CN1637402A

CN1637402A - 分光特性测定装置及方法

Info

Publication number: CN1637402A
Application number: CN 200410103653
Authority: CN
Inventors: 柳英一
Original assignee: Topcon Corp
Current assignee: Topcon Corp
Priority date: 2003-12-26
Filing date: 2004-12-23
Publication date: 2005-07-13
Anticipated expiration: 2024-12-23
Also published as: CN100489478C; JP2005189217A

Abstract

本发明是关于一种分光特性测定装置及方法，该装置是一种能够防止因温度变化所造成的测定精确度的下降的分光特性测定装置。该装置为一种具有向被检测透镜照射测定光的光源、用于将被检测透镜保持在测定位置的透镜配置部、将透过了测定位置所保持的被检测透镜的测定光进行分光的分光元件、接受被分光的测定光并检测每一波长成分的光量值的受光元件，且根据由所检测的光量值得到的光谱而求被检测透镜的分光特性的分光特性测定装置；具备将测定光的发光光谱预先进行存储的存储部、使被检测透镜从测定位置转移，并检测所测定的测定光的发光光谱对前述所存储的发光光谱的位移量，且根据所检测的位移量对被检测透镜的分光特性进行修正的控制部。

Description

分光特性测定装置及方法

技术领域

本发明涉及一种对眼镜片等的分光特性的分光特性测定装置及测定方法，特别是涉及一种分光透过率进行测定的分光特性测定装置及测定方法。

背景技术

在现有技术中，作为对眼镜片等的分光特性，特别是其分光透过率进行测定的分光特性测定装置，已知有一种如日本专利早期公开的特开2000-221112号公报(权利要求项)所揭示的装置。该文献所记述的分光特性测定装置是一种包括用于插入被检测透镜的透镜配置部，并搭载有测定光学系统的分光特性测定装置，其中该测定光学系统使来自光源的测定光，透过在该透镜配置部上通过测定部位的定位构件被插入的被检测透镜的测定部位，并对分光特性进行测定；其特征在于：设置有透镜检测装置，用于检测前述透镜配置部的、在测定光的通过孔的周边位置所设置的前述定位构件被插入一定位置的情况，并使前述测定光学系统的光源发光；藉由只要在透镜配置部插入被检测透镜，即自动地执行被检测透镜分光特性的测定，可谋求操作性的提高。

而且，该文献所记述的另一分光特性测定装置是一种包括用于插入被检测透镜的透镜配置部，并搭载有测定光学系统的分光特性测定装置，其中该测定光学系统使来自光源的测定光，透过在该透镜配置部上被插入的被检测透镜的测定部位，并对分光特性进行测定；其特征在于：包括对前述透镜配置部加盖的盖体、对该盖部的开盖或关盖状态进行检测的盖开关检测部、在前述透镜配置部的测定光透过孔周边的多数个位置，呈放射状配置的透镜检测传感器、根据前述盖开关检测部的检测结果，在从关盖状态转换到开盖状态时，利用前述测定光学系统的自动校准的执行或校准指示表示而促进手动校准的控制装置；可谋求回避因温度变化和外光的进入等干扰所造成的影响。

而且，这种分光特性测定装置利用日本专利早期公开的特开平8-15134公报(权利要求项)所揭示的那种测定方法，对具有波长依存型的波长偏差所造成的分光特性的偏差进行修正。该文献所记述的测定方法的特征在于：利用2个分光测定值，将该测定值的波长轴的偏差作为波长的位移量进行检测，并将该位移量作为该偏差的修正系数进行修正转换。特别是2个分光测定值为2个不同的分光测定机的测定值，修正转换为机械误差修正。而且，关于2个分光测定值为2个不同时刻的分光测定的测定值，且修正转换为经时变化修正时的测定方法，也进行了说明。

然而，像以上这种习知的分光特性测定装置，一般是假设一种在通常的温度下(20°前后)被使用的情况而构成的，而并不是所有的用户在这种环境下都可随时使用分光特性测定装置。例如，在寒冷的地方，由于从装上加热器等开始到室内达到一定的温度需要较长的时间，所以难以在一定温度下进行长时间的测定作业。在像这样存在大的温度变化的情况下，因为装置的框体和内部的构件依据温度变化进行膨胀/收缩，所以有可能在形成上述测定光学系统的光学元件的配置上产生微妙的偏差，缺乏测定精确度。因此，习知的分光特性测定装置只能在极其受限的温度条件下进行高精确度的测定。

特别是在眼镜店等使用这种分光特性测定装置的情况下，难以准备像进行精密测定的研究室等那样的理想温度条件，所以会产生不少因温度变化所造成的测定精确度的低劣，但由现有技术却难以恰当地处理该问题。

而且，分光特性测定装置内部的温度，由氙气灯等光源发光时所产生的热量也会被左右，所以在测定次数多的情况下等，需要回避因温度变化所造成的测定精确度下降的问题。

作为具体实例，当使用线路传感器作为测定光学系统的受光元件时，使测定光的一定波长与其各像素建立对应，且通过被检测传感器将各像素所接受的光量(I)与测定光自身的该一定波长的光量(I₀)进行比较，求被检测透镜的透过率(T＝I/I₀)，但如测定光学系统的光学元件的配置因温度变化产生偏离，则各像素不只接受目的波长的光，还接受其它波长的光。这样一来，作为测定结果的分光透过率的光谱会沿波长方向进行位移，所以不能精确度良好地对被检测透镜的透过率进行测定。

日本专利早期公开的特开平8-15134公报所述的测定方法，是关于对这种分光特性的测定值向波长方向的位移进行修正的，但对因温度变化所带来的测定值的修正未作任何记述，也不存在对其进行提示这样的记述。而且，该测定值的位移是一种对测定光的理论发光光谱的位移，所以为了对该位移进行修正，不需要像日本专利早期公开的特开平8-15134公报的测定方法那样利用2个分光测定值，因此将该测定方法适用于该实例并不恰当。

由此可见，上述现有的分光特性测定装置及方法在结构、方法与使用上，显然仍存在有不便与缺陷，而亟待加以进一步改进。为了解决分光特性测定装置及方法存在的问题，相关厂商莫不费尽心思来谋求解决之道，但长久以来一直未见适用的设计被发展完成，而一般产品又没有适切的结构能够解决上述问题，此显然是相关业者急欲解决的问题。

有鉴于上述现有的分光特性测定装置及方法存在的缺陷，本发明人基于从事此类产品设计制造多年丰富的实务经验及专业知识，并配合学理的运用，积极加以研究创新，以期创设一种新的分光特性测定装置及方法，能够改进一般现有的分光特性测定装置及方法，使其更具有实用性。经过不断的研究、设计，并经反复试作样品及改进后，终于创设出确具实用价值的本发明。

发明内容

本发明目的在于，克服现有的分光特性测定装置及方法存在的缺陷，而提供一种新的分光特性测定装置及方法，所要解决的技术问题是使其能够防止因温度变化所造成的测定精确度的下降，从而更加适于实用。

本发明与现有技术相比具有明显的优点和有益效果。由以上技术方案可知，本发明的主要技术内容如下：

为了达成上述目的，本发明之一是提供一种具有向试件照射测定光的光源、用于将前述试件保持在测定位置的试件配置部、将透过了前述测定位置所保持的前述试件的前述测定光进行分光的分光元件、接受前述被分光的测定光并检测每一定波长成分的光量值的受光元件，且根据由所检测的前述光量值所得到的光谱而求前述试件的分光特性的分光特性测定装置；其中，具备一种修正装置，预先存储前述测定光的发光光谱，并使前述试件从前述测定位置转移，对所测定的前述测定光的发光光谱相对于前述所存储的发光光谱的位移量进行检测，且根据所检测的前述位移量而对前述试件的分光特性进行修正。

而且，为了达成上述目的，本发明之二是提供一种如本发明之一所述的分光特性测定装置，前述修正装置只对前述一定波长成分中的特定波长成分检测前述位移量。

而且，为了达成上述目的，本发明之三提供一种如本发明之一所述的分光特性测定装置，前述受光元件为对前述每一定的波长成分使像素被指定的线路传感器。

而且，为了达成上述目的，本发明之四提供一种如本发明之三所述的分光特性测定装置，前述修正装置藉由对前述一定的波长成分中的特定波长成分，从前述被指定的像素所位移的像素数进行检测，而检测前述位移量。

而且，为了达成上述目的，本发明之五提供一种如本发明之一至本发明之四中的任一项所述的分光特性测定装置，包括对装置内部的温度进行检测的温度检测装置，还具有依据所检测的温度进行控制以进行利用前述修正装置的修正的控制装置。

而且，为了达成上述目的，本发明之六提供一种如本发明之五所述的分光特性测定装置，前述修正装置及前述控制装置由构成分光特性装置的控制部及存储部分别构成。

而且，为了达成上述目的，本发明之七提供一种如本发明之五所述的分光特性测定装置，前述温度检测装置对前述修正实行时的装置内部的温度进行检测，且前述控制装置进行控制，以在前述温度检测装置所检测出的上次前述修正实行时的温度与现在的温度之差达到一定值以上时，进行前述修正。

而且，为了达成上述目的，本发明之八提供一种如本发明之五或本发明之六所述的分光特性测定装置，还具有对试件被安装在一定的测定位置的情况进行检测的试件检测装置，且前述控制装置进行控制，以在由前述试件检测装置检测到试件的前述安装时，不进行前述修正。

而且，为了达成上述目的，本发明之九提供一种如本发明之一至本发明之四中的任一项所述的分光特性测定装置，包括对装置内部的温度进行检测的温度检测装置，还具有根据所检测的温度，向用户发出修正指示以促使利用前述修正装置的修正，并接受该指示而使前述修正装置进行前述修正的控制装置。

而且，为了达成上述目的，本发明之十提供一种如本发明之九所述的分光特性测定装置，前述控制装置使前述修正指示形成视觉或听觉的指示。

而且，为了达成上述目的，本发明之十一提供一种如本发明之九或本发明之十所述的分光特性测定装置，前述温度检测装置对前述修正实行时的装置内部的温度进行检测，且前述控制装置在前述温度检测装置所检测的上次前述修正执行时的温度和现在的温度之差达到一定值以上时，发出前述修正指示。

而且，为了达成上述目的，本发明之十二提供一种如本发明之九至本发明之十一中的任一项所述的分光特性测定装置，还具有对试件被安装在一定的测定位置的情况进行检测的试件检测装置，且前述控制装置在利用前述试件检测装置检测到试件的前述安装时，不发出前述修正指示。

而且，为了达成上述目的，本发明之十三提供一种如本发明之九至本发明之十一中的任一项所述的分光特性测定装置，还具有对试件被安装在一定的测定位置的情况进行检测的试件检测装置，且前述控制装置在利用前述试件检测装置检测到试件的前述安装时，与前述修正指示一起发出试件转移指示。

而且，为了达成上述目的，本发明之十四提供一种如本发明之一至本发明之十二中的任一项所述的分光特性测定装置，前述光源和前述受光元件被配置在装置框体内。

而且，为了达成上述目的，本发明之十五提供了一种分光特性测定方法，使用本发明之一所述的分光特性测定装置。

经由上述可知，本发明是关于一种分光特性测定装置及方法，该装置是一种能够防止因温度变化所造成的测定精确度的下降的分光特性测定装置。该装置为一种具有向被检测透镜照射测定光的光源、用于将被检测透镜保持在测定位置的透镜配置部、将透过了测定位置所保持的被检测透镜的测定光进行分光的分光元件、接受被分光的测定光并检测每一波长成分的光量值的受光元件，且根据由所检测的光量值得到的光谱而求被检测透镜的分光特性的分光特性测定装置；具备将测定光的发光光谱预先进行存储的存储部、使被检测透镜从测定位置转移，并检测所测定的测定光的发光光谱对前述所存储的发光光谱的位移量，且根据所检测的位移量对被检测透镜的分光特性进行修正的控制部。

借由上述技术方案，本发明分光特性测定装置及方法至少具有下列优点：

如利用本发明，可检测出使试件从测定位置转移并进行测定的测定光的发光光谱对测定光所特有的发光光谱的移位量，且根据该检测结果进行试件的分光特性的修正，所以即使在温度变化大而在光学元件的配置上产生偏离这样的使用环境下，也可防止测定精确度的下降。

综上所述，本发明特殊的分光特性测定装置及方法，能够防止因温度变化所造成的测定精确度的下降。其具有上述诸多的优点及实用价值，并在同类产品及方法中未见有类似的结构设计及方法公开发表或使用而确属创新，其不论在产品结构、方法或功能上皆有较大的改进，在技术上有较大的进步，并产生了好用及实用的效果，且较现有的分光特性测定装置及方法具有增进的多项功效，从而更加适于实用，而具有产业的广泛利用价值，诚为一新颖、进步、实用的新设计。

上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并为了让本发明的上述和其他目的、特征和优点能更明显易懂，以下特举较佳实施例，并配合附图，详细说明如下。

附图说明

图1所示为作为关于本发明的分光特性测定装置的实施形态的一个例子的，分光透过率计的外观构成的概略侧面图。

图2所示为作为关于本发明的分光特性测定装置的实施形态的一个例子的，分光透过率计的外观构成的概略上面图。

图3所示为作为关于本发明的分光特性测定装置的实施形态的一个例子的，分光透过率计的内部构成的概略侧面图。

图4所示为作为关于本发明的分光特性测定装置的实施形态的一个例子的，分光透过率计所具备的狭缝构件的概略构成图。

图5所示为作为关于本发明的分光特性测定装置的实施形态的一个例子的，分光透过率计所具备的作为受光元件的线路传感器的概略构成图。

图6所示为作为关于本发明的分光特性测定装置的实施形态的一个例子的，分光透过率计的机能构成的概略框图。

图7为用于对利用作为关于本发明的分光特性测定装置的实施形态的一个例子的，分光透过率计的修正进行说明的标绘图。

1：分光透过率计(分光特性测定装置) 2：框体

2a：支柱部 3：透镜配置部

3a：底部 4：测定灯

5：校正灯 9：微型开关

11：受光孔部 11a：突出筒部

12：射出口 14：光源

15：第1反射镜 16：透镜

17：积分球 17A：狭缝构件

17a：孔径部 18：第2反射镜

19：衍射光栅 20：第3反射镜

21：受光元件 21A、21B：末端

23：支持构件 24：反射镜

25：扩散板 26：光敏器件

28：测定开关 29：校正开关

30：热敏电阻 100：控制部

200：存储部 300：显示部

具体实施方式

为更进一步阐述本发明为达成预定发明目的所采取的技术手段及功效，以下结合附图及较佳实施例，对依据本发明提出的分光特性测定装置及方法其具体实施方式、结构、方法、步骤、特征及其功效，详细说明如后。

[装置的构成]

请参阅图1至图6所示，为作为关于本发明的分光特性测定装置的一个例子的分光透过率计1的构成。该分光透过率计1为对作为试件的透镜和玻璃板等的分光透过率进行测定的装置。以下对将透镜(称作被检测透镜)作为试件的情况进行说明。

[外观构成]

该分光透过率计1包括略呈长方体状的框体2，且在该框体2的大致中央部，以面对用于测定分光透过率的测定光学系统的光路L的状态，设置有凹陷部状的透镜配置部3，其中该测定光学系统将在后面进行详细说明。该透镜配置部3构成本发明中所说的试件配置部。另外，符号2a为在框体2的底部所配置的支柱部。

在前述框体2的上面，如图2所示，配置有测定灯4及校正灯5。测定灯4在被检测透镜的分光透过率的测定中被亮灯。而且，校正灯5表示用于使后述的光源14发光的未图示的电容器的充电状态，例如在充电中亮红色灯光，接受充电完成信号后亮绿色灯光，而且，该校正灯5可在指示用户实行校准和后述的修正时进行闪烁，将校准指示和修正指示进行视觉报知(后面将作详细说明)。

另外，在框体2的上面设置有手动操作用的测定开关28以及校正开关29。测定开关28在开始被检测透镜的测定时被按下。而且，校正开关29在实行校准和关于本发明的修正时被按下。

在前述透镜配置部3上，在图1中是位于左侧，设置有包括圆形筒状的突出筒部11a的受光孔部11，其中突出筒部11a安装有用于决定被检测透镜的位置的定位环，且在与该受光孔部11相对的一侧设置有测定光束的射出口12。而且，透镜配置部3的底部3a形成平坦状。

在前述透镜配置部3的受光孔部11上，设置有用于对被检测透镜被安装在透镜配置部3即测定位置上的情况进行检测的，构成本发明所说的试件检测装置的微型开关9。作为该微型开关9，在例如受光孔部11的附近以120度间隔设置有3个，如果采用在该3个微型开关9全部动作时对被检测透镜的安装进行检测的构成，则可确实地实行测定动作。

[内部构成]

下面请参阅图3所示，是对前述分光透过率计1的内部构造进行说明。

分光透过率计1如图3所示，跨越框体2内部的前述射出口12右侧的区域、透镜配置部3、前述受光孔部11而配置测定光学系统。

测定光学系统包括将射出具有一定波长范围的测定光的例如氙气灯这样的光源14所发出的测定光进行反射的第1反射镜15、将来自第1反射镜15的测定光束从前述射出口12向受光孔部11射出的透镜16、接收来自该透镜的测定光，并从孔径部17a作为红外线及可视光线的光谱射出的积分球17、将来自积分球17的红外线及可视光线的光谱进行反射的第2反射镜18、将来自第2反射镜18的光谱进行衍射并对每一波长成分进行分光的，构成本发明的分光元件的衍射光栅19、将来自衍射光栅19的光进行反射的第3反射镜20、藉由接受来自第3反射镜20的光并转换为依据其光量的电气信号，而检测每一波长成分的光量值的受光元件21。

积分球17、第2反射镜18、衍射光栅19、第3反射镜20及受光元件21，由支持构件23在一定位置上被固定支持。支持构件23利用基于热的变化的膨胀率及收缩率小的树脂等而形成。

在积分球17的下部，设置有如图4所示的狭缝构件17A。从积分球17所射出的测定光，通过狭缝构件17A上所形成的狭缝17a被导光到第2反射镜18。

第2反射镜18其反射面形成于凹面上，将从积分球17通过狭缝17a射出的测定光形成平行光束进行反射。

在衍射光栅19的表面上平行形成有多条筋状的沟，使测定光的各波长成分分别沿不同的角度进行偏转。

第3反射镜20与第2反射镜18同样地具有凹面状的反射面，可将由衍射光栅19所分光的测定光进行反射，并在受光元件21的受光面上进行成像。

受光元件21由例如图5所示的具有受光部的线路传感器构成。受光元件21的受光面被配置在第3反射镜20的焦点位置上。在由线路传感器所构成的受光元件21中，例如256个像素排列成一列。将该受光元件21所具有的像素，从末端21A向末端21B，称作G1、G2、...、G256。在各像素中，分别指定由衍射光栅19被分光的测定光的波长成分λ1、λ2、...、λ256。即，各像素Gn(n＝1～256)可分别接受测定光的波长成分λn(n＝1～256)。换言之，各像素Gn可如图5所示，分别接受通过了狭缝17a的测定光的波长成分λn的狭缝像17a’(称作17a’(n))。

这种由线路传感器构成的受光元件21，在末端21A侧检测长波长，并向末端21B侧缓缓检测短波长的波长成分。检测的波长范围被酌情设定。藉此，使被分光的测定光在N个(这里为256个)波长成分的每一个检测其光量值。

在分光透过率计1的测定光学系统中，作为用于使光源14所发出的测定光的反复发光的光量的精确度(反复精确度)提高的构成，设置有反射镜24、扩散板25及光敏器件26。

这里，第1反射镜15由在其反射面上形成多个小孔的无偏光的分光镜构成，可使光源14发出的测定光的光量的例如5％透过，而使95％被反射。

反射镜24直立设置于第1反射镜15的非反射面一侧的面上，将透过了第1反射镜15的测定光向光敏器件26方向进行反射。光敏器件26与光源14发出的测定光同轴配置，并接受由扩散板25被扩散的测定光，且对该光量进行检测。此时，所检测的光量的20倍为光源14发出的测定光的光量。如果采用这种构成，光敏器件26能够与光源14发出的测定光在同轴上对其光量进行检测，所以可谋求提高光源14发出的测定光的反复精确度。

另外，在现有技术中，设置有由将光源14发出的测定光100％反射的反射镜和电介质的半透镜构成的第1反射镜，且在偏离光源14发出的测定光的光轴的光源14附近设置有光敏器件。或者，在偏离上述光轴的光源14附近设置光纤的一端，对测定光的一部分进行导光，并由面对另一端配置的光敏器件进行光量检测。但是，利用该方法不能与测定光在同轴上进行光量检测，所以光源14发出的测定光的反复精确度不充分。

在分光透过率计1的框体2内部，如图3所示，设置有作为本发明所说的温度检测装置的热敏电阻30。另外，该热敏电阻30虽然在本实施形态中被配置在支持构件23上，但为了检测框体2内部的温度，可设置于框体2内的任意位置上。

[控制系统的构成]

下面，请参阅图6所示，是对分光透过率计1的控制系统的构成进行说明。

如同图所示，分光透过率计1的控制系统包括以控制部100为中心构成，在校准和修正的实行时以及校准指示和修正指示时进行动作的校正灯5、作为对被检测透镜的安装进行检测的透镜检测装置的微型开关9、发出测定光的光源14、由线路传感器构成的受光元件21、为了测定光的反复精确度而对其光量进行检测的光敏器件26、作为检测框体2内部的温度的温度检测装置的热敏电阻30、存储各种程序和数据的存储部200、用于显示各种画面的显示部300。

然而，本实施形态的分光透过率计1与用于测定被检测透镜的球面度数、乱视度数、乱视轴角度等的焦度计和计算机等连接。控制部100、存储部200及显示部300既可设置于所有的分光透过率计1上，也可采用利用焦度计和计算机上所配备的这些构件的构成。

控制部100采用包含用于对分光透过率计1所实行的处理进行控制的CPU等运算控制装置的构成。控制部100具有用于向校正灯5及光源14供给电源的电源电路。这里，校正灯5用的电源电路和光源14用的电源电路既可为单一的，也可分别独立设置。另外，在控制部100中，设置有用于控制利用显示部300的图像显示的显示接口。

存储部200采用包括RAM等非永久性存储装置、ROM和硬盘驱动器等永久性存储装置的构成。在存储部200的永久性存储装置中，除了用于从利用测定光学系统的测定数据算出被检测透镜的分光透过率的程序及数据以外，还存储有用于进行关于本发明的后述的处理的控制程序及数据。控制部100将这些程序和数据在RAM上展开，执行被检测透镜的分光透过率的计算处理和控制系统各部的动作控制等后述的处理。

下面，对控制部100和控制系统各部的关连动作进行说明。

控制部100接收利用受光元件21的受光结果，并根据该受光结果计算被检测透镜的分光透过率。

而且，控制部100根据利用光敏器件26的测定光光量的检测结果，控制对光源14的电源供给，并进行测定光光量的调整和测定结果的修正。

控制部100藉由对供给光源14及校正灯5的电源进行调整，而进行利用光源14的测定光的发光时序及光量的调整、校正灯5的亮灯·闪烁。特别是控制部100可进行控制，以在修正的执行时使校正灯5亮灯，并在修正指示时使校正灯5闪烁。

这里，所谓修正指示，是指分光透过率计1用于促使用户进行修正而作出指示的动作，具体可表现为，使显示部300显示促使修正的信息和使校正灯5闪烁。另外，修正指示也可为除了这些以外的视觉报知方法，而且，也可为利用计算机的声音输出机能的听觉报知方法等。

控制部100在被检测透镜被安装在透镜配置部3上并从打开的微型开关9收到检测信号后，进行控制以阻止自动校准的实行直至微型开关9关闭。

而且，控制部100在接收该检测信号后，进行控制以阻止修正指示的报知直至微型开关9关闭。另外，在报知修正指示的同时，也可进行控制以报知被检测透镜转移指示，促使用户将被检测透镜从透镜配置部3转移。这里，被检测透镜转移指示可在显示部300上显示信息，或发出警报等而报知用户。

控制部100根据利用热敏电阻30所检测出的框体2内的温度，进行控制以使自动校准实行。

[修正的形态]

对利用分光透过率计1所实行的修正形态进行说明。以下，将用于防止因温度变化所造成的被检测透镜分光透过率的测定精确度下降的修正作为第1修正形态进行说明，将自动地进行修正的自动修正机能作为第2修正形态进行说明，将报知修正指示的修正报知机能作为第3修正形态进行说明。

[第1形态：修正]

首先，对作为关于本发明的第1修正形态，用于防止因温度变化所造成的被检测透镜分光透过率的测定精确度下降的修正进行说明。下面对利用该修正的基于分光透过率计1的被检测透镜的分光透过率的测定程序进行说明。

当将被检测透镜设置在透镜配置部3上，并按下图2所示的测定开关28时，测定光从光源14发出。该测定光的大部分由第1反射镜15被反射，而只有一部分透过第1反射镜15。该透过的部分如上述那样，被用于光源14所发出的测定光的反复精确度提高。

由第1反射镜15被反射的测定光经由透镜16，向透镜配置部3上所安装的被检测透镜射出。测定光在透过被检测透镜期间，其光量衰减。透过了被检测透镜的测定光的透过光(只称作测定光)，在积分球17内被反射，并从狭缝构件17A的狭缝17a射出。

从狭缝17a射出的测定光由第2反射镜18被反射，形成平行光束，并利用衍射光栅19而按每一波长成分进行分光，且利用第3反射镜20在受光元件(线路传感器)21上作为狭缝像17a’被成像。控制部100从受光元件21接收受光结果，并将各像素Gn(n＝1～256)检测的光量值在存储部200中进行存储。控制部100利用该各像素检测出的光量值所组成的发光光谱，计算被检测透镜的分光透过率的(暂时的)测定结果。

然而，在框体2内的温度较通常使用时的温度(20℃ 前后；称作常温)变化大的情况下(称作温度变化时：例如5℃和35℃等)，因为框体2和支持构件23进行膨胀/收缩，所以在测定光学系统的各光学元件的配置上产生偏差，结果在受光元件21的各像素Gn上，从应检测的波长成分λn只位移m(m＝±1，±2，…)的波长成分λn+m的狭缝像17a’(n+m)被成像，并检测出像素Gn+m应检测的光量值。在本修正形态中，为了应对该问题，利用来自光源14的测定光，进行以下这样的修正。

图7所示为在各像素和测定光的波长成分的对应关系因温度变化而产生偏差的情况下的，利用受光元件21的检测结果。同图的横轴表示受光元件21的像素，纵轴表示各像素检测的光量值。另外，在同图中横轴的数字[1]表示像素G1，后面的也依此对应关系表示。

以实线表示的标绘图S表示常温下的测定光的光量。该标绘图S表示使用氙气(Xe)灯作为光源14的情况下的发光光谱。该光源14的发光光谱，是利用氙气所特有的性质在理论上得到的。该标绘图S所表示的光源14的发光光谱，被预先存储在存储部200中。

而且，以虚线表示的标绘图T为利用该修正所得到的光源14的发光光谱(称作测定光谱)，是在温度变化时使被检测透镜从透镜配置部3转移的状态下，实际进行测定而得到的。该标绘图T所表示的光源14的测定光谱，根据利用受光元件21的检测结果而由控制部100制作，并存储在存储部200中。

另外，将测定光的波长成分中的，特定的波长成分λn₀即与其对应的像素Gn₀预先在存储部200中进行存储。在图7中，采用形成最大光量的像素。

控制部100对标绘图S的像素Gn₀的光量值P，在标绘图T中进行多少位移(位移量)进行检测。该位移量的检测处理可从存储部200所存储的各像素Gn(n＝1～256)的检测结果中检索光量值P，并利用检测出该光量值P的像素Gn₀+m的地址(n₀+m)，求位移的像素数(m)。而且，藉由计算像素Gn₀+m所对应的波长成分λGn₀+m对像素Gn₀所对应的波长成分λn₀的位移，可检测出测定光谱对发光光谱的位移量。

另外，藉由对标绘图S的像素Gn₀附近的像素(像素Gn₀-k～像素Gn₀+k)和标绘图T的像素Gn₀+m附近的像素(像素Gn₀+m-k～像素Gn₀+m+k)进行比较，也可检测位移量。与考虑一个像素的位移的情况相比，可精确度良好地对位移量进行检测。

而且，也可并不限定于对单一的像素Gn₀和其附近进行比较的上述构成，而采用对多数个像素进行比较，或在多数个像素的附近进行比较的构成，谋求提高位移量检测的精确度。

另外，也可采用藉由从测定光发光光谱标绘图S的短波长侧(或长波长侧)开始计数，预先指定取第几个极值(极大值或极小值)的像素Gi，并在测定光谱的标绘图T中检测出取该极值的像素Gj，且将像素Gi和Gj进行比较，从而对位移量进行检测的构成。

控制部100利用所检测的位移量，使被检测透镜的分光透过率的上述暂定测定结果位移而进行修正，并得到最终的分光透过率。

在以上的构成中，是利用像素-光量值的标绘图而检测位移量，但当然也可将各像素所对应的波长成分作为横轴，并利用波长成分-光量值的标绘图进行位移量的检测。

另外，控制部100及存储部200构成本发明所说的修正装置。

如利用这种修正，即使在因温度变化而于测定结果中产生波长成分方向的偏差时，也可对该偏差进行修正，所以能够防止因温度变化所造成的测定精确度的下降。

[第2修正形态：自动修正机能]

分光透过率计1的自动修正机能是依据利用热敏电阻30所检测的框体2内的温度变化而实行的。

首先，预先将温度变化的阈值t(例如5℃)预先存储于存储部200中。这里，也可将温度上升的阈值和温度下降的阈值分别单独进行设定。

控制部100与修正被实行这一情况相对应地进行控制，从热敏电阻30接收其实行时的温度，并将其存储于存储部200中。此时，控制部100接受修正的实行信号，并控制热敏电阻30进行温度检测，且接收该检测结果并进行存储。而且，在采用热敏电阻30持续对温度进行检测的构成的情况下，控制部100有选择地接收修正时的温度检测结果并进行存储。

对控制部100进行热敏电阻30的动作控制的前一实例进行说明。控制部100在每一定的时间间隔(例如15分钟)，控制热敏电阻30对框体2内部的温度进行检测，并将该检测结果存储于存储部200中。控制部100计算该检测结果(T)和上一检测结果(T’)的差分，并与上述的阈值t进行比较。

在差分值T-T’较阈值t小的情况下(|T-T’|＜t)，控制部100待机直到下次的温度测定。

另一方面，在差分值T-T’在阈值t以上的情况下(|T-T’|≥t)，控制部100自动地实行测定光学系统的修正。此时，如由微型开关9检测到在透镜配置部3上安装有被检测透镜，则控制部100不实行自动修正。

另外，即使在采用热敏电阻30持续地检测温度的构成的情况下，也可同样地进行修正的实行及该修正的阻止。

如利用这种自动修正机能，则可对应框体2内的温度进行一定温度(阈值t)以上的变化的情况，自动地实行修正特别是上述修正，所以能够依据温度变化准确地进行修正。

而且，在被检测透镜被安装在测定位置上的情况下，可阻止修正的实行，所以不会进行在安装有被检测透镜的状态下的无用修正，操作性也变得良好。

另外，由于可直到检测出一定的温度变化时才实行修正，所以能够防止无用修正的实行。

另外，因为修正要使光源发光而进行，所以如果无用地进行修正，会加速光源14的劣化。因此，将修正的次数控制在最小限度，即使在测定精确度上也是重要的因素。

而且，控制部100及存储部200构成本发明所说的控制装置。

[第3修正形态：修正报知机能]

分光透过率计1的修正报知机能是依据热敏电阻30所检测的框体2内的温度变化而实行的。

首先，与第2修正形态同样地，将温度变化的阈值t(例如5℃ )预先存储于存储部200中。也可将温度上升的阈值和温度下降的阈值分别单独地进行设定。

另一方面，在差分值T-T’在阈值t以上的情况下(|T-T’|≥t)，控制部100使显示部300显示促使用户进行测定光学系统的修正处理的信息。另外，也可藉由使校正灯5闪烁，而促使用户实行修正处理。

此时，在利用微型开关9检测到在透镜配置部3上安装有被检测透镜时，控制部100可阻止用于促使进行修正的信息的显示等。

而且，也可采用在检测到安装有被检测透镜的情况下，控制部100在进行用于促使修正的信息的显示等动作的同时，为了进行修正而在显示部300上显示用于促使用户将被检测透镜从透镜配置部3转移的信息的构成。

当用户依据上述的报知而按下校正开关29指示修正时，控制部100接受该修正指示并使修正实行。

如利用这种修正报知机能，则可对应框体2内的温度进行一定温度(阈值t)以上的变化的情况，促使用户实行修正特别是上述修正，所以能够依据温度变化准确地进行修正。

而且，在被检测透镜被安装在测定位置上的情况下，可不报知修正的实行，所以不会进行在安装有被检测透镜的状态下的无用修正，操作性也变得良好。

另外，由于可不报知修正的实行而直到检测出一定的温度变化，所以能够防止无用的修正。

本发明的修正对发出测定光源的光源和受光元件被配置在框体内的情况特别有效。即，虽然当使光源多次发光时，因此时的热量而使框体内的温度上升，但如利用本发明，则可防止因这一情况所造成的测定精确度的下降。

以上所具体说明的构成，揭示了用于实施本发明的一个例子，可酌情施行本发明的要旨范围内的各种各样的变形。

以上所述，仅是本发明的较佳实施例而已，并非对本发明作任何形式上的限制，虽然本发明已以较佳实施例揭露如上，然而并非用以限定本发明，任何熟悉本专业的技术人员，在不脱离本发明技术方案范围内，当可利用上述揭示的方法及技术内容作出些许的更动或修饰为等同变化的等效实施例，但是凡是未脱离本发明技术方案的内容，依据本发明的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均仍属于本发明技术方案的范围内。

Claims

1、一种分光特性测定装置，为具有向试件照射测定光的光源、用于将前述试件保持在测定位置的试件配置部、将透过了前述测定位置所保持的前述试件的前述测定光进行分光的分光元件、接受前述被分光的测定光并检测每一定波长成分的光量值的受光元件，且根据由所检测的前述光量值所得到的光谱而求前述试件的分光特性的分光特性测定装置；其特征在于：

具备一种修正装置，预先存储前述测定光的发光光谱，并使前述试件从前述测定位置转移，对所测定的前述测定光的发光光谱相对于前述所存储的发光光谱的位移量进行检测，且根据所检测的前述位移量而对前述试件的分光特性进行修正。

2、根据权利要求1所述的分光特性测定装置，其特征在于其中所述的修正装置只对前述一定波长成分中的特定波长成分检测前述位移量。

3、根据权利要求1所述的分光特性测定装置，其特征在于其中所述的受光元件为对前述每一定的波长成分使像素被指定的线路传感器。

4、根据权利要求3所述的分光特性测定装置，其特征在于其中所述的修正装置藉由对前述一定的波长成分中的特定波长成分，从前述被指定的像素所位移的像素数进行检测，而检测前述位移量。

5、根据权利要求1至4中任一权利要求所述的分光特性测定装置，其特征在于包括对装置内部的温度进行检测的温度检测装置，还具有依据所检测的温度进行控制以利用前述修正装置进行修正的控制装置。

6、根据权利要求5所述的分光特性测定装置，其特征在于其中所述的修正装置及控制装置由构成分光特性装置的控制部及存储部分别构成。

7、根据权利要求5所述的分光特性测定装置，其特征在于：

前述温度检测装置对前述修正实行时的装置内部的温度进行检测，

前述控制装置进行控制，以在前述温度检测装置所检测出的上次前述修正实行时的温度与现在的温度之差达到一定值以上时，进行前述修正。

8、根据权利要求5所述的分光特性测定装置，其特征在于：

还具有对试件被安装在一定的测定位置的情况进行检测的试件检测装置，

前述控制装置进行控制，以在由前述试件检测装置检测到试件的前述安装时，不进行前述修正。

9、根据权利要求6所述的分光特性测定装置，其特征在于：

10、根据权利要求1至4中任一权利要求所述的分光特性测定装置，其特征在于包括对装置内部的温度进行检测的温度检测装置，还具有以根据所检测的温度，向用户发出修正指示以促使利用前述修正装置的修正，并控制接受该指示而使前述修正装置进行前述修正的控制装置。

11、根据权利要求10所述的分光特性测定装置，其特征在于：

前述控制装置在前述温度检测装置所检测的上次前述修正执行时的温度和现在的温度之差达到一定值以上时，发出前述修正指示。

12、根据权利要求10所述的分光特性测定装置，其特征在于其中所述的控制装置使前述修正指示形成视觉或听觉的指示。

13、根据权利要求12所述的分光特性测定装置，其特征在于：

14、根据权利要求10所述的分光特性测定装置，其特征在于：

前述控制装置在利用前述试件检测装置检测到试件的前述安装时，不发出前述修正指示。

15、根据权利要求10所述的分光特性测定装置，其特征在于：

前述控制装置在利用前述试件检测装置检测到试件的前述安装时，与前述修正指示一起发出试件转移指示。

16、根据权利要求1至4中任一权利要求所述的分光特性测定装置，其特征在于其中所述的光源和所述受光元件被配置在装置框体内。

17、一种分光特性测定方法，为一种从光源向试件照射测定光，并将前述试件保持在试件配置部的测定位置上，将透过了被保持的前述试件的前述测定光由分光元件进行分光，且接收被分光的测定光并由受光元件检测每一波长成分的光量值，根据由前述光量值所得到的光谱而求前述试件的分光特性的测定方法，

特征在于其包括以下步骤：将前述测定光的发光光谱预先进行存储，并使前述试件从前述测定位置转移，且检测前述测定光的发光光谱对所存储的发光光谱的位移量，并根据所检测的前述位移量而利用修正装置对前述试件的分光特性进行修正。