CN1780381A - 动态孔驱动装置及其控制方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种用于调节投影光学系统的光量的动态孔驱动装置及其控制方法。该系统包括旋转装置、驱动装置、第一检测装置、以及第二检测装置。旋转装置的上端连接至动态孔,以在一转角范围内可左右转动。驱动装置根据预定电信号将旋转装置左右转动。第一检测装置通过霍尔效应来检测旋转装置的位置。第二检测装置检测第一检测装置由于温度变化而导致的操作误差。
Description
相关申请
本发明基于并要求2004年11月26日提交的韩国申请第2004-98104号的优先权,其内容结合于此供参考。
技术领域
本发明通常涉及一种用于调节投影电视或投影仪中的投影透镜的光量的动态孔,特别涉及一种动态孔驱动装置及其控制方法,其可利用霍尔(Hall)传感器进行动作,从而具有简单的结构并且不论周围温度的变化如何其均可执行精确的位置控制。
背景技术
近来,大屏幕高清晰度显示装置作为其中的一个重要方面引起了人们的关注,其代表为投影电视(TV)和投影仪。
这些投影TV和投影仪根据光学原理来运行,图1中示出了这种投影电视或投影仪的光学结构的一个示例。
参见图1,投影装置通常包括用于发光的照明光学系统1a;反射显示装置1b,通过反射根据所提供影像的像素基底上面的光而用于将影像加到从照明光学系统1a入射的光中;以及投影光学系统1c,用于将通过反射显示装置1b反射的影像投影至屏幕上。
照明光学系统1a包括光源10,该光源具有用于产生光的灯和用于反射光以沿着传播路径导引该光的反射镜;以及光学透镜20,用于将从光源10发出的光照射至反射显示装置1b上。
光学透镜20包括聚光透镜21,用于将从光源10发出的光聚集至显示装置1b上;以及修整透镜23,用于在将该聚集光转变为平行光的同时整形该聚集光。在这种情况下,色轮22位于聚光透镜21与修整透镜23之间以在其旋转过程中可选择性地传送所需的彩色光,其中色轮通过驱动装置(未显示)沿单一方向旋转,并沿径向以预定间隔排布有多个滤色镜。
显示装置1b通过数字微镜设备(DMD)30予以实施,该数字微镜设备安装于基底33上,该基底具有处理器31和存储器32,且根据其倾角将照明光学系统1a的光径与投影光学系统1c的光径分开。
DMD 30是由Texas Instruments Inc.开发的投影式显示装置,并且采用光学半导体来控制光。DMD 30设置有多个二维地分布于硅片上的微小尺寸的微反射镜。每一个微反射镜处理并对应于像素结构,并且反射镜的倾斜可通过对应于各个像素的存储器32的相应的静电系统进行调节,这样即可完成影像。DMD 30的各反射镜在通过其倾斜运动以10μs的高速度将光的光径在两个状态(ON/OFF)之间切换的同时反射入射光。
换而言之,当反射镜倾斜且切换至ON的状态时,由反射镜反射的光通过投影光学系统1c的投影透镜组40而被放大,然后照射至屏幕50上。相反地,当反射镜倾斜且切换至OFF的状态时,反射镜上的入射光不能照射至屏幕50上。DMD 30通过以根据用于各个像素的影像信号分别倾斜反射镜的方式而选择性地开关光,从而将影像信息加于由照明光学系统1a提供的光中。
投影光学系统1c由投影透镜组40组成,并且在放大影像的同时将从DMD 30发射的影像聚集至屏幕50上。
在这种情况下,如图2所示,投影透镜组40由多个投影透镜组成,该多个投影透镜沿着透镜镜筒41中的光轴连续地分布,并具有预定的各个直径和各个光学特性,从而使得从DMD 30入射的影像被放大从而清晰地聚集至与其分开预定距离的屏幕50上。在这种情况下,投影影像的焦距可通过控制两相邻的投影透镜42之间的间隔而进行调节。
此外,孔43设置于这些投影透镜42之间以调节光量,从而使投影影像具有合适的对比度。在这种情况下,为了精确地调节对比度,孔43的位置必须在任意角(例如,30度)内以128的高分辨步骤进行控制,并且音圈马达(Voice Coil Motor)(VCM)44通常用于旋转孔43以便进行精确的位置控制。
图3示出了用于控制孔的位置的常规结构。用于控制孔的常规装置110包括:枢轴111,其与该孔形成整体且可左右转动;传感器磁体112,用于根据枢轴111的转角而提供不同的磁化强度;霍尔(Hall)传感器113,随着枢轴111整体旋转,并用于将由传感器磁体112提供的磁化强度转换为电信号;止动件114,位于枢轴111的转角的极限位置,以使得转动趋于超过极限位置的枢轴111停止;驱动磁体115,位于枢轴111的下端的转动路径上;以及驱动线圈116,安装于枢轴111的下端上以与驱动磁体115相对,根据与驱动磁体115的电磁相互作用而产生的驱动电流来转动枢轴111。驱动磁体115和驱动线圈116与VCM(音圈马达)相对应。
孔驱动装置执行反馈控制以使枢轴111通过以下方式移动至指定位置,即,通过将电流施加到驱动线圈116来旋转枢轴111a,并利用传感器磁体112和霍尔传感器113来检测枢轴111的位置。
以下将描述检测孔的位置的常规程序。如图4a所示,在初始状态时,其中电流未被施加到驱动线圈116上,枢轴111通过止动件114而停止,并且随后将霍尔传感器113的输出存储为参考值。之后,当将枢轴111转动如图4b所示的一定角度时,霍尔传感器113的输出发生变化,并且枢轴111的转角通过存储的参考值与霍尔传感器113的输出之间的差进行估算。
然而,在枢轴111的位置如上所述利用霍尔传感器113进行检测的情况下,当周围温度发生变化时,对应于枢轴111的转角的传感器磁体112的磁化强度发生变化,从而即使枢轴111处于相同的位置,霍尔传感器113的输出由于周围温度也会改变。因此,由于位置反馈值取决于周围温度而改变,所以孔驱动的可靠性下降了。
此外,代替霍尔传感器,不受周围温度影响的光学传感器或MR编码器可用于进行位置控制,但是其将导致高成本和复杂的电路结构。
发明内容
因此,鉴于现有技术中存在的上述问题而提出了本发明,本发明的目的在于提供一种动态孔的驱动装置及其控制方法,其可利用霍尔传感器进行操作,从而使其结构简单,并且不论周围温度的变化如何均可执行精确的位置控制。
为了实现上述目的,本发明提供了一种动态孔驱动装置,用于通过转动动态孔而调节投影光学系统的光量,其包括旋转装置,其上端连接至动态孔以在一转角范围内左右转动;驱动装置,根据预定电信号左右转动旋转装置;第一检测装置,用于利用霍尔效应检测旋转装置的位置;以及第二检测装置,用于检测第一检测装置由于温度变化而导致的操作误差。
在动态孔驱动装置中,第一检测装置可包括传感器磁体,其平行于旋转装置的转动路径而设置,以基于沿其长度的磁化强度的线性变化而提供取决于旋转装置的转角变化的磁化强度;以及第一霍尔传感器,其随着旋转装置一起旋转,以将由传感器磁体提供的磁化强度转换为电信号。可选择地,第一检测装置可包括固定于预定位置的传感器磁体,从而旋转装置与传感器磁体之间的间隔可通过旋转装置的旋转而发生变化,并用于具有恒定的磁化强度;以及第一霍尔传感器,其随着旋转装置一起旋转,以将取决于转角变化的磁化强度转换为电信号。
在动态孔驱动装置中,第二检测装置可由第二霍尔传感器形成,该第二霍尔传感器固定于与传感器磁体分开预定距离的位置处,以检测传感器磁体的磁化强度的变化。
动态孔驱动装置还可包括温度补偿装置,其用于通过第二检测装置的输出中的变化来计算第一检测装置由于温度变化而导致的特征的变化,并且输出用于补偿第一检测装置的位置检测误差的温度补偿值;以及驱动控制装置,其用于利用温度补偿值补偿第一检测装置的位置检测误差、接收指示位置值、将指示位置值与修正位置值相比较、以及控制驱动装置以使旋转装置到达指示的位置。
另外,为了实现上述目的,本发明提供一种动态孔驱动装置的控制方法,用于通过传感器磁体检测旋转位置,该传感器磁体用于根据连接至动态孔的旋转装置的转角提供变化的磁化强度,第一霍尔传感器位于旋转装置上以将磁化强度转换为电信号,而第二霍尔传感器固定于与传感器磁体分开预定距离的位置处,以检测传感器磁体的磁力变化,该控制方法包括以下步骤:在动态孔被驱动之前,将第二霍尔传感器在预定温度下的输出作为参考值进行存储;接收旋转装置的指示位置值;通过第一霍尔传感器检测旋转装置的当前位置;通过将第二霍尔传感器的输出与参考值相比较来计算对应于偏差的温度补偿值;通过利用温度补偿值对由第一霍尔传感器检测到的位置检测值进行补偿来计算已温度补偿的位置检测值;以及将已温度补偿的位置与指示位置值相比较,并移动旋转装置以使动态孔到达指示位置。
附图说明
通过以下结合附图进行的详细描述中,本发明的上述及其他目的、特征和优点将会更加显而易见,其中:
图1为常规DLPTM投影装置的总体图;
图2示出了图1中的DLPTM投影装置中的投影光学系统的光学引擎的详细结构;
图3为常规的动态孔控制结构的示意图;
图4a和图4b示出了常规动态孔的操作;
图5a为根据本发明的动态孔驱动装置的第一实施例的示意图;
图5b为根据本发明的动态孔驱动装置的第二实施例的示意图;以及
图6为示出了根据本发明的动态孔驱动装置的典型应用的框图。
具体实施方式
下面,将参照附图详细描述根据本发明的优选实施例。在附图中,相同的标号在所有不同的附图中均指向相同或相似的部件。
本发明提供了一种利用霍尔效应驱动动态孔的位置的装置,其中传感器磁体取决于温度变化的特征变化被检测,从而位置检测中的误差利用特征变化进行补偿,因而可精确地控制该动态孔。
图5a和图5b示出了根据本发明的改进的动态孔驱动装置的实施例。
参见图5a,根据本发明的动态孔驱动装置包括枢轴111,其上端与投影光学系统1c的投影透镜组40内的孔整体形成,以在转角的预定范围内左右转动;传感器磁体112,其位于与枢轴111分开预定距离的位置处,以使得传感器磁体112的长度平行于枢轴111的转动路径,从而提供具有一定强度的磁力,其中该强度由于传感器磁体112根据其长度方向的磁化强度的线性变化而取决于转角;第一霍尔传感器113,其随着枢轴111一起旋转,以将根据枢轴111的位置而变化的、且由传感器磁体112提供的磁化强度转换为电信号;驱动磁体115,沿枢轴111的下端的转动路径而设置;驱动线圈116,位于枢轴111的下端,从而由于通过将驱动电流施加到驱动线圈116上而产生的电磁力而沿着驱动磁体115左右旋转;以及第二霍尔传感器117,其固定于与传感器磁体112分开预定距离的位置处,以将由传感器磁体112产生的磁化强度转化为电信号。
在上述结构中,枢轴111为旋转装置,其与孔整体形成从而可在转角的预定范围内左右转动;而驱动磁体115和驱动线圈116为驱动装置,其以VCM的方式使得枢轴111转动。
传感器磁体112和第一霍尔传感器113对应于用于检测旋转装置的转角的第一检测装置,而第二霍尔传感器117对应于用于检测第一检测装置取决于温度变化的特征变化的第二检测装置。
以下将描述结构如上所述的动态孔驱动装置中的位置检测和温度补偿。
由于沿着其纵向的传感器磁体112的磁化强度线性变化,所以传感器磁体112产生取决于枢轴111的转角的强度变化的磁力。在这种情况下,当第一霍尔传感器113随着枢轴111旋转时,传感器磁体112产生的磁化强度被转换为电信号。由于由第一霍尔传感器113产生的电流由于霍尔效应取决于传感器磁体112所提供的磁化强度而变化,所以从第一霍尔传感器113输出的电流信号对应于枢轴111的转角,并且枢轴111的转角对应于孔的位置,从而第一霍尔传感器113的输出电流表示了孔的位置。因此,第一霍尔传感器113的输出电流用作孔的位置值。
与此同时,如上所述,传感器磁体112的作为第一霍尔传感器113的输出电流的参考的磁化强度根据周围温度而变化。
第二霍尔传感器117的位置相对于传感器磁体112固定。因此,当传感器磁体112的特征未变化时,即,当周围温度未变化时,第二霍尔传感器117的输出不会发生变化。相反地,当传感器磁体112的特征变化时,即,当周围温度变化时,第二霍尔传感器117的输出就会发生变化。因此,通过检查第二霍尔传感器117的输出,就可确定传感器磁体112的特征是否发生变化,以及传感器磁体112的特征发生了什么程度的变化。
参见图5b,其示出了根据本发明的动态孔驱动装置的另一实施例,其与图5a的动态孔驱动装置在位置检测原理上稍有不同。
参见图5b,根据本发明第二实施例的动态孔驱动装置包括:枢轴111,其上端与位于投影光学系统1c的投影透镜组40内的孔整体形成,从而可在转角的预定范围内左右旋转;传感器磁体112′,其固定于预定位置,从而从其至枢轴111的距离通过枢轴111的转动而变化,并用于具有恒定的磁化强度;第一霍尔传感器113′,其随着枢轴111一起转动,以将取决于枢轴111的转动位置而变化的、且由传感器磁体112′提供的磁化强度转换为电信号;驱动磁体115,位于沿枢轴111的下端的转动路径的位置上;驱动线圈116,位于枢轴111的下端,从而由于通过将驱动电流施加到驱动线圈116上而产生的电磁力而沿着驱动磁体115的长度左右旋转;以及第二霍尔传感器117′,其固定于与传感器磁体112′分开预定距离的位置处,以将由传感器磁体112′产生的磁化强度转化为电信号。
以如上所述相同的方式,在上述结构中,枢轴111对应于与孔整体形成的、从而在转角的预定范围内左右转动的旋转装置;而驱动磁体115和驱动线圈116对应于以VCM方式转动枢轴111的驱动装置。传感器磁体112′和第一霍尔传感器113′对应于用于检测旋转装置的转角的第一检测装置;而第二霍尔传感器117′对应于用于检测第一检测装置取决于温度变化的特征变化的第二检测装置。
以下将描述根据本发明第二实施例的动态孔驱动装置中的位置检测和温度补偿。
传感器磁体112′的磁化强度具有恒定的强度。因此,由传感器磁体112′提供的磁化强度与至传感器磁体112′的距离成反比。此外,当枢轴111在一预定角度范围内旋转时,从枢轴111至传感器磁体112′的距离根据转角而变化。因此,随着枢轴111旋转的第一霍尔传感器113′的电流输出根据枢轴111的转角而变化,从而枢轴111的转角,即,孔的位置可基于第一霍尔传感器113′的电流输出而进行检测。
在这种情况下,优选地,从传感器磁体112′至枢轴111的距离变化,即,枢轴111中磁化强度的变化根据枢轴111的转角而线性变化。与此同时,第一霍尔传感器113′的输出电流可容易地进行处理。
由于第二霍尔传感器117′被固定,因此,第二霍尔传感器117′与传感器磁体112′之间的距离为恒定,所以只要传感器磁体112′的特征不发生变化那么输出的就是恒定量的电流。相反地,当传感器磁体112′的磁化强度由于周围温度的变化而变化时,将相应的磁化强度转换为电信号的第二霍尔传感器117′的输出就会发生变化。因此,通过检测第二霍尔传感器117′在驱动孔过程中的输出相对于第二霍尔传感器117′在预定参考温度的输出的变化,就可确定传感器磁体112′的特征是否根据温度发生了变化,并可确定传感器磁体112′的特征发生了多大程度的变化。
如图5a和图5b所示,采用动态孔驱动装置的动态孔的位置控制可如下所述来进行。
为了确定传感器磁体112和112′的特征是否发生了变化,并确定发生了多大程度的变化,在动态孔开始操作之前将第二霍尔传感器117和117′在预定参考温度下的输出值作为参考值存储。
当动态孔开始操作并且枢轴111的指示位置值设定时,位置控制开始将枢轴111转动到指示位置。通过将预定参考值与当指示位置值被输入时进行检测的第二霍尔传感器117和117′的检测值相比较以确定传感器磁体112和112′的特征是否已发生变化。
如果存储参考值与第二霍尔传感器117和117′的电流输出值之间没有偏差,那么传感器磁体112和112′的特征就没有发生变化,从而第一霍尔传感器113和113′的输出可无须位置补偿而被应用。相反地,如果参考值与第二霍尔传感器117和117′的电流输出值之间有偏差,那么传感器磁体112和112′的特征则由于温度变化而发生变化,从而第一霍尔传感器113和113′的位置检测值必须根据特征变化的程度进行补偿并且必须将补偿的位置值用于驱动枢轴111。换而言之,对第一霍尔传感器113和113′的当前位置值的补偿利用参考值与第二霍尔传感器117和117′的电流位置检测值之间的偏差来予以执行,该温度补偿位置检测值与指示位置值相比较,然后调节驱动线圈116的电流量以使得枢轴111到达指示位置。
图6为示出根据本发明的动态孔驱动装置的方框图,其还包括上述用于执行位置控制的装置。图6仅示出了图5a所示的第一实施例,但其同样可应用于图5b所示的第二实施例。
参见图6,根据本发明的动态孔驱动装置还包括温度补偿装置200,其用于通过将预定参考值与第二霍尔传感器117的检测值相比较来计算传感器磁体112由于温度变化而产生的特征变化,并输出作为温度补偿值的特征变化值;以及驱动控制装置300,其用于接收指示位置值,将指示位置值与第一霍尔传感器113的检测值相比较,并且控制驱动线圈116的电流以使枢轴111到达指示位置。
具体而言,温度补偿装置200包括差动放大单元210,其用于将预定参考值与第二霍尔传感器117的输出相比较并放大其间的偏差;环路增益控制单元220,用于控制差动放大单元210的输出的增益;比例积分控制单元230,用于对环路增益控制单元220输出的偏差值进行比例积分控制来计算温度补偿值;以及电压/电流转换单元240,用于将从比例积分控制单元230输出的温度补偿值转换为电流信号。
驱动控制装置300包括信号转换单元380,用于将第一霍尔传感器113的输出转换为电压信号;第一操作单元310,用于通过将以预定电压信号形式发送的指示位置值与信号转换单元380的位置检测值相比较来输出偏差;扭矩转换单元320,用于将从第一操作单元310输出的偏差转换为扭矩值,枢轴111通过该扭矩而转动;第二操作单元330,其用于将温度补偿装置200的温度补偿值加到扭矩转换单元320的输出上,然后从该相加的结果中减去电流反馈;电流放大单元340,用于放大第二操作单元330的输出;H桥350,其用于对电流放大单元340的输出信号进行矫正,并将矫正的输出信号施加于驱动线圈116;以及电流检测单元370,用于将施加于驱动线圈116的电流反馈至第二操作单元330。
驱动控制装置300通过第二操作单元330加上由温度补偿装置200提供的温度补偿值来调节驱动线圈116的电流量。
温度补偿装置200确定参考值与第二霍尔传感器117所检测的检测值之间是否存在差异,并输出用于补偿对应于该差异的变化的温度补偿值。在比例积分控制单元230中,参考值与第二霍尔传感器117的输出之间的偏差与温度补偿值的关系在考虑传感器磁体112由于温度导致的磁化强度变化的情况下通过将温度偏差转换为位置变化来进行设置。此外,参考值可设置为第二霍尔传感器117在预定参考温度下的输出。
如上所述,本发明可利用传感器磁体和霍尔传感器来经济地驱动动态孔,该动态孔用于调节投影仪或投影TV中的投影光学系统的光量。此外,其可检测传感器磁体的特征是否发生变化以及传感器磁体的特征由于周围温度发生了多少变化,并且不管周围温度变化如何,其均可通过执行温度补偿而获得精确的位置控制结果。
以上所述仅为本发明的优选实施例而已,并不用于限制本发明,对于本领域的技术人员来说,本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (11)
1.一种动态孔驱动装置,用于通过转动动态孔来调节投影光学系统的光量,包括:
旋转装置,其上端连接至所述动态孔,以在转角的范围内可左右转动;
驱动装置,用于根据预定电信号而左右转动所述旋转装置;
第一检测装置,用于利用霍尔效应来检测所述旋转装置的位置;以及
第二检测装置,用于检测所述第一检测装置由于温度变化而导致的操作误差。
2.根据权利要求1所述的动态孔驱动装置,其中所述第一检测装置包括:
传感器磁体,其平行于所述旋转装置的转动路径而设置,从而基于沿其长度的磁化强度的线性变化而提供取决于所述旋转装置的转角的变化的磁化强度;以及
第一霍尔传感器,其随所述旋转装置一起旋转,以将由所述传感器磁体提供的所述磁化强度转换为电信号。
3.根据权利要求1所述的动态孔驱动装置,其中所述第一检测装置包括:
传感器磁体,其固定于预定位置,从而所述旋转装置与所述传感器磁体之间的间隔可由所述旋转装置的旋转而发生变化,并用于具有恒定的磁化强度;以及
第一霍尔传感器,其随所述旋转装置一起旋转,以将取决于所述转角而变化的所述传感器磁体的磁化强度转换为电信号。
4.根据权利要求2或3所述的动态孔驱动装置,其中所述第二检测装置由第二霍尔传感器形成,所述第二霍尔传感器固定到与所述传感器磁体间隔预定距离的位置处,以检测所述传感器磁体的所述磁化强度的变化。
5.根据权利要求1所述的动态孔驱动装置,还包括:
温度补偿装置,其用于从所述第二检测装置的输出中的变化来计算所述第一检测装置由于温度变化而导致的特征的变化,并且输出用于补偿所述第一检测装置的位置检测误差的温度补偿值;以及
驱动控制装置,其用于利用所述温度补偿值来补偿所述第一检测装置的所述位置检测误差;接收指示位置值;将所述指示位置值与所述修正位置值进行比较;以及控制所述驱动装置以使得所述旋转装置到达指示的位置。
6.根据权利要求5所述的动态孔驱动装置,其中所述驱动装置包括:
驱动线圈,其与所述旋转装置形成整体,以接收由所述驱动控制装置控制的电流;以及
驱动磁体,位于与所述驱动线圈分开的位置。
7.根据权利要求6所述的动态孔驱动装置,其中所述温度补偿装置包括:
差动放大单元,其用于通过将所述第一检测装置的输出与预定参考值相比较来计算偏差;
环路增益控制单元,用于控制所述差动放大单元的所述输出信号的增益;
比例积分控制单元,用于通过对所述环路增益提供的偏差进行比例积分控制来计算所述温度补偿值;以及
电压/电流转换单元,用于将由所述比例积分控制单元提供的所述温度补偿值转换为电流信号。
8.根据权利要求6所述的动态孔驱动装置,其中所述驱动控制装置包括:
信号转换单元,用于将从所述第一检测装置输出的所述位置检测值转换为电压信号;
第一操作单元,用于通过将所述指示位置值与所述信号转换单元施加的所述位置检测值相比较来计算偏差;
扭矩转换单元,用于将所述第一操作单元的输出信号转换为扭矩控制值;
第二操作单元,用于将所述温度补偿装置的所述温度补偿值加到所述扭矩转换单元的转矩控制值上,并且从所述相加的结果中减去电流反馈值;
电流放大单元,用于放大所述第二操作单元的输出;
H桥,其用于对所述电流放大单元的输出进行矫正,并将所述矫正的输出施加于所述驱动线圈;以及
电流检测单元,用于将施加于所述驱动线圈的电流反馈至所述第二操作单元。
9.根据权利要求7所述的动态孔驱动装置,其中施加于所述差动放大单元的所述参考值是所述第二检测装置在预定参考温度下的输出。
10.一种动态孔驱动装置的控制方法,用于利用传感器磁体检测旋转位置,所述传感器磁体用于提供取决于连接至动态孔的旋转装置的转角而变化的磁化强度,第一霍尔传感器位于所述旋转装置上以将所述磁化强度转换为电信号,以及第二霍尔传感器固定于与所述传感器磁体分开预定距离的位置处,以检测所述传感器磁体的磁力变化,所述控制方法包括以下步骤:
在所述动态孔被驱动之前,将所述第二霍尔传感器在预定温度下的输出作为参考值进行存储;
接收所述旋转装置的指示位置值;
通过所述第一霍尔传感器检测所述旋转装置的当前位置;
通过将所述第二霍尔传感器的所述输出与所述参考值相比较来计算对应于偏差的温度补偿值;
通过利用温度补偿值对由所述第一霍尔传感器检测到的所述位置检测值进行补偿来计算已温度补偿的位置检测值;以及
将所述已温度补偿的位置与所述指示位置值相比较,并移动所述旋转装置以使得所述动态孔到达所述指示位置。
11.根据权利要求10所述的控制方法,其中移动所述旋转装置的步骤是将已温度补偿的位置检测值与指定位置值进行比较,以及驱动旋转装置以使得所述两个值彼此相同的步骤。
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