KR100604889B1 - 광 디스크 기록 장치 및 광 디스크 기록 장치에서의라이트 스트래티지의 조정 방법 - Google Patents

Abstract

간단한 방법에 의해, 다양한 광 디스크, 다양한 조건에 있어서, 각각에 최적의 라이트 스트래티지(write strategy)를 설정할 수 있는 광 디스크 기록 장치 및 광 디스크 기록 장치에서의 라이트 스트래티지의 조정 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다. 소정의 라이트 스트래티지를 기억하는 기억 수단과, 상기 소정의 라이트 스트래티지로 기록된 마크부의 전후에 형성된 스페이스부의 길이를 측정하는 스페이스 길이 측정 수단과, 상기 측정한 스페이스 길이와 기준이 되는 스페이스 길이로부터 보정값을 연산하고, 상기 연산한 보정값에 의해 상기 소정의 라이트 스트래티지에 관한 것으로, 기록마크 길이만으로 결정되는 기록 파라미터(스태틱 파라미터(static parameter))를 보정하는 스태틱 파라미터 보정 수단과에 의해, 최적의 라이트 스트래티지를 설정할 수 있는 광 디스크 기록 장치를 제공한다.

Description

광 디스크 기록 장치 및 광 디스크 기록 장치에서의 라이트 스트래티지의 조정 방법{Optical disc recorder and method for adjusting write strategy thereof}

도 1은 본 실시형태에 있어서의 광 디스크 기록 장치의 구성도이다.

도 2는 본 실시형태에 있어서의 통계 처리부의 구성도이다.

도 3은 각 스페이스의 도수 분포도이다.

도 4는 3T 스페이스의 도수 분포를 나타내는 확대도이다.

도 5는 반도체 레이저 출력과 기록 마크와의 관계를 나타내는 도면이다.

도 6은 3T 마크의 도수 분포를 나타내는 확대도이다.

도 7은 반도체 레이저 출력과 기록 마크와의 관계를 나타내는 도면이다.

도 8은 본 실시형태에 있어서의 처리 플로우차트이다.

도 9는 반도체 레이저 출력과 기록 마크 및 기록 마크의 전후에 형성된 스페이스와의 관계를 나타내는 도면이다.

도 10은 β값을 나타내는 개념도이다.

<부호의 설명>

1…광 디스크 2…광 픽업

3…APC 4…RF 앰프

5…서보 회로 6…신호처리 회로

7…CPU 8…드라이버

9…통계 처리부 10…기억부

11…클럭 생성부 21…스페이스 길이 측정 회로

22…마크 길이 측정 회로 23…스페이스/마크 길이 가산기

24…발생 빈도 측정 회로 25…제산기

본 발명은 광 기록장치에 관한 것으로, 특히 광 디스크로 정보를 기록할 때의 라이트 스트래티지의 조정 방법에 관한 것이다.

최근 정보 통신 기술의 발달에 의해, 예를 들어, 인터넷 등에 의해 많은 정보가 활발히 교환되고 있다. 이러한 상황에서 정보의 추기(追記) 및 다시쓰기가 가능하고 소형, 대용량의 추기 및 다시쓰기형 광 디스크가 주목되고 있다. 광 기록 장치에서 정보를 기록하는 추기 및 다시쓰기형 광 디스크에 대해서는, 각각의 물성 등의 차이나 광 기록 장치와의 상성(相性)에 의해 최적의 라이트 스트래티지가 존재한다.따라서, 지금까지는 시장에서 유통하고 자주 사용되는 일반적인 광 디스크에 대해서는, 각각의 광 디스크에 대해 이미 알려진 라이트 스트래티지를 사용하고 기록 동작이 수행되지만, 알려지지 않은 디스크에 기록하는 경우에는 표준적인 라이트 스트래티지를 사용하고 기록 동작을 수행하고 있었는데, 알려지지 않은 광 디스크와 표준적인 라이트 스트래티지와의 상성이 나쁜 경우에는 재생 불능 상태가 되는 등의 문제가 발생할 가능성이 있다.

이러한 문제에 대응하기 위해 알려지지 않은 광 디스크에 정보를 기록할 때, 2종류의 서로 다른 라이트 스트래티지로 기록하고, 기록한 정보로부터 보정 상관으로 기준 라이트 스트래티지를 알려지지 않은 광 디스크에 최적의 라이트 스트래티지로 하기 위해 기록 파워, 멀티 펄스, 톱 펄스의 우선 순위로 보정하는 기술도 제안되고 있다(예를 들어, 특개2003- 30837호 공보)

그러나, 이미 알려진 광 디스크에 대해서도 광 기억 장치의 기차(機差)나 광 디스크의 개체 차이 혹은 동작 환경 등을 고려 하면, 초기에 설정한 라이트 스트래티지를 각각의 조건에 대응하여 보정하는 것이 바람직하다. 또한 라이트 스트래티지의 초기 설정에 있어서도, 기록 파라미터가 많기 때문에, 시행착오적 혹은 경험치적인 조정 방법에서는 조정에 막대한 시간을 필요로 한다는 문제가 있다.

본 발명은 상술한 문제점을 감안하여 이루어진 것으로, 간단한 방법으로, 다양한 광 디스크, 다양한 조건에서, 각각에 최적의 라이트 스트래티지를 설정할 수 있는 광 디스크 기록 장치 및 광 디스크 기록 장치에서의 라이트 스트래티지 조정 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.

상기 과제를 해결하기 위해 본 발명은 이하의 수단을 제안하고 있다.

본 발명은 반도체 레이저에 의해 정보를 기록하는 광 디스크 기록 장치로, 소정의 라이트 스트래티지를 기억하는 기억 수단과, 상기 소정의 라이트 스트래티지로 기록된 마크부의 전후에 형성된 스페이스부의 길이를 측정하는 스페이스 길이 측정 수단과, 상기 측정한 스페이스 길이와 기준이 되는 스페이스 길이로부터 보정값을 연산하고, 상기 연산한 보정값에 의해 상기 소정의 라이트 스트래티지에 관한 것으로, 기록 마크 길이로만 결정되는 기록 파라미터(스태틱 파라미터)를 보정하는 스태틱 파라미터 보정 수단을 갖는 것을 특징으로 하는 광 디스크 기록 장치를 제안하고 있다.

본 발명은 소정의 라이트 스트래티지로 기록된 마크부의 전후에 형성된 스페이스부의 길이를 측정하는 단계와, 상기 측정한 스페이스 길이와 기준이 되는 스페이스 길이로부터 보정값을 연산하는 단계와, 상기 연산한 보정값에 의해 상기 소정의 라이트 스트래티지에 관한 것으로, 기록 마크 길이로만 결정되는 기록 파라미터를 보정하는 단계를 갖는 것을 특징으로 하는 광 디스크 기록 장치에서의 라이트 스트래티지의 조정 방법을 제안하고 있다.

이들 발명에 의하면, 스페이스 길이 측정 수단이 소정의 라이트 스트래티지로 기록된 마크부의 전후에 형성된 스페이스부의 길이를 측정하고, 스태틱 파라미터 보정 수단이 측정한 스페이스 길이와 기준이 되는 스페이스 길이로부터 보정값을 연산하고, 연산한 보정값에 의해 스태틱 파라미터를 보정하기 위해 알려지지 않은 광 디스크에 기록을 하는 경우라도, 라이트 스트래티지를 최적화할 수 있다. 또한 소정의 라이트 스트래티지로는 기준 디스크에 대한 라이트 스트래티지나 제조 메이커 등에 대응하는 라이트 스트래티지 등을 사용할 수 있다.

본 발명은 광 디스크 기록 장치에 대해, 상기 스페이스 길이 측정 수단이 상기 광 디스크상에 형성된 소정의 길이를 갖는 각 마크부의 전후에 마련된 소정의 길이를 갖는 각 스페이스 길이를 측정하는 것과 함께, 상기 측정한 스페이스 길이를상기 소정의 길이를 갖는 각 마크부의 전후로 나눠 그룹화하고, 각 그룹의 측정값을 통계 처리하는 통계 처리 수단을 가지고, 상기 스태틱 파라미터 보정 수단이 기준이 되는 스페이스 길이로서 상기 통계 처리된 스페이스 길이를 사용하는 것을 특징으로 하는 광 디스크 기록 장치를 제안하고 있다.

본 발명에 의하면, 스페이스 길이 측정 수단은 각 마크부의 전후에로 마련된 소정의 길이를 갖는 각 스페이스 길이를 측정한다. 통계 처리 수단은 측정한 스페이스 길이를 소정의 길이를 갖는 각 마크부의 전후로 나눠 그룹화하고, 각 그룹의 측정값을 통계 처리한다. 스태틱 파라미터 보정 수단은 기준이 되는 스페이스 길이로서 통계 처리된 스페이스 길이를 사용하므로, 각 광 디스크에 대해 라이트 스트래티지를 더욱 최적화할 수 있다.

본 발명은 반도체 레이저에 의해 정보를 기록하는 광 디스크 기록 장치로, 소정의 라이트 스트래티지를 기억하는 기억 수단과, 상기 소정의 라이트 스트래티지로 기록된 스페이스부의 전후에 형성된 마크부의 길이를 측정하는 마크 길이 측정 수단과, 상기 측정한 마크 길이와 사전에 설정된 마크 길이로부터 보정값을 연산하고, 상기 연산한 보정값에 의해 상기 소정의 라이트 스트래티지에 관한 것으로, 기록 마크 길이 및 그 전후에 형성되는 스페이스 길이에 의해 결정되는 기록 파라미터(다이나믹 파라미터)를 보정하는 다이나믹 파라미터 보정 수단을 갖는 것 을 특징으로 하는 광 디스크 기록 장치를 제안하고 있다.

본 발명은 소정의 라이트 스트래티지로 기록된 스페이스부의 전후에 형성된 마크부의 길이를 측정하는 단계와, 상기 측정한 마크 길이와 사전에 설정된 마크 길이로부터 보정값을 연산하는 단계와, 상기 연산한 보정값에 의해 상기 소정의 라이트 스트래티지에 관한 기록 마크 길이 및 그 전후에 형성되는 스페이스 길이에 의해 결정되는 기록 파라미터를 보정하는 단계를 갖는 것을 특징으로 하는 광 디스크 기록 장치에서의 라이트 스트래티지 조정 방법을 제안하고 있다.

이들 발명에 의하면, 마크 길이 측정 수단이 소정의 라이트 스트래티지로 기록된 스페이스부의 전후에 형성된 마크부의 길이를 측정하고, 다이나믹 파라미터 보정 수단이 측정한 마크 길이와 기준이 되는 마크 길이로부터 보정값을 연산하고, 연산한 보정값에 의해 다이나믹 파라미터를 보정하기 때문에, 알려지지 않은 광 디스크에 기록을 하는 경우라도, 라이트 스트래티지를 최적화할 수 있다.

본 발명은 광 디스크 기록 장치에 대해서 상기 마크 길이 측정 수단이 상기 광 디스크상에 형성된 소정의 길이를 갖는 각 스페이스부의 전후에 마련된 소정의 길이를 갖는 각 마크 길이를 측정하는 것과 함께, 상기 측정한 마크 길이를 상기 소정의 길이를 갖는 각 스페이스부의 전후로 나눠 그룹화하고, 각 그룹의 측정값을 통계 처리하는 통계 처리 수단을 가지고, 상기 다이나믹 파라미터 보정 수단이 기준이 되는 마크 길이로서 상기 통계 처리된 마크 길이를 사용하는 것을 특징으로 하는 광 디스크 기록 장치를 제안하고 있다.

본 발명에 의하면, 마크 길이 측정 수단은 각 스페이스부의 전후에 마련된 소정의 길이를 갖는 각 마크 길이를 측정한다. 통계 처리 수단은 측정한 마크 길이를 소정의 길이를 갖는 각 스페이스부의 전후로 나눠 그룹화하고, 각 그룹의 측정값을 통계 처리한다. 다이나믹 파라미터 보정 수단은 기준이 되는 마크 길이로서 통계 처리된 마크 길이를 사용하므로, 각 광 디스크에 대해 라이트 스트래티지를 더욱 최적화할 수 있다.

본 발명은 광 디스크 장치에 대해서 상기 통계 처리 수단이 각 그룹의 측정값을 통계 처리하여 평균값을 산출하는 것을 특징으로 하는 광 디스크 장치를 제안하고 있다.

본 발명에 의하면, 통계 처리 수단이 각 그룹의 평균값을 산출하고, 이것을 토대로 소정의 라이트 스트래티지를 각 디스크 고유의 라이트 스트래티지로 보정하기 때문에, 각 광 디스크에 대해 라이트 스트래티지를 최적화할 수 있다.

본 발명은 반도체 레이저에 의해 정보를 기록하는 광 디스크 기록 장치로, 라이트 스트래티지를 기억하는 기억 수단과, 상기 소정의 라이트 스트래티지로 기록되며, 상기 광 디스크상에 형성된 소정의 길이를 갖는 각 마크부의 전후에 형성된 소정의 길이를 갖는 각 스페이스부의 길이를 측정하고, 상기 측정한 스페이스 길이를 소정의 길이를 갖는 각 마크부의 전후로 나눠 그룹화하고, 각 그룹의 평균값을 산출하는 제1 평균값 산출 수단과, 상기 소정의 라이트 스트래티지로 기록되며, 상기 광 디스크상에 형성된 소정의 길이를 갖는 각 스페이스부의 전후에 형성된 소정의 길이를 갖는 각 마크부의 길이를 측정하고, 상기 측정한 마크 길이를 상기 소정의 길이를 갖는 각 스페이스부의 전후로 나눠 그룹화하고, 각 그룹의 평 균값을 산출하는 제2 평균값 산출 수단과, 상기 산출된 스페이스 길이의 각 평균값과 측정된 스페이스 길이로부터 보정값을 산출하는 제1 보정값 산출 수단과, 상기 산출된 마크 길이의 각 평균값과 측정된 마크 길이로부터 보정값을 산출하는 제2 보정값 산출 수단을 가지고, 상기 제1 보정값 산출 수단에 의해 산출된 보정값과 제2 보정값 산출 수단에 의해 산출된 보정값의 합에 의해, 상기 소정의 스트래티지를 보정하는 것을 특징으로 하는 광 디스크 기록 장치를 제안하고 있다.

본 발명에 의하면, 소정의 라이트 스트래티지에 대한 보정값이 스태틱 파라미터 및 다이나믹 파라미터 쌍방의 보정값의 합이므로, 더욱 상세한 보정을 할 수 있고, 각 광 디스크에 대한 라이트 스트래티지를 더욱 최적화할 수 있다.

이하, 본 발명의 실시형태에 대해 도면을 참조하여 상세히 설명한다.

본 실시형태에 있어서의 광 기록 장치는 도 1에 도시한 바와 같이 광 디스크(1); 광 픽업(2); APC(APC:Auto Power Control)(3); RF 앰프(4); 서보 회로(5); 신호 처리 회로(6); CPU(CPU:Central Processing Unit)(7); 드라이버(8); 통계 처리부(9); 기억부(10); 클럭 생성부(11)를 구비하고 있다.

광 디스크(1)는 반도체 레이저에 의해 정보의 기록, 재생, 소거를 수행할 수 있는 기록 매체이고, 예를 들어, CD-R, CD-RW, DVD-R, DVD-RW 등이 있다. 광 픽업(2)은 도시하지 않은 레이저 다이오드 등의 레이저 광원이나, 콜리메이터 렌즈, 초점 액츄에이터 혹은 트래킹 액츄에이터에 의해 구동되는 대물 렌즈, 편광 빔 스플리터, 실린드리컬 렌즈 등의 광학 부품 및 A, B, C, D의 4개의 영역으로 분할되고, 빛을 전기 신호로 변환하는 4분할 혹은 2분할 포토 디텍터(PD) 혹은 기록 재생시의 레이저 출력을 모니터 하는 프론트 모니터 다이오드 등을 구비하고 있다. APC(3)는 광 픽업(2)내의 프론트 모니터 다이오드로부터의 전류를 모니터하고, 반도체 레이저의 출사파워를 원하는 값으로 제어하기 위한 제어 블럭이다.

RF 앰프(4)는 광 디스크(1)로부터의 반사광을 검출하고, 검출한 반사광으로부터 반사광량을 연산하며, 4분할 PD의 각 영역으로의 반사광량의 총합을 나타내는 RF 신호를 생성하는 것과 함께, 광 픽업(2)의 조사 레이저의 초점 어긋남을 검출한 신호인 초점 에러 신호(FE)를 비점수차법에 의해 생성하고, 또한 광 픽업(2)의 조사 레이저의 트랙 어긋남을 검출한 신호인 트래킹 에러 신호(TE)를 푸시풀(push pull)법에 의해 생성한다. 서보 회로(5)는 RF 앰프(4)에서 생성된 FE 및 TE를 토대로 초점 구동 신호(FODRV), 트래킹 구동 신호(TRDRV)를 생성한다.

신호 처리 회로(6)는 재생시의 RF신호로부터 생성한 EFM신호를 입력하고, 데이터의 처리를 수행하는 반면, 도시하지 않은 PLL회로를 구비하고, 스핀들 모터의 회전을 제어한다. CPU(7)는 ROM(ROM:Read Only Memory) 등에 저장된 제어 프로그램을 토대로 장치 전체의 제어를 수행한다. 또한 본 실시형태에 있어서는, 측정한 마크 길이나 스페이스 길이와 기억부(10)에 저장된 각 마크 및 스페이스의 평균값을 비교하고, 라이트 스트래티지의 보정량을 산출하며, 이것을 신호 처리 회로(6)내의 도시하지 않은 엔코더로 출력한다. 드라이버(8)는 RF앰프(4)에서 생성된 초점 구동 신호(FODRV), 트래킹 구동 신호(TRDRV), 혹은 신호 처리 회로(6)에서 생성된 스핀들 제어 신호를 입력하고, 이것을 원하는 크기로 증폭한 후, 초점 액츄에이터, 트래킹 액츄에이터 혹은 스핀들 모터 등으로 공급한다.

통계 처리부(9)는 신호 처리 회로(6)로부터 입력한 2치화된 RF신호와, 클럭 생성부(11)로부터 공급된 클럭 신호로부터 마크부, 스페이스부의 길이를 측정하는 것과 함께, 각 마크 및 스페이스의 발생 빈도를 측정하고, 이러한 값으로부터 각 마크 및 스페이스의 평균값을 산출한다. 또한 더욱 상세한 것은 후술한다. 기억부(10)는 RAM(RAM:Random Access Memory) 등의 다시쓰기 가능한 기억장치에 의해 구성되고, 통계 처리부(9)에 있어서 산출된 각 마크 및 스페이스의 평균값 등의 데이터를 저장한다.

통계 처리부(9)는 도 2에 도시한 바와 같이 스페이스 길이 측정 회로(21); 마크 길이 측정 회로(22); 스페이스/마크 길이 가산기(23); 발생 빈도 측정 회로(24); 제산기(25)로 구성되어 있다. 스페이스 길이 측정 회로(21) 및 마크 길이 측정 회로(22)는 신호 처리 회로(6)로부터 2치화된 RF신호를 입력하고, 이 RF신호로부터 마크부, 스페이스부의 길이를 측정 클럭에 기초하여 산출한다. 스페이스/마크 길이 가산기(23)는 스페이스 길이 측정 회로(21) 및 마크 길이 측정 회로(22)로부터 출력된 각 마크부 및 스페이스부의 길이를 광 디스크(1)위에 형성된 소정의 길이를 갖는 각 마크 및 스페이스 길이마다 가산하고, 총합을 산출하는 것과 함께 각 마크부 및 스페이스부에 대해 각 마크부 및 스페이스부의 전후에 형성된 마크 길이 및 스페이스 길이와의 관계로부터 분류된 각 측정값의 총합을 산출한다.

발생 빈도 측정 회로(24)는 스페이스 길이 측정 회로(21) 및 마크 길이 측정 회로(22)로부터 출력된 정보에 의해, 광 디스크(1)위에 형성된 소정의 길이를 갖는 각 마크 및 스페이스 길이의 발생 빈도를 측정하는 것과 함께, 각 마크부 및 스페 이스부의 전후에 형성된 마크 길이 및 스페이스 길이와의 관계로부터 분류된 각 마크부 및 스페이스부에 관한 발생 빈도를 산출한다. 제산기(25)는 스페이스/마크 길이 가산기(23)에 있어서, 산출된 각 마크 및 스페이스 길이의 측정값의 총합을 발생 빈도 측정 회로(24)에서 산출된 각 마크 및 스페이스 길이의 발생 빈도의 총합으로 나제산하여, 각 마크 및 스페이스 길이에서의 평균값을 산출하는 것과 함께, 각 마크부 및 스페이스부의 전후에 형성된 마크 길이 및 스페이스 길이와의 관계로부터 분류된 각 측정값의 총합을 각 마크부 및 스페이스부의 전후에 형성된 마크 길이 및 스페이스 길이와의 관계로부터 분류된 각 마크부 및 스페이스부에 대한 발생 빈도로 제산하여, 각각 분류된 각 마크부 및 스페이스부에 대한 평균값을 산출한다. 또한 각 마크부 및 스페이스부의 전후에 형성된 마크 길이 및 스페이스 길이와의 관계로부터 분류된 각 마크부 및 스페이스부에 대한 평균값을 산출하는 경우에는 전체 발생 빈도에서 구한 증량(weighting)값을 이용하여 평균값을 산출해도 된다.

이어서, 라이트 스트래티지의 보정에 관하여 그 개념을 추기형 CD계의 EFM변조의 예로 설명한다.

일반적으로 라이트 스트래티지는 기록되는 마크 길이로만 결정되는 스태틱이라고 불리는 파라미터와, 기록되는 마크 길이 및 그 전후 스페이스 길이에 의해 결정되는 다이나믹이라고 불리는 파라미터로 분류된다. 지금 CD계의 3T부터 11T까지의 스페이스 길이의 도수 분포의 모식도는 도 3과 같다. 또한 3T부터 11T까지의 마크 길이의 도수 분포 모식도도 마찬가지로 나타낼 수 있다.

도 3을 이용하여 3T 스페이스의 도수 분포에 대해 상세히 설명하면 최외곽부가 전체 3T 스페이스의 도수 분포를 나타내고 있으며, 3T 스페이스 지터를 구하기 위한 모집단으로 되어 있다. 이 전체 3T 스페이스는 3T부터 11T 마크부 직전의 3T 스페이스(9가지), 3T부터 11T 마크부 직후의 3T스페이스(9가지)의 합계 18가지로 분류할 수 있다.

도 5는 기록 EFM의 데이터 패턴과 그 때의 레이저 출력과의 관계를 나타내고 있고, 도 5(a)는 3T 스페이스의 직후에 8T 마크가 있는 경우를 나타내고 있다. 또한 도 4는 3T 스페이스의 도수 분포를 확대한 것이다. 도 4에서 8T 마크 직전의 3T 스페이스의 도수 분포를 살펴보면 전체 3T 스페이스의 도수 분포에서의 평균값과 8T 마크 직전의 3T 스페이스의 도수 분포 평균값은, 후자가 12ns- 하고 있는 것을 알 수 있다. 따라서, 이 경우 라이트 스트래티지를 보정하려면 도 5(a)에서의 레이저 출력 파형의 A부를 현상보다도 12ns+ 할 필요가 있다. 즉, 도 5(a)의 A부를 12ns+ 함으로써 8T 마크 직전의 3T 스페이스가 상대적으로 12ns+ 되게 된다. 마찬가지로, 4T 마크 직후의 3T 스페이스를 나타낸 도 5(b)의 경우도, 도 4의 도수 분포로부터 전체 3T스페이스의 도수 분포에서의 평균값에 대해 5ns+하고 있기 때문에 도 5(b)에서의 레이저 출력 파형의 B부를 현상보다도 5ns- 할 필요가 있다. 이 경우에도 도 5(b)의 B부를 5ns- 함으로써 4T 마크 직후의 3T 스페이스가 상대적으로 5ns- 되게 된다.

이어서, 도 6 및 도 7을 이용하여 다이나믹 파라미터의 보정 방법에 대해 설명한다.

도 7은 기록 EFM의 데이터 패턴과 그 때의 레이저 출력과의 관계를 나타내고 있고, 도 7(a)는 3T 마크의 직후에 8T 스페이스가 있는 경우를 나타내고 있다. 또한 도 6은 3T 마크의 도수 분포를 확대한 것이다. 도 6에서 8T 스페이스 직전의 3T 마크의 도수 분포를 살펴보면, 전체 3T 마크의 도수 분포에서의 평균값과 8T 스페이스 직전의 3T 마크의 도수 분포 평균값은, 후자가 12ns- 하고 있는 것을 알 수 있다. 따라서, 이 경우 라이트 스트래티지를 보정하려면 도 7(a)에서의 레이저 출력 파형의 b부를 현상보다도 12ns- 할 필요가 있다. 즉, 도 7(a)의 b부를 12ns- 함으로써 8T 스페이스 직전의 3T 마크가 12ns+되게 된다. 마찬가지로, 4T 스페이스 직후의 3T 마크를 나타낸 도 7(b)의 경우도 도 6의 도수 분포로부터 전체 3T 마크의 도수 분포에서의 평균값에 대해 5ns+ 하고 있기 때문에, 도 7(b)에서의 레이저 출력 파형의 a부를 현상보다도 5ns+ 할 필요가 있다. 이 경우도 도 7(b)의 a부를 5ns+함으로써 4T 스페이스 직후의 3T 마크가 5ns- 되게 된다.

이어서, 도 8을 이용하여 본 실시형태에서의 광 디스크 기록 장치의 라이트 스트래티지 조정 방법의 처리에 대해 설명한다.

우선, 기록하는 광 디스크에 대해 원하는 β값을 얻을 수 있는 기록 파워를 결정한다(101단계). 또한 β값이란 도 10에 도시한 바와 같이 AC결합시의 RF신호의 0V에 대한 레벨을 각각 A1, A2로 했을 때, 이하의 식(1)에 의해 정해지는 값을 말한다.

β={(A1+A2)/(A1- A2)} -----------(1)

이 β값은 식 (1)에 나타내는 바와 같이 RF진폭의 비대칭성을 나타내는 척도 이고, 각각의 디스크에 대해 고유값이 정해져 있다.

이어서, 기록하는 광 디스크에 대응하는 대상 스트래티지로 시험 쓰기를 실행한다(102단계). 또한 알려지지 않은 광 디스크에 대해서는 표준적인 라이트 스트래티지를 사용한다. 기록된 전체 마크 및 스페이스는 신호 처리 회로(6)로부터 통계 처리부(9)로 공급되는 2치화된 RF신호에 기초하여 그 기록 길이가 측정된다(103단계). 측정된 데이터는 3T부터 11T의 각 마크 및 스페이스 길이마다 그룹화되고, 통계 처리부(9)내의 스페이스/마크 길이 가산부(23)에, 3T부터 11T의 각 마크 및 스페이스 길이마다 가산된 값과 발생 빈도 측정 회로(24)에서 카운트된 3T부터 11T의 각 마크 및 스페이스 길이의 발생 빈도를 제산기(25)에 입력하여, 각 마크 및 스페이스 길이의 평균값이 산출된다(104단계). 산출된 각 마크 및 스페이스 길이의 평균값은 CPU(7)를 매개로 하여 기억부(10)에 격납되며, CPU(7)는 측정된 각 마크 길이 및 스페이스 길이를 기억부(10)에 격납한 대응하는 평균값과 비교하여 보정값을 산출하고, 이 보정값을 신호 처리 회로(6)내의 도시하지 않은 엔코더로 출력하여 라이트 스트래티지를 변경한다(105단계).

통계 처리부(9)의 처리를 표 1부터 표 20을 이용하여 추기형 CD계 디스크의 실측 데이터를 토대로 설명한다.

표 1부터 표 9는 스태틱 파라미터에 관한 실측 데이터를 나타낸 것이다. 스태틱 파라미터의 경우에는, 우선 3T부터 11T의 각 마크의 직전 혹은 직후에 있는 3T부터 11T까지의 스페이스 길이가 통계 처리부(9)내의 스페이스 길이 측정 회로(21)에 의해 측정된다. 이 결과는 예를 들어, 이하의 표 1 및 표 6과 같다.

이어서, 스페이스 길이 측정 회로(21)의 측정 결과에 기초하여 발생 빈도 측정 회로(24)가 3T부터 11T의 각 마크의 직전 혹은 직후에 있는 3T부터 11T까지의 스페이스에 대해 그 발생 빈도를 측정한다. 이 결과는 예를 들어, 이하의 표 2 및 표 7과 같다. 그리고, 측정한 3T부터 11T까지의 스페이스 길이의 발생 빈도로부터 각 스페이스에 관한 증량값이 산출된다. 이 결과는 예를 들어, 이하의 표 3 및 표 8과 같다. 또한 본 실시형태에서는 증량값의 산출에 관한 것으로, 측정된 도수가 합계 도수의 3% 이하인 것에 대해서는 생략하고 있다.

측정한 3T부터 11T까지의 스페이스 길이로부터 각 스페이스 길이의 전체 평균값이 구해진다. 이 결과는 예를 들어, 이하의 표 4와 같다. 이어서, 산출된 평균값과 무게값은 대비되며, 각 스페이스에 대해 차분값이 구해진다. 구해진 차분값으로부터 다시 각 마크의 평균값이 구해지며, 구해진 평균값에 의해 각 마크 혹은 스페이스에 대한 스트래티지의 보정량과 보정 방향이 결정된다. 또한 보정량은 사용하는 IC의 분해능에 의해 제한된다. 이 결과는 예를 들어, 이하의 표 5 및 표 9와 같다.

표 10부터 표 18은 다이나믹 파라미터에 관한 실측 데이터를 나타낸 것이다. 다이나믹 파라미터의 경우도 3T부터 11T의 각 스페이스의 직전 혹은 직후에 있는 3T부터 11T까지의 마크에 대해 마찬가지의 처리가 이루어진다. 이 결과는 예를 들어, 이하의 표 14 및 표 18과 같다.

이에 따라, 구해진 보정값은 표 19와 같은 보정 테이블에 정리되며, 도 9에 나타내는 바와 같이 각 기록 마크에 대해 A와 a, B와 b가 가산된 값에 의해 라이트 스트래티지가 보정된다.

본 실시형태에서의 라이트 스트래티지의 보정 방법에 의하면, 표 20에 나타내는 실측 데이터와 같이, 각 스페이스 및 마크에 대해 평균 약 3ns 정도의 지터의 개선이 인정된다.

이상, 도면을 참조하여 본 발명의 실시형태에 대해 상술했지만, 구체적인 구성은 이들 실시형태에 제한되는 것이 아니라, 이 발명의 요지를 벗어나지 않는 범위내에서의 설계 변경 등도 포함된다. 예를 들어, 본 실시형태에 있어서는, 광 디스크에 대해서는 특히 한정하지 않았는데, CD-R, DVD-R, CD-RW, DVD-RW 등은 물론, 이에 한정되지 않고 다른 형태의 광 디스크일 수도 있다.

이상과 같이, 본 발명에 의하면, 알려지지 않은 광 디스크에 대해 적절한 라이트 스트래티지의 보정을 수행함으로써 기록 지터값을 개선할 수 있는 효과가 있다.

또한 본 발명에 의하면, 기준이 되는 라이트 스트래티지 및 기록 파워에 대해 보정을 수행함으로써 보정을 위해서 사용하는 광 디스크의 기록 영역을 최소한으로 억제할 수 있다.

또한 본 발명에 의하면, 기록 파라미터의 보정에 관한 것으로, 보정을 하는 방향이나 그 보정량을 파악할 수 있기 때문에, 보정에 필요한 시간을 최소한으로 억제할 수 있는 효과가 있다.

또한 본 발명에 의하면, 랜덤 기록 패턴으로 라이트 스트래티지를 보정하는 것이 가능하기 때문에, 특별한 테스트 기록 패턴 등을 필요로 하지 않는 효과가 있 다.

Claims (8)

1. 반도체 레이저에 의해 정보를 기록하는 광 디스크 기록 장치로,

   소정의 라이트 스트래티지를 기억하는 기억 수단과,

   상기 소정의 라이트 스트래티지로 기록된 마크부의 전후에 형성된 스페이스부의 길이를 측정하는 스페이스 길이 측정 수단과,

   상기 측정한 스페이스 길이와 기준이 되는 스페이스 길이로부터 보정값을 연산하고, 상기 연산한 보정값에 의해 상기 소정의 라이트 스트래티지에 관한 기록 마크 길이로만 결정되는 기록 파라미터(스태틱 파라미터)를 보정하는 스태틱 파라미터 보정 수단을 갖는 것을 특징으로 하는 광 디스크 기록 장치.
2. 제1항에 있어서,

   상기 스페이스 길이 측정 수단이 상기 광 디스크상에 형성된 소정의 길이를 갖는 각 마크부의 전후에 마련된 소정의 길이를 갖는 각 스페이스 길이를 측정하는 것과 함께,

   상기 측정한 스페이스 길이를 상기 소정의 길이를 갖는 각 마크부의 전후에 나눠 그룹화하고, 각 그룹의 측정값을 통계 처리하는 통계 처리 수단을 가지고,

   상기 스태틱 파라미터 보정 수단이 기준이 되는 스페이스 길이로서 상기 통계 처리된 스페이스 길이를 사용하는 것을 특징으로 하는 광 디스크 기록 장치.
3. 반도체 레이저에 의해 정보를 기록하는 광 디스크 기록 장치로,

   소정의 라이트 스트래티지를 기억하는 기억 수단과,

   상기 소정의 라이트 스트래티지에 기록된 스페이스부의 전후에 형성된 마크부의 길이를 측정하는 마크 길이 측정 수단과,

   상기 측정한 마크 길이와 사전에 설정된 마크 길이로부터 보정값을 연산하고, 상기 연산한 보정값에 의해 상기 소정의 라이트 스트래티지에 관한 것으로, 기록 마크 길이 및 그 전후에 형성되는 스페이스 길이에 의해 결정되는 기록 파라미터(다이나믹 파라미터)를 보정하는 다이나믹 파라미터 보정 수단을 갖는 것을 특징이라고 하는 광 디스크 기록 장치.
4. 제3항에 있어서,

   상기 마크 길이 측정 수단이 상기 광 디스크상에 형성된 소정의 길이를 갖는 각 스페이스부의 전후에 마련된 소정의 길이를 갖는 각 마크 길이를 측정하는 것과 함께,

   상기 측정한 마크 길이를 상기 소정의 길이를 갖는 각 스페이스부의 전후에 나눠 그룹화하고, 각 그룹의 측정값을 통계 처리하는 통계 처리 수단을 가지고,

   상기 다이나믹 파라미터 보정 수단이 기준이 되는 마크 길이로서 상기 통계 처리된 마크 길이를 사용하는 것을 특징으로 하는 광 디스크 기록 장치.
5. 제2항 또는 제4항에 있어서,

   상기 통계 처리 수단이 각 그룹의 측정값을 통계 처리하여 평균값을 산출하는 것을 특징으로 하는 광 디스크 장치.
6. 반도체 레이저에 의해 정보를 기록하는 광 디스크 기록 장치로,

   라이트 스트래티지를 기억하는 기억 수단과,

   상기 소정의 라이트 스트래티지로 기록되고, 상기 광 디스크상에 형성된 소정의 길이를 갖는 각 마크부의 전후에 형성된 소정의 길이를 갖는 각 스페이스부의 길이를 측정하고, 상기 측정한 스페이스 길이를 소정의 길이를 갖는 각 마크부의 전후로 나눠 그룹화하며, 각 그룹의 평균값을 산출하는 제1 평균값 산출 수단과,

   상기 소정의 라이트 스트래티지로 기록되고, 상기 광 디스크상에 형성된 소정의 길이를 갖는 각 스페이스부의 전후에 형성된 소정의 길이를 갖는 각 마크부의 길이를 측정하고, 상기 측정한 마크 길이를 상기 소정의 길이를 갖는 각 스페이스부의 전후로 나눠 그룹화하고, 각 그룹의 평균값을 산출하는 제2 평균값 산출 수단과,

   상기 산출된 스페이스 길이의 각 평균값과 측정된 스페이스 길이로부터 보정값을 산출하는 제1 보정값 산출 수단과,

   상기 산출된 마크 길이의 각 평균값과 측정된 마크 길이로부터 보정값을 산출하는 제2 보정값 산출 수단을 가지며,

   상기 제1 보정값 산출 수단에 의해 산출된 보정값과 제2 보정값 산출 수단에 의해 산출된 보정값의 합에 의해 상기 소정의 스트래티지를 보정하는 것을 특징으로 하는 광 디스크 기록 장치.
7. 소정의 라이트 스트래티지로 기록된 마크부의 전후에 형성된 스페이스부의 길이를 측정하는 단계와,

   상기 측정한 스페이스 길이와 기준이 되는 스페이스 길이로부터 보정값을 연산하는 단계와,

   상기 연산한 보정값에 의해 상기 소정의 라이트 스트래티지에 관한 기록 마크 길이로만 결정되는 기록 파라미터를 보정하는 단계를 갖는 것을 특징으로 하는 광 디스크 기록 장치에서의 라이트 스트래티지 조정 방법.
8. 소정의 라이트 스트래티지로 기록된 스페이스부의 전후에 형성된 마크부의 길이를 측정하는 단계와,

   상기 측정한 마크 길이와 사전에 설정된 마크 길이로부터 보정값을 연산하는 단계와,

   상기 연산한 보정값에 의해 상기 소정의 라이트 스트래티지에 관한 기록 마크 길이 및 그 전후에 형성되는 스페이스 길이에 의해 결정되는 기록 파라미터를 보정하는 단계를 갖는 것을 특징으로 하는 광 디스크 기록 장치에서의 라이트 스트래티지 조정 방법.

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