CN105841933B - 光学元件衰减测试装置 - Google Patents

Abstract

本发明实施例提供一种光学元件衰减测试装置，包括光源模块、光学元件放置架、以及光源选择模块，能够选择进行不同类型光源的光照老化，以及，设置于光学元件放置架两侧的第一功率检测模块和第二功率检测模块，当光学元件在选定的光谱以及预设的光功率的光照下发生老化后，通过上述功率检测模块测试获取光学元件的光学透过率的衰减情况。

Description

光学元件衰减测试装置

技术领域

本发明实施例涉及投影显示技术领域，尤其涉及一种对投影设备中使用的光学元件的衰减测试装置。

背景技术

在投影成像或摄像产品中，光学镜片具有普遍的应用性。光学镜片按照材质可以分为玻璃镜片，树脂镜片等，按照对光的处理功能可以分为透射型，反射型，衍射型等。在投影设备中，多个光学镜片组成精密的光路，完成对光源光束的传输，并通过镜头成像投射到投影屏幕上。光学镜片长期接受光源光束的照射，会发生热效应，并在高温环境下发生形变，从而衰减改变，对光的处理能力劣化，从而影响整个产品的成像质量。

即使是同一光学镜片，对不同波长范围的光束的折射率存在差异，从而对不同波长范围的光束，或者说不同颜色的光束具有不同的衰减特性。由于制作基材或者镀膜工艺的影响，还有的光学镜片对某种光谱的透过率衰减很快，有的光学镜片对全光谱的透过率衰减相对均匀化。光学镜片可能分布在一种颜色的照射光路中，也可能位于白光合光的光路中。因此，需要一种装置，能够对光学镜片对不同光源照射下的光学透过率衰减的情况进行测试，以对使用该光学镜片的光学特性进行相对全面准确的评估，继而对使用该光学镜片的显示产品的可靠性进行评估。

发明内容

本发明实施例提供一种光学元件衰减测试装置，以实现使用该光学元件衰减测试装置对光学元件（例如光学镜片）进行不同光源类型的光照老化，并通过测试获取光学元件在预设的光功率的光照射下的光学透过率的衰减变化情况。

第一方面，本发明实施例提供一种光学元件衰减测试装置，包括：

光源模块、光学元件放置架、以及光源选择模块，

该光源模块包括多个子光源模块，用于提供照射光学元件的光源，；

该光学元件放置架用于设置光学元件；

该光源选择模块用于选通预设的子光源模块，其中，该子光源模块的类型包括单色光光源，白光光源；

以及，分别设置于该光学元件放置架两侧的第一功率检测模块，第二功率检测模块，该第一功率检测模块用于检测该光学元件在不同时刻接收到的光源照射的光功率；该第二功率检测模块用于检测不同时刻透过该光学元件的光功率；

进一步地，该单色光光源包括激光器光源，该白光光源包括激光光源或LED光源；

以及，该光源选择模块连接该子光源模块的驱动电流开关；

以及，该子光源模块可拆卸地连接至该光源选择模块。

进一步地，该测试装置还包括功率调整模块，用于根据该不同时刻接收到的光源照射的光功率对该光源模块进行调整，以使该光学元件在该光源模块提供的预设的光功率的光照射下发生老化；

以及，该功率调整模块还用于根据第一预设功率值调整该光源模块的驱动电流，以使该光学元件接收到光源照射的光功率为该第一预设功率值；

以及，该功率调整模块还用于获取当前照射时长，根据该当前照射时长、第一预设功率值、第一预设时长、第二预设功率值和第二预设时长调整该光源模块的驱动电流，以使在第一预设时长内该光学元件接收到的光源照射的光功率为该第一预设功率值，在第二预设时长内该光学元件接收到的光源照射的光功率为该第二预设功率值；

进一步地，该光源模块提供的光源的中心与设置于光学元件放置架上的光学元件的中心重合。

以及，该光学元件设置架可沿该光学元件的中心轴轴向移动。

进一步地，该装置还包括：分析模块，用于根据该第一功率检测模块和该第二功率检测模块检测到的光源的光功率数据进行分析得到该光学元件的光学特性衰减变化曲线。

进一步地，该装置还包括：光束接收模块，该光束接收模块用于吸收光源透过该光学元件的光束。

本发明实施例光学元件衰减测试装置，通过光源选择模块选择不同类型的子光源模块向光学元件提供照射光源，模拟不同的光束照射条件，在设定的光谱类型和光功率下对光学元件进行老化处理，在进行老化处理过程中，通过第一功率检测模块可以检测该光学元件在不同时刻接收到的光源照射的光功率，通过第二功率检测模块检测不同时刻透过该光学元件的光功率，通过两检测模块检测到的数据比较，进而获知光学元件在该类型光源照射下的光学特性的衰减变化情况。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为一种光源光学结构示意图；

图2为本发明实施例一的装置结构示意图；

图3为本发明实施例一中光源结构示意图；

图4为本发明实施例二的装置结构示意图；

图5为本发明实施例三的装置结构示意图。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

随着投影显示技术的发展，投影显示光源的种类也变得多样化，从汞灯到LED光源，再到目前兴起的激光光源。其中，汞灯由于寿命短，需要经常更换，且含有铅汞等有毒物质逐渐被取代。LED相比于汞灯具有寿命长，效率高，从最初的照明光源逐渐应用于显示光源，但亮度提升遭遇瓶颈。而激光光源具有单色性强，亮度高，色域丰富等优点逐渐成为新一代的显示光源。

其中，激光显示技术是采用激光作为显示光源，配合扫描技术或者投影显示技术，实现画面显示的一种手段。具体的，使用激光显示技术的激光显示产品包括激光投影设备、激光背投电视、激光背投拼接墙等，激光显示产品在采用激光作为显示光源过程中，由激光器产生激光，激光经过光学镜片进行光束整形、反射、放大等处理（不同需求可以设置不同的光学镜片）之后，为激光显示产品提供光源。

在本实施例中，以激光投影设备作为举例说明，图1为激光投影设备的激光光源光学结构示意图，如图1所示，该激光光源可以包括激光器11、望远镜系统12、二向色镜13、荧光轮14、凸透镜15、以及滤色轮16，由此可见，激光投影设备可以包括很多光学镜片。首先，激光器11发出激光，激光具有光束发散度极小、亮度极高等优点，激光具体可以是任意波长的激光，这里以蓝色激光做举例说明，从激光器11发出的激光先经过望远镜系统12的光束整形，将大光斑整形为小光斑，以便于能够入射其他光学镜片，比如二向色镜13、荧光轮14，激光经过荧光轮14，使得荧光轮14受激发发出至少一种颜色的荧光，荧光和蓝色激光一起反射至二向色镜13，并通过凸透镜15会聚后入射至滤色轮16，从而为激光投影设备提供光源。由此可见，上述任何一个环节的光学镜片如果出现了光学透过率下降的问题，都会影响到整个光路的光学效率。上述的激光光源是由单色或者双色激光器光源和荧光轮受激产生的荧光共同组成的三基色光源。

当然，上述的光源也可以是单色或双色激光器光源与双色或单色LED光源共同组成三基色光源。

本发明实施例提供一种光学元件衰减测试装置，用于对光学元件（例如上述光学镜片）进行不同类型的光源（或光谱）以及预设的光功率的光照老化，并通过测试以获取光学元件在光源照射下的光学透过率的衰减情况，以进一步评估使用该光学元件的显示产品的可靠性。

下面采用几个具体的实施例对本发明的光学元件衰减测试装置进行详细解释说明。

实施例一

图2为本发明光学元件衰减测试装置实施例一的结构示意图，如图2所示，本实施例的装置可以包括：光源模块21、光学元件放置架22、光源选择模块23、第一功率检测模块24以及第二功率检测模块25，其中，光源模块21和光源选择模块23连接。

具体的，光源模块21用于为该光学元件衰减测试装置提供照射光学元件的光源，光源模块21包括多个子光源模块21’，具体地，多个子光源模块21’连接光源选择模块23。

光源选择模块23用于选通预设的子光源模块21’，其中，子光源模块21’的类型包括单色光光源，白光光源。单色光光源可以包括单色激光器光源，单色LED光源，由于激光光源的单色性好，优选地，使用激光器光源。白光光源可以包括激光光源，例如，有至少一种激光器光源和荧光或LED组成的三基色光源，或者均由LED光源组成的三基色光源，或者均由激光器组成的纯三色激光光源。光源的选择可以根据测试需求进行灵活设置，以便针对性的检测光学元件在设定光源条件的衰减衰减变化。

子光源模块21’当为单色光源时，比如红色激光器或者蓝色激光器或者蓝色LED，可以可拆卸地连接至光源选择模块23，当子光源模块21’可拆卸时，有利于保持光源模块21的体积小型化，只需要针对不同的光源照射条件更换对应的子光源模块即可，而不需要保留其他非使用状态的子光源模块。

子光源模块21’为激光器光源或者LED光源时，为直流电流驱动，可以将光源选择模块23连接子光源模块21’的驱动电流开关，每一路开关独立控制，从而可以选择性点亮对应驱动电流开关控制的子光源模块。这种选择方式既适用于子光源模块21’为单色光源，也适用于子光源模块21’为为白光混光光源。

如图3所示，光源选择模块23可以选通一个子光源模块21’，也可以同时选通多个子光源模块21’，从而可以实现单色或者多色光的输出，模拟不同的光束照射条件。

比如，当需要测试红色激光照射下，光学镜片的透过率变化时，需要选通红色子光源模块，当需要白光光源照射时，可以三路单色光源全部选通，从而输出混合的白光光源。

以及，光学元件放置架22用于设置待测试的光学元件，在需要测试光学元件在光源照射下的光学透过率的衰减情况时，将待测试的光学元件放置于该光学元件放置架22上，该光学元件放置架22用于固定光学元件，以使得光学元件在光源模块21的光源照射下进行老化，在该光源持续照射一段时间后对光学元件的光学透过率进行测试，通过对比光学元件经过光源持续照射前的光学透过率以及经过光源持续照射后的光学透过率，以获取光学元件在该光源照射下透光率的衰减特性。

光学元件在光源照射进行老化过程中，第一功率检测模块24用于检测光学元件在不同时刻接收到的光源照射的光功率，即对光学元件接收到的功率进行检测，具体的实现方式可以为第一功率检测模块24获取光源模块21提供的光源照射光学元件的光量，根据获取的光量计算确定该光学元件接收到的光功率。以及，第二功率检测模块25，所述第二功率检测模块25和所述第一功率检测模块24分别设置于所述光学元件放置架的两侧，具体地，是沿光的传播方向的光学元件的放置架的两侧。

可以通过第二功率检测模块25和第一功率检测模块24分别检测接收到的光量，将第二功率检测模块25和第一功率检测模块24获取到的光量进行运算，可以实时得出未透过光学元件的光量，以及光学元件对光源模块21提供的光源的光学透过率的曲线。

光学元件包括各种玻璃镜片，塑胶镜片，镜片组，以及镀膜的镜片，使用上述实施例方案可以对上述各种镜片进行老化并获得衰减测试结果。

使用本发明上述实施例的装置也可以对膜层的透过率的衰减情况进行测试，膜层通常设置于透明基材上，透明基材比如可以为普通透明玻璃。具体的实施方式为，使用两个相同的基材，一个基材镀膜，另一个基材不镀膜，使用本发明上述实施例的装置分别对基材镀膜和基材不镀膜进行相同功率和照射时长的光源照射，进行老化后，对两者的结果进行对比，即将基材镀膜的衰减曲线减去基材不镀膜的衰减曲线，便可以得到该膜层对光谱的衰减曲线。

实施例二

图4为本发明光学元件衰减测试装置实施例二的结构示意图，如图4所示，本实施例的装置在图2所述实施例的装置的基础上，进一步的，还可以包括：功率调整模块26。第一功率检测模块24与功率调整模块26连接，功率调整模块26还与光源模块21连接。

具体地，第一功率检测模块24可以将确定的光学元件在不同时刻接收到的光功率发送给功率调整模块26，功率调整模块26根据第一功率检测模块24确定的该光学元件在不同时刻接收到的光源照射的光功率对光源模块21提供的光源的功率进行调整，以使得光学元件在光源模块21提供的预设的光功率的光照射下发生老化，通常情况下，期望在一定的时间内，光源的照射功率是不变的，因此此处的预设的光功率设定为持续稳定的光功率。其中，第一功率检测模块24具体可以为光量探测器或者光传感器。

光学元件经过一定时间稳定功率的光照老化后，可以通过光谱仪测量获取光学元件的透过率，在使用本发明的光学元件衰减测试装置对光学元件进行照射之前，可以先对未经过光源照射的光学元件的透过率进行检测，经过两次获取的透过率可以确定在该光功率的光源照射下光学元件的光学透过率的衰减情况，即通过本发明实施例的装置可以获取在明确的光功率照射下光学元件的衰减特性。

进一步的，重复利用本发明实施例的装置对不同光功率照射下光学元件的衰减情况进行测试，获取不同光功率照射下光学元件的衰减特性，进而可以确定随着光功率变化光学元件的衰减特性的变化。

其中，功率调整模块26根据第一功率检测模块24检测的光学元件在不同时刻接收的光源照射的光功率对光源模块21提供的光源的功率进行调整的具体实现方式为：

方式一、第一功率检测模块24检测获取光学元件在不同时刻接收到的光源照射的光功率并发送给功率调整模块26，功率调整模块26根据光学元件在不同时刻接收到的光源照射的光功率确定其中相邻两个时刻的光量是否相同，如果不相同则功率调整模块26根据功率和驱动电流的对应关系调整光源模块21提供的光源的功率，以保证光学元件在预设的照射环境下进行老化。

方式二、第一功率检测模块24获取不同时刻的光量，并根据不同时刻的光量确定其中相邻两个时刻的光量是否相同，如果不相同，则计算获取相邻两个时刻光学元件接收到光源照射的光功率，并将相邻两个时刻光学元件接收到光源照射的光功率发送给功率调整模块26，功率调整模块26根据相邻两个时刻光学元件接收到光源照射的光功率以及功率与驱动电流的对应的关系调整光源模块21提供的光源的功率，以保证光学元件在预设的照射环境下进行老化。即，通过比较相邻两个时刻光学元件接收到光源照射的光功率，确定光学元件接收到光源照射的光功率是否发生变化，如果变化，则调整光源模块21的驱动电流，以使光学元件接收到光源照射的光功率维持在一个恒定水平。

举例而言，第一功率检测模块24可以获取t_1，t_{2，……，}t_m时刻光学元件接收到光源照射的光功率，判断相邻两个时刻光学元件接收到光源照射的光功率是否发生变化，具体是随着时间的推移分别比较t₁和t₂时刻光学元件接收到光源照射的光功率，t₂和t₃时刻光学元件接收到光源照射的光功率，依次类推，如果发生变化，则功率调整模块26总是将光学元件接收到光源照射的光功率调整为前一个时刻的光功率，例如，t₂和t₃时刻光学元件接收到光源照射的光功率不同，则功率调整模块26将光学元件接收到光源照射的光功率调整为t₂时刻的光功率。

由此可见，第一功率检测模块24可以实时检测光学元件当前接收到光源照射的光功率，并将检测结果发送给功率调整模块26，功率调整模块26可以根据第一功率检测模块24获取的结果对光源模块21的光源的功率进行调整，进而使得光学元件接收到光源照射的光功率得到相应调整，以使光学元件接收到光源照射的光功率维持在一个恒定水平。

其中，第一功率检测模块24检测光学元件在不同时刻接收到的光源照射的光功率，不同时刻中相邻两个时刻之间的时间间隔可以相同也可以不同，其可以根据需求进行灵活设置，具体的，当光源模块21刚开始提供光源时，其发生衰减的可能性比较小，则可以设置检测光学元件接收到光源照射的光功率的时间间隔长些，而当光源模块21提供光源照射一段时间后，随着照射时间的增长，其发生衰减的可能性逐渐增加，则可以随着照射时间的增长提升检测光学元件接收到光源照射的光功率的频率，以便在获知光源发生衰减时，及时调整驱动电流，使得光学元件接收到光源照射的光功率维持在一个恒定水平。当然可以理解的，也可以以一段时间周期检测光学元件接收到光源照射的光功率，即按照时间周期进行采样，其中，时间周期可以根据需求进行灵活设置。

可选的，本发明的光学元件衰减测试装置还可以用于对特定要求功率照射下的光学元件的衰减情况进行测试，具体的实现方式可以为：功率调整模块26还用于根据第一预设功率值（特定要求功率）调整所述光源模块的驱动电流，以使所述光学元件接收到光源照射的光功率为所述第一预设功率值。在第一检测功率模块23获取光学元件接收到光源照射的光功率为第一预设功率值后，可以执行获取不同时刻所述光学元件接收到光源照射的光功率，利用上述方式一或者方式二以使光学元件接收到光源照射的光功率维持在该第一预设功率值的恒定水平。

进一步的，还可以设置多个预设功率值以及各个预设功率值对应的预设时长，那么，功率调整模块26还用于获取当前照射时长，根据所述当前照射时长、第一预设功率值、第一预设时长、第二预设功率值和第二预设时长调整所述光源模块的驱动电流，以使在第一预设时长内所述光学元件接收到光源照射的光功率为所述第一预设功率值，在第二预设时长内所述光学元件接收到光源照射的光功率为所述第二预设功率值。即，在第一预时长内使光学元件接收到光源照射的光功率维持在该第一预设功率值的恒定水平，在第二预时长内使光学元件接收到光源照射的光功率维持在该第二预设功率值的恒定水平。进而通过测试可以获知光学元件的光学透过率的衰减情况。

举例而言，设置多个预设功率值以及各个预设功率值对应的预设时长具体为：(P₁，T₁)，(P₂，T₂)，……，(P_n，T_n)，那么，功率调整模块26在T₁时间段内，调整光源模块的驱动电流，使得第一功率检测模块24获取的光功率为P₁，在T₁时间段内第一功率检测模块24检测接收光源照射的光功率是否为P₁，如果不是，则告知功率调整模块26，以使功率调整模块26对光源模块21提供的光源的功率进行调整，以使得光学元件可以在P₁的光功率照射下进行老化。功率调整模块26在T₂时间段内，调整光源模块的驱动电流，使得第一功率检测模块24获取的光功率为P₂，在T₂时间段内第一功率检测模块24检测接收光源照射的光功率是否为P₂，如果不是，则告知功率调整模块26，以使功率调整模块26对光源模块21提供的光源的功率进行调整，以使得光学元件可以在P₂的光功率照射下进行老化。经过不同功率和相应预设时长的光照下，分别通过测试可以获知光学元件的光学透过率的衰减情况。即可以根据实际测试需求改变光学元件的光照功率，对光学元件的光学透过率进行测试。

上述实施方式中，光源模块21提供的光源的中心与设置于光学元件放置架22上的光学元件的中心重合，使得光源光束中心能量最大的部分通过光学元件中心区域，从而可以使得光源模块21提供的光源的光学利用率最大。

上述实施方式以使光学元件接收到光源照射的光功率维持在一个恒定水平，进一步的，所述光学元件设置架22还可以沿中心轴轴向移动，这样可以通过调节光学元件设置架22距离光源模块21的距离，从而调节光学元件接收到光源照射的面积，进而对功率密度进行调节。使得本发明的光学元件衰减测试装置应用更为灵活广泛。

在上述实施方式中，具体地，光源模块21如图3所示，可以包括多个激光器、选择开关和壳体，所述多个激光器可提供不同波长的激光，所述选择开关用于根据需求使得相应激光器导通向所述光学元件提供照射光源，所述壳体上设置有出光孔，所述出光孔的中心与所述光学元件的中心重合。

具体的，有光学元件对不同颜色的光照射会存在不同的衰减特性，可以依次将光源模块21提供的光源设置为单色光源，使用本发明的装置对光学元件分别做光学透过率的衰减测试，然后进行拟合，可以获取该光学元件的白色光谱衰减曲线。

本实施例的光学元件衰减测试装置，通过光源模块向光学元件提供照射光源，并根据设定的光源类型选择对应的光源进行照射，对光学元件进行老化处理，进一步地，在进行老化处理过程中，通过第一功率检测模块可以检测该光学元件在不同时刻接收到的光源照射的光功率，功率调整模块根据所述不同时刻光学元件接收到的光源照射的光功率对所述光源模块进行调整，以使得光学元件在预设的光功率的光照下发生老化，并可以通过测试获取光学元件的光学透过率的衰减情况。

实施例三

图5为本发明光学元件衰减测试装置实施例三的结构示意图，如图3所示，本实施例的装置在图4所述实施例二的装置的基础上，进一步的，还可以包括：分析模块27，其中，分析模块27分别与第一功率检测模块24，第二功率检测模块25连接，用于获取第一功率检测模块24和第二功率检测模块25检测到的光源的光功率数据，并根据上述数据进行分析得到该光学元件的光学特性衰减变化曲线。

其中，有光学元件对不同颜色的光照射会存在不同的衰减特性，可以依次将光源模块21提供的光源设置为单色光源，使用本发明的装置对光学元件分别做光学透过率的衰减测试，然后进行拟合，可以获取该光学元件的白色光谱衰减曲线。

该分析模块27可以具体是测试装置中的计算模块，也可以是与测试装置连接的外置计算机系统或者分析仪器。

以及，进一步地，还包括光束接收模块28，该光束接收模块28用于吸收光源透过光学元件的光束，该光束接收模块28具体可以是接收屏或者由吸光材料制成的接收屏。

本实施例的光学元件衰减测试装置通过光束接收模块28防止光源模块21提供的光源，比如激光，从光学元件透射后对周围环境造成光污染或者产生人身伤害。

以及，如果借助于测试装置外的分析仪器或者计算机系统，也可以不设置第二功率检测模块。在使用上述图2或者图4或者图5所示实施例的装置对光学元件进行衰减测试时，具体过程可以为，在将光学元件放置于上述装置的光学元件放置架22进行光照之前，首先通过分析仪器，比如光谱仪的测量，获取未经老化前的光学透过率，之后，将光学元件放置于上述装置的光学元件放置架22进行光照，按照预设需求进行一段时间照射后，再次通过光谱仪的测量，获取照射一段时间后的光学透过率，两次数据进行比较，便可以获取经过光照后的光学元件的光学透过率的衰减情况，按照与上述方式相同的处理进行多次进行光照，可以获得该光学元件的光谱衰减曲线。

本领域普通技术人员可以理解：实现上述各方法实施例的全部或部分步骤可以通过程序指令相关的硬件来完成。前述的程序可以存储于一计算机可读取存储介质中。该程序在执行时，执行包括上述各方法实施例的步骤；而前述的存储介质包括：ROM、RAM、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的范围。

Claims (10)

1.一种光学元件衰减测试装置，其特征在于，包括：

光源模块、光学元件放置架、以及光源选择模块，

所述光源模块包括多个子光源模块，用于提供照射光学元件的光源；

所述光学元件放置架用于设置光学元件；

所述光源选择模块用于选通预设的子光源模块，其中，所述子光源模块的类型包括单色光光源，白光光源；

以及，分别设置于所述光学元件放置架两侧的第一功率检测模块，第二功率检测模块，所述第一功率检测模块用于检测所述光学元件在不同时刻接收到的光源照射的光功率；所述第二功率检测模块用于检测不同时刻透过所述光学元件的光功率；

还包括，分析模块，用于根据所述第一功率检测模块和所述第二功率检测模块检测到的光源的光功率数据进行分析得到所述光学元件的光学特性衰减变化曲线。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述单色光光源包括激光器光源，所述白光光源包括激光光源或LED光源。

3.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述光源选择模块连接所述子光源模块的驱动电流开关。

4.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述子光源模块可拆卸地连接至所述光源选择模块。

5.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，还包括功率调整模块，

所述功率调整模块用于根据所述不同时刻接收到的光源照射的光功率对所述光源模块进行调整，以使所述光学元件在所述光源模块提供的预设的光功率的光照射下发生老化。

6.根据权利要求5所述的装置，所述功率调整模块还用于根据第一预设功率值调整所述光源模块的驱动电流，以使所述光学元件接收到光源照射的光功率为所述第一预设功率值。

7.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述功率调整模块还用于获取当前照射时长，根据所述当前照射时长、第一预设功率值、第一预设时长、第二预设功率值和第二预设时长调整所述光源模块的驱动电流，以使在第一预设时长内所述光学元件接收到的光源照射的光功率为所述第一预设功率值，在第二预设时长内所述光学元件接收到的光源照射的光功率为所述第二预设功率值。

8.根据权利要求1至4任一项所述的装置，其特征在于，所述光源模块提供的光源的中心与设置于光学元件放置架上的光学元件的中心重合。

9.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述光学元件设置架可沿所述光学元件的中心轴轴向移动。

10.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：光束接收模块，所述光束接收模块用于吸收光源透过所述光学元件的光。