CN1790492A - 光盘装置及光盘评价方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种更详细地实施用于抖动特性评价的分析的光盘装置。在将激光照射到光盘，接收根据记录在上述光盘上的标记而变化的上述激光的反射光，根据上述反射光的光量所对应的再生信号来进行上述光盘评价的光盘装置中，具有：根据上述再生信号的2值化信号中的各上升沿及下降沿的第1定时，和对上述2值化信号进行相位跟踪的同步时钟信号中的上升沿或下降沿的第2定时之间的相位大致一致的关系，测量上述第1定时和以该第2定时为基准、偏离了上述同步时钟信号的规定相位的上述同步时钟信号的第3定时之间的相位差的测量电路。

Description

光盘装置及光盘评价方法

技术领域

本发明涉及光盘装置及其光盘评价方法。

背景技术

以前，作为光盘评价装置，使用被称为“抖动特性测定仪(jitter meter)”的评价装置(例如，参照以下所示的专利文献1)。这样的评价装置定量地对被称之为“抖动特性”的、从光盘得到的再生信号的污点情况进行测定。但是，专用的抖动特性测定仪价格高，不能简单地进行抖动特性评价。因此，提出了利用向光盘进行信息记录及/或再生的装置(以下，称为“光盘装置”)来进行抖动特性评价的方法。

图10示出了具有抖动特性评价功能的CD记录再生装置100。

首先，对CD记录再生装置100中的光盘11的普通再生动作进行说明。

光拾器10接收照射到光盘11上的激光的反射光，并将该反射光的强弱作为电压值的变化而取出。伺服电路12控制对应光盘11的光拾器10的读取位置，以便按正确的顺序由光拾器10读出存储在光盘11中的、与标记(mark)或空间(space)对应的数据。

在此，所谓标记是激光的反射光变弱的部分；所谓空间是激光的反射光变强的部分。即，标记及空间是由根据反射层的凹凸或光盘11的记录层的相变化等而变化的激光的反射光来识别的。

2值化电路13读取由光拾器10输出的电压值的变化，生成以588位为1帧的EFM信号。该EFM信号由H电平和L电平的反复而形成。表示从EFM信号的上升沿到下降沿的H电平的H区间，或表示从EFM信号的下降沿到上升沿的L电平的L区间从3T到11T之间有9种。而且，所谓“1T”为1位间隔，约为230ns。以下，将上述H/L区间称为“EFM沿间隔”。

数字信号处理电路14，对由2值化电路13提供的EFM信号实施EFM解调。而且对EFM解调后的信号实施CIRC译码，生成由1帧24字节构成的CD-ROM数据。CD-ROM译码器15，对由数字信号处理电路14提供的CD-ROM数据进行检错处理及纠错处理，将实施了这些处理的CD-ROM数据输出到主计算机(未图示)。

缓冲RAM16与CD-ROM译码器15连接，以1块为单位暂时存储由数字信号处理电路14提供给CD-ROM译码器15的CD-ROM数据。这样，由于缓冲RAM16需要存储大量的数据，故一般采用DRAM。

微型计算机17由内置了ROM及RAM的所谓单片微型计算机构成，按照存储在ROM中的控制程序控制CD-ROM译码器15的动作。同时，微型计算机17，在内置的RAM中暂时存储由主计算机提供的命令数据或由数字信号处理电路14提供的子码数据。由此，微型计算机17响应来自主计算机的指示，控制各部的动作，使所希望的CD-ROM数据由CD-ROM15向主计算机输出。

下面，对CD记录再生装置100中的光盘11的抖动特性评价方法进行说明。

光拾器10、光盘11、伺服电路12及2值化电路13，通过微型计算机17进行与光盘11的再生动作同样的动作。但是，数字信号处理电路14及CD-ROM译码器15通过微型计算机17停止动作，缓冲RAM16变成与再生动作不同的动作。

计数器18连接2值化电路13，取入由2值化电路13提供的EFM信号。而且，计数器18根据比EFM信号频率还高的计数时钟，对EFM信号的各EFM沿间隔进行逐次计数，同时将各计数值依次写入缓冲RAM16中。另外，在线速度恒定的CLV动作的1倍速动作中，EFM信号的1T约为230ns。为此，在计数器18中，例如采用1周期2ns、即500MHz的计数时钟进行计数动作。此时，EFM沿间隔“3T(约690ns)”时计数值的理想值为“345”、“4T”时计数值的理想值为“460”、…、“11T”时的计数值的理想值为“1265”。

在对记录在光盘11中的一定区域的数据进行这样的一系列处理后，微型计算机17分析记录在缓冲RAM16中的各计数值，进行抖动特性的评价。

〖专利文献1〗特开平11-167720号公报

近年来，由于光盘介质的多样化、光盘记录/再生速度的高速化等，对光盘的记录控制变得越来越复杂。而且，由于光盘记录的高密度化，使标记长度变短，因磁道间隔也狭小化，从而产生数据间的编码干扰或磁道间的交调失真等，对光盘进行正确的记录/再生变得困难。因此，为了正确地把握光盘记录/再生的质量，寻求写策略(write straegy)等的对策，抖动特性评价的重要性越来越高。

但是，在具有CD记录再生装置100这样的抖动特性评价功能的现有的光盘装置中，分析相当于光盘标准的3T～11T的EFM沿间隔的测量结果，进行抖动特性评价。因此，在现有的光盘装置中，仅进行EFM沿间隔的测量结果的分析，难以更正确地把握抖动特性发生的原因或其特性，对更为详细地实施用于抖动特性评价的分析存在限制。

发明内容

用于解决上述课题的主要的本发明，是一种光盘装置，其向光盘照射激光，接收根据记录在上述光盘上的标记而变化的上述激光的反射光，根据对应于上述反射光的光量的再生信号，进行上述光盘的评价，其中具有测量电路，该测量电路根据上述再生信号的2值化信号中的上升沿及下降沿各自的第1定时，和对上述2值化信号进行相位跟踪的同步时钟信号中的上升沿或下降沿的第2定时之间的相位大致一致的关系，测量上述第1定时和以该第2定时为基准、偏离了上述同步时钟信号规定相位的上述同步时钟信号的第3定时之间的相位差。

根据本发明，可提供能更为详细地进行用于抖动特性评价的分析的光盘装置及其光盘评价方法。

附图说明

图1是表示本发明实施方式的光盘装置的全体构成的图。

图2是表示本发明实施方式的各介质的同步时钟信号的基准频率的图。

图3是说明本发明实施方式的EFM信号和同步时钟信号之间的相位关系的图。

图4是表示本发明实施方式的写入到存储器的数据内容的图。

图5是表示本发明实施方式的测量电路的构成的图。

图6是表示本发明其它实施方式的测量电路的构成的图。

图7是说明本发明其它实施方式的测量电路的动作的图。

图8是说明本发明其它实施方式的测量电路的动作的图。

图9是表示将本发明其它实施方式的测量电路与写策略电路的延迟控制电路共用化时的光盘装置的整体构成的图。

图10是表示现有的光盘装置的整体构成的图。

图中：10、20-光拾器，201-LD(Laser Diode)，203-PD(PhotoDetector)，204-LD驱动电路，11、120-光盘，12、22-伺服电路，13、23-2值化电路，14-数字信号处理电路，15-CD-ROM译码器，16-缓冲RAM，17、30-微型计算机，18-计数器，21-RF放大器，24-译码电路，25-同步时钟信号生成电路，26-测量电路，261-相位差测量电路，262-EFM沿间隔测量电路，27-存储器存取控制电路，28-存储器，29-统计运算电路，31-编码电路，401、403-触发电路，402-ExOR元件，404-AND元件，405-第1计数电路，406-第2计数电路，510-延迟电路，511-第1延迟元件，520-PLL电路，521-VCO(VoltageControl Oscillator)，522-第2延迟元件，523-反相元件，524-偏置电路，525-第1分频电路，526-第2分频电路，527-相位比较器，528-LPF(Low Pass Filter)，600-数据保持电路，601-触发电路，700-数据处理电路，800-写策略电路，801-延迟控制电路，802-选择器，100-CD记录再生装置，110、130-光盘装置，140-模拟信号处理电路，150-数字信号处理电路，207-写功率(write power)设定部，211-偏置功率设定部，208、212-开关。

具体实施方式

<光盘装置的构成/动作>

＝＝＝光盘装置的构成＝＝＝

适当参照图2、3、4，同时根据图1，说明本发明一实施方式的光盘装置110的构成。而且，光盘装置110，为对CD/DVD介质等的光盘120照射激光来进行信息的再生的装置。当然，也可作为同时进行光盘记录的装置。

并且，光盘装置110具有定量地评价被称之为“抖动特性”的、由光盘120得到的再生信号的污点情况的功能。通过评价该抖动特性，从而可评价光盘120的记录质量或再生质量。详细情况后述，但抖动特性根据EFM信号与同步时钟信号的相位差、和EFM沿间隔进行定量的评价。

光拾器20是将激光照射到光盘120，由光盘120再生信息的部件。此外，光拾器20接收照射到光盘120的激光的反射光，并将该反射光的强弱作为电压值的变化而取出。

RF放大器21，将由光拾器20从光盘120取出的信号放大到可进行后级处理的电平，生成RF信号(『再生信号』)。此外，RF放大器21往往具有：自动调整自身的放大率的AGC(Automatic Gain Control)功能；和跟踪误差信号或聚焦误差信号等各种伺服控制信号的生成功能。

伺服电路22根据由RF放大器21生成的伺服控制信号，伺服控制设置在光拾器20中的各种伺服机构。由此，例如进行光拾器20的位置控制，以便按正确的顺序读出对应于光盘120上的标记或空间的数据。

2值化电路23是提供由RF放大器21生成的RF信号，用于2值化该RF信号的电路，例如，由对RF信号电平和规定的限幅电平进行比较的比较器构成。该RF信号的2值化信号，在通常模式时，提供给译码电路24及同步时钟信号生成电路25；在光盘评价模式时提供给测量电路26。

另外，所谓RF信号的2值化信号，在CD介质时是EFM(8-14调制)信号，在DVD介质时是EFM-Plus(8-16调制)信号。在后述的说明中，光盘120为CD介质的情况，RF信号的2值化信号为EFM信号的情况。

译码电路24对由2值化电路23提供的EFM信号实施EFM解调处理。并且，对EFM解调后的信号实施CIRC方式的纠错处理。这些译码处理后的信号，通过未图示的A/D变换器进行外部输出。

同步时钟信号生成电路25，是生成与由光盘120得到的EFM信号所具有的标记或空间同步的同步时钟信号(引导磁道时钟信号、位时钟信号等)的电路。具体为：同步时钟信号生成电路25构成为PLL电路，由2值化电路23提供的EFM信号作为PLL电路的基准时钟信号而被处理。而且，通过由PLL电路进行的相位对齐动作，将被EFM信号跟踪相位的同步时钟信号作为VCO输出而取出。

此外，同步时钟信号的基准频率(1倍速)，如图2所示，按各种光盘120的介质类别被标准化。此外，同步时钟信号在与理想的EFM信号之间，如下关系成立。即，理想的EFM信号中的上升沿及下降沿各自的定时(以下，简称为『第1定时』)、和同步时钟信号中的上升沿或下降沿任意一方的定时(以下，简称为『第2定时』)的相位完全一致的关系成立。再者，在以下说明中，所谓同步时钟信号的第2定时，设为同步时钟信号的上升沿的定时的情况。

但是，在再生实际所记录的记录数据而得到的EFM信号和同步时钟信号之间，对于第1定时和第2定时来说相位完全不一致，限于大致一致的关系，在各定时之间有微小的相位变动。

测量电路26具有相位测量电路261和EFM沿间隔测量电路262。

相位测量电路261根据再生的EFM信号的第1定时和同步时钟信号的第2定时之间的相位大致一致的关系，测量EFM信号的第1定时和以该第2定时为基准偏离了规定相位的同步时钟信号的上升沿或下降沿的定时(以下，简称为『第3定时』)之间的相位差。另外，在本实施方式中，将相位偏离了半周期的同步时钟信号的下降沿作为第3定时。

EFM沿间隔测量电路262测量EFM沿间隔，其表示：表示从EFM信号的上升沿到下降沿的H电平的H区间，或表示从EFM信号的下降沿到上升沿的L电平的L区间。

测量电路26例如实施图3所示的相位差测量及EFM沿间隔测量。此外，图3(a)是理想的EFM信号的波形，图3(b)是由光盘120实际得到的再生后EFM信号的波形，图3(c)是以实际得到的EFM信号为基础生成的同步时钟信号的波形。

相位差测量电路261，测量EFM信号(图3(b))的上升沿的第1定时和紧接其后的同步时钟信号(图3(c))的下降沿的第3定时之间的相位差(图3中所示的“A”、“E”)，同时，测量EFM信号(图3(b))的下降沿的第1定时和紧接其后的同步时钟信号(图3(c))的下降沿的第3定时之间的相位差(图3中所示的“C”、“G”)。

EFM沿间隔测量电路262，测量从EFM信号(图3(b))的上升沿到下降沿的H区间(图3中所示的“B”、“F”)，同时测量从EFM信号(图3(b))的下降沿到上升沿的L区间(图3中所示的“D”、“H”)。

存储器存取控制电路27是控制向存储器28的存取(写入/读出)的电路。而且，存储器28是微型计算机30可存取的DRAM或SDRAM等存储装置。例如，存储器存取控制电路27，进行用于将在测量电路26中测量的相位差(A、C、E、G)及EFM沿间隔(B、D、F、H)、或表示是H区间或L区间的哪一个的H/L极性、表示数据没有正常写入存储器28的错误标志等向存储器28的规定存储区域写入的控制。图4表示写入存储器28的测量电路28的测量结果的一例。

统计运算电路29通过存储器存取控制电路27，读出存储在存储器28中的EFM沿间隔等，将实施各种统计运算后的结果再次写入存储器28的规定存储区域中。例如，统计运算电路29计算EFM信号的各EFM沿间隔(3T～11T)的出现频度。

微型计算机30是执行光盘装置110全体控制的处理器。尤其是微型计算机30由统计运算电路29将写入存储器28的EFM信号的各EFM沿间隔(3T～11T)的出现频度直方图化，定量地评价抖动特性。而且，抖动特性的评价不限于直方图，也可采用平均值或分散值等其它统计量来实施。

并且，微型计算机30进行：由测量电路26测量的相位差是否为对应于光盘120的规定值(例如，CD介质时，相当于(1/4.3218MHz)÷2的相位差)的判断。例如，在图3所示的例子中，相位差A及C是理想的值，相位差E判定为比理想值还大，相位差G判定为比理想值还小。

在此，微型计算机30根据该判断结果，可识别例如在标记的前端侧或后端侧是否产生来自理想位置的偏离或这些偏离的程度。即，与EFM沿间隔的情况相同，微型计算机30采用EFM信号和同步时钟信号的相位差这一新的评价基准，定量地评价抖动特性。

此外，微型计算机30，例如在光盘120的试写区域进行如上所述的评价后，为了使应记录在光盘120的记录区域上的EFM信号接近理想的EFM信号(图3(a))，进行如下的调整。即，微型计算机30利用写策略等可进行将测量相位差E时的EFM信号的上升沿的第1定时向图3中所示的X部分后方偏移，或将测量相位差G时的EFM信号的下降沿的第1定时向图3中所示的Y部分的前方偏移这样的调整。

这样，光盘装置110可详细且定量地分析抖动特性。

<由计数器进行的测量>

图5是表示测量电路26的一实施方式的图。

相位差测量电路261由触发电路401、403、ExOR元件402、使一方的输入反相的二输入AND元件404、第1计数电路405构成。

由触发电路401、ExOR元件402构成的电路(『第1沿信号生成电路』)检测EFM信号的第1定时，同时生成表示该检测出的情况的信号(以下称『第1沿信号』)。

由触发电路403、AND元件404构成的电路(『第2沿信号生成电路』)检测同步时钟信号的第3定时，同时生成表示该检测出的情况的信号(以下称『第2沿信号』)。

第1计数电路405以提供来自ExOR元件402的第1沿信号为契机，接着根据规定的计数时钟信号，对相当于到从AND元件404提供第2沿信号为止的期间的相位差进行计数。

EFM沿间隔测量电路262由第2计数电路406构成，根据由ExOR元件402提供的第1沿信号，按照规定的计数时钟信号对EFM沿间隔进行计数。

再者，第1计数电路405也可为以第2沿信号为契机，取入第2计数电路406的计数值的构成，来代替计数动作。

<由延迟电路进行的测量>

＝＝＝测量电路的构成＝＝＝

图6是表示测量电路26的其他实施方式的图。

延迟电路510串联连接多个第1延迟元件511而构成，从输入侧提供EFM信号，向输出侧依次延迟。此外，在延迟电路510中，设定同步时钟信号的规定周期(例如，一周期)份的延迟量。而且，第1延迟元件511的延迟量dt设定为“同步时钟信号的规定周期/第1延迟元件511的级数S”。

例如，设同步时钟信号的规定周期为一周期(1T)时，设构成延迟电路510的第1延迟元件511的级数S为16级时，1个第1延迟元件511的延迟量dt设定为“1T/16”。此时，在延迟电路510上传播EFM信号的期间成为EFM信号的基准周期1T时，变为在各个第1延迟元件511中缓冲了按照从输入侧到输出侧的顺序各延迟“T/16”的信号电平数据(H或L)的状态。

PLL电路520是为了抑制因制造离散性或温度变化等造成第1延迟元件511的各延迟量的离散性而设计的。作为延迟电路510的延迟量，在得到规定的精度的情况下，不需要设置PLL电路520。

PLL电路520具有VCO521、第1分频电路525、第2分频电路526、相位比较器527、LPF528。

VCO521将延迟电路510的第1延迟元件511各自对应的多个第2延迟元件522连接为环状。

此外，构成为：由偏置电路524产生的偏置电压Vb提供给各第2延迟元件522的一侧电源端子，由LPF528向各第2延迟元件522的另一电源端子提供控制电压Vt。即，VCO521根据控制电压Vt控制各第2延迟元件522的延迟量。

第1分频电路525将VCO521的输出信号分频为“1/n”。第2分频电路526将由PLL电路520的外部提供的基准时钟信号分频为“1/m”。

相位比较器527进行第1分频电路525的分频信号和第2分频电路526的分频信号之间的相位比较。

LPF528生成对应于相位比较器527的输出信号的控制电压Vt。

在此，在PLL电路520中，设为所谓闭锁状态的情况。此时，若设基准时钟信号的频率为f0，则(式1)：「dt＝(m/n)·(1/2S·f0)」的关系成立。

并且，构成延迟电路510的第1延迟元件511为与构成VCO521的第2延迟元件522完全相同的构成，与第2延迟元件522相同，提供偏置电压Vb及控制电压Vt。因此，延迟电路510的第1延迟元件511的延迟量与VCO521的第2延迟元件522的延迟量dt相同，在闭锁状态的情况下，为依存于基准时钟信号的频率f0的恒定值。

数据保持电路600如图7所示，统一保持由延迟电路510中的各第1延迟元件511取得的EFM信号的多个电平数据。具体为：EFM信号在延迟电路510上的传播期间为同步信号的一个周期、即EFM信号的基准周期1T的情况下，在构成延迟电路510的各第1延迟元件511中，按从延迟电路510的输入侧到输出侧的顺序，成为依次延迟的信号电平数据(H或L)被缓冲的状态。在此，数据保持电路600的多个触发电路601，每经过EFM信号的基准周期1T，就统一保持相当于从延迟电路510取得的EFM信号的基准周期1T的多个电平数据。

在此，在数据保持电路600中统一保持EFM信号的多个电平数据的循环(cycle)周期，和在延迟电路510中EFM信号被传播到所有第1延迟元件511的循环周期取同步。在PLL电路520中的延迟量控制及数据保持电路600中的数据保持处理中，起因于采用共同的同步时钟信号。

数据处理电路700，对于统一保持在数据保持电路600中的多个电平数据，变换为微型计算机30易分析的数据格式。

另外，数据处理电路700，例如在如下识别EFM沿间隔及相位差的同时，生成规定的数据。

首先，不明确：保持在数据保持电路600中的状态下的多个电平数据属于相当于EFM信号的哪个1T期间的电平数据群。因此，数据处理电路700分析来自数据保持电路600的相当于至少3T以上期间的电平数据群，识别该电平数据群中的从H到L或从L到H的极性反转定时(第1定时)。而且，数据处理电路700根据所识别的极性反转定时，生成EFM沿间隔的实测长度的数据、或表示该EFM沿间隔数据为H/L的哪一极性的H/L极性数据等。

再者，数据处理电路700根据统一保持的多个电平数据，检测EFM信号的第1定时，同时将该检测出的第1定时和统一保持的多个电平数据所对应的同步时钟信号的规定周期中的第3定时之差作为相位差而识别。而且，数据处理电路700生成所识别的相位差数据或识别该相位差时的EFM信号沿的极性数据(上升沿或下降沿)等。

再者，数据处理电路700的处理也可由微型计算机30来实施。

＝＝＝光盘装置的动作的具体例＝＝＝

根据图8，说明统一保持在数据保持电路600中的多个电平数据利用在抖动特性评价情况下的实施方式。而且，在该图中表示：第1延迟元件511的级数S为4，在数据保持电路600中设有4个触发电路601的情况。

在该图所示的例子中，经过从期间A到期间E共计5T的期间，由统一保持在数据保持电路600中的电平数据群可观测相当于H电平期间3T的EFM信号。

因此，数据处理电路700，分析在从期间A到期间E之间统一保持在数据保持电路600中的电平数据群。其结果，由对应于期间A的电平数据“0001”，识别从EFM信号的L向H的极性反转定时(第1定时)。此外，识别从期间B到期间D的电平数据连续为“1”的意思。而且，由对应于期间E的电平数据“1000”，识别从EFM信号的H向L的极性反转定时(第1定时)。

其结果是，数据处理电路700根据在期间A及期间E识别出的极性反转定时，生成表示相当于H电平期间3T的EFM信号的实测长度的EFM沿间隔数据、或表示该EFM沿间隔数据是H的意思的H/L极性数据。

并且，数据处理电路700，将期间A的第1定时和对应于期间A的同步时钟信号的第3定时之差作为相位差来识别。在图8所示的例子的情况下，所识别的相位差是3T/4。

此外，数据处理电路700，将期间E的第1定时和对应于期间E的同步时钟信号的第3定时之差作为相位差来识别。在图8所示的例子的情况下，所识别的相位差是T/4。

这样，在本测量电路26中，统一保持在数据保持电路600中的多个电平数据是从延迟电路510统一取得的数据，相当于延迟电路510的延迟量所对应的每个期间(例如，EFM信号的基准周期1T)的各采样数据。在此，微型计算机30在抖动特性的评价时，为了识别EFM沿间隔以及相位差，可一次参照延迟电路510的延迟量所对应的每个期间的各采样数据。

由此，与采用图5所示的第1及第2计数器405、406的情况相比较，不需要根据计数时钟信号逐次测量EFM沿间隔及相位差的处理。即，在采用图5所示的第1及第2计数器405、406时，为了获得更高的精度(分辨率)，必须使计数时钟信号高频化，但在本测量电路26的情况下，无这样的制约，可容易地达到更高的精度(分辨率)。

＝＝＝和写策略电路的共用化＝＝＝

图9是表示涉及本发明的其它实施方式的光盘装置130的构成。而且对于和图1中所示的光盘装置110相同的构成要素采用相同的符号，省略其说明。

光盘装置130是由光拾器20、模拟信号处理电路140、数字信号处理电路150、微型计算机30构成，将激光照射到光盘120，进行信息的记录再生的装置。

光拾器20具有LD201、PD203、LD驱动电路204以及物镜或各种伺服机构。

LD201是根据由LD驱动电路204提供的驱动电流ILD，对光盘120射出用于进行记录/再生的激光的发光元件。而且，作为LD201的驱动方式(写策略)，在光盘120为追记型光盘时，采用多脉冲调制方式的模型。即，控制在记录标记中产生的热分布，以便由采用最高脉冲和多脉冲的记录脉冲生成1个记录标记(记录数据)。而且，记录脉冲由写功率Pw和偏置功率Pb的2值功率电平形成。

PD203是接收来自光盘120的反射光的一部分，生成与该受光光量成正比的受光电流IPD的受光元件。该受光电流IPD变换为电压，提供给RF放大器21。其结果，在LF放大器21中，生成RF信号或各种伺服控制信号。

LD驱动电路204，根据通过切换开关208、212的接通/断开而生成的调制信号Vmod，生成用于驱动LD201的驱动电流ILD。

模拟信号处理电路140进行光盘驱动用模拟信号处理。例如，模拟信号处理电路140除具有生成RF信号或各种伺服控制信号RF放大器21外，还具有写功率设定部207、偏置功率设定部211。

写功率设定部207生成写功率信号VWDC，当开关208接通时，提供给LD驱动电路204。偏置功率设定部211，生成偏置功率信号VBDC，当开关212接通时，提供给LD驱动电路204。由此，LD驱动电路204根据在写功率设定部207生成的写功率信号VWDC和在偏置功率设定部211生成的偏置功率信号VBDC合成的调制信号Vmod，驱动LD201。

数字信号处理电路150是进行数字伺服处理或编码/译码处理等光盘控制用数字信号处理的电路。即，在数字信号处理电路150中设有除图1所示的虚线框内的光拾器20及RF放大器21以外的构成要素。此外，光盘装置130为了进行光盘记录，还具有编码电路31、写策略电路800。

编码电路31对由外部装置(个人计算机等)提供的向光盘120的记录数据(图像/声音/视频数据等)，进行光盘120对应的规格的规定调制处理。

写策略电路800，根据由编码电路31对记录数据实施了规定的调制处理的调制数据，生成调制开关信号Smod，将调制开关信号Smod提供给开关208、212。其结果，通过基于调制开关信号Smod的开关208、212的接通/断开切换，生成向LD驱动电路204供给的调制信号Vmod、即用于向光盘120进行记录的记录脉冲。

此外，在写策略电路800中，作为针对根据光盘120的种类或旋转速度记录状态发生变化的对策，提出了如下方案：并不将由写策略电路800生成的记录脉冲直接送出到激光机构，而是设置用于使该记录脉冲延迟后送出到激光机构的延迟控制电路801及802。例如公开在特开平11-273252号公报的图2中。

延迟控制电路801与图6相同，具有：延迟元件多级串联连接的延迟电路；和用于控制延迟电路的延迟量的PLL电路。延迟控制电路801，通过由PLL电路设定了延迟量的延迟电路的各延迟元件，依次延迟在编码电路31中生成的EFM信号等、成为记录脉冲的生成源的信号。

选择器802，从延迟控制电路801中的延迟电路的各级延迟元件中选择任意一个的输出，作为延迟信号而取出。根据该延迟信号，生成适于各种记录状态的调制开关信号Smod、甚至记录脉冲。

因此，在光盘装置130中，谋求将图6所示的延迟电路510与写策略电路800的延迟控制电路801共用化。即，在2值化电路23中生成的EFM信号，提供给延迟控制电路801的输入侧并被依次延迟。另一方面，数据保持电路600统一保持由构成延迟控制电路801的各延迟元件的任一个得到的EFM信号的多个电平数据。其结果，在光盘装置130中，不需要重新设置图6所示的延迟电路500，这样，可实现减小数字信号处理电路150的电路规模或降低耗电。

以上，对本发明的实施方式进行了说明，但上述实施方式是为了便于理解本发明，而并非用于限定、解释本发明。本发明在不脱离其主旨的范围内，可进行变更/改良，同时还包含其等价物。

Claims (6)

1.一种光盘装置，其将激光照射到光盘，接收根据记录在上述光盘上的标记而变化的上述激光的反射光，根据上述反射光的光量所对应的再生信号，进行上述光盘的评价，其特征在于，

具有测量电路，其根据上述再生信号的2值化信号中的各上升沿及下降沿的第1定时，和对上述2值化信号进行相位跟踪的同步时钟信号中的上升沿或下降沿的第2定时之间的相位大致一致的关系，测量上述第1定时，和以该第2定时为基准、偏离了上述同步时钟信号的规定相位的上述同步时钟信号的第3定时之间的相位差。

2.根据权利要求1所述的光盘装置，其特征在于，

上述测量电路具有：

第1沿信号生成部，其检测上述第1定时的同时，生成表示该检测出的意思的第1沿信号；

第2沿信号生成部，其检测上述第3定时的同时，生成表示该检测出的意思的第2沿信号；和

计数电路，其根据规定的计数时钟信号，对相当于以提供上述第1沿信号为契机而接着供给上述第2沿信号为止的期间的上述相位差进行计数的。

3.根据权利要求1所述的光盘装置，其特征在于，

上述测量电路具有：

延迟电路，其串联连接多个第1延迟元件而构成，并设定上述同步时钟信号的规定周期份的延迟量；

多个触发电路，其对应于由上述延迟电路的规定的上述第1延迟元件取得的上述2值化信号的多个电平数据的每一个；

数据保持电路，其在上述同步时钟信号每次变为上述规定周期时，统一保持上述多个触发电路各自的上述多个电平数据。

4.根据上述权利要求3所述的光盘装置，其特征在于，

上述测量电路还具有用于将上述延迟电路的上述延迟量控制在上述同步时钟信号的规定周期的PLL电路。

5.根据上述权利要求4所述的光盘装置，其特征在于，

还具有写策略电路，其根据对向上述光盘的记录数据实施了规定的调制处理的调制数据，生成用于对上述光盘进行记录的记录脉冲，同时设有用于控制成为上述记录脉冲的生成源的信号的延迟量的延迟控制电路，

上述延迟电路与上述写策略电路中所设的上述延迟控制电路共用化。

6.一种光盘评价方法，其是将激光照射到光盘上，接收根据记录在上述光盘上的标记而变化的上述激光的反射光，根据上述反射光的光量所对应的再生信号来进行的光盘装置的光盘评价方法，其特征在于，具有：

根据上述再生信号的2值化信号中的各上升沿及下降沿的第1定时，和对上述2值化信号进行相位跟踪的同步时钟信号中的上升沿或下降沿的第2定时之间的相位大致一致的关系，

测量上述第1定时，和以该第2定时为基准、偏离了上述同步时钟信号规定相位的上述同步时钟信号的第3定时之间的相位差的工序；

判断上述测量的相位差是否为上述光盘种类所对应的规定值的工序。

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