施方式
以下描述根据本发明的测试盘结构的实例。图1为根据本发明的测试盘中设置的玻璃基底的局部剖视图。如图1所示，在玻璃基底上形成有平面1、沟2、凹坑3(形成于沟2中)和平面预刻凹坑4(仅对于DVD-系列光盘)。沟2沿光盘的径向略有弯曲(meander)，产生摆动。如果激光波长为λ，则沟2形成为其深度为λ/8，凹坑3的深度为λ/8，平面预刻凹坑4的深度为λ/4。在玻璃基底的顶部上铺设有反射层和保护层(附图中未示出)。在此，不需要刻录层。典型地，反射层由金、银或类似材料形成，保护层由聚碳酸酯或类似材料形成。
图2为根据本发明的测试盘沿径向的不同区的布局的示例图。从位于光盘最内侧边缘的夹持区到光盘的外边缘，形成有“a”至“i”区。“a”区为DVD-ROM格式，并在玻璃基底上形成有一系列的凹坑。
“b”、“d”、“g”和“h”区是用于对DVD-系列光盘进行信号评测的区域，而“c”、“e”和“f”区是用于对DVD+系列光盘进行信号评测的区域。
“b”区中设有已刻录区和未刻录区。在DVD-系列格式中，摆动形成于沟中，而平面预刻凹坑形成于平面上。这些平面预刻凹坑形成地址信息。在已刻录区中，凹坑3形成于沟2中(如图1)。例如，由“b”区的内缘依次形成有已刻录区和未刻录区。这使得不管是否刻录，都可以通过平面预刻凹坑和摆动进行信号评测，也可以通过平面预刻凹坑进行解码评测。
在“c”区中设有已刻录区和未刻录区。在DVD+系列格式中，摆动形成于沟中(其频率比在DVD-系列格式中更高)，而没有形成平面预刻凹坑。摆动形成为两种，其彼此具有180度的相位差。这两种摆动结合起来形成地址信息，称为ADIP。在已刻录区中，凹坑3形成于沟2中(如图1)。例如，由“c”区的内缘依次形成有已刻录区和未刻录区。这样就可以通过摆动进行信号评测，也可以通过ADIP进行解码评测。
“d”区中设有摆动频率不同于140kHz的至少一个区域，其中140kHz是DVD-系列的标准值。例如，从“d”区的中心边缘，依次形成有摆动频率为140+αkHz的区域和摆动频率为140-βkHz的区域。α和β的值基于摆动频率的限定值和已经成为市场的一个问题的低质量光盘上的信息来确定，其中在所述摆动频率的限定值内光盘被评测为符合其标准。这样就可以检查对平面预刻凹坑的解码的容错能力。
“e”区中设有摆动频率不同于817kHz的至少一个区域，其中817kHz是DVD+系列的标准值。例如，从“e”区的中心边缘，依次形成有摆动频率为817+αkHz的区域和摆动频率为817-βkHz的区域。α和β的值基于摆动频率的限定值和已经成为市场的一个问题的低质量光盘上的信息来确定，其中在所述摆动频率的限定值内光盘被评测为符合其标准。这样就可以检查对ADIP的解码的容错能力。
“f”区中设有摆动相位差不同于180度的至少一个区域，其中180度是DVD+系列的标准值。例如，从“f”区的中心边缘，依次形成有摆动相位差为180+θ度的区域和摆动相位差为180-δ度的区域。θ和δ的值基于摆动相位差的限定值和已经成为市场的一个问题的低质量光盘上的信息来确定，其中在所述摆动相位差的限定值内光盘被评测为符合其标准。这样就可以检查对ADIP的解码的容错能力。
“g”区中设有多个区，如在盘平面内所看到的，在所述多个区之间形成的平面预刻凹坑的方向彼此不同。例如，如图3所示，从“g”区的内缘，依次形成有其平面预刻凹坑的中心线被旋转从而相对于光轨的方向倾斜θ度的一个区域和其平面预刻凹坑的中心线被旋转从而相对于光轨的方向倾斜-δ度的另一个区域。θ和δ的值基于平面预刻凹坑方向的限定值和已经成为市场的一个问题的低质量光盘上的信息来确定，其中在所述平面预刻凹坑方向的限定值内光盘被评测为符合其标准。这样就可以检查对平面预刻凹坑的解码的容错能力。
“h”区中设有多个区，在所述多个区之间，如同沿着光轨方向所看到的，其中形成的平面预刻凹坑的长度彼此不同。例如，如图4所示，从“h”区的内缘，依次形成有其平面预刻凹坑沿光轨方向的长度等于L1的一个区和其平面预刻凹坑沿光轨方向的长度等于L2(＞L1)的另一个区。L1和L2的值基于光轨方向平面预刻凹坑长度的限定值和已经成为市场的一个问题的低质量光盘上的信息来确定，其中在所述光轨方向平面预刻凹坑长度的限定值内光盘被评测为符合其标准。这样就可以检查对平面预刻凹坑的解码的容错能力。
“i”区为CD-ROM格式，并在玻璃基底上形成有一系列的凹坑。
以下，参考图5所示流程图描述利用上述根据本发明的测试盘测试光头的过程。
首先，如步骤S10，将测试盘放入测试设备。该测试设备可以是用于发展光头的任何公知设备。然后，如步骤S20，将光头装在测试设备上。
如步骤S30，测试设备调整激光功率，接着，如步骤S40，光头移动至“a”区。如步骤S50，测出聚焦误差。然后，如步骤S60，启动聚焦伺服系统，进行斜度调整(skew adjustment)等等。
如步骤S70，光头移动至“b”区。如步骤S80，基于从测试盘反射的光，检查平面预刻凹坑信号和摆动信号的振幅水平是否符合标准。此外，还检查对平面预刻凹坑解码的结果。
如步骤S90，光头移动至“c”区。如步骤S100，基于从测试盘反射的光，检查摆动信号的振幅水平是否符合标准。此外，还检查对ADIP解码的结果。
随后，如步骤S110至S200，以类似方式在“d”区至“h”区中进行测试。具体而言，在涉及DVD-系列的区中，检查平面预刻凹坑信号和摆动信号的振幅水平以及对平面预刻凹坑解码的结果；在涉及DVD+系列的区中，检查摆动信号的振幅水平以及对ADIP解码的结果。
接下来，如步骤S210，光头移动至“i”区。如步骤S220，测出聚焦误差。如步骤S230，启动聚焦伺服系统，进行斜度调整等等。至此，完成测试过程。
如上所述，根据本发明的测试盘具有由玻璃形成的基底而没有刻录层。但是，也可以形成如同商用的可刻录DVD的测试盘，其具有由聚碳酸酯形成的基底，而且具有由有机染料膜或相变膜构成的刻录层。在这种情况下，例如，在“b”和“c”区的已刻录区中，如果刻录层为有机染料膜，则刻录标记是通过刻录层、基底和反射层的部分形变而形成；如果刻录层为相变膜，则刻录标记是通过使部分刻录层成为不定形态(amorphous)而形成。利用这种结构的测试盘，也可以极大地提高对光头的测试效率。

Claims (4)

1.一种测试盘，包括：
第一区，其内设有已刻录区和未刻录区；
第二区，其内设有已刻录区和未刻录区；
第三区，其内设有至少一个摆动频率不同于140kHz的区域；
第四区，其内设有至少一个摆动频率不同于817kHz的区域；
第五区，其内设有至少一个摆动相位差不同于180度的区域；
第六区，其内设有多个区域，如在盘平面所看到的，在所述多个区域之间形成的平面预刻凹坑的方向彼此不同；及
第七区，其内设有多个区域，如沿着光轨方向所看到的，在所述多个区域之间形成的平面预刻凹坑的长度彼此不同；
其中，第一、第三、第六和第七区用于对DVD-系列的光盘进行信号评测，以及
第二、第四和第五区用于对DVD+系列的光盘进行信号评测。
2.如权利要求1所述的测试盘，还包括：
基底；
其中，第一、第二、第三、第四、第五、第六和第七区都形成在该基底上，以及
所述已刻录区形成有凹坑，而所述未刻录区没有形成凹坑。
3.如权利要求2所述的测试盘，其中该基底是由玻璃形成。
4.如权利要求2或3所述的测试盘，其中还包括反射层。
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