CN1667682A - 自发光显示模块及其缺陷检验方法、安装模块的电子设备 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种例如当发光显示面板的像素产生缺陷时可迅速向用户通知的自发光显示模块。向排列在发光显示面板(1)上的各EL元件E11～Enm提供恒定电流的恒流源I1～In的输出端子电位经由检查线TL1～TLn引出，并通过选择开关SW1进行选择。所选择的电位提供给比较参考电位互不相同的第1和第2比较器CP1和CP2，其比较结果分别通过锁存电路LC1和LC2而被锁存，并存储在作为存储装置的数据寄存器(6)中。通过数据寄存器(6)中存储的数据判断包含各EL元件和各驱动器(2、3)的部分部位是否发生了缺陷。

Description

自发光显示模块及其缺陷检验方法、 安装模块的电子设备
技术领域
本发明涉及具有将例如有机EL(电致发光)元件作为自发光元件用于像素的发光显示面板和对发光显示面板进行点亮驱动的驱动装置的自发光显示模块，特别涉及具有可以检验上述发光显示面板或上述点亮驱动装置、或上述发光显示面板与上述点亮驱动装置之间的连接部分等处的缺陷状态功能的自发光显示模块以及该模块的缺陷状态的检验方法。
背景技术
目前提供的多数电子设备等上都附带有显示器，该显示器作为支持信息化社会的设备的人机界面是必不可少的。上述显示器如果使用在象医疗器械或飞机的仪表等那样万一出现显示故障将可能会殃及人命的领域，则相对于使用在移动电话机或汽车音响等中，其对显示可靠性的要求更高。
譬如，在医药品的注射器械等中，当在表示注入量的数字显示部分沿扫描线方向发生漏光(bright leak)现象时，所显示的数字是“0”还是“8”很难判断。此外，还会发生下述问题：显示小数点的部分的像素不点亮，数字的位被错误显示，但用户对此并未注意而将数值读出。如果用户误认为上述处于显示故障状态的显示是正常状态而继续使用上述设备是相当危险的，甚至会导致严重的问题。
因此，在使用于上述电子设备的显示器中，在产品出厂前的半成品状态，检查排列在显示面板的各像素的缺陷状态，并判断该缺陷的程度是否满足搭载了该显示器的产品的标准(例如，参照专利文献1)。
[专利文献1]专利第3437152号公报
但是，上述专利文献1所公开的发明其目的在于：提供一种能够在产品出厂前的半成品状态，实施对显示面板的各像素的评价，并利用有机EL显示器的检查用驱动电路，获得可靠性较高的评价结果的评价装置。
当利用上述专利文献1所公开的评价装置时，虽然能够发现产品的初始不良，并在有缺陷的显示面板送到用户手中之前采取对策，但是在该种显示器中，在产品出厂后显示单元使用的过程中，存在着排列在显示面板上的像素重新产生缺陷的问题。另外，不仅排列在显示面板上的像素会重新产生缺陷，包含对排列在显示面板上的各像素进行点亮驱动的数据驱动器或扫描驱动器的驱动装置、或者显示面板和上述驱动装置的连接部分等处也会重新产生缺陷。
为此，采取了将产生上述缺陷的程度降至最低并确保可靠性的各种对策。但是，克服显示器使用过程等中发生的像素缺陷或其他上述驱动装置等产生缺陷的问题，存在非常多的技术课题，而提供一种产品出厂后不会发生上述缺陷的显示模块也不得不说是很困难的。
发明内容
本发明着眼于上述实际存在的问题点而提出的，其目的旨在提供一种在自发光显示模块内具有能够检验上述显示面板或驱动装置等中是否产生缺陷的检测装置、当发生像素缺陷等时可向用户通知该状态，从而可以防止向用户传递错误的显示信息的自发光显示模块和搭载了该模块的电子设备以及该模块的缺陷状态检验方法。
为实现上述目的而实施的本发明中的自发光显示模块包括：自发光显示单元，由将多个包含自发光元件的像素呈矩阵状地排列在扫描线和数据线的交点位置的发光显示面板和有选择地对所述发光显示面板中的各自发光元件进行点亮驱动的驱动装置构成；故障检测装置，检测上述自发光显示单元的故障；存储装置，存储上述故障检测装置的检测结果，其特征在于：上述故障检测装置构成为：把向上述自发光元件提供恒定电流的恒流源的输出端子电位与预先设定的参考电位相比较，从而检测出上述自发光显示单元中的故障。
此外，为实现上述目的而实施的本发明中的自发光显示模块的缺陷状态的检验方法中，所述自发光显示模块包括：自发光显示单元，由将多个包含自发光元件的像素呈矩阵状地排列在扫描线和数据线的交点位置的发光显示面板和有选择地对所述发光显示面板中的各自发光元件进行点亮驱动的驱动装置构成；故障检测装置，检测上述自发光显示单元的故障；存储装置，存储上述故障检测装置的检测结果，其特征在于：在与上述各像素对应的各数据线和各扫描线的所有组合中分别执行故障检测步骤和检测结果存储步骤，其中，在故障检测步骤中，利用安装在上述故障检测装置的电压比较装置，把向上述自发光元件提供恒定电流的恒流源的输出端子电位与预先设定的参考电位相比较，从而检测出上述自发光显示单元的故障；在检测结果存储步骤中，将上述故障检测步骤中检测出的检测结果存储到上述存储装置。
附图说明
图1是表示本发明的自发光显示模块的第1实施方式的电路结构图。
图2是表示利用图1所示的数据寄存器中存储的数据的缺陷地点判断装置和缺陷通知装置的连接结构例的方框图。
图3是表示在图2所示的缺陷地点判断装置中所实施的判断方法的说明图。
图4是表示本发明的自发光显示模块的第2实施方式的电路结构图。
具体实施方式
以下，根据附图所示的实施方式就本发明的自发光显示模块进行说明。本发明所示的自发光显示模块包括：自发光显示单元，由将多个自发光显示元件作为像素呈矩阵状排列而成的发光显示模块和有选择地对该发光显示面板中各自发光元件进行点亮驱动的驱动装置所构成；故障检测装置，检测自发光显示单元的故障；存储装置，存储其检测结果。在以下说明的实施方式中，列举采用了将有机材料用于发光层的有机EL元件作为自发光元件的例子。
上述有机EL元件可以电气地置换为由具有二极管特性的发光元件和并联耦合在该发光元件的寄生电容成分所组成的结构，并且有机EL元件为电容性的发光元件。该有机EL元件如果被施加正向发光驱动电压，则首先，相当于该元件的电容的电荷作为位移电流流入到电极并存储起来。其次，如果超过该元件固有的固定电压(发光阈值电压＝Vth)，则电流开始从一个电极(二极管成分的阳极)流向构成发光层的有机层，并以正比于该电流的强度发光。
另一方面，由于有机EL元件的电流·亮度特性不随温度变化而改变，而电压·亮度特性随温度变化而改变，而且当有过电流流过时，有机EL元件严重劣化，使发光寿命缩短等原因，一般采用恒定电流驱动。作为采用上述有机EL元件的显示面板，建议采用将EL元件呈矩阵状排列的无源矩阵型显示面板和通过TFT(Thin FilmTransistor：薄膜晶体管)对呈矩阵状排列的各EL元件分别分别点亮驱动的有源矩阵型显示面板。
图1表示本发明的自发光模块的第1实施方式，示出了采用无源矩阵型显示面板的例子。该无源矩阵驱动方式的有机EL元件的驱动方法包括阴极线扫描·阳极线驱动和阳极线扫描·阴极线驱动2种方法，但是图1所示的结构表示前者，即阴极线扫描·阳极线驱动的方式。也就是说，在纵向(列方向)排列n条作为数据线的阳极线A1～An，在横向(行方向)排列m条作为扫描线的阴极线K1～Km，在各交差位置(共计n×m处)配置由二极管的符号标记表示的有机EL元件E11～Enm，由此构成显示面板1。
再有，构成像素的各EL元件E11～Enm与沿纵向排列的阳极线A1～An和沿横向排列的阴极线K1～Km的各交点位置相对应，其一端(EL元件的等效二板管的阳极端子)与阳极线连接，另一端(EL元件的等效二极管的阴极端子)与阴极线连接。而且，各阳极线A1～An连接在作为构成点亮驱动装置的数据驱动器的阳极线驱动电路2，各阴极线K1～Km连接在作为构成相同点亮驱动装置的扫描驱动器的阴极线扫描电路3，由此进行分别驱动。
在上述阳极线驱动器电路2上具有例如利用DC-DC变换器的升压电路(未图示)所提供的驱动电压VH(也称之为“第1电源”)进行工作的恒流源I1～In以及驱动开关Sa1～San，驱动开关Sa1～San连接在上述恒流源I1～In侧，从而来自恒流源I1～In的电流提供给与阴极线对应配置的各EL元件E11～Enm。此外，在该实施方式中，当不向各EL元件提供来自恒流源I1～In的电流时，上述驱动开关Sa1～San构成为将上述各阳极线与接地电位GND(也称之为“第3电源”)相连接。
再者，上述阴极线扫描电路3上设置有与各阴极线K1～Km对应并作为切换装置的扫描开关Sk1～Skm，将用于防止串扰发光的反向偏置电压VM(也称之为“第2电源”)或作为参考电位点的上述接地电位GND中的某一个连接在对应的阴极线。由此，以规定的周期将阴极线设定在参考电位点(接地电位)，同时将恒流源I1～In连接在所希望的阳极线A1～An，从而上述各EL元件有选择地发光。
此外，上述阳极线驱动电路2和阴极线扫描电路3上连接有从包含CPU的控制器IC4引出的控制总线。并且，根据提供给控制器IC4的应显示视频信号，对上述扫描线Sk1～Skm和驱动开关Sa1～San进行切换操作。这样，根据视频信号以规定的周期将阴极扫描线设定在接地电位，同时将恒流源I1～In连接在所期望的阳极线上。因此，上述各发光元件可以有选择地发光，并在显示面板1上显示基于上述视频信号的图象。
此外，在图1所示的状态中，第2阴极线K2设定在接地电位并处于扫描状态，此时，非扫描状态的阴极线K1、K3～Km上施加上述反向偏置电位VM。这里，当设处于扫描发光状态的EL元件的正向电压为VF时，对各电位进行设定(电位设定的具体例子在后文中加以叙述)使其满足〔(正向电压VF)-(反向偏置电压VM)〕＜(发光阈值电压Vth)。由此，在连接于被驱动的阳极线和未进行扫描选择的阴极线的交点的各EL元件上施加不大于元件的发光阈值电压Vth的电压，防止EL元件串扰发光。
由上述说明的发光显示面板1、作为驱动装置的阳极线驱动电路2、阴极线扫描电路3、以及控制器IC4构成自发光显示单元。在该图1所示的自发光显示模块中，除此之外还包括：检测上述自发光显示单元的故障的故障检测装置以及存储该故障检测装置的检测结果的存储装置。
以下，根据图1所示的实施方式说明上述故障检测装置和存储装置的结构。即，从阳极线驱动电路2的各恒流源I1～In的输出端子分别引出检查线TL1～TLn并提供给选择开关SW1。该选择开关SW1的功能为择一地取出经由各检查线TL1～TLn获得的各恒流源I1～In的输出端子电位，选择开关SW1所选择的电位分别供给到作为第1和第2电压比较装置的比较器CP1和CP2。
也就是说，由上述选择开关SW1选择的电位分别供给到第1比较器CP1的非反相输入端子和第2比较器CP2的反相输入端子。另一方面，向上述第1比较器CP1的反相输入端子供给上述反向偏置电位VM(第2电源)。再有，向上述第2比较器CP2的非反相输入端子供给逻辑工作电位VDD。
此处，如果对图1所示结构的各部分的电位及EL元件的电位特性进行举例说明，则驱动恒流源I1～In的驱动电位(第1电源)VH＝16V，反向偏置电压(第2电源)VM＝10V，EL元件的正向电压VF＝8V，EL元件的发光阈值电压Vth＝7V，逻辑工作电位VDD＝3V，接地电位(第3电源)VDD＝0。再有，关于上述EL元件的正向电压，因各发光色的不同而异，即便是相同发光色的元件中也或多或少存在偏差，因此，以下将正常状态下的EL元件的正向电压表示为VF目标值(＝8V)。
根据上述电位关系，选择开关SW1所选择的VF目标值为VF＝8V，该电位被供给到第1比较器CP1的非反相输入端子和第2比较器CP2的反相输入端子。向上述第1比较器CP1的反相输入端子供给VM＝10V，所以发光显示面板1和阳极线驱动电路2、阴极线扫描电路3正常工作时，第1比较器CP1的输出为“-”(负)。再者，向上述第2比较器CP2的非反相输入端子供给VDD＝3V，因此，当发光显示面板1和阳极线驱动电路2、阴极线扫描电路3正常工作时，第2比较器CP2的输出同样为“-”(负)。
上述第1和第2比较器CP1和CP2的各输出分别提供给第1锁存电路LC1和第2锁存电路LC2，通过供给到这些第1和第2锁存电路LC1、LC2的锁存脉冲LP，各比较器CP1、CP2的输出被锁存。而且，各第1和第2锁存电路LC1、LC2的各锁存输出A和B分别提供给构成存储装置的数据寄存器6并存储到该数据寄存器6中。
上述结构的自发光显示模块构成为可在发光驱动模式和检测模式之间切换，例如，当开启工作电源时或者工作电源正在开启的状态下定期地或者根据外部操作在任意时间切换为上述检测模式。然后，当执行检测模式时，例如在1帧(或1个子帧)期间中预先设定的时间内，对所有的对应于1条扫描线的各EL元件进行点亮控制。在图1所示的状态中，第2扫描线K2处于扫描状态，来自各恒流源I1～In的电流分别经由驱动开关Sa1～San供给到对应于该第2扫描线的各EL元件E12、E22、E32～En2。
在该状态下，上述选择开关SW1工作，使经由各检查线TL1～TLn获得的各恒流源I1～In的输出端子电位依次分别提供给第1和第2比较器CP1、CP2。这时，将选择开关SW1首先连接在检查线TL1并将锁存脉冲LP分别提供给第1和第2锁存电路LC1和LC2，由此实现将第1和第2比较器CP1、CP2的输出A、B供给到数据寄存器6。并且，数据寄存器6存储此时的输出A、B。
继而，将选择开关SW1连接到检查线TL2，同样地将第1和第2比较器CP1、CP2的输出A、B存储在数据寄存器6。这样，对经由与各恒流源I1～In对应的所有的检查线TL1～TLn的电位进行同样的检验，将输出A、B存储到数据寄存器6。
以上说明涉及上述检测模式中第2扫描线K2处于扫描状态时的工作，譬如，当处于下一帧(或1个子帧)期间的检测模式时，例如使下一个第3扫描线K3处于扫描状态，对经由所有检查线TL1～TLn的电位进行同样的检验，并将输出A和B存储到数据寄存器6。该操作在下一帧(或1个子帧)中也同样执行，使所有的各扫描线处于扫描状态，将它们的所述输出A、B分别存储在数据寄存器6。
即，在发光显示面板1的各EL元件E11～Enm所对应的各扫描线和各数据线的所有组合中分别执行上述检验(检测工作)，检测工作的检测结果，即输出A、B的组合都存储到作为存储装置的数据寄存器6中。这样，就完成了对包含发光显示面板1、作为驱动装置的阳极线驱动电路2、阴极线扫描电路3的自发光显示单元的一系列检验。此外，上述一系列检验可以再度定期进行，并通过外部操作在任意时间内进行。
图2表示如前述那样利用数据寄存器6中存储的各检验结果，即上述A、B的组合数据来指定存在故障(缺陷)的地点，并据此使缺陷通知装置运行。即，图2所示的标记6表示图1所示的数据寄存器，该数据寄存器6中存储的输出A、B的组合所构成的数据使用在附图标记7所表示的缺陷地点判断装置中，判断(指定)包含发光显示面板1、作为驱动装置的阳极线驱动电路2、阴极线扫描电路3的自发光显示单元的缺陷地点。而且根据在缺陷地点判断装置7中判断出的缺陷地点来驱动缺陷通知装置8。
图3是说明图2所示的缺陷地点判断装置中所执行的判断手法的图。在该图3所示的判断手法中列举了下述情形：如图1所示那样第2扫描线K2接地并处于扫描状态，在其余的扫描线K1、K3～Km上施加反相偏置电压VM，并且选择开关SW1选择检查线TL1。而且，图3所示的输出A和输出B表示所述的作为存储装置的数据寄存器6中存储的第1和第2比较器CP1和CP2的各输出状态。
在图3中出现的表示为地点标记的标记中，譬如E11、E12等表示图1所示的EL元件。此外，C1和C2表示图1中带×标记的第1和第2阴极布线部分，以下同样对图1划×标记并附加地点标记。即，通过利用图3所示的判断手法，如下例示的那样可以判断出带地点标记并划×标记的部分为故障。
图3中如No.0所表示的那样，输出A、B为“-”，通过“-”进行正常的判断，并且第2扫描线K2前后的扫描线K1和K3扫描时输出A、B仍未发现异常时，如状态栏中所示的那样判断为“无故障”。另一方面，如No.1所表示的那样，尽管输出A、B为“-”，通过“-”进行正常的判断，但正如备注栏中所示的那样，当扫描线K1扫描时发生异常的情形，如地点标记和状态栏中所示的那样判断为“EL元件E11被破坏，元件处于绝缘状态”。
另外，如图3所表示的那样，当输出A、B为“+”和“-”的组合并实施异常的判断时，如地点标记和状态栏所示的那样，判断为“EL元件12被破坏，元件处于绝缘状态”。还有，例如如No.9所表示的那样，尽管输出A、B为“-”，通过“-”进行正常的判断，但正如备注栏中所示的那样，当扫描线K1扫描时发生异常的情形，如地点标记和状态栏中所示的那样，判断为“在C1处阴极线布线被切断”。
上述说明尽管是图3所示的整个判断手法中的一部分，但以至少相邻的3条扫描线的扫描结果的上述输出A、B的数据为基础，就能够判断出图3所示的No.0～No.20所表示的地点标记和状态的组合。并且，同样地，以其他扫描线为对象进行同样的检测，以及执行据此的判断工作。
如上所述，通过将图1所示的故障检测装置与图2所示的缺陷地点判断装置组合，可以检测出形成于显示面板的EL元件的所有像素的发光故障，并检测出发生故障的EL元件的地点(坐标值)。另外，不仅EL元件，正如在图1划上×标记并附加地点标记那样，能够分别判断出显示面板的驱动装置以及驱动装置的各连接部位的故障。
根据上述缺陷地点判断装置7判断出的缺陷地点，驱动缺陷通知装置8，但此时即使判断出像素发生缺陷，如果该缺陷地点是不容易看错显示的位置，则可以原封不动地使用而不需要使缺陷通知装置8工作。此外，当像素的缺陷位置例如是显示小数点的位置时，即使发生缺陷的像素数很少，也需要使缺陷通知装置8工作。上述选择最好根据搭载了该自发光显示模块的设备进行适当的设定。
上述缺陷通知装置8可以采用例如蜂鸣器那样进行听觉性通知的装置，也可以将通知显示面板1上发生故障的信息显示出来。或者通过消除显示面板1的显示，从而明确已经发生了故障。这时，例如诸如使用在飞机上的计量仪器等不允许使显示消失的情形，可以考虑采用适当变更显示位置的装置。
图4表示本发明的自发光模块的第2实施方式，该实施方式也同样列举了采用无源矩阵型显示面板的例子。此外，在图4中，与图1所示各部分相当的部分采用相同符号表示，因此省略其详细的说明。
在图4所示的实施方式中，由选择开关SW1选择的各恒流源I1～In的输出端子电位提供给构成电压比较装置的1个比较器CP1中的非反相输入端子。该比较器CP1的反相输入端子与电压值可变的参考电位发生装置5连接。
该参考电位发生装置5通过输入数字数据而输出与之对应的模拟电压值。
在图4所示的实施方式中，分别作为参考电位输入到图1所示的第1和第2比较器CP1和CP2中的反向偏置电位VM和逻辑工作电位VDD被程序化，以便从上述参考电位发生装置5交替地输出。这样，上述选择开关SW1选择的1个恒流源的输出端子电位VF首先与相当于从参考电位发生装置5供给的反向偏置电位VM的电位进行比较，其比较输出供给到锁存电路LC1，随着锁存脉冲LP的到来，该输出被锁存。而且，锁存电路LC1的锁存输出被存储到构成存储装置的数据寄存器6中。
接着，上述1个恒流源的输出端子VF继而与相当于从参考电位发生装置5供给的逻辑工作电位VDD的电位进行比较，其比较输出供给到锁存电路LC1，随着相同的锁存脉冲LP的到来，该输出被锁存。而且，锁存电路LC1的锁存输出被存储到构成存储装置的数据寄存器6中。
通过上述动作从上述锁存电路LC1相继输出以上述反向偏置电位VM为参考电位的比较输出(即，相当于图1所示的输出A)和以上述逻辑工作电位VDD为参考电位的比较输出(即，相当于图1所示的输出B)，并将其存储到数据寄存器6。因此，通过利用与相继存储到图4所示的数据寄存器6的上述A和B相当的输出，从而利用与根据图3说明的例子相同的判断手法，掌握自发光显示单元中故障的发生状态。
另外，保持从参考电位发生装置5向图4所示的比较器CP1供给一定的参考电位，从而可以构筑结构简单的缺陷状态检验装置。此时，从上述参考电位发生装置5向比较器CP1提供比所述VF目标值(＝8V)低若干电位例如6V左右的参考电位。
根据该结构，当选择开关SW1所选择的电位VF达到VF目标值(＝8V)时，比较器CP1的输出为“+”，该状态可大体判断为正常。另一方面，当比较器CP1的输出为“-”时，连接在选择开关SW1所选择的恒流源上且处于扫描状态的EL元件可视为发生了短路。
因此，当仅检验排列在显示面板上的EL元件的上述故障时，也可以适当采用始终将一定的参考电位提供给1个比较器CP1的上述结构。
再有，在图4所示的实施方式中，亦与图1所示的实施方式一样，构成为可在发光驱动模式和检测模式之间进行切换，在处于检测模式的状态下检测上述显示单元中故障的发生状态。但是，在图1和图4所示的实施方式中，不需要转移到上述检测模式，在驱动装置保持发光驱动动作的状态下，由上述故障检测装置执行故障的检测工作。
也就是说，处理输入视频信号时，图1和图4所示的控制器IC4可以预先掌握排列在显示面板1上的各EL元件的点亮控制状态。因此，以执行点亮控制的EL元件为对象，通过指定选择开关SW1的选择操作、锁存脉冲的输出定时、以及写入到数据寄存器6的写入地址，从而与各EL元件的点亮定时相吻合，获得检验数据(上述输出A和B)。并且，将数据存储到数据寄存器6，在可以采用例如图3所示的判断手法进行判断的状态下，使图2所示的缺陷地点判断装置7工作。
在上述说明的实施方式中，采用有机EL元件作为自发光元件，但本发明并不限于有机EL元件，可以采用电流驱动的其他自发光元件。再有，包含上述故障检测装置的自发光显示模块不仅应用在前面已经叙述的包括医疗器械或飞机的仪表的电子设备上，也可以将其应用到具有发光显示面板的其他电子设备上，从而可以直接享受前面已经叙述的作用效果。

Claims (13)

1.一种自发光显示模块，具有：自发光显示单元，由将多个包含自发光元件的像素呈矩阵状地排列在扫描线和数据线的交点位置的发光显示面板和有选择地对所述发光显示面板中的各自发光元件进行点亮驱动的驱动装置构成；故障检测装置，用于检测所述自发光显示单元的故障；存储装置，存储所述故障检测装置的检测结果，其特征在于：
上述故障检测装置构成为：通过将向所述自发光元件供给恒定电流的恒流源的输出端子电位与预先设定的参考电位进行比较，从而检测所述自发光显示单元的故障。
2.如权利要求1所述的自发光显示模块，其特征在于：
所述驱动装置上设置有第1电源、比所述第1电源电位低的第2电源、比所述2电源电位还低的第3电源，
所述第1电源作为经由所述数据线向各自发光元件提供点亮驱动电流的恒流源的工作电源而发挥功能，所述第2和第3电源的功能是：经由切换装置被提供给所述扫描线，从而有选择地改变该扫描线的电位。
3.如权利要求2所述的自发光显示模块，其特征在于：
所述驱动装置构成为可以在发光驱动模式和检测模式之间进行切换，在所述检测模式中，所述恒流源的输出端子电位大于等于所述自发光元件的发光阈值电压，并且在对无故障的所述自发光元件的恒定电流驱动中成为不超过所述第2电源电位的电位。
4.如权利要求2所述的自发光显示模块，其特征在于：
在所述驱动装置保持发光驱动工作的状态下，执行所述故障检测装置的故障检测工作。
5.如权利要求1至4的任意一项所述的自发光显示模块，其特征在于：
所述故障检测装置上设置有1个电压比较装置，所述恒流源的输出端子电位的某一个被有选择地提供给所述电压比较装置的一个电压输入端子，而参考电位被供给到所述电压比较装置的另一个电压输入端子。
6.如权利要求5所述的自发光显示模块，其特征在于：
供给到所述电压比较装置的另一个电压输入端子的参考电位的电压值可以改变。
7.如权利要求1所述的自发光显示模块，其特征在于：
所述故障检测装置上设置有至少2个电压比较装置，所述恒流源的输出端子电位的某一个被有选择地提供给各电压比较装置的一个电压输入端子，向所述各电压比较装置的另一个电压输入端子提供各不相同的参考电位。
8.如权利要求7所述的自发光显示模块，其特征在于：
分别提供给所述各电压比较装置的另一个电压输入端子的参考电位之一与所述第2电源的电位相等，而且参考电位的另一个被设定为低于所述自发光元件的发光阈值电压且高于所述第3电源的电位。
9.如权利要求7或者8所述的自发光显示模块，其特征在于：
所述故障检测元件上设置有依次选择所述恒流源的输出端子电位并提供给所述各电压比较装置的选择开关装置。
10.如权利要求1所述的自发光显示模块，其特征在于：
在与所述发光显示面板的各像素对应的各数据线和各扫描线的所有组合中分别执行所述故障检测装置的检测工作，并将基于检测工作的检测结果存储到所述存储装置中。
11.如权利要求1所述的自发光显示模块，其特征在于：
排列于所述发光显示面板上的自发光元件是将有机化合物使用于发光层的有机EL元件。
12.一种电子设备，其特征在于：
搭载了所述权利要求1所述的自发光显示模块。
13.一种自发光显示模块的缺陷状态的检验方法，该自发光显示模块具有：由将多个包含自发光元件的像素呈矩阵状排列在扫描线和数据线的交点位置的发光显示面板和有选择地对所述发光显示面板中的各自发光元件进行点亮驱动的驱动装置构成的自发光显示单元；用于检测所述自发光显示单元的故障的故障检测装置；以及存储所述故障检测装置的检测结果的存储装置，其特征在于：
在与所述各像素对应的各数据线和各扫描线的所有组合中分别执行下述步骤：
故障检测步骤，利用设置在所述故障检测装置的电压比较装置把向所述自发光元件提供恒定电流的恒流源的输出端子电位与预先设定的参考电位进行比较，从而检测所述自发光显示单元的故障；以及
检测结果存储步骤，将所述故障检测步骤中检测的检测结果存储到所述存储装置。
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