CN1708796A

CN1708796A - 用于处理在具有缺陷的数据载体上存储的数据的设备和处理该盘上的数据的方法

Info

Publication number: CN1708796A
Application number: CNA2003801024770A
Authority: CN
Inventors: G·A·里恩克内格特; F·J·斯洛奇特恩
Original assignee: Koninklijke Philips Electronics NV
Current assignee: Koninklijke Philips NV
Priority date: 2002-10-30
Filing date: 2003-10-10
Publication date: 2005-12-14
Anticipated expiration: 2023-10-10
Also published as: WO2004040560A1; US20060087934A1; KR20050060107A; EP1559097A1; CN100423098C; AU2003267761A1; JP2006505088A

Abstract

一种设备包括仿真器62，所述仿真器仿真致动器20的功能，所述致动器移动用于处理数据载体上的数据的光学系统。通过这种措施，载体上所可能包括的缺陷对用户的干扰变小。应用：本发明非常适用于包含缺陷的光盘。

Description

用于处理在具有缺陷的数据载体上存储的数据的设备和处理该盘上的数据的方法

本发明涉及一种用于处理放置在可能具有缺陷的数据载体的轨道上的数据的设备，所述设备使用激光束，所述激光束由伺服机构在所述轨道上进行引导。

本发明还涉及一种处理盘上的数据的方法，所述盘可能具有缺陷。

如果以低成本的方式制造数据载体(例如光盘)，则所述数据载体可能会具有很多缺陷。对于使用这些廉价光盘的用户来说，重要的是不会受到过多干扰。

现已提出一些措施来对这些缺陷进行补救。美国专利US6,259,663提供了一些解决方案。

本发明提出了一种设备，对于所述设备，通过使用不同于所述US专利所公开的方法，所述缺陷不会造成巨大的跟踪损失。

因此，根据本发明的这种设备由下文限定：

所述设备是一种用于处理放置在可能具有缺陷的数据载体的轨道上的数据的设备，所述设备使用激光束，所述设备包括：

-伺服机构，用于通过对控制激光束的移动部件进行操作来引导所述轨道上的激光束，

-控制器装置，用于控制所述移动部件，

-仿真器，其具有与所述移动部件相似的电性能，

-缺陷检测器，用于对所述载体上的缺陷提供缺陷信号，

-开关，其由所述缺陷信号控制，用于将仿真器的输出施加到控制器装置的输入端。

在本发明的范围内，仿真器被称作“观测器”。

根据本发明，提供了一种处理可能具有缺陷的盘上的数据的方法，所述方法涉及下述步骤：

-通过操作控制激光束方向的移动部件来引导所述轨道上的激光束，

-通过控制器装置来控制所述移动部件，

-使用电性能与所述移动部件相似的仿真器(观测器)，

-对所述载体上的缺陷提供缺陷信号，

-将仿真器的输出施加到控制器装置的输入端。

本发明的这些和其他方面借助于参考下文所描述的具体实施例将更加明显，下面将借助于参考下文所描述的具体实施例以非限制性示例的方式来对本发明的这些和其他方面进行阐述。

附图中：

图1示出了根据本发明的设备，

图2示出了由图1的设备所使用的径向引导装置的示意图，

图3示出了由图1的设备所使用的仿真器的示意图，

图4示出了由图1的设备所使用的预测器装置的示意图。

图1示出了一种设备，其中放置有数据载体1。所述数据载体可以是光盘。在图1中，所述载体以横截面形式示出。盘电机3旋转载体。透镜12将激光束14聚焦在所述载体上。激光器安装在滑架(sledge)16上，所述滑架可以根据电子电路的控制沿载体的半径移动，所述电子电路(其在附图中未示出)操作滑架电机17驱动。在所述滑架内部，致动器装置允许小的移动。附图标记20表示用于径向定位的致动器装置，附图标记22表示用于聚焦定位的致动器装置。箭头26表示聚焦定位的方向，箭头28表示径向定位的方向。所述致动器由电工元件形成，例如线圈、磁性复位弹簧等。所述滑架还包括光电检测器，其产生信号。这些信号一方面用于例如在屏幕40上显示画面，另一方面用于控制各种伺服。分离器装置42将这些信号导向相关的其它装置。其中，信号TRf用于通过聚焦装置45执行聚焦，另一信号TRr用于通过径向引导装置50执行径向定位。

图2更加详细的示出了径向引导装置50，其中有用于避免受到可能存在于数据载体上的缺陷的恶劣影响的措施。所述装置50包括PID控制器60。所述控制器将控制信号施加到致动器装置20。所述控制器的功能在于提供增益(正比的)动作、积分动作和差分动作，这些动作在现有技术中是公知的。所述控制器的输入信号是表示激光束的引导误差的误差信号。所述信号是信号TRr，或者是仿真器62的输出信号。所述信号的选择由被缺陷检测器66控制的开关64的位置确定。将开关64的输出端的信号与数值“0”进行比较的比较器69用来提醒必须将该信号保持为接近于“0”的恒定数值。为了改进仿真性能，提供了预测器装置71。减法器74组合该预测器装置71的输出信号与仿真器62的输出信号，从而形成在检测缺陷期间所使用的误差信号。缺陷检测器分析所述缺陷检测器输出端的信号。当光强急剧(＜1.5ms)下降到其正常值的约75％时，认为存在缺陷。

图3更加详细的示出了仿真器62的电结构。和通常一样，处理器和软件可以仿真所述结构。图中的方框代表致动器装置20的各种物理参数。方框B1代表致动器所包含的线圈以及磁体的响应。所述方框B1的传递函数H1可以写为：

H 1 = \frac{1}{LR . s + Rr}

其中，LR是线圈的电感，Rr是其电阻。

方框B2代表力，所述力是当方框B1的输出端存在电压时所施加的。方框B2的传递函数H2可写为：

H2＝Kf

其中Kf是常数。

方框B3代表致动器装置移动的透镜的质量m_lens的影响。其传递函数H3可写为：

H3＝1/m_lens

在方框B3的输出端，给出了致动器装置的移动的加速度“aa”的估计值。然后，通过两个积分器B5和B6，可以获得移动部件的速度“va”和位置“xa”的估计值。方框B10代表复位弹簧的弹性常数K，方框B20代表阻尼常数Dp，方框B30代表电磁力Emk。方框B40代表方框B2输出端的数值减去B10和B20输出端的数值的加法。B10和B20的输入值分别是B6和B5的输出值。方框B45定义了从施加到装置62的输入端的数值中减去方框B30所提供的数值的减法。B30的输入值是由方框B6处理的数值。B6的输出构成了装置62的输出。

图4示出了预测器装置71的结构。该装置的第一输出端接收信号“aa”。滤波器80对所述信号进行滤波，以使其平滑。当检测器66检测到缺陷时，采样保持装置82存储所述经过滤波的信号的数值。积分器84对所述数值进行积分，以提供速度值，所述速度值与来自另一采样保持装置86的数值“va”相组合。加法器88执行所述组合。经过组合的速度被积分器90积分，以形成位置数值，加法器92将所述位置数值与数值“xa”相组合。采样保持装置94还存储数值“xa”。最后，减法器96形成装置71的输出信号。

本发明的范围还涉及伺服机构，所述伺服机构被嵌入在聚焦装置45中。该装置包括与装置50相同的元件，特别是仿真器，其在盘上出现缺陷时保持聚焦。

聚焦过程必须在径向引导过程之前开始。

Claims

1.一种用于处理放置在可能具有缺陷的数据载体的轨道上的数据的设备，所述设备使用激光束，所述设备包括：

-控制器装置，用于控制所述移动部件，

-具有与所述移动部件相似的电性能的仿真器，

-缺陷检测器，用于对所述载体上的缺陷提供缺陷信号，

-由所述缺陷信号控制的开关，用于将仿真器的输出施加到控制器装置的输入端。

2.根据权利要求1所述的设备，其中，伺服机构操作在径向方向上。

3.根据权利要求1或2所述的设备，其中，伺服机构对聚焦激光束进行操作。

4.一种处理可能具有缺陷的盘上的数据的方法，所述方法涉及下述步骤：

-通过操作控制激光束的移动部件来引导所述轨道上的激光束，

-通过控制器装置来控制所述移动部件，

-使用电性能与所述移动部件相似的仿真器，

-对所述载体上的缺陷提供缺陷信号，

-将仿真器的输出施加到控制器装置的输入端。

5.根据权利要求4所述的方法，所述引导包括涉及径向方向的引导的步骤。

6.根据权利要求4或5所述的方法，所述引导步骤包括聚焦激光束的步骤。