CN1759329A - 金属检出装置 - Google Patents
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Abstract
设有预先存储使大小各异的多个金属异物样品分别通过交变磁场中时，检波部26输出的信号数据和表示各异物样品大小的数据的存储器33，设定部件32基于该异物样品的数据，通过判定部件31在显示器36上显示能够检出的金属的大小。另外，混入金属显示部件34在判定部件31判定被检查体内有金属混入时，在显示器36上显示该混入金属的大小。用户能够直观地把握可检出的金属的大小或被检查体内混入的金属的大小。
Description
技术领域
本发明涉及用于食品等检查线上，在搬送被检查体期间，检出被检查体内是否有金属混入的金属检出装置；并为直观地进行检出时所需的参数设定操作或被检出金属识别的技术。
背景技术
作为食品等检查线上使用的金属检出装置，在搬送被检查体期间，为能进行混入金属的检出，而采用使被检查体的搬送路线上发生磁场，检出因被检查体内混入的金属引起磁场变化的方法。
图19表示的是检出磁场变化的金属检出装置10的结构。
该金属检出机10中设有：输出预定频率的信号D的信号发生器11；接收信号D，并在被检查体1的搬送路线上发生预定频率的交变磁场E的发送线圈12；包括在分别等量接收该交变磁场E的位置沿着被检查体1的搬送方向配置，并互相差动连接的两个接收线圈13a、13b，检出与因通过交变磁场E中的物体引起的磁场变化相对应的信号的磁场变化检出部13；通过与信号D相同频率的信号来对磁场变化检出部13的输出信号R作同步检波的检波部16；以及基于检波部16的输出信号判定被检查体1内是否混入金属的控制部17。
这样构成的传统的金属检测装置10中，当交变磁场E中不存在被检查体1时，由于两个接收线圈13a、13b产生的信号处于振幅相等、相位反转的平衡状态，所以信号R的振幅为零，检波部16的输出也为零；但当交变磁场E中存在被检查体1时，由于被检查体1本身及混入被检查体1内的金属的影响，两个接收线圈13a、13b产生的两信号的平衡状态被打破，随着被检查体1的移动输出振幅及相位变化的信号R。
此时的信号R，不仅包含因混入金属对交变磁场E的影响而产生的信号成分，还包含因被检查体1本身(包括包装材料等)对交变磁场E的影响而产生的信号成分，这样，因该被检查体1本身引起的信号成分而确定了混入金属的检出界限。
该被检查体1本身对交变磁场的影响因被检查体含有水分量、包装材料的材质等不同而大相径庭。
因此，在以前，为了使事先让被检查体1的合格样品通过交变磁场E时，检波部16的输出信号振幅为最小，而设定同步检波的相位，并将大于该最小振幅值的电压值作为阈值而自动设定或手动输入设定，或手动指定对于最小振幅值的倍率，并将该指定倍值的电压设定为阈值。当对被检查体1进行检查，被检查体1通过交变磁场E时，检波部16的输出信号振幅超过阈值时，就判定为该被检查体1内混入有金属异物。
这样，为检出金属将阈值以电压值或倍率值来设定的技术，例如，在日本专利文献特许第2574694号中有公开。
但是，上述为判定有无金属混入将阈值以电压值或倍率值输入或指定的方法中，用户侧并不能直观地知道能够检出多大程度大小的金属。
还有，不能知道被判定为有混入金属的被检查体内混入了多大程度大小的金属，对用户而言，不能说使用方便。
本发明的目的在于：提供解决了该问题，用大小来表示用以判定阈值或被检查体内混入的金属，使用户能直观把握、使用且更加方便的金属检出装置。
发明的公开
为达成上述目的，本发明权利要求1所述的金属检出装置，其特征在于设有：
信号发生器21；
发送线圈22，接收所述信号发生器21输出的信号，并使被检查体的搬送路线上发生与该信号频率相等频率的交变磁场；
磁场变化检出部23，包括在接收所述交变磁场的位置上沿着所述搬送路线配置的两个接收线圈23a、23b，并输出与通过所述交变磁场中的物体引起的磁场变化相对应的信号；
检波部26，通过所述信号发生器21输出的信号频率相等的信号对所述磁场变化检出部23的输出信号进行同步检波；
判定部件31，对所述检波部26的输出信号与阈值作比较，判定被检查体内有无混入金属；以及
显示器36，且
所述金属检出装置还设有：
存储器33，存储大小各异的金属的多个异物样品分别通过所述交变磁场中时，所述检波部26输出信号的数据和表示各异物样品大小的数据，
基于所述存储器33存储的异物样品数据，在所述显示器36显示可用所述判定部件31检出的金属的大小。
另外，本发明权利要求2所述的金属检出装置，其特征在于：在如权利要求1所述的金属检出装置中设有操作部35，
通过该操作部35的操作，能指定所述异物样品的大小，并将与指定大小相对应的阈值设定在所述判定部件31内。
另外本发明权利要求3所述的金属检出装置，其特征在于设有：
信号发生器21；
发送线圈22，接收所述信号发生器21输出的信号，并使被检查体的搬送路线发生与该信号频率相等频率的交变磁场；
磁场变化检出部23，包括在接收所述交变磁场的位置上沿着所述搬送路线配置的两个接收线圈23a、23b，并输出与通过所述交变磁场中的物体引起的磁场变化相对应的信号；
检波部26，通过与所述信号发生器21输出的信号频率相等的信号对所述磁场变化检出部23的输出信号进行同步检波；
判定部件31，对所述检波部26的输出信号与阈值作比较，判定被检查体内有无混入金属；以及
显示器36，且
所述金属检出装置还设有：
存储器33，存储大小各异的金属的多个异物样品分别通过所述交变磁场中时，所述检波部26输出信号的数据和表示各异物样品大小的数据；以及
混入金属显示部件34，当由所述判定部件31判定为被检查体内混入有金属时，基于所述检波部26输出的信号和所述存储器33存储的异物样品数据，求出被检查体内混入的金属的大小并显示在所述显示器36上。
另外本发明权利要求4所述的金属检出装置，其特征在于设有：
信号发生器21；
发送线圈22，接收所述信号发生器输出的信号，并使被检查体的搬送路线上发生与该信号频率相等频率的交变磁场；
磁场变化检出部23，包括在接收所述交变磁场的位置上沿着所述搬送路线配置的两个接收线圈23a、23b，并输出与通过所述交变磁场中的物体引起的磁场变化相对应的信号；
检波部26，通过与所述信号发生器21输出的信号频率相等的信号对所述磁场变化检出部23的输出信号进行同步检波；
判定部件31，对所述检波部26的输出信号与阈值作比较，判定被检查体内有无金属混入；
显示器36，且
所述金属检出装置还设有：
存储器33，存储大小各异的金属的多个异物样品分别通过交变磁场中时，检波部26输出信号的数据与表示各异物样品大小的数据，同时还存储合格样品通过交变磁场中时检波部26输出的信号数据；
基于所述存储器33存储的异物样品数据和合格样品数据，求出异物样品和合格样品的输出比值最大时的最佳检波相位，进一步求出该最佳检波相位时合格样品和各异物样品的检波输出之比值与各异物样品大小的关系，同时设定与所述比值的基准值相对应的所述阈值。
另外，本发明权利要求5所述的金属检出装置，其特征在于：在权利要求4所述的金属检出装置中，
对于所述交变磁场的所述搬送路线的位置可变更，
在通过变更而设定的多个不同的所述位置上，让合格样品通过所述交变磁场中，求出每个位置的所述阈值，根据各位置和对应于该各位置的各阈值将能够检出异物的大小显示在显示器36上。
另外，本发明权利要求6所述的金属检出装置，其特征在于：在权利要求1至5中任一项所述的金属检出装置中，
让大小各异的金属的多个的异物样品分别通过所述金属检出装置的所述交变磁场中，作为主数据取得所述检波部26输出的信号的数据；
将该主数据存储在其它所述金属检出装置的所述存储器33中，同时让所述多个异物样品分别通过其它的所述金属检出装置的交变磁场中，根据检波部26输出的信号数据来补偿所述主数据。
附图的简单说明
图1是本发明实施例的结构的示图。
图2是表示实施例要部设定模式时处理步骤的流程图。
图3是说明异物样品位置与磁场变化关系的示图。
图4是对应于磁场变化的信号图。
图5是检波输出的利萨如波形图。
图6是比值与大小的关系的示图。
图7是对应于设定阈值的大小的显示例的示图。
图8是表示实施例要部检查模式时的处理步骤的流程图。
图9是最佳检波相位状态时的利萨如波形图。
图10是混入金属的大小的显示例的示图。
图11是能够检出大小的显示例的示图。
图12是说明求检波相位的其它方法的示图。
图13是本发明实施例2的前视图。
图14是本发明实施例2的俯视图。
图15是本发明实施例2的侧视图。
图16是示意表示本发明实施例2中搬送路线位置变更状态的前视图。
图17是表示本发明实施例2要部设定模式时的处理步骤的流程图。
图18是本发明实施例2中能够检出大小的显示例的示图。
图19是传统装置的结构的示图。
本发明的最佳实施方式
以下参照附图就本发明的实施例1进行说明。
图1表示适用本发明的金属检出装置20的结构。
图1中，信号发生器21发生预定频率的信号D并输出给发送线圈22及后述的检波部26。
发送线圈22接收信号D，并使被检查体1的搬送路线(一般由输送器形成)2发生与该信号D相同频率f的交变磁场E。
发送线圈22发生的交变磁场E由磁场变化检测部23的两个接收线圈23a、23b接收。磁场变化检出部23输出与因通过交变磁场E的物体而引起的磁场变化相对应的信号，两个接收线圈23a、23b在分别等量接收交变磁场E位置上沿着被检查体1的搬送方向并排且互相差动连接。
还有，为让发送线圈22及接收线圈23a、23b相互的相对位置不变化，而固定在例如围绕搬送路线2的公共框体上。
还有，该发送线圈22和接收线圈23a、23b的配置有如下几种情况：隔着搬送路线2，使发送线圈22和两个接收线圈23a、23b相对；围绕搬送路线2地缠绕的发送线圈22前后分别同轴状配置接收线圈23a、23b；以及将发送线圈22和两个接收线圈23a、23b配置在搬送路线2的上面或下面的同一平面上。
由于两个接收线圈23a、23b差动连接在等量接收交变磁场E的位置上，所以当被检查体1或混入金属对交变磁场E没有影响时，两个接收线圈23a、23b产生的信号振幅相等、相位相反，因此连接点间的信号R的振幅则为零。
另外，在此虽说明的是磁场变化检出部23的两个接收线圈23a、23b差动连接的情况，也可以使两个接收线圈23a、23b产生的信号通过模拟减法器来减法处理地构成磁场变化检出部23。还有，两个接收线圈23a、23b接收的磁场不等量的情况下，可以通过可变电阻或放大率不同的放大器来补偿接收线圈23a、23b产生的信号的差值。
另外，在搬送路线2的近旁设有用以检出被检查体1进入变交磁场E内的定时的光学式的进入传感器24。并且，通过后述检波部26的输出信号X、Y的振幅变化能探测出物品进入了磁场，这种情况下，进入传感器24可以省略。
检波部26根据与信号D相同频率的信号，对磁场变化检出部23的输出信号R作同步检波。
本实施例的检波部26为正交二相型，由如下构成：将信号D移相的移相器26a；对移相器26a的输出信号L和信号R进行混合的混频器26b；抽出混频器26b输出中与被检查体1的搬送速度相对应的低频成分的BPF26c；对信号L的相位作90°移相的移相器26d；将信号R和移相器26d的输出信号L’的进行混合的混频器26e；以及抽出混频器26e输出中与被检查体1的搬送速度相对应的低频成分的BPF26f。
由检波部26的两个BPF26c、26f输出的信号X、Y通过A/D变换器28、29，分别转换为数字值，输给计算机结构的控制部30。
控制部30包括：判定部件31，通过进入传感器24的输出信号(或上述的检波部的输出信号X、Y的振幅变化)检出被检查体1进入交变磁场，并读取检波部26的输出信号X、Y，通过将该读取的信号与预先设定的阈值作比较而判定被检查体1中是否混入金属，并输出该判定结果；设定部件32，用以设定检查被检查体1所需的各种参数；非易失存储器33，用以存储该参数及参数设定所需的数据；混入金属显示部件34，通过判定部件31判定为被检查体内混入金属时，使后述显示器36显示该混入金属的大小。
该控制部30与操作部35及显示器36相连，通过操作部35指定了设定模式时，由设定部件32进行各种参数的设定处理；通过操作部35指定了检查模式时，进行判定部件31的被检查体1的金属混入的检查和该检查结果的输出处理，与此同时，当判定为被检查体内混入金属时，在显示器36显示该混入金属的大小。
另外，检查所需的参数包括：被检查体1的长度及搬送速度；信号发生器21输出的信号D的频率；检波部26的检波相位(移相器26a的移相量)；用以判定有无异物的阈值等。
这里的被检查体长度或搬送速度是用以确定检波部26的输出信号X、Y的读取间隔或读取时间，以及检波部26的BPF26c、26f的波段等的参数；信号D的频率是根据想要检出的金属的种类或被检查体1本身(含包装材料)的材质来选择的参数。
还有，检波部26的检波相位是用以确定对于混入金属的灵敏度的参数。
另外，判定阈值为判定被检查体1中是否有金属混入，其设定处理是通过设定部件32进行的。
设定部件32的结构是能够以操作部35的操作来手动设定或半自动设定这些参数。在此将就检波相位设定为最佳值、在该检波相位上设定用以判定有无异物的阈值的处理进行说明。还有，图1仅显示为检波相位设定处理所需的信号线，实际上是能控制信号发生器21输出的信号D的频率或检波部26的BPF26c、26f的波段等。
图2表示的是有关检波相位和阈值设定的设定部件32的处理步骤的流程图，以下将按该流程图说明设定处理动作。
例如，如果通过操作部35的操作选择了对检波相位和用以判定的阈值的设定处理时，在将移相器26a的移相量Δθ设定为基准值(例如0)的状态下，对存储器33的预定区域33a内是否存储有异物样品的数据Dm作出判定(S1，S2)。
如果存储有异物数据Dm时，则转移到后述处理S9；当异物数据Dm没有被存储时，指示输入表示检出对象金属的异物样品Ms大小的数据，若操作者通过操作部35输入该数据，则指示将该异物样品Ms通过交变磁场E内(S3～S5)，这些指示例如以显示在显示器36上的方式进行。
接收该指示的操作者，将例如一个异物样品Ms1的直径d1，作为表示大小的数据通过操作部35的操作输入后，将该异物样品Ms1放置在搬送路线2上通过交变磁场E。
还有，这里说明的是用直径来表示异物样品及混入金属大小的情况，但本发明也包括用直径以外的长度、面积、体积来表示异物样品及混入金属大小的情况。
在设定部件32发出异物样品Ms通过磁场的指示后，如果从进入传感器24的输出信号中探测到物品进入，则在预定时间内读取检波部26的输出信号X、Y，并将该数据Dm(1)与直径数据d1对应并存储在存储器33预定区域33a内(S6、S7)。
这里，如果异物样品Ms1为具有集中磁通的作用的铁等磁性体，如图3(a)所示，当异物样品Ms1移动到接收线圈23a的近旁时，发送线圈22输出的磁通中，由于最初与接收线圈23a相交的磁通，加上部分与接收线圈23b相交的磁通因异物样品Ms1的吸引而与接收线圈23a相交，所以接收线圈23a侧产生的信号振幅Va要大于接收线圈23b侧产生的信号振幅Vb。
还有，如图3(b)所示，当异物样品Ms1处于两个接收线圈23a、23b的中间位置时，从发送线圈22输出的磁通中，由于与之前接收线圈23a相交的那部分磁通和相交于接收线圈23b的那部分磁通分别等量被异物样品Ms1吸引，所以接收线圈23a侧产生的信号振幅Va等于接收线圈23b侧产生的信号振幅Vb。
另外，如图3(c)所示，当异物样品Ms1移动到接收线圈23b近旁时，从发送线圈22输出的磁通中，由于最初与接收线圈23b相交的磁通，加上部分与接收线圈23a相交的磁通因异物样品Ms1的吸引而与接收线圈23b相交，所以接收线圈23b侧产生的信号振幅Vb要大于接收线圈23a侧产生的信号振幅Va。
因此，异物样品Ms1通过交变磁场E时的信号R的波形如图4所示，成为了振幅增减变化的调制波。还有，如果设检波部26的信号L、L’的振幅值为1，则如图4所示，该信号R通过检波部26的同步检波处理而获得的信号X的波形，就会成为连接信号R的每个预定相位位置瞬间值的包络线，信号Y的波形成为连接信号R的每个从预定相位位置偏移90°的位置(如设信号的周期为T，则仅偏移T/4的位置)的瞬间值的包络线。
这样将得到的2个信号X、Y确定的坐标点描点于xy坐标上，则会画出例如图5(a)所示的8字波形(利萨如波形)Hn。
还有，如上述那样只使金属异物样品Ms1通过交变磁场E时，如波形Hn那样，得到相对坐标原点几乎对称的宽度狭窄的利萨如波形，因此也可储存顶点Q的坐标(Xm，Ym)或将其极坐标变换后得到的坐标(r、θ)作为异物样品Ms的特征点数据，以取代整个波形的坐标数据。
但是距离原点的r及角度θ，用
r＝(Xm2+Ym2)1/2
θ＝tan-1(Ym/Xm)来表示。
这样，取得直径d1的异物样品Ms的数据Dm(1)后，按上述同样方法进行其它大小异物样品的直径数据输入指示及通过磁场指示，分别求出通过交变磁场E中的n个异物样品Ms1～Msn的异物数据Dm(1)～Dm(n)后，将该直径数据d1～dn分别对应并存储在存储器33的预定区域33a(S8)。
还有，同种金属大小不同的异物样品而取得到波形，就会成为顶点Q的极坐标中，角度θ几乎相同，且异物大小因距离原点的r不而异的相似波形。
接着，将移相器26a的移相量Δθ设定为基准值(例如0)的情况下，指示以下要进行检查的被检查体1中已知没有金属混入的合格样品通过磁场E中(S9)。
操作者按该指示将合格样品置于搬送路线2使其通过交变磁场E中，设定部件32以上述同样的方式通过进入传感器24的输出信号检出物品进入交变磁场E(S10)，按预定时间进行检波部26的输出信号X、Y的取得，将该信号X、Y的数据Dg存储在存储器33预定区域33b内(S11)。
该合格样品，通常为非磁性体，由于因该合格样品内含有的水分或铝包材等引起磁场变化，与让异物样品Ms通过时一样，磁场变化检出部23输出振幅增减变化的信号R，通过检波部26对该信号R的同步检波处理而得到能描出如图5(a)的利萨如波形Hg的信号X、Y数据Dg。
这样，在取得大小各异的多个异物样品数据和合格品的数据阶段，设定部件32基于这些数据，对于合格样品(被检查体本身)的检波输出作为最佳检波相位θi求出比如最小直径的异物样品Ms(min)的检波输出比最大的相位并加以存储(S12)。
该处理利用图5(a)所示的2个利萨如波形Hn、Hg的数据，按不同的检波相位θd，求出从最小直径异物样品Ms(min)波形Hn的各坐标(也可仅为上述点Q)到具有对应某检波相位θd的角度的直线A的距离的最大值Ln、和合格样品波形Hg的各坐标到直线A的距离的最大值Lg之比值α＝Ln/Lg，如图5(b)所示，将比值α最大时的相位确定为最佳检波相位θi，将该最佳检波相位θi的信息作为检查被检查体1时的检波部26的移相器26a上设定的参数而存储在存储器33的预定区域33c内。
这样，得到对于被检查体的最佳检波相位θi后，就能求出最佳检波相位θi的合格样品和各异物样品的检波输出之比值α与各异物样品大小(直径)的关系。(S13)
即，如图6所示，求出各异物样品Ms1～Msn的每个比值α1～αn，并求出使该直径与比值近似关联的直线B(曲线也可)的式子。还有该图中从异物样品Ms1开始直径逐渐变大。
这样，作为检查被检查体1时设定在判定部件31内的阈值Vr，求出比值α等于基准值αr(例如αr＝2)的电压Vr(相当于2倍所述距离Lg的电压)，并存储在存储器33内。(S14)
另外，由直线B求出对应于基准值αr的金属异物直径dr，并将该直径值作为判定部件31能够检出的最小金属异物的大小，如图7所示，显示在显示器36上(S15)。
用户通过确认该显示而能直观地把握对有关被检查体能够检出的最小尺寸。
这样，检查模式已被指定时，设定部件32将存储在存储器33预定区域33c的最佳检波相位θi的信息设定在移相器26a内，且将检波部26的检波相位设定为最佳检波相位θi，另外，还将包括检查被检查体1所需的阈值Vr等的其它参数设定在所需的位置。
这样，在检查所需的参数被设定的状态下，就能通过所述判定部件31对被检查体1进行检查。
图8表示的是该检查模式中的处理步骤，判定部件31在由进入传感器24探测到被检查体1时(S21)，在预定时间内读取检波信号X、Y(S22)，将该信号的大小与阈值Vr作比较，判定该被检查体1内是否混入有金属(S23)，输出该判定结果(S24)。
该检查模式中，混有与所述异物样品Ms种类相同且直径在dr以上金属的被检查体1通过磁场E中时，如图9所示，从检波部26输出的信号X、Y的利萨如波形为，将图5的利萨如波形Hn、Hg仅旋转了最佳检波相位θi(直线A与x轴一致地旋转)的利萨如波形Hn’、Hg’在时间轴上合成的波形，但观察沿着y轴的信号Y，因混入金属的影响而产生的信号振幅Vn对在被检查体1通过交变磁场E的时间内被检查体1本身对磁场的影响而产生的信号振幅Vg之比值Vn/Vg与所述距离比值α相对应并为最大值且在基准值αr(＝2)以上。
即按上述设定最佳检波相位θi时，判定部件31将信号Y的最大振幅与阈值Vr作比较来判定有无混入金属。这样，此时，由于信号Y的最大振幅在2Vg(＝Vr)以上，且在阈值以上，所以判定部件31就会输出表示金属混入的信号。
另外，在金属没有混入被检查体1的情况下，仅输出对应于图9的利萨如波形Hg’的信号X、Y，由于信号Y的最大振幅小于阈值Vr，所以判定部件31不会输出表示金属混入的信号。
还有，当判定部件31判定金属混入时，混入金属显示部件34会基于此时信号Y的最大振幅和所述直线B而推定混入金属大体的大小，并将它显示在显示器36上(S25)。
例如，求出信号Y的最大振幅Vy与Vg之比值αa(＝Vy/Vg)和最大振幅Vy减去Vg的结果与Vg之比值αb(＝(Vy-Vg)/Vg)，由所述直线B的式子和比值αa求出混入金属直径的上限值da，由直线B的式子和比值αb求出混入金属的直径的下限值db，例如图10所示，将所求得的值作为混入被检查体1中的金属大小的范围，显示在显示器36上。
通过确认该显示，用户就能直观地把握混入被检查体中的金属大小的范围。
还有，这里显示了混入金属大小的范围，但也可以显示多个异物样品Ms1～Msn中，包含在该推定大小的范围内的异物样品的大小。
另外，上述说明中，设定部件32仅在显示器36上显示能够检出的金属的最小直径并自动设定对应于最小直径的阈值，但也可以设定对应用户指定大小的阈值。
这种情况下，如图11所示，作为能够检出金属的大小，在显示器36显示异物样品中最小直径以上的异物样品的各直径的同时，能通过操作部35的操作而指定这些直径的任意一个，当用户通过操作指定直径时，作为阈值Vr求出并设定该异物样品的最佳检波相位的检波输出的最大值(或也可以稍小于该值)。
还有，可仅显示能够检出的金属的最小直径，使通过操作部35的操作能输入指定任意直径，由该指定直径与所述直线B求出比值α的值，作为阈值Vr求出并设定该比值与所述电压Vg的乘积。
还有，如上所述，在用异物样品的大小来近似表示能够检出的金属的大小及混入被检查体内金属大小的情况下，能够选择由存储在存储器33内的异物样品的检波输出数据和被检查体的检波输出来显示的大小，而不必利用上述直线B的关系。
还有，上述说明中，只让异物样品及合格样品一次通过磁场中来求出其数据，但也可以让同一样品数次通过磁场中，将这些数据平均，并基于该平均的数据求出最佳检波相位或比值与大小的关系。
另外，这里，将磁场变化检出部23的输出信号R输入给正交二相型的检波部26，并求出2个信号X、Y，由该两个信号的数据求出最佳检波相位，但检波部26为单相型，即仅由移相器26a、混频器26b、BPF26c构成的情况下，也适用于本发明。
这种情况下，一边少量变化移相器26a的移相量，一边求出对于异物样品及合格样品的输出信号X的波形(时间轴上的波形)的数据，如图12所示，由该数据求出对于移相量Δφ的异物样品振幅值的变化特性Xn(φ)和对于移相量φ的合格样品的振幅值的变化特性Xg(φ)，若将异物样品振幅值Vn对合格样品的振幅值Vg的比值β＝Vn/Vg最大时的移相量φd确定为最佳检波相位θi，并将它设定在检查被检查体1时的移相器26a内，则如上述同样能高灵敏度地检出混入金属。
这样，通过求出该最佳检波相位的检波输出和金属大小的关系，能够与上述同样，显示可检出金属的大小或混入被检查体内金属的大小。
还有，上述说明的是有关大小各异的多个异物样品的异物数据Dm没有被存储在存储器33内的情况，但这些异物数据也可由金属检出装置20的制造者预先存储在存储器33预定区域33a内。
另外，将材质不同的多个异物样品的数据按上述处理预先存储在存储器33预定区域33a内，在对被检查体1作相位设定处理时，能够选择该多个异物数据中的任意一个，从而能对该选择的数据进行与上述同样处理。
如以上说明，本发明的金属检出装置设有预先存储大小各异的金属的多个异物样品分别通过交变磁场中时，检波部输出的信号数据和表示各异物样品大小数据的存储器，因为基于该异物样品的数据由判定部件在显示器上显示能够检出金属的大小，所以用户能够直观地把握被检查体的能够检出金属的大小。
还有，通过操作部的操作能指定异物样品的大小，将对应于该指定大小的阈值设定在判定部件内，用户指定操作的不是电压值或其倍数值，而是金属的大小，由此进行阈值的设定，就能更加直观地进行阈值的设定操作。
还有，通过混入金属显示部件来显示混入被检查体内的金属的大小，就能直观地把握混入被检查体金属的大小，使用更加方便。
下面将按图面来说明本发明的实施例2。
当然，本例除有关以下说明的结构、作用、效果以外，与实施例1实质上相同，所以引用上述实施例1的说明(包括图面)来尽可能避免重复，并根据需要利用实施例1的参考符号来进行说明。
图13～图15表示的是采用本发明金属检出装置120的整体结构。
这些图的金属检出装置120由底座121、构成被检查体搬送路线的输送器130、头部140及控制器150构成。
底座121用以支撑输送器130及头部140，为能调整底座121相对设置面(工作台面)的高度，其下部设定有丝杠式的脚122。
输送器130包括固定在底座121上部的形成朝上开口的コ字形且彼此相对状态的一对侧板131、132。
两侧板131、132的一端侧(图13、图14的左端侧)的上部之间支撑有旋转自如的主动滚轮133，另一端侧上部之间支撑有旋转自如的从动滚轮134，为将搬入物品搬送到主动滚轮133和从动滚轮134之间，挂有无端的搬送带135。
另外，侧板131、132的一端侧上部与另一端侧上部之间固定有用以将搬入物品水平搬送的下板136，以在上面支撑从主动滚轮133侧到从动滚轮134侧移动的上侧搬送带135。另外，由从动滚轮134回到主动滚轮133的下侧搬送带135，在接近该下板136的下面的路径移动。搬送带135及下板136由对磁场的影响极少的合成树脂材料形成。
还有，主动滚轮133通过整体设置在该端侧的马达137来旋转驱动。
侧板131、132的中央上方配置有形成横长矩形框状的头部140，头部140中央形成的横长矩形孔141内有输送器130的搬送带135及下板136通过。
头部140的孔141的内壁部141a的整个周围由磁通能透过的合成树脂板材形成，在头部140内部发送线圈22围绕着其内壁部141a而缠绕，在该发送线圈22的前后，两个接收线圈23a、23b以同轴状缠绕。
另外，头部140的外周部，由磁通不能透过的磁屏蔽材料形成。
因此，发送线圈22发生的几乎所有磁场E的磁通，通过头部140内部及孔141的内侧，则该磁通几乎等量交叉于两个接收线圈23a、23b。
另外，发送线圈22和两个接收线圈23a、23b的相对位置不变化，由填充在头部140内的粘接材料(无图示)固定。
如图13～图15所示，该头部140被固定在平板状的基板145上，基板145的四角分别插有固定在底座121上部的螺钉123，通过拧在各螺钉123上的上下2个螺母124将基板145固定。
该螺钉123和螺母124是可以改变头部140相对输送器130的高度，即，被检查体相对头部140的通过高度位置的机构。通过调整螺母124相对各螺钉123的高度，被检查体的通过高度位置就能相对可变。
另外，在这里将通过输送器130的下板136下侧的搬送带135处于最接近头部140的孔141下面的位置，即，被检查体相对孔141通过高度最低的位置设为基准位置。
为能检出搬入输送器130的一端侧的被检查体进入了头部140的孔141的定时，而在底座121(也可以是输送器130的侧板131、132或头部140本身)设有光学式进入传感器24。另外，该物品的进入时机可通过检波部26的输出信号X、Y的振幅变化来检出，这时，进入传感器24可以省略。
头部140上部设置的控制器150内设有用以进行输送器130的马达驱动、头部140的发送线圈驱动、对应接收线圈发出信号的处理等的电路。
下面，将参照图16～图18来说明本实施例的作用。
本实施例的金属检出装置，如上述，设有能调整头部140相对输送器130的位置(输送器130的高度)的机构，即使输送器130的高度以外的其它条件相同，如果将输送器130的高度值设定不同的值，则会出现混入被检查体内金属检出灵敏度不同的情况。
因此，本例中通过如实施例1说明的控制步骤，基于预先存储的异物样品的数据和合格样品的数据，在显示器上显示能够由判定部件检出的金属的大小，或者，通过对操作部的操作来指定异物样品的大小并进行阈值的设定，不仅能直观地把握被检查体的可检出的金属的大小，还能改变输送器130的高度(对于头部140的相对位置)，重复实施例1中说明的控制动作，分别求出每个位置的上述各阈值，并通过在上述显示器上显示出各位置和对应于该各位置能够检出的异物的大小，将输送器130的最佳位置(灵敏度最高的位置)作为能够检出异物的大小显示出来，并能够任意选择。
如图16示意表示，将输送器130相对头部140的位置分别设定为：基准位置(a)、从基准位置(a)上升到预定尺寸(如10mm)的位置(b)和从位置(b)且上升到预定尺寸(如15mm)的位置(c)(因而离基准位置25mm)，求出各位置能够检出金属异物的直径dr。
按图17的流程图说明上述步骤，由于图17中的步骤S101到S115与实施例1中参照图2说明的步骤S1到S15相同，所以引用上述的实施例1的上述说明(包括图面)，下面就S116以后的步骤进行说明。
由直线B求出对应基准值αr的金属异物直径dr，并作为能够由判定部件31检出的最小金属异物的大小显示在显示器36(S115)后，将该基准值αr及能够检出的最小金属异物的大小存储在存储器33内(S116)。还有，以上1次的步骤可在输送器130处于如图16(a)所示的基准位置的设定状态下执行。
这里，在显示器36上显示指示求出输送器130高度变更(S117)，接收该指示的操作者通过调整所述螺钉123和螺母124构成的机构来调整头部140相对输送器130的高度，以变更头部140相对输送器130的高度。本例中为变更设定到如图16(b)所示的位置，并由操作部输入变更后输送器的位置。
本例中，m次改变输送器130的位置(如改变2次，设定如图16所示的3个位置(a)、(b)、(c))，重复求出每个位置的基准值αr及能够检出的最小金属异物的大小的操作，在该重复次数没有得到满足的情况下，要重复从指示通过合格样品指示(S109)开始到存储每个高度的基准值αr及能够检出的最小金属异物的大小(S116)的动作(S118，“否”的情况下)。
在预定重复次数m被满足的情况下(S118，“是”的情况下)，在显示器36上显示每个输送器高度的基准值αr及能够检出的最小金属异物的大小(S120)。
图18表示显示器36的最终显示画面，显示的是多个不同输送器高度(由基准值开始的变更量来显示)时，各自能够检出的异物(金属)的大小，而且还显示由光标选择期望的输送器高度或异物(金属)的大小，由回车键确认来求出的指示。
接收该指示的操作者用操作部35操作光标，选择期望的输送器高度及异物(金属)的大小，通过将输送器高度设定为其数值，作为检出灵敏度设定所选择的异物(金属)的大小。
因而，选择检出灵敏度最高，且检出异物最佳的输送器高度，能高灵敏度进行异物的检出。另外，不一定选择最高灵敏度而是根据实际需要选择检出灵敏度及输送器高度，设定该高度的输送器位置，就能得到所需的检出灵敏度。
如图18所示，在本例中显示有三个高度的每个高度下能够检出异物(金属)的大小，作为该结果表示的是中间图16(b)所示的位置为检出灵敏度最高结果的情况，即，与从输送器130离头部140最近的基准位置(图16(a))或由基准位置离开相当距离的位置(图16(c))相比，该中间位置的基准位置即离开适当距离的位置(图16(b))的情况下，检出灵敏度最高。
但是，具有该倾向的只是一个例子，通过发送线圈122及两个接收线圈123a、123b在头部140以怎样的位置或怎样的形态来设置等更具体的结构，来改变输送器130相对头部140的最佳位置(灵敏度最高的位置)。
但是，如果具有如本例的基本结构，由于能够显示输送器130的多个位置的检出灵敏度并能任意选择，所以与输送器130和头部140的机构变化无关，常时选择异物检出最佳的输送器高度，能够进行异物检出的效果不会变化。
还有，本例中输送器高度的变更是通过头部140的升降机构来手动操作，但也可以通过利用动力的升降机构由操作部35进行操作，并将设定后的输送器高度自动输入给控制部30，这种情况下，以最终画面来选择期望的输送器高度的情况下，其构成也可以为通过控制部30的控制来将输送器高度自动设定该高度。
还有，本例中，通过升降头部140来变更输送器130相对头部140的相对高度(位置)，但反过来也可以相对固定的头部140升降输送器130。
另外，本例中，将输送器130的位置从基准位置开始依次阶段上升来重复测定。当然在测定之前设定的输送器130的位置，按何种顺序均可。例如可为最高位置、基准位置、最低位置的顺序。
以上说明的本发明实施方式的2个例子中，在每个金属检出装置中让多个异物样品通过交变磁场中来取得异物数据，并按每个装置存储在各装置的存储器33内。但是，这种异物数据的取得原则上也可以仅用作为主装置的一台特定的金属检出装置进行一次，将该数据作为主数据转移到其它多个金属检出装置上加以利用。
这种情况下，其它金属检出装置存储该主数据的同时，将取得主数据时所用的多个异物样品实际通过该装置的变交磁场中，取得数据，用该数据来补偿所述主数据。如果是这样的结构，存储在存储器内的异物样品数据的生成由主装置一并进行，并且由于对每个金属检出装置作补偿，所以能够应对装置的微小缺点。
Claims (6)
1.一种金属检出装置，其特征在于设有：
信号发生器(21)；
发送线圈(22)，接收所述信号发生器输出的信号，并使被检查体的搬送路线上发生与该信号频率相等频率的交变磁场；
磁场变化检出部(23)，包括在接收所述交变磁场的位置上沿着所述搬送路线配置的两个接收线圈(23a、23b)，并输出与通过所述交变磁场中的物体引起的磁场变化相对应的信号；
检波部(26)，通过所述信号发生器输出的信号频率相等的信号对所述磁场变化检出部的输出信号进行同步检波；
判定部件(31)，对所述检波部的输出信号与阈值作比较，判定被检查体内有无混入金属；以及
显示器(36)，且
所述金属检出装置还设有：
存储器(33)，存储大小各异的金属的多个异物样品分别通过所述交变磁场中时，所述检波部输出的信号的数据和表示各异物样品大小的数据，
基于所述存储器存储的异物样品数据，在所述显示器显示可用所述判定部件检出的金属的大小。
2.如权利要求1所述的金属检出装置，其特征在于：
设有操作部(35)，
通过该操作部的操作，能指定所述异物样品的大小，并将与指定大小相对应的阈值设定在所述判定部件内。
3.一种金属检出装置，其特征在于设有：
信号发生器(21)；
发送线圈(22)，接收所述信号发生器输出的信号，并使被检查体的搬送路线发生与该信号频率相等频率的交变磁场；
磁场变化检出部(23)，包括在接收所述交变磁场的位置上沿着所述搬送路线配置的两个接收线圈(23a、23b)，并输出与通过所述交变磁场中的物体引起的磁场变化相对应的信号；
检波部(26)，通过与所述信号发生器输出的信号频率相等的信号对所述磁场变化检出部的输出信号进行同步检波；
判定部件(31)，对所述检波部的输出信号与阈值作比较，判定被检查体内有无混入金属；以及
显示器(36)，且
所述金属检出装置还设有：
存储器(33)，存储大小各异的金属的多个异物样品分别通过所述交变磁场中时，所述检波部输出信号的数据和表示各异物样品大小的数据；以及
混入金属显示部件(34)，当由所述判定部件判定为被检查体内混入有金属时，基于所述检波部输出的信号和所述存储器存储的异物样品数据，求出被检查体内混入的金属的大小并显示在所述显示器上。
4.一种金属检出装置，其特征在于设有：
信号发生器(21)；
发送线圈(22)，接收所述信号发生器输出的信号，并使被检查体的搬送路线上发生与该信号频率相等频率的交变磁场；
磁场变化检出部(23)，包括在接收所述交变磁场的位置上沿着所述搬送路线配置的两个接收线圈(23a、23b)，并输出与通过所述交变磁场中的物体引起的磁场变化相对应的信号；
检波部(26)，通过与所述信号发生器输出的信号频率相等的信号对所述磁场变化检出部的输出信号进行同步检波；
判定部件(31)，对所述检波部的输出信号与阈值作比较，判定被检查体内有无金属混入；
显示器(36)，且
所述金属检出装置还设有：
存储器(33)，存储大小各异的金属的多个异物样品分别通过交变磁场中时，检波部输出信号的数据与表示各异物样品大小的数据，同时还存储合格样品通过交变磁场中时检波部输出的信号数据；
基于所述存储器存储的异物样品数据和合格样品数据，求出异物样品和合格样品的输出比值最大时的最佳检波相位，进一步求出该最佳检波相位时合格样品和各异物样品的检波输出之比值与各异物样品大小的关系，同时设定与所述比值的基准值相对应的所述阈值。
5.如权利要求4所述的金属检出装置，其特征在于：
对于所述交变磁场的所述搬送路线的位置可变更，
在通过变更而设定的多个不同的所述位置上，让合格样品通过所述交变磁场中，求出每个位置的所述阈值，根据各位置和对应于该各位置的各阈值将能够检出异物的大小显示在显示器上。
6.如权利要求1至5中任一项所述的金属检出装置，其特征在于：
让大小各异的金属的多个的异物样品分别通过所述金属检出装置的所述交变磁场中，作为主数据取得所述检波部输出的信号的数据；
将该主数据存储在其它所述金属检出装置的所述存储器中，同时让所述多个异物样品分别通过其它的所述金属检出装置的交变磁场中，根据检波部输出的信号数据来补偿所述主数据。
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Cited By (16)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN101881838A (zh) * | 2010-06-23 | 2010-11-10 | 尹武良 | 一种基于电磁传感器的食品内危险物品的测量装置与方法 |
| CN102402694A (zh) * | 2010-09-13 | 2012-04-04 | 佳能株式会社 | 显示控制装置及显示控制方法 |
| CN102565860A (zh) * | 2010-10-07 | 2012-07-11 | 梅特勒-托利多安全线有限公司 | 用于监测金属检测系统的操作的方法以及金属检测系统 |
| CN101535843B (zh) * | 2006-09-01 | 2012-11-28 | 秦内蒂克有限公司 | 金属物体检测设备 |
| CN102016646B (zh) * | 2008-04-23 | 2013-06-05 | 麦斯特罗尼仪器有限责任公司 | 用于确定金属导电部件的装置 |
| CN103389516A (zh) * | 2013-07-23 | 2013-11-13 | 沈阳斯达特电子科技有限公司 | 金属探测识别方法 |
| CN103563215A (zh) * | 2011-05-27 | 2014-02-05 | 日产自动车株式会社 | 非接触供电装置 |
| CN103688192A (zh) * | 2011-04-15 | 2014-03-26 | I控制有限合伙公司 | 用于检测可导电物体的装置和方法 |
| CN104271387A (zh) * | 2012-03-30 | 2015-01-07 | 宝马股份公司 | 用于感应式功率传输的装置 |
| CN105676297A (zh) * | 2016-04-21 | 2016-06-15 | 上海明强智能技术有限公司 | 可用于铝箔包装类产品的全金属异物检测装置 |
| US9566871B2 (en) | 2011-05-27 | 2017-02-14 | Nissan Motor Co., Ltd. | Non-contact power supply device, vehicle, and non-contact power supply system |
| CN108028648A (zh) * | 2015-09-11 | 2018-05-11 | 巴鲁夫股份有限公司 | 用于检测目标物体的传感器设备和用于运行用于检测目标物体的传感器设备的方法 |
| CN110415213A (zh) * | 2019-06-24 | 2019-11-05 | 上海联影医疗科技有限公司 | 磁场均匀性检测方法、装置、计算机设备和存储介质 |
| CN111742356A (zh) * | 2018-03-27 | 2020-10-02 | 株式会社京三制作所 | 检测系统 |
| CN111812733A (zh) * | 2020-07-21 | 2020-10-23 | 上海太易检测技术有限公司 | 一种多频金检机信息处理方法及装置 |
| CN114026416A (zh) * | 2019-06-27 | 2022-02-08 | 安立股份有限公司 | 金属检测装置 |
Families Citing this family (22)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2881826A1 (fr) * | 2005-02-04 | 2006-08-11 | Commissariat Energie Atomique | Procede de conception et de realisation d'un dispositif de controle a courants de foucault |
| GB2462212B (en) * | 2005-02-16 | 2010-05-12 | Illinois Tool Works | Metal detector |
| WO2009130018A1 (de) * | 2008-04-23 | 2009-10-29 | Mesutronic Gerätebau GmbH | Digital arbeitende einrichtung zur feststellung metallisch leitender teile |
| US8771085B1 (en) | 2010-08-06 | 2014-07-08 | Arthur C. Clyde | Modular law enforcement baton |
| EP2439559B1 (en) | 2010-10-07 | 2013-05-29 | Mettler-Toledo Safeline Limited | Method for operating of a metal detection system and metal detection system |
| CA2813496C (en) | 2010-10-07 | 2018-12-04 | Mettler-Toledo Safeline Limited | Method for operating a metal detection system and metal detection system |
| JP5695429B2 (ja) * | 2011-01-24 | 2015-04-08 | アンリツ産機システム株式会社 | 金属検出装置 |
| JP5695428B2 (ja) * | 2011-01-24 | 2015-04-08 | アンリツ産機システム株式会社 | 金属検出装置 |
| JP5756925B2 (ja) * | 2011-05-19 | 2015-07-29 | パナソニックＩｐマネジメント株式会社 | 電気機器に設けられた受電装置 |
| US9018935B2 (en) | 2011-09-19 | 2015-04-28 | Mettler-Toledo Safeline Limited | Method for operating a metal detection apparatus and apparatus |
| KR101328902B1 (ko) * | 2012-10-29 | 2013-11-13 | 라채식 | 검출감도를 향상시킨 식품내 잔존 금속검출기 |
| WO2015049766A1 (ja) * | 2013-10-03 | 2015-04-09 | 株式会社システムスクエア | 金属検知装置 |
| CL2014001897A1 (es) * | 2014-07-18 | 2014-09-22 | Cadetech S A | Un sistema de monitoreo para la deteccion en forma automatica de elementos ferromagneticos ocultos en la carga de mineral, durante la carga y/o descarga de un contenedor, dicho sistema comprende al menos un sensor de campo magnetico, un computador, un canal de comunicacion de corto alcance, un visualizador, un canal de comunicacion de largo alcance, una fuente de energia, y sensores auxiliares. |
| EP3207392B1 (en) * | 2014-10-17 | 2020-09-02 | Koninklijke Philips N.V. | Spatially resolved metal detector |
| US20170235009A1 (en) * | 2016-02-11 | 2017-08-17 | Glenn Curtis Arrant | Metal detector using coils with multiple detection zones to identify targets while moving |
| US9715030B1 (en) | 2016-03-07 | 2017-07-25 | Matias SaavedraSilvia | Object detection and removal apparatus |
| CN105911602B (zh) * | 2016-05-03 | 2018-08-21 | 东莞市华盾电子科技有限公司 | 一种金属分类的图像显示方法及装置 |
| FR3056793A1 (fr) * | 2016-09-29 | 2018-03-30 | Stmicroelectronics (Rousset) Sas | Procede de detection de la presence eventuelle d'un objet par un lecteur sans contact, et lecteur correspondant |
| DE102017107436A1 (de) * | 2017-04-06 | 2018-10-11 | Minebea Intec Aachen GmbH & Co. KG | Verfahren zur Signalauswertung, Metallsuchgerät und Computerprogramm |
| DE102017124407B4 (de) | 2017-10-19 | 2020-07-02 | Minebea Intec Aachen GmbH & Co. KG | Verfahren zur Signalauswertung, Auswerteeinheit sowie Metallsuchgerät |
| WO2019151422A1 (ja) * | 2018-01-31 | 2019-08-08 | キヤノン電子株式会社 | 検査装置 |
| EP4063847A4 (en) * | 2019-11-20 | 2023-11-22 | A&D Company, Limited | METAL DETECTOR |
Family Cites Families (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0619470B2 (ja) | 1988-07-26 | 1994-03-16 | 大和製衡株式会社 | 金属等の異物混入検出方法および検出器 |
| JPH03123285A (ja) | 1989-10-06 | 1991-05-27 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 動ベクトル検出装置 |
| JPH089654Y2 (ja) * | 1990-03-29 | 1996-03-21 | アンリツ株式会社 | 金属検出機 |
| JP3331531B2 (ja) | 1994-03-22 | 2002-10-07 | 株式会社サンコウ電子研究所 | 鉄片探知装置 |
| JP3429397B2 (ja) * | 1995-08-28 | 2003-07-22 | 東芝キヤリア株式会社 | 空気調和装置 |
| JPH09304546A (ja) * | 1996-05-21 | 1997-11-28 | Nippon Cement Co Ltd | 金属検出方法及び金属検出装置 |
| JP4002034B2 (ja) | 1999-06-30 | 2007-10-31 | 株式会社イシダ | 異物検出機 |
| JP3779508B2 (ja) | 1999-09-21 | 2006-05-31 | アンリツ産機システム株式会社 | 金属検出機 |
| US6812707B2 (en) * | 2001-11-27 | 2004-11-02 | Mitsubishi Materials Corporation | Detection element for objects and detection device using the same |
| JP3123285U (ja) * | 2006-02-09 | 2006-07-20 | 正次 江川 | 遠心バネ錘円板 |
-
2004
- 2004-03-05 US US10/548,629 patent/US7423422B2/en not_active Expired - Lifetime
- 2004-03-05 EP EP04717758.9A patent/EP1602943B1/en not_active Expired - Lifetime
- 2004-03-05 JP JP2005503989A patent/JP4198712B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 2004-03-05 KR KR1020057006369A patent/KR100634648B1/ko active IP Right Grant
- 2004-03-05 WO PCT/JP2004/002838 patent/WO2004086095A1/ja active Application Filing
- 2004-03-05 CN CNB2004800065477A patent/CN100344996C/zh not_active Expired - Lifetime
Cited By (27)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN101535843B (zh) * | 2006-09-01 | 2012-11-28 | 秦内蒂克有限公司 | 金属物体检测设备 |
| CN102016646B (zh) * | 2008-04-23 | 2013-06-05 | 麦斯特罗尼仪器有限责任公司 | 用于确定金属导电部件的装置 |
| CN101881838A (zh) * | 2010-06-23 | 2010-11-10 | 尹武良 | 一种基于电磁传感器的食品内危险物品的测量装置与方法 |
| US8907989B2 (en) | 2010-09-13 | 2014-12-09 | Canon Kabushiki Kaisha | Display control apparatus and display control method |
| CN102402694A (zh) * | 2010-09-13 | 2012-04-04 | 佳能株式会社 | 显示控制装置及显示控制方法 |
| CN107273849A (zh) * | 2010-09-13 | 2017-10-20 | 佳能株式会社 | 显示控制装置及显示控制方法 |
| CN107273849B (zh) * | 2010-09-13 | 2021-02-26 | 佳能株式会社 | 显示控制装置及显示控制方法 |
| CN102565860A (zh) * | 2010-10-07 | 2012-07-11 | 梅特勒-托利多安全线有限公司 | 用于监测金属检测系统的操作的方法以及金属检测系统 |
| CN103688192B (zh) * | 2011-04-15 | 2017-01-18 | I控制有限合伙公司 | 用于检测可导电物体的装置 |
| CN103688192A (zh) * | 2011-04-15 | 2014-03-26 | I控制有限合伙公司 | 用于检测可导电物体的装置和方法 |
| CN103563215B (zh) * | 2011-05-27 | 2016-05-04 | 日产自动车株式会社 | 非接触供电装置 |
| CN103563215A (zh) * | 2011-05-27 | 2014-02-05 | 日产自动车株式会社 | 非接触供电装置 |
| US9566871B2 (en) | 2011-05-27 | 2017-02-14 | Nissan Motor Co., Ltd. | Non-contact power supply device, vehicle, and non-contact power supply system |
| US9656559B2 (en) | 2011-05-27 | 2017-05-23 | Nissan Motor Co., Ltd. | Non-contact power supply device |
| CN104271387A (zh) * | 2012-03-30 | 2015-01-07 | 宝马股份公司 | 用于感应式功率传输的装置 |
| US9912167B2 (en) | 2012-03-30 | 2018-03-06 | Bayerische Motoren Werke Aktiengesellschaft | Device for inductively transmitting power |
| CN103389516B (zh) * | 2013-07-23 | 2015-08-26 | 沈阳斯达特电子科技有限公司 | 金属探测识别方法 |
| CN103389516A (zh) * | 2013-07-23 | 2013-11-13 | 沈阳斯达特电子科技有限公司 | 金属探测识别方法 |
| CN108028648A (zh) * | 2015-09-11 | 2018-05-11 | 巴鲁夫股份有限公司 | 用于检测目标物体的传感器设备和用于运行用于检测目标物体的传感器设备的方法 |
| CN108028648B (zh) * | 2015-09-11 | 2021-06-11 | 巴鲁夫股份有限公司 | 用于检测目标物体的传感器设备和用于运行用于检测目标物体的传感器设备的方法 |
| CN105676297B (zh) * | 2016-04-21 | 2019-06-25 | 上海明强智能技术有限公司 | 可用于铝箔包装类产品的全金属异物检测装置 |
| CN105676297A (zh) * | 2016-04-21 | 2016-06-15 | 上海明强智能技术有限公司 | 可用于铝箔包装类产品的全金属异物检测装置 |
| CN111742356A (zh) * | 2018-03-27 | 2020-10-02 | 株式会社京三制作所 | 检测系统 |
| CN111742356B (zh) * | 2018-03-27 | 2022-09-20 | 株式会社京三制作所 | 检测系统 |
| CN110415213A (zh) * | 2019-06-24 | 2019-11-05 | 上海联影医疗科技有限公司 | 磁场均匀性检测方法、装置、计算机设备和存储介质 |
| CN114026416A (zh) * | 2019-06-27 | 2022-02-08 | 安立股份有限公司 | 金属检测装置 |
| CN111812733A (zh) * | 2020-07-21 | 2020-10-23 | 上海太易检测技术有限公司 | 一种多频金检机信息处理方法及装置 |
Also Published As
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