KR101328902B1 - 검출감도를 향상시킨 식품내 잔존 금속검출기 - Google Patents

검출감도를 향상시킨 식품내 잔존 금속검출기 Download PDF

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Abstract

본 발명은 금속검출기에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 위상이 다른 주파수를 이용하여 전체 감도를 유지하면서 어떤 특정 물체 내에 잔존하는 금속이물질의 검출 감도를 향상시킨 식품내 잔존 금속검출기에 관한 것이다.
본 발명에 따른 검출감도를 향상시킨 식품내 잔존 금속검출기는, 수신된 신호의 변화로부터 식품내 금속물체의 잔존 여부를 판단하는 식품내 잔존 금속검출기에 있어서, 상기 식품내 금속을 검출하는 것에 있어 상기 식품의 고유특성 검출 오류를 줄이면서 검출 감도를 향상시키기 위해서, 검출판별경계 감도를 높이고, 검출판별위상을 다위상으로 하여 모든 검출판별위상에서 상기 검출판별경계의 이상의 값이 검출될 때 상기 식품내 금속 이물질이 들어있는 것으로 판단하는 것을 특징으로 하여 이루어진다.

Description

검출감도를 향상시킨 식품내 잔존 금속검출기{RESIDUAL METAL DETECTING APPARATUS IN FOOD IMPROVING DETECTING LEVEL}
본 발명은 금속검출기에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 위상이 다른 주파수를 이용하여 전체 감도를 유지하면서 어떤 특정 물체 내에 잔존하는 금속이물질의 검출 감도를 향상시킨 식품내 잔존 금속검출기에 관한 것이다.
금속검출기는 일반적으로 식품내에 잔존하는 금속이물질을 검출하는 장치이다.
금속검출기의 원리는 전자기 유도 현상을 응용한 것으로 발신부와 수신부로 구성되며, 발신부의 코일에서 자기장을 형성시키고 수신부에서는 발신부로부터 유기된 전류를 받아 BALANCE화 시킨다.
터널에 들어온 금속이 자계를 깨뜨릴 때 교란된 신호를 검출하여 수차례 증폭과 필터링을 거쳐 디지털화한 후 표시장치로 표시된다.
이러한 금속검출기 감도는 여러가지 요인에 의해 영향을 받게 되는 데, 주요 원인으로는 금속검출기 터널 사이즈, 제품의 수분 및 염분 상태, 방사노이즈를 발생시키는 인버터 및 건조한 생산현장에서 발생할 수 있는 정전기가 있다.
특히 이중에서 제품의 수분 및 염분 상태에 따라서 검출 감도가 영향을 받는 것에 대한 대책으로서는 검출 방식, 다양한 주파수 발생의 변형 및 감도 판별 기준 등의 변화에 의해 어느 정도 가능하다.
이하에서는 도 1 내지 도 3를 통해 종래의 제품에 대한 검출 방식과 이에 대한 문제점 등을 살펴본다.
도 1은 단순물성 제품인 경우의 검출 감도를 나타낸 모식 그래프이고, 도 2 및 도 3은 복잡물성 제품인 경우의 검출 감도를 나타낸 모식 그래프이다.
단순물성 제품인 경우는 수분 및 염분이 고르게 분포되거나 거의 없는 경우 그 특성이 특정 위상에서 동일하게 검출되는 제품이고, 복잡물성 제품인 경우는 수분 및 염분 상태에 따라 각각 다른 위상에서 제품의 특성이 검출되는 제품군을 의미한다.
도 1를 참조하면, 단순물성 제품인 경우는 도 1과 같이 해당 제품의 레벨 특성(Lev1)이 나오고, 검출판별위상(Phase1)에서 제품 자체의 특성점(13)이 생긴다. 이때 이물질 크기에 따라 철이물(11)이나 SUS이물(12)이 도식된다.
이러한 샘플링 검사에 따라 제품 자체의 특성점(13)이 검출되지 않도록 하기 위해서 검출판별경계(Lev0)를 기준으로 검출 결과를 도출하게 되는 데, 검출판별경계(Lev0) 이하의 레벨에서는 금속검출기에 의해 검출이 되지 않으므로 제품 자체의 특성점(13)은 이물질로 판단하여 검출되지 않으며, 철이물(11)이나 SUS 이물(12)의 경우 Fe2 또는 Sus2 크기 이상에서만 금속이물질이 포함된 것으로 하여 검출된다.
Fe1 또는 Sus1 크기에서는 금속이물질을 검출하지 못하며, 이는 제품 자체의 특성점(13)을 검출하지 않도록 즉, 제품 자체의 특성점(13) 자체는 이물질이 아닌 제품 자체의 고유 특성이기 때문에 이를 이물질로 판단하여 검출하면 안되기 때문이다.
이렇게 단순물성 제품인 경우는 샘플링 검사에서 검출판별위상(Phase1)에서 검출되는 특성점(13) 보다 감도를 낮추어 검출판별경계를 기준으로 하면 모든 동일 제품에 대해서 동일한 금속이물질 검사가 가능하다.
하지만, 단순물성 제품이 아닌 복잡물성 제품인 경우는 특성점의 검출이 동일 위상이 아닌 제품마다 다른 위상에서 검출되므로 획일적으로 검출판별경계 기준을 정할 수 없게 된다.
도 2를 참조하면, 동일 제품군에서 3개의 제품을 샘플링한 결과를 모식한 결과이다.
3개의 제품은 동일 제품군이나 수분이나 염분의 함량 비율에 따라 특성점이 각각 다른 위상에서 검출될 수 있고, 각각의 레벨특성은 Lev1, Lev2 및 Lev3로 나타내어진다.
검출판별경계(Lev0)를 하나의 제품에 맞추어(즉, 도 1과 같이 하나의 제품인 단순물성 제품에 해당하는 검출판별경계를 기준으로) 이물질 검사를 실시할 때, 3개의 제품은 각각 다른 레벨특성(Lev1, Lev2 및 Lev3)을 나타내고, 이때 검출판별위상(Phase1)에서 검출시 철이물(11) 및 Sus이물(12)의 경우 Fe2 또는 Sus2 이상의 크기의 금속이물질 검출이 이루어질 수 있으나 제품 자체의 특성인 특성점(D1, D2, D3)에서 D3는 불검출, D1과 D2는 검출이 된다.
즉, 금속이물질을 포함하고 있지 않는 3개의 제품이 검출기를 통과할 때, 금속이물질이 없음에도 불구하고 2개의 제품의 특성점(D1, D2)이 검출판별경계(Lev0) 위에 존재하므로 이를 금속이물질로 판단하는 오류를 범하게 된다.
복잡물성 제품에 있어서는 획일적 검출판별경계(Lev0)를 설정시 제품 자체의 특성점이 각각 다르게 검출되는 관계로 금속이물질 판단의 오류가 커지게 되어, 이를 해결하기 위해 종래에는 도 3과 같이 검출판별경계(Lev0)를 낮추어 다수개의 제품에 대한 특성점 검출이 발생하지 않도록 하고 있다.
하지만, 도 3과 같이 검출판별경계(Lev0)를 낮추는 것은 제품 자체의 특성을 이물질로 판단하지 않도록 하기 위한 조치이나, 이는 도 3에 도시된 바와 같이 철이물(11)이나 Sus 이물(12)의 크기가 Fe3 또는 Sus3 이상의 크기에서만 금속이물질이 검출되므로 금속이물질 검출 감도는 그 만큼 떨어지게 되는 문제점이 존재한다.
상술한 종래의 문제점을 해결하기 위한 본 발명의 목적은, 복잡물성 제품(수분이나 염분의 함유량이 일정치 않은 제품)의 금속이물질 검출 감도를 높일 수 있는 금속검출기 및 검출방법을 제공하고자 한다.
상술한 과제를 해결하기 위한 본 발명에 따른 검출감도를 향상시킨 식품내 잔존 금속검출기는, 수신된 신호의 변화로부터 식품내 금속물체의 잔존 여부를 판단하는 식품내 잔존 금속검출기에 있어서, 상기 식품내 금속을 검출하는 것에 있어 상기 식품의 고유특성 검출 오류를 줄이면서 검출 감도를 향상시키기 위해서, 검출판별경계 감도를 높이고, 검출판별위상을 다위상으로 하여 모든 검출판별위상에서 상기 검출판별경계의 이상의 값이 검출될 때 상기 식품내 금속 이물질이 들어있는 것으로 판단하는 것을 특징으로 하여 이루어진다.
여기서, 상기 식품은 수분 또는 염분을 함유하는 복잡물성 제품이고, 상기 검출판별위상을 n(정수)개의 위상으로 판별할 때, 검출조건 = (검출레벨1 > 판별경계) AND (검출레벨2 > 판별경계) AND (검출레벨3 > 판별경계) … AND (검출레벨n > 판별경계)가 되며, 여기서, 검출레벨1은 검출판별위상1에서의 제품 검출레벨이고, 검출레벨2는 검출판별위상2에서의 제품 검출레벨이며, … 검출레벨n은 검출판별위상n에서의 제품 검출레벨인 것을 특징으로 하여 구현될 수 있다.
여기서, 상기 금속검출기의 신호 발신부측의 구성은, 발진 주파수를 생성시키는 발진기와, 상기 발진 주파수 신호를 변조하는 변조기와, 각각 다른 위상차를 갖는 동일 주파수를 발생시키는 위상 발생기와, 상기 변조기 및 위상발생기로부터 수신된 신호를 복조하며, 각각의 위상에 대응되는 복수개의 복조기를 포함하는 복조부와, 상기 복수개의 복조기와 대응되어 복조된 신호의 평균값 신호를 산출하는 복수개의 평균값 레지스터를 포함하는 것을 특징으로 하여 이루어질 수 있다.
여기서, 상기 복수개의 평균값 레지스터를 통해 출력된 신호는 오프셋 신호와 캘리브레이션(Calibration)되어 그 레벨신호가 동일하도록 오프셋되는 것을 특징으로 하여 이루어질 수 있다.
여기서, 상기 오프셋된 신호는 상기 검출판별경계 신호가 되도록 구현될 수 있다.
상술한 본 발명의 구성에 따르면, 복잡물성 제품(수분이나 염분의 함유량이 일정치 않은 제품)의 금속이물질 검출 감도를 높일 수 있는 금속검출기 및 검출방법을 제공하는 것이 가능하게 된다.
도 1은 종래의 단순물성 제품의 특성 검출과 금속이물질 검출을 위한 검출판별경계를 설정하는 위상과 검출레벨 특성간의 모식 그래프이다.
도 2는 종래의 복잡물성 제품의 특성 검출과 금속이물질 검출을 위한 검출판별경계를 설정하는 위상과 검출레벨 특성간의 모식 그래프이다.
도 3은 도 2에서 발생된 문제점을 해결하기 위한 위상과 검출레벨 특성간의 모식 그래프이다.
도 4는 본 발명에 따른 검출감도를 향상시킨 식품내 잔존 금속검출기의 주파수 발신부의 블록도이다.
도 5는 도 4의 복조부 및 평균값 레지스터부를 거치면서 입력된 다위상 주파수의 평균값 출력 과정을 도시한 것이다.
도 6은 도 5의 주파수 평균값을 오프셋하여 동일한 검출판별경계 기준값으로 설정되는 과정을 도시한 것이다.
도 7은 본 발명에 따른 검출감도를 향상시킨 식품내 잔존 금속검출기에 의한 복잡물성 제품의 특성 검출과 금속이물질 검출을 위한 위상과 검출레벨 특성간의 모식 그래프이다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 검출감도를 향상시킨 식품내 잔존 금속검출기의 구조 및 작용효과를 살펴본다.
도 4는 본 발명에 따른 검출감도를 향상시킨 식품내 잔존 금속검출기의 주파수 발신부의 블록도이다.
본 발명에 따른 금속검출기는 전자기 유도 현상을 응용한 것으로 발신부와 수신부로 구성되며, 발신부의 코일에서 자기장을 형성시키고 수신부에서는 발신부로부터 유기된 전류를 받아 BALANCE화 시켜, 자기장 터널내로 들어온 금속이 자계를 깨뜨릴 때 교란된 신호를 검출하여 수차례 증폭과 필터링을 거쳐 디지털화한 후 표시장치로 표시되는 장치이다.
금속검출기는 검사대상 식품이 일방향으로 이동하는 동안 이물질인 금속체 존재 여부를 검사하기 위한 것으로서, 신호송신부와 신호수신부로 분리되어 구성된 분리형 센서부를 갖거나 송수신 안테나 코일들이 일체로 폐쇄형을 이루는 폐쇄형 센서부를 갖으며, 분리형 센서부는 장방형의 윤곽으로 된 송신코일에는 2개의 정현파 주파수를 변조시켜 인가하는 송신기가 연결되고 루프형태의 수신코일에는 수신된 변조신호를 원래 송신된 2개의 송신주파수로 분리해내는 수신기가 연결되어 구성되며, 폐쇄형 센서부는 송신코일에 연결되고 2개의 정현파 주파수를 변조시켜 인가하는 폐쇄형 금속검출기 송신기와, 수신코일에 연결되어 수신된 변조신호를 원래 송신된 2개의 송신주파수로 분리해내는 수신기를 포함하여 구성될 수 있다.
도 4에 도시된 부분은 금속검출기에서 발신부의 블록도를 도시한 것이다.
본 발명에 따른 금속검출기는 발신부에서 상대적으로 높은 정현파 주파수를 발진하는 주파수 발진기(41)에서 생성된 신호와 상대적으로 낮은 정현파 주파수를 발진하는 주파수 발진기(41)에서 생성된 신호가 변조기(22)에 인가되어 변조되고, 변조된 신호는 신호전력으로 증폭시키는 전력증폭기(미도시)를 거쳐 송신코일(미도시)에 인가되어 송신된다.
금속검출장치의 수신부에서는, 검사대상 식품을 투과하여 수신코일에 수신된 변조신호는 신호처리에 필요한 크기까지 신호증폭기에서 증폭된 후 신호분리기에서 2개의 신호로 분리된다. 송신된 2개의 원 주파수 성분을 분리시키기 위하여 주파수 발진기(41)에서 트리거 신호를 받아 주파수 동기검파기에서 신호주파수를 복원하게 된다.
본 발명에서는 2개의 주파수를 발진하여 변조, 증폭, 신호분리 및 복원을 하여 금속이물질의 유무를 검출하는 것을 예시로서 설명하지만, 하나의 발진 주파수를 발생시켜 이를 수신하여 금속이물질의 유무를 검출할 수도 있다.
2개의 주파수를 발진하여 1개의 송신안테나를 사용하여 2개의 송신주파수 대역을 송신효율을 저하시키지 않으면서 동시에 송출할 수 있도록 하여 사용되는 최적 주파수 대역이 다른 복수 종류의 검사대상 식품내 금속물체를 검출하는 장치와 방법에 대해서는 본 출원인이 출원하여 등록을 받은 등록특허공보 제10-1019100호에 자세하게 개시되어 있으므로 상세한 설명은 생략하기로 한다.
도 4는 금속검출기의 발신부측의 내부 블록 구성도로서, 먼저 발진기(41)에서 발진 주파수를 생성시키고 발진 주파수는 변조기(42)를 거쳐 변조되어 복조부(46, 48)에 전달된다.
그리고, 위상 발생기(43)에서는 각각 다른 위상차를 갖는 동일 주파수를 발생시켜 아나로그-디지탈 변환부(44)를 거쳐 디지탈화된 신호가 필터(45)를 거치면서 필터링되어 복조부(46)로 전달된다.
복조부(46)에서는 제1 내지 제m 복조기(46a 내지 46d, 48a 내지 48d) 각각에서 해당 위상 신호와 변조기(42)에서 변조된 신호를 복조하여 평균값 레지스터부(47)의 평균값 레지스터들(47a 내지 47d, 49a 내지 49d)로 보내고, 레지스터부(47)의 평균값 레지스터들(47a 내지 47d, 49a 내지 49d) 각각은 해당 복조된 신호를 평균 산출하여 출력하게 된다.
위상발생기(43)에서 발생되는 위상 신호는 Phase n를 기준으로 Phase n+1, Phase n+2로 표현되며, 실 구현에서는 그 위상차는 0.5도 단위의 연속적인 값을 2 이상으로 하여 출력하게 된다.
평균값 레지스터부(47)로부터 출력되는 신호는 다시 오프셋 신호와 Calibration되어 그 레벨신호가 동일하도록 오프셋된다.
도 5는 도 4의 복조부 및 평균값 레지스터부를 거치면서 입력된 다위상 주파수의 평균값 출력 과정을 도시한 것이다.
위상발생기(43)로부터 발생된 위상 신호(A, B, C)는 위상 신호(A)를 기준으로 각각 θ만큼 위상차가 있는 위상 신호(B) 및 위상 신호(C)이다.
위상 신호(A, B, C)는 각각 해당 복조부(46)의 복조기에서 발진 주파수의 변조된 주파수와 복조되고 각각의 신호는 반파형 신호(A', B', C')로 복조되어 출력되며, 복조된 반파형 신호(A', B', C')는 평균값 레지스터부(47)를 통과하면서 평균값 신호(A", B", C")로 출력된다.
도 6은 도 5의 주파수 평균값을 오프셋하여 동일한 검출판별경계 기준값으로 설정되는 과정을 도시한 것이다.
도 5의 평균값 신호(A", B", C")는 오프셋신호(Offset1, Offset2, Offset3)와 합산되어 동일한 평균값 신호(Ao, Bo, Co)가 만들어진다.
평균값 신호(Ao, Bo, Co)는 각각 위상(θ) 만큼의 위상차가 존재하고 그 레벨값은 동일하게 결정된다.
이 평균값 신호(Ao, Bo, Co)의 레벨은 각각 검출판별경계값으로 결정되며, 각각의 검출판별경계에서 모두 신호가 검출되는 경우에만 제품의 특성점이 아닌 금속이물질로 판단하도록 한다.
도 7은 본 발명에 따른 검출감도를 향상시킨 식품내 잔존 금속검출기에 의한 복잡물성 제품의 특성 검출과 금속이물질 검출을 위한 위상과 검출레벨 특성간의 모식 그래프이다.
도 7를 참조하면, 검출판별경계(Lev0)는 종래의 도 2와 같은 감도레벨을 가지며, 도 3과 같이 감도 오류를 방지하기 위해 검출판별경계(Lev0)를 낮출 필요가 없게 된다.
복잡물성 제품은 수분과 염분의 농도에 따라 그 특성점(D1, D2, D3)이 각각 다른 위상에서 검출된다.
종래의 경우에는 검출판별위상1에서 검출시 3개의 제품 중 2개의 제품(Lev2, Lev3)에서 검출판별경계(Lev0) 위에 특성점(D2, D3)이 나타나 이를 금속이물질로 오인하고 결국에는 금속이 아닌 제품 자체의 특성을 감지하지 못하고 검출 오류가 발생하게 된다.
이러한 오류를 방지하기 위해 3개의 제품에 대해 각각 다른 위상을 갖는 검출판별위상에서 검출판별을 하여 3개의 다른 위상에서 모두 검출되어야 금속이물질로 판단하도록 하여 검출 오류를 해결하고자 한다.
1제품(Lev1)의 경우, 검출판별위상1에서 특성점(D1)이 검출판별경계(Lev0) 아래에 있으므로 불검출되고, 검출판별위상2에서 특성점(D1)이 검출판별경계(Lev0) 위에 있으므로 검출되며, 검출판별위상3에서 특성점(D1)이 검출판별경계(Lev0) 위에 있으므로 검출된다. 결과적으로 3개의 다른 위상에서 모두 검출이 되어야 금속이물질로 판단하므로 불검출로 판단하게 된다.
2제품(Lev2)의 경우, 검출판별위상1에서 특성점(D2)이 검출판별경계(Lev0) 위에 있으므로 검출되고, 검출판별위상2에서 특성점(D2)이 검출판별경계(Lev0) 아래에 있으므로 불검출되며, 검출판별위상3에서 특성점(D2)이 검출판별경계(Lev0) 위에 있으므로 검출된다. 결과적으로 3개의 다른 위상에서 모두 검출이 되어야 금속이물질로 판단하므로 불검출로 판단하게 된다.
마찬가지로 3제품(Lev3)의 경우, 검출판별위상1에서 특성점(D3)이 검출판별경계(Lev0) 위에 있으므로 검출되고, 검출판별위상2에서 특성점(D3)이 검출판별경계(Lev0) 위에 있으므로 검출되며, 검출판별위상3에서 특성점(D3)이 검출판별경계(Lev0) 아래에 있으므로 검출된다. 결과적으로 3개의 다른 위상에서 모두 검출이 되어야 금속이물질로 판단하므로 불검출로 판단하게 된다.
즉, 모든 검출판별위상에서 검출될 때 금속 이물질로 판단하여 수신된 신호에 변화가 발생되도록 하여 식품 자체의 고유 특성의 검출로 인한 검출 감도의 오류를 최소하는 것이 가능하게 된다.
제품 자체의 특성점 검출조건은 하기 논리식과 같이 정해진다.
검출조건 = (검출레벨1(Rev1) > 판별경계) AND (검출레벨2(Rev2) > 판별경계) AND (검출레벨3(Rev3) > 판별경계)가 된다.
여기서, 검출레벨1은 검출판별위상1에서의 제품 검출레벨이고, 검출레벨2는 검출판별위상2에서의 제품 검출레벨이며, 검출레벨3은 검출판별위상3에서의 제품 검출레벨이다.
따라서, 철이물(71) 및 Sus이물(72)은 검출판별경계(Lev0)에서 Fe2 및 Sus2 크기 이상에서 금속이물질 검출이 가능하면서, 제품 자체의 특성점은 3개의 위상에서 모두 검출판별경계(Lev0)를 기준으로 모두 검출되어야 하므로 제품 자체의 특성점 검출에 의한 금속이물질 검출 오류가 그 만큼 적어지게 되고, 금속이물질 감도가 그 만큼 향상될 수 있게 된다.
41 : 발진기 42 : 변조기
43 : 위상발생기 44 : 아나로그 디지탈 변환기
45 : 필터 46, 48 : 복조부
46a 내지 46d, 48a 내지 48d : 복조기
47, 49 : 평균값 레지스터부
47a 내지 47d, 49a 내지 49d : 평균값 레지스터
71 : 철이물 72 : Sus이물

Claims (5)

  1. 수신된 신호의 변화로부터 식품내 금속물체의 잔존 여부를 판단하는 식품내 잔존 금속검출기에 있어서,
    상기 식품내 금속을 검출하는 것에 있어 상기 식품의 고유특성 검출 오류를 줄이면서 검출 감도를 향상시키기 위해서,
    검출판별경계 감도를 높이고, 검출판별위상을 다위상으로 하여 모든 검출판별위상에서 상기 검출판별경계의 이상의 값이 검출될 때 상기 식품내 금속 이물질이 들어있는 것으로 판단하는 것을 특징으로 하는 검출감도를 향상시킨 식품내 잔존 금속검출기.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 식품은 수분 또는 염분을 함유하는 복잡물성 제품이고,
    상기 검출판별위상을 n(정수)개의 위상으로 판별할 때,
    검출조건 = (검출레벨1 > 판별경계) AND (검출레벨2 > 판별경계) AND (검출레벨3 > 판별경계) … AND (검출레벨n > 판별경계)가 되며,
    여기서, 검출레벨1은 검출판별위상1에서의 제품 검출레벨이고, 검출레벨2는 검출판별위상2에서의 제품 검출레벨이며, … 검출레벨n은 검출판별위상n에서의 제품 검출레벨인 것을 특징으로 하는 검출감도를 향상시킨 식품내 잔존 금속검출기.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 금속검출기의 신호 발신부측의 구성은,
    발진 주파수를 생성시키는 발진기와,
    상기 발진 주파수 신호를 변조하는 변조기와,
    각각 다른 위상차를 갖는 동일 주파수를 발생시키는 위상 발생기와,
    상기 변조기 및 위상발생기로부터 수신된 신호를 복조하며, 각각의 위상에 대응되는 복수개의 복조기를 포함하는 복조부와,
    상기 복수개의 복조기와 대응되어 복조된 신호의 평균값 신호를 산출하는 복수개의 평균값 레지스터를 포함하는 것을 특징으로 하는 검출감도를 향상시킨 식품내 잔존 금속검출기.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 복수개의 평균값 레지스터를 통해 출력된 신호는 오프셋 신호와 캘리브레이션(Calibration)되어 그 레벨신호가 동일하도록 오프셋되는 것을 특징으로 하는 검출감도를 향상시킨 식품내 잔존 금속검출기.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 오프셋된 신호는 상기 검출판별경계 신호가 되는 것을 특징으로 하는 검출감도를 향상시킨 식품내 잔존 금속검출기.


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