CN1826638A - 2层盘判别方法及光盘装置 - Google Patents

Abstract

本发明的目的是使2层盘的种类(追记型2层盘、改写型2层盘、ROM型2层盘)的判别简单并且正确地进行。本发明的2层盘判别方法，具有：对于在光盘装置中装载的2层盘的各层，将波长不同的光以合焦状态照射而求各个波长光的反射率的步骤；以及根据求出的各个波长光的反射率的组合，判别所述2层盘是追记型2层盘、改写型2层盘、ROM型2层盘的哪一种的步骤，优选一个波长光的波长是DVD系列盘用波长，另一个波长光的波长是CD系列盘用波长。

Description

2层盘判别方法及光盘装置

技术领域

本发明涉及2层盘判别方法及光盘装置。

背景技术

近年，作为光盘有各种种类，除了当初的CD系列盘(CD-ROM、CD-R、CD-RW等)，以高密度记录为特征的DVD系列盘(DVD-ROM、DVD±R、DVD±RW等)也被积极地开发并达到市场销售的阶段，而且，关于一张盘，也对用于进一步增加存储容量的多层盘，一般是2层盘完成了各种方案。特别是关于2层DVD-ROM已经达到市场销售阶段。

在这样的情况下，关于装载这些各种盘的光盘装置，要求是可以以1台来应对这些各种盘的兼容型。例如，在可进行DVD系列光盘的处理的光盘装置中，不仅DVD系列的盘，还要求可以进行CD系列的光盘的记录或者再现。

在构成这样的兼容型光盘装置时，由于光盘的种类，其信息的记录或者再现方法或其条件(参数类)不同的情况很多，所以需要在记录或者再现动作之前判别该光盘装置中装载的光盘的种类。

作为与这样的盘判别有关的现有技术，例如，关于DVD型盘，可以通过照射了一个波长光时，ROM型1层盘和追记型1层盘的反射率大于等于45％，而ROM型2层盘和改写型1层盘的反射率大于等于18％小于等于30％来得知追记型盘、改写型盘、ROM型盘的不同。

以往，以CD的波长进入聚焦而观察RF信号电平，如果是高反射率(45～60％)则判别为CD-ROM或者CD-R，如果是低反射率(15％～30％)则判别为CD-RW，进而施加跟踪而观察S形曲线，从而再确认是否为CD系列。但是，在判别是CD-R还是CD-ROM时，由于需要进一步通过进行记录或者利用有无摆动等来判别，所以花费时间。在判断出不是CD时，接着转移到DVD的判别。这时，在DVD-ROM中有仅第一层的1层介质和有第一层和第二层2层的2层介质，由于1层介质的仅第一层为高反射(45％～60％)，所以可以决定，但2层介质的DVD-ROM的第一层和第二层与DVD±R2层和DVD±RW介质相同，所以仅以反射率不能判断。因此，与CD一样，在有无摆动，以及施加跟踪而观察S形曲线来确认了DVD以后，进行记录来判别是DVD-R还是DVD-RW的过程长，花费时间。

而且，按照专利文献1，提出了以下方法，即，设想兼容型光盘装置，安装CD用和DVD用两种激光光源，使这些激光光源各自暂时发光，从而得到全部基于各个激光的反射光的反射信号、聚焦误差信号、跟踪误差信号以后，根据这些信号信息综合地判别盘的种类。

而且，例如按照专利文献2，还提出了以下的盘判别方法，该方法具有实施聚焦伺服的步骤；得到从光盘得到的推挽方式的跟踪误差信号的步骤；将该跟踪误差信号的振幅与规定值进行比较，判别光盘的种类，例如DVD-RAM和DVD-RW、DVD+RW的其中一个的步骤。并且，还提出了利用摆动信号的频率的方法。

但是，在专利文献1的情况下，不预先设定2层类型的盘的判别，关于2层类型的DVD盘之间(DVD-ROM，DVD±R，DVD±RW)不能判别其种类，而且根据反射信号、聚焦误差信号、跟踪误差信号等综合地进行判断，判别处理变得复杂。

而且，在专利文献2的情况下，根据推挽信号的摆动信号的频率来进行DVD-RAM和DVD±RW的判别，可以进行这些DVD1层盘和DVD-2层ROM的判别，但是，关于2层类型的DVD盘之间(DVD-ROM、DVD±R、DVD±RW)不能判别其种类。

专利文献1：特开平11-306650号公报

专利文献2：特开2002-312933公报

发明内容

本发明的目的是使2层盘的种类(追记型2层盘、改写型2层盘、ROM型2层盘)的判别简单并且正确地进行。

上述课题通过以下1)～10)的发明(以下，称为本发明1～10)来解决。

1)一种2层盘判别方法，其特征在于，该方法具有：对于在光盘装置中装载的2层盘的各层，将波长不同的光以合焦状态照射而求各个波长光的反射率的步骤；以及根据求出的各个波长光的反射率的组合，判别所述2层盘是追记型2层盘、改写型2层盘、ROM型2层盘的哪一种的步骤。

2)如1)所述的2层盘判别方法，其特征在于，一个波长光的波长是DVD系列盘用波长，另一个波长光的波长是CD系列盘用波长。

3)如1)或2)所述的2层盘判别方法，其特征在于，被求出的各个波长光的反射率的组合，在2波长光都为大于等于15％的反射率的情况下判别为ROM型2层盘，在1波长光为大于等于15％的反射率，另外1波长光为大于等于4％小于15％的反射率的情况下，判别为追记型2层盘，在2波长光都为大于等于4％小于15％的反射率的情况下，判别为改写型2层盘。

4)如3)所述的2层盘判别方法，其特征在于，被求出的各个波长光的反射率的组合，在2波长光都为小于4％的反射率的情况下判别为规格以外的盘。

5)如1)至4)的任意一项所述的2层盘判别方法，包括：判断是1层盘还是2层盘的步骤。

6)如1)至5)的任意一项所述的2层盘判别方法，包括：判断是CD系列盘还是DVD系列盘的步骤。

7)一种光盘装置，其特征在于，所述光盘装置包括：光拾取头，具有波长不同的两个光源，对被装载的光盘选择性地照射各个波长光；记录层数判别部件，在盘种类判别模式中，判别被装载的盘是否为2层盘；反射率计算部件，在被装载的盘为2层盘的情况下，通过所述光拾取头将波长不同的光以合焦的状态对该2层盘的各层照射，从而求各个波长光的反射率；以及2层盘判别部件，根据被求出的各个波长光的反射率的组合，判别该2层盘是追记型2层盘、改写型2层盘、ROM型2层盘的哪一种。

8)如7)所述的光盘装置，其特征在于，一个光源发出的光的波长是DVD系列盘用波长，另一个光源发出的光的波长是CD系列盘用波长。

9)如7)或8)所述的光盘装置，其特征在于，所述2层盘判别部件在被求出的各个波长光的反射率的组合，2波长光都为大于等于15％的反射率的情况下判别为ROM型2层盘，在1波长光为大于等于15％的反射率，另外1波长光为大于等于4％小于15％的反射率的情况下，判别为追记型2层盘，在2波长光都为大于等于4％小于15％的反射率的情况下，判别为改写型2层盘。

10)如9)所述的光盘装置，其特征在于，所述2层盘判别部件在被求出的各个波长光的反射率的组合，2波长光都为小于4％的反射率的情况下判别为规格以外的盘。

按照上述发明1，可以利用照射了不同的波长光时的反射率的组合的不同来简单并且正确地判别2层盘的种类。

而且，按照上述发明2，可以利用所谓DVD系列和CD系列兼容型光盘装置中装载的两个光源，容易地判别2层盘的种类。

而且，按照上述发明3，除了实现本发明1或2，还可以使2层盘的反射率的组合的不同的范围明确。

而且，按照上述发明4，关于规格外的盘也可以进行适当地判别。

而且，按照上述发明5，可以适当地选择区分2层盘。

而且，按照上述发明6，可以适当地选择区分DVD系列2层盘。

而且，本发明的1～4的作用和效果也可以通过本发明7～10的光盘装置同样实现。

附图说明

图1是主体地表示本发明的一个实施方式的光盘装置的信号处理系统的方框结构图。

图2是表示盘种类判别处理例的概略流程图。

图3是表示盘种类判别处理例的后续的概略流程图。

具体实施方式

根据附图说明本发明的一个实施方式。

本实施方式的光盘装置表示对CD/DVD系列兼容型的光盘装置1的应用例，图1是主体地表示该光盘装置的信号处理系统的方框结构图。

即，本实施方式是对光盘装置的应用例，该光盘装置具有内置了发出CD系列用的波长780nm的激光的半导体激光(光源)2和DVD系列用的波长660nm的激光的半导体激光(光源)3的芯片的光源单元4的光拾取头装置5，可对CD系列/DVD系列1层型/DVD系列2层型的光盘6共用。更具体来说，是作为光盘6，可利用CD-ROM、CD-R、CD-RW、DVD-ROM、DVD±R、DVD±RW、DVD-2层ROM(ROM型2层盘)、DVD±2层R(追记型2层盘)、DVD±2层RW(改写型2层盘)的光盘装置的例子。

在图1的光盘装置1中，光盘6被构成旋转驱动机构的主要部分的轴电动机26旋转驱动。该轴电动机26通过电动机驱动器7和伺服部件8例如线速度一定地进行控制。该线速度可以分级地变更。光拾取头装置5除了内置半导体激光器2和3、对应物镜(未图示)等的光学系统，跟踪/聚焦调节器(未图示)等，还内置光接收元件和位置传感器，对光盘6照射来自被择一地驱动的半导体激光器2或者3的激光。而且，该光拾取头装置5可以通过查找电动机(seek motor)(未图示)向锤击(sledge)方向移动。这些跟踪/聚焦调节器以及查找电动机根据从光接收元件和位置传感器得到的信号，通过电动机驱动器7和伺服部件8进行控制，以使激光的点位于光盘6上的目的场所。

然后，在读出时，由光拾取头装置5得到的再现信号由再现信号处理电路11放大而被二值化后，被输入CD/DVD解码器12。被输入的二值化数据在该CD/DVD解码器12中被EFM(Eight to Fourteen Modulation，8-14调制)解调。而且，记录数据每8比特被集中进行EFM调制，在该EFM调制中，将8比特变换为14比特，附加3比特结合比特合计为17比特。这时，结合比特以此前的“1”和“0”的数量平均地相等那样来进行附加。将其称为“DC分量的抑制”，被DC截止的再现信号的限制电平变动被抑制。

被解调的数据进行去交织和差错订正的处理。之后，该数据被输入CD/DVD-ROM解码器13，为了提高数据的可靠性，再次进行差错订正的处理。这样进行了两次差错订正的处理的数据通过缓存管理器14被暂时存储在缓存RAM15中，在作为扇区数据对齐的状态下，经由ATAPI/SCSI接口16一次传送到主计算机30。而且，在音乐数据的情况下，从CD/DVD解码器12输出的数据被输入到D/A转换器17，被作为模拟的音频输出信号音频(Audio)40取出。

而且，在写入时，通过ATAPI/SCSI接口16从主计算机送来的数据，通过缓存管理器14暂时被存储在缓存RAM15中。然后，在缓存RAM15中积累了某程度的量的数据的状态下，开始写入动作，但在这时，需要在此之前使激光点位于写入开始地点。该地点通过由轨道的蛇行而预先刻在光盘6上的摆动信号求出。

在摆动信号中包括被称为ATIP的绝对时间信息，该信息通过ATIP解码器18取出。而且，由该ATIP解码器18生成的同步信号被输入CD编码器19，可以对光盘6上的正确位置进行数据写入。缓存RAM15的数据在CD-ROM编码器20和CD编码器19中，进行差错订正码的附加和交织(interleave)，经由CD-R/RW用的激光控制器21、光拾取头装置5中的半导体激光器2记录在光盘6中。

而且，这样的光盘装置的整体的控制由具有ROM22、RAM23并构成为微计算机的CPU24控制，在装载了DVD-系列的光盘6的情况下，通过DVD用的激光控制器25使光拾取头装置5中的半导体激光器3发光，从而执行对光盘6的记录或者再现动作。由此，激光控制器21、25和CPU24作为根据光盘6的种类而使光源单元4中的半导体激光器2、3择一地选择驱动的光源驱动部件起作用。

在这样的基本的结构中，在本实施方式中，在该光盘装置1中装载了光盘6的情况下，应执行用于判别该盘种类的盘种类判别模式的处理，但是，特别在作为光盘6装载了2层盘(DVD-ROM、DVD±R、DVD±RW)的情况的种类的判别法中具有特征。

即，在本实施方式中，在对这些2层盘的记录或者再现动作中，实际上将不使用的CD系列用的半导体激光器2的光和本来记录或者再现用的半导体激光器3的光一起使用，从而求各个波长光的反射率，着眼于各个波长光的反射率的组合由于2层盘的种类而不同这点，对应于该组合来判别2层盘的种类。

首先，作为这种2层盘，准备DVD+R(色素系列样品)、DVD+RW(相变化型样品)以及DVD-ROM(坑型介质)，在测量了照射了DVD用的660nm的波长光时的反射率和照射了CD用的780nm的波长光时的反射率后，作为该数据例(标准)得到表1所示的结果。

〔表1〕

	DVD波长660nm	CD波长780nm
			DVD+R色素系列样品	18	6
DVD+RW相变化型样品	8	5
			DVD-ROM坑型介质	23	23

另外，作为1层盘，准备DVD+R(色素系列样品)、DVD+RW(相变化型样品)以及DVD-ROM(坑型介质)，在测量了照射了DVD用的660nm的波长光时的反射率和照射了CD用的780nm的波长光时的反射率后，作为该数据例(标准)得到表2所示的结果。

〔表2〕

	DVD波长660nm	CD波长780nm
			DVD+R色素系列样品	48	8
DVD+RW相变化型样品	20	12
			DVD-ROM坑型介质	55	55

首先，按照表1所示的数据例(标准)，在通过反射率判别2层盘的种类时，根据660nm、780nm的各个波长光中的反射率的组合，可以判断：

·在2波长光都为大于等于15％的反射率的情况下：DVD-ROM

·在DVD波长光为大于等于15％的反射率，而CD波长光为大于等于4％小于15％的反射率的情况下：DVD+R

·在2波长光都为大于等于4％小于15％的反射率的情况下：DVD+RW。

而且，在2波长光都为小于4％的反射率的情况下可以判别为规格外盘。

而且，在2层盘中，对于DVD-R和DVD-RW，由于DVD-R和DVD+R、DVD-RW和DVD+RW的反射率分别相同，所以与DVD+R和DVD+RW一样，可以由DVD-ROM等进行判别。而且，因为DVD-R、DVD-RW在盘半径23.9mm到24mm附近形成坑，所以如果以30KHz程度的低通滤波器观察该盘半径部分的各介质的反射率时，反射率为未记录状态的6成至7成的区域，则为DVD-R或者DVD-RW，可以从DVD+R、DVD+RW进行判别。

另外，关于DVD1层盘，如已经市场销售的驱动器执行的那样，由大于等于45％的反射率可判断为DVD-ROM或者DVD-R，由小于等于30％大于等于18％的反射率可判断为DVD-RW，但关于这样的DVD1层盘，如也利用表2所示的波长对应的反射率特性，则可以进行以下判断：

·在2波长光都为大于等于45％的反射率的情况下：DVD-ROM

·在DVD波长光为大于等于45％的反射率，而CD波长光为大于等于5％小于18％的反射率的情况下：DVD+R

·在DVD波长光为大于等于18％小于等于30％的反射率，而CD波长光为大于等于5％小于18％的反射率的情况下：DVD+RW

·在2波长光都为小于5％的反射率的情况下可以判别为规格外盘。

利用这样波长对应的反射率特性，在本实施方式的光盘装置1中，在CPU24的控制下，进行了按照图2和图3所示的概略流程图的盘种类判别处理，特别是2层盘种类判别处理。

在本实施方式中，在装载了光盘6的情况下，作为盘种类判别处理模式被编程，以执行以下的判别处理。

始终监视是否装载了某光盘6(步骤S1)，在检测到盘装载时(S1的“是”)，一边驱动轴电动机26使该光盘6旋转(S2)，一边转移到盘种类判别模式的执行(S3)。

然后，使作为一方的光源的DVD用的半导体激光器3发光驱动(S4)，经由伺服部件8、电动机驱动器7、聚焦调节器等将激光的焦点位置以一定速度向聚焦方向运动，进行所谓的聚焦扫描(sweep)(S5)。将在该聚焦扫描时得到的反射光量信号、聚焦误差信号经由再现信号处理电路11取入(S6)，根据这些信号计算从光盘6的表面到记录面的距离，根据该距离，首先判别该光盘6是CD系列盘还是DVD系列盘(S7)。如公知的那样，利用在CD系列盘的情况下约为1.2mm，在DVD系列盘的情况下约为0.6mm的情况。

该判别的结果，在根据规定以上的距离(厚度)判别为CD系列盘的情况下(S7的“否”)，以后，例如通过专利文献2等中公知的方法来进行CD盘的种类的判别处理就可以。

另一方面，在根据规定以下的距离(厚度)判别为DVD系列盘的情况下(S7中的“是”)，根据反射光量信号和聚焦误差信号判别该光盘6的记录面的层数(S8)。该步骤S8的处理作为记录层数判别部件的功能来执行，关于该技术，也在例如专利文献2等中公知，所以省略细节。

层数判别的结果，在判别为2层盘的情况下(S8的“是”)，通过将该半导体激光器3的照射光以合焦到第1记录层(第1层)的状态照射以后的反射光由光接收元件接收，并且用再现信号处理电路11处理得到的RF信号电平来求其反射率(S9)，进而对第2记录层(第2层)进行聚焦引入(S10)，通过用光接收元件接收将半导体激光器3的照射光以合焦状态对第2记录层(第2层)照射时的反射光，并由再现信号处理电路11处理而得到的RF信号电平来求其反射率(更具体来说，设定用再现光功率预先检查的绝对反射率对应的RF信号电平，通过与该值的比较来求反射率就可以)(S11)。被求出的反射率被暂时存储在RAM23等中。

接着，取代半导体激光器3而使CD用的780nm的波长的半导体激光器2发光(S12)，对第1记录层(第1层)进行聚焦引入(S13)，通过用光接收元件接收将半导体激光器2的照射光以合焦状态对第1记录层(第1层)照射时的反射光，并由再现信号处理电路11处理而得到的RF信号电平来求其反射率(S14)。进而，对第2记录层(第2层)进行聚焦引入(S15)，通过用光接收元件接收将半导体激光器2的照射光以合焦状态对第2记录层(第2层)照射时的反射光，并由再现信号处理电路11处理而得到的RF信号电平来求其反射率(S16)。被求出的反射率也被暂时存储在RAM23等中。

这些步骤S9～S16的处理被作为反射率计算部件的功能执行。

然后，根据被求出的各个波长光中的反射率的组合，利用如前所述的阈值来判别该光盘6的种类。

即，在2波长光都为大于等于15％的反射率的情况下(S17的“是”)，判别为DVD-ROM(S18)。

而且，在DVD波长光为大于等于15％的反射率，而CD波长光为大于等于4％小于15％的反射率的情况下(S17的“否”，S19的“是”)，判别为DVD+R(S20)。

而且，在2波长光都为大于等于4％小于15％的反射率的情况下(S17的“否”，S19的“否”，S21的“是”)，判别为DVD+RW(S22)。

进而，在2波长光都为小于4％的反射率的情况下(S21的“否”)，判别为规格外盘(S23)。

这些步骤S17～S23的处理作为2层盘判别部件的功能执行。

这样2层盘的判别结果被提供给这之后的记录或者再现动作用的装置设定等。

而且，层数判别的结果，作为在被判别为1层盘的情况下(S8的“否”)的处理，与以往一样进行以后的判别处理就可以，但利用2波长光如图3所示那样执行也可以。

首先，通过用光接收元件接收将半导体激光器3的照射光以合焦状态对第2记录层(第2层)照射时的反射光，并由再现信号处理电路11处理而得到的RF信号电平来求其反射率(S31)。被求出的反射率被暂时存储在RAM23等中。

接着，取代半导体激光器3而使CD用的780nm的波长的半导体激光器2发光(S32)，对记录层进行聚焦引入(S33)，通过用光接收元件接收将半导体激光器2的照射光以合焦状态对记录层照射时的反射光，并由再现信号处理电路11处理而得到的RF信号电平来求其反射率(S34)。被求出的反射率也被暂时存储在RAM23等中。

然后，根据被求出的各个波长光中的反射率的组合，如前所述那样利用阈值判别该光盘6的种类。

即，2波长光都为大于等于45％的反射率的情况下(S35的“是”)，判别为DVD-ROM(S36)。

而且，在DVD波长光为大于等于45％的反射率，而CD波长光为大于等于5％小于18％的反射率的情况下(S35的“否”，S37的“是”)，判别为DVD+R(S38)。

而且，在DVD波长光为大于等于18％小于等于30％的反射率，而CD波长光为大于等于5％小于18％的反射率的情况下(S35的“否”，S37的“否”，S39的“是”)，判别为DVD+RW(S40)。

在2波长光都为小于5％的反射率的情况下(S39的“否”)，判别为规格外盘(S41)。

接着，对基于2层盘的具体例的判别处理结果进行说明。

〔具体例1〕

在DVD+RW(2层相变化型样品)的情况下，在具有引导沟的第1透明基板(聚碳酸酯)上，依次设置第1保护层(ZnSSiO₂，厚度70nm)，第1信息记录层(Ag₅In₅Ge₅Sb₆₇Te₁₈，厚度17nm)，第2保护层(ZnSSiO₂，厚度17nm)，在其上设置容易散热的反射层(Ag，厚度120nm)而形成了第1信息记录结构体。

另一方面，在具有引导沟的透明基板(聚碳酸酯)上，依次设置保护层(ZnSSiO2，厚度65nm)，记录层(Ag₅In₅Ge₅Sb₆₇Te₁₈，厚度7nm)，保护层(ZnSSiO2，厚度18nm)，ZrCO层(厚度3nm)，反射层Ag，厚度10nm)，半透明层(ITO，In₂O₃和SnO的混合物，厚度100nm)而形成了第2记录层结构体。

将该第1记录层结构体和第2记录层结构体用厚度55μm的UV硬化树脂(SD318)粘合而得到2层盘。

设第1记录层结构体的基板轨道间距0.8μm，第2记录层结构体的基板轨道间距0.74μm。

对上述2层盘进行了伺服控制后，以DVD波长＝660nm，聚焦良好地进入2层，各层的反射率为7％和8％，而且，即使在CD波长＝780nm时，各层的反射率检测为8％和10％，如果按照图2所示的概略流程，则2波长光都为大于等于4％小于15％的反射率，通过步骤S21、S22，可以判断为2层的DVD+RW。

〔具体例2〕

在具体例1中作成的盘的光入射面和反射面上丝网(screen)印刷(紫外线硬化)喷漆(lacquer)，光入射面上增加该树脂面而装载到光盘装置1的结果是根据以DVD波长＝660nm和CD波长＝780nm进行了聚焦时的RF信号求出的反射率为1％，判断为不是ROM型、R型、RW型的任何一个。即，按照图2所示的概略流程，由步骤S23可以判别为规格外的盘。

〔具体例3〕

在聚碳酸酯制的第1基板上，以旋转覆盖(スピンコ一ト)方式形成第1色素层(花青)，在其上作为第1半透明层，以溅射方式形成了IZO(In₂O₃和ZnO的混合物)。另一方面，在聚碳酸酯制的第2基板上，作为第2半透明层，以溅射方式形成了IZO以后，以旋转覆盖方式形成了第2色素层(花青)。接着，将形成了第1色素层等的第1基板和形成了第2色素层的第2基板相互对置，以使色素层位于内侧，从而以UV硬化树脂(SD318)粘合得到2层盘。

而且，各结构层的厚度如下那样控制来制作。

两基板：0.6mm，第1色素层：60nm，第1半透明层：80nm，树脂中间层：55μm，第2色素层：70nm，第2半透明层：100nm

而且，设第1基板的轨道间距为0.74μm，第2基板的轨道间距为0.80μm。

对上述2层盘进行了伺服控制以后，以DVD波长＝660nm，聚焦良好地进入2层，各层的反射率为19％和18％，而且，即使在CD波长＝780nm时，各层的反射率检测为5％和6％，如果按照图2所示的概略流程，则DVD波长光的反射率大于等于15％而CD波长光的反射率大于等于4％小于15％，通过步骤S19、S20，可以判断为2层的DVD+R。

〔具体例4〕

在聚碳酸酯制的第1基板上(加入坑)，作为第1无机层以厚度10nm溅射方式形成SiN，而且，另一方面，在聚碳酸酯制的第2基板上，作为第2无机层以厚度100nm溅射方式形成Al₉₉Ti₁以后，将这些基板相对配置，以使无机层位于内侧，从而用UV硬化树脂(SD318，厚度55μm)粘合。设第1基板的轨道间距为0.74μm，第2基板的轨道间距为0.8μm。

在对上述2层盘进行了伺服控制以后，以DVD波长＝660nm，聚焦良好地进入2层，各层的反射率为25％和26％，而且，即使在CD波长＝780nm时，各层的反射率被检测为26％和27％，如果按照图2所示的概略流程，则2波长光都为大于等于15％的反射率，通过步骤S17、S18，可以判断为2层的DVD-ROM。

按照本发明1和7，利用照射了不同的波长光时的反射率的组合的不同，对2层盘判别其种类，所以仅以反射率就可以简单并且正确地判别其种类。

按照本发明的2和8，通过利用所谓与DVD系列和CD系列兼容型盘装置中安装的两个光源，可以容易实现本发明1和7。

按照本发明的3和9，除了实现本发明的1、2、7和8，2层盘的反射率的组合的不同的范围也变得明确。

按照本发明4和10，对规格外盘也可以进行恰当的判别。

Claims (10)

1、一种2层盘判别方法，其特征在于，该方法具有：

对于在光盘装置中装载的2层盘的各层，将波长不同的光以合焦状态照射而求各个波长光的反射率的步骤；以及

根据求出的各个波长光的反射率的组合，判别所述2层盘是追记型2层盘、改写型2层盘、ROM型2层盘的哪一种的步骤。

2、如权利要求1所述的2层盘判别方法，

一个波长光的波长是DVD系列盘用波长，另一个波长光的波长是CD系列盘用波长。

3、如权利要求1或2所述的2层盘判别方法，

被求出的各个波长光的反射率的组合，在2波长光都为大于等于15％的反射率的情况下判别为ROM型2层盘，在1波长光为大于等于15％的反射率，另外1波长光为大于等于4％小于15％的反射率的情况下，判别为追记型2层盘，在2波长光都为大于等于4％小于15％的反射率的情况下，判别为改写型2层盘。

4、如权利要求3所述的2层盘判别方法，

被求出的各个波长光的反射率的组合，在2波长光都为小于4％的反射率的情况下判别为规格以外的盘。

5、如权利要求1至4的任意一项所述的2层盘判别方法，包括：

判断是1层盘还是2层盘的步骤。

6、如权利要求1至5的任意一项所述的2层盘判别方法，包括：

判断是CD系列盘还是DVD系列盘的步骤。

7、一种光盘装置，其特征在于，所述光盘装置包括：

光拾取头，具有波长不同的两个光源，对被装载的光盘选择性地照射各个波长光；

记录层数判别部件，在盘种类判别模式中，判别被装载的盘是否为2层盘；

反射率计算部件，在被装载的盘为2层盘的情况下，通过所述光拾取头将波长不同的光以合焦的状态对该2层盘的各层照射，从而求各个波长光的反射率；以及

2层盘判别部件，根据被求出的各个波长光的反射率的组合，判别该2层盘是追记型2层盘、改写型2层盘、ROM型2层盘的哪一种。

8、如权利要求7所述的光盘装置，

一个光源发出的光的波长是DVD系列盘用波长，另一个光源发出的光的波长是CD系列盘用波长。

9、如权利要求7或8所述的光盘装置，

所述2层盘判别部件在被求出的各个波长光的反射率的组合，2波长光都为大于等于15％的反射率的情况下判别为ROM型2层盘，在1波长光为大于等于15％的反射率，另外1波长光为大于等于4％小于15％的反射率的情况下，判别为追记型2层盘，在2波长光都为大于等于4％小于15％的反射率的情况下，判别为改写型2层盘。

10、如权利要求9所述的光盘装置，

所述2层盘判别部件在被求出的各个波长光的反射率的组合，2波长光都为小于4％的反射率的情况下判别为规格以外的盘。

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