CN106053022B - 光学元件的老化装置 - Google Patents

光学元件的老化装置 Download PDF

Info

Publication number
CN106053022B
CN106053022B CN201610367931.4A CN201610367931A CN106053022B CN 106053022 B CN106053022 B CN 106053022B CN 201610367931 A CN201610367931 A CN 201610367931A CN 106053022 B CN106053022 B CN 106053022B
Authority
CN
China
Prior art keywords
light source
optical element
power
optical
module
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201610367931.4A
Other languages
English (en)
Other versions
CN106053022A (zh
Inventor
刘显荣
李巍
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hisense Group Co Ltd
Original Assignee
Hisense Group Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hisense Group Co Ltd filed Critical Hisense Group Co Ltd
Priority to CN201610367931.4A priority Critical patent/CN106053022B/zh
Publication of CN106053022A publication Critical patent/CN106053022A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN106053022B publication Critical patent/CN106053022B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/02Testing optical properties

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Resistance To Weather, Investigating Materials By Mechanical Methods (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

本发明实施例提供一种光学元件的老化装置。本发明光学元件的老化衰减测试装置,通过光源模块向光学元件提供照射光源,在该光源照射下对光学元件进行光学透过率衰减测试,在进行光学透过率衰减测试过程中,通过第一功率检测模块可以获取不同时刻光学元件接收到光源照射的光功率,功率调整模块根据所述不同时刻光学元件接收到光源照射的光功率对所述光源模块进行调整,以使得在光学元件在稳定的光功率的光照下发生老化,在对光学元件进行光照老化后可以通过配合使用光谱仪等光学测量设备进行测量获取光学元件在稳定的光功率的光照射下的光学透过率的衰减情况。

Description

光学元件的老化装置
技术领域
本发明实施例涉及激光显示技术,尤其涉及一种光学元件的老化装置。
背景技术
激光显示技术是继黑白显示、标准彩色显示、数字显示之后的下一代显示技术。激光显示技术具体应用于激光电影机、激光投影机、激光背投电视、激光背投拼接墙等激光显示产品中。激光显示产品具体指采用激光作为显示光源实现画面显示的产品,其涉及家庭影院、大屏幕指挥显示系统、公共信息大屏幕、数码影院以及水幕成像表演等领域,可呈现更逼真、更绚丽的图像。
光学镜片在激光显示产品中具有普遍的应用性,然而激光显示产品中任何一个光学镜片的光学透过率的下降,都会影响激光显示产品的光学效率。比如透镜,在长期接受激光光束照射后,一方面激光为高能光束,在透镜表面会产生一些热效应,另一方面,无论是玻璃材质,还是塑胶材质的透镜,接收高能光束的照射会产生一些形变。上述两个方面都会使得透镜的光学透过率下降,进而对激光显示产品的成像效果造成影响。
其中,激光显示光源照射光学镜片,会对不同的光学镜片产生不同的影响,并且不同的光学镜片对不同的光谱的透过率衰减情况也不尽相同,有的光学镜片对某种光谱的透过率衰减很快,有的光学镜片对全光谱的透过率衰减相对均匀化。因此,需要一种能够对光学镜片进行老化处理的设备,进而配合使用光谱仪等光学测量设备检测光学镜片在进行老化处理后的光学透过率的衰减情况,以对使用该光学镜片的激光显示产品的可靠性进行评估。
发明内容
本发明实施例提供一种光学元件的老化装置,以实现使用该光学元件的老化装置对光学元件(例如光学镜片)进行稳定的光功率的光照老化,在对光学元件进行光照老化后可以通过配合使用光谱仪等光学测量设备进行测量获取光学元件在稳定的光功率的光照射下的光学透过率的衰减情况。
第一方面,本发明实施例提供一种光学元件的老化装置,包括:
光源模块、光学元件放置架、第一功率检测模块以及功率调整模块;
所述光源模块用于提供照射光学元件的光源;
所述光学元件放置架用于设置光学元件;
所述第一功率检测模块用于检测所述光学元件在不同时刻接收到的光源照射的光功率;
所述功率调整模块用于根据所述不同时刻所述光学元件接收到光源照射的光功率对所述光源模块进行调整,以使所述光学元件在所述光源模块提供的稳定的光功率的光照射下发生老化。
结合第一方面,在第一方面的第一种可能的实现方式中,所述第一功率检测模块还用于判断所述光学元件在第一时刻接收到的光源照射的光功率和在于所述第一时刻相邻的第二时刻接收到的光源照射的光功率是否相同,若否,则所述第一功率检测模块将所述第一时刻和所述第二时刻接收到的光源照射的光功率发送给所述功率调整模块;
所述功率调整模块具体用于根据所述第一时刻和所述第二时刻接收到的光源照射的光功率调整所述光源模块的驱动电流,以使所述光学元件在所述第一时刻接收到的光源照射的光功率的光照射下发生老化。
结合第一方面的上述可能的实现方式,在第一方面的第二种可能的实现方式中,所述功率调整模块还用于根据第一预设功率值调整所述光源模块的驱动电流,以使所述光学元件接收到光源照射的光功率为所述第一预设功率值。
结合第一方面的上述可能的实现方式,在第一方面的第三种可能的实现方式中,所述功率调整模块还用于获取当前照射时长,根据所述当前照射时长、第一预设功率值、第一预设时长、第二预设功率值和第二预设时长调整所述光源模块的驱动电流,以使在第一预设时长内所述光学元件接收到的光源照射的光功率为所述第一预设功率值,在第二预设时长内所述光学元件接收到的光源照射的光功率为所述第二预设功率值。
结合第一方面的上述可能的实现方式,在第一方面的第四种可能的实现方式中,所述光源模块提供的光源的中心与设置于光学元件放置架上的光学元件的中心重合。
结合第一方面的上述可能的实现方式,在第一方面的第五种可能的实现方式中,所述光学元件设置架可沿所述光学元件的中心轴轴向移动。
结合第一方面的上述可能的实现方式,在第一方面的第六种可能的实现方式中,所述装置还包括:光束接收模块,所述光束接收模块用于吸收光源透过所述光学元件的光束。
结合第一方面的上述可能的实现方式,在第一方面的第七种可能的实现方式中,所述第一功率检测模块设置于所述光源模块和所述光学元件放置架之间。
结合第一方面的上述可能的实现方式,在第一方面的第八种可能的实现方式中,所述装置还包括第二功率检测模块,所述第二功率检测模块和所述第一功率检测模块分别设置于所述光学元件放置架的两侧,所述第二功率检测模块用于检测不同时刻透过所述光学元件的光功率。
结合第一方面的上述可能的实现方式,在第一方面的第九种可能的实现方式中,所述光源为激光光源和荧光光源中至少一项或其组合,所述激光光源包括至少一种波长的激光光源。
结合第一方面的上述可能的实现方式,在第一方面的第十种可能的实现方式中,所述光源模块包括多个激光器、选择开关和壳体;
所述多个激光器可提供不同波长的激光;
所述选择开关用于根据需求使得相应激光器导通向所述光学元件提供照射光源;
所述壳体上设置有出光孔,所述出光孔的中心与所述光学元件的中心重合。
本发明实施例光学元件的老化装置,通过光源模块向光学元件提供照射光源,在该光源照射下对光学元件进行老化处理,在进行老化处理过程中,通过第一功率检测模块可以检测该光学元件在不同时刻接收到的光源照射的光功率,功率调整模块根据所述不同时刻光学元件接收到的光源照射的光功率对所述光源模块进行调整,以使得光学元件在稳定的光功率的光照下发生老化,在对学元件进行光照老化后可以通过配合使用光谱仪等光学测量设备进行测量获取光学元件的光学透过率的衰减情况,从而对使用该光学镜片的激光显示产品的可靠性进行评估。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为激光投影设备的激光光源光学结构示意图;
图2为本发明光学元件的老化装置实施例一的结构示意图;
图3为本发明光学元件的老化装置实施例二的结构示意图;
图4为本发明光学元件的老化装置实施例三的结构示意图。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
激光显示技术是采用激光作为显示光源,配合扫描技术或者投影显示技术,实现画面显示的一种手段。激光显示具有色域空间大、色彩丰富、光源寿命长、维护费用和使用成本低等优点,使得激光显示得到了快速发展,具体的,使用激光显示技术的激光显示产品包括激光投影设备、激光背投电视、激光背投拼接墙等,激光显示产品在采用激光作为显示光源过程中,由激光器产生激光,激光经过光学镜片进行光束整形、反射、放大等处理(不同需求可以设置不同的光学镜片)之后,为激光显示产品提供光源。具体的,以激光投影设备作为举例说明,图1为激光投影设备的激光光源光学结构示意图,如图1所示,该激光光源可以包括激光器11、望远镜系统12、二向色镜13、荧光轮14、凸透镜15、以及滤色轮16,由此可见,激光投影设备可以包括很多光学镜片。首先,激光器11发出激光,激光具有光束发散度极小、亮度极高等优点,激光具体可以是任意波长的激光,这里以蓝色激光做举例说明,从激光器11发出的激光先经过望远镜系统12的光束整形,将大光斑整形为小光斑,以便于能够入射其他光学镜片,比如二向色镜13、荧光轮14,激光经过荧光轮14,使得荧光轮14受激发发出至少一种颜色的荧光,荧光和蓝色激光一起反射至二向色镜13,并通过凸透镜15会聚后入射至滤色轮16,从而为激光投影设备提供光源。由此可见,上述任何一个环节的光学镜片如果出现了光学透过率下降的问题,都会影响到整个光路的光学效率。因此,本发明实施例提供一种光学元件的老化装置,用于对光学元件(例如上述光学镜片)进行稳定的光功率的光照老化,在对光学元件进行光照老化后可以通过配合使用光谱仪等光学测量设备进行测量以获取光学元件在稳定的光功率的光照射下的光学透过率的衰减情况,从而可以评估使用该光学元件的激光显示产品的可靠性。下面采用几个具体的实施例对本发明的光学元件的老化装置进行详细解释说明。
实施例一
图2为本发明光学元件的老化装置实施例一的结构示意图,如图2所示,本实施例的装置可以包括:光源模块21、光学元件放置架22、第一功率检测模块23以及功率调整模块24,其中,光源模块21和功率调整模块24连接,第一功率检测模块23与功率调整模块24连接。
具体的,光源模块21用于为该光学元件的老化装置提供照射光学元件的光源,该光源具体可以是激光光源,例如,单色激光光源、多色激光光源、荧光光源、或激光光源和荧光光源的组合,光源的选择可以根据测试需求进行灵活设置。光学元件放置架22用于设置待测试的光学元件,在需要测试光学元件在光源照射下的光学透过率的衰减情况时,将待测试的光学元件放置于该光学元件放置架22上,该光学元件放置架22用于固定光学元件,以使得光学元件在光源模块21的光源照射下进行老化,在该光源持续照射一段时间后对光学元件的光学透过率进行测试,通过对比光学元件经过光源持续照射前的光学透过率以及经过光源持续照射后的光学透过率,以获取光学元件在该光源照射下透光率的衰减特性。
光学元件在光源照射进行老化过程中,第一功率检测模块23用于检测光学元件在不同时刻接收到的光源照射的光功率,即对光学元件接收到的功率进行检测,具体的实现方式可以为第一功率检测模块23获取光源模块21提供的光源照射光学元件的光量,根据获取的光量计算确定该光学元件接收到的光功率,第一功率检测模块23可以将确定的光学元件在不同时刻接收到的光功率发送给功率调整模块24,功率调整模块24根据第一功率检测模块23确定的该光学元件在不同时刻接收到的光源照射的光功率对光源模块21提供的光源的功率进行调整,以使得光学元件在光源模块21提供的稳定的光功率的光照射下发生老化,其中,第一功率检测模块23具体可以为光量探测器或者光传感器。光学元件经过一定时间稳定功率的光照老化后,可以通过光谱仪测量获取光学元件的透过率,在使用本发明的光学元件的老化装置对光学元件进行照射之前,可以先对未经过光源照射的光学元件的透过率进行检测,经过两次获取的透过率可以确定在该光功率的光源照射下光学元件的光学透过率的衰减情况,即通过使用本发明实施例的装置和光谱仪可以获取在稳定的光功率照射下光学元件的衰减特性。
进一步的,重复利用本发明实施例的装置在不同光功率照射下对光学元件进行老化,进而配合使用光谱仪可以获取光学元件在不同光功率照射下的衰减特性,进而可以确定随着光功率变化光学元件的衰减特性的变化。
其中,功率调整模块24根据第一功率检测模块23检测的光学元件在不同时刻接收的光源照射的光功率对光源模块21提供的光源的功率进行调整的具体实现方式为:方式一、第一功率检测模块23检测获取光学元件在不同时刻接收到的光源照射的光功率并发送给功率调整模块24,功率调整模块24根据光学元件在不同时刻接收到的光源照射的光功率确定其中相邻两个时刻的光量是否相同,如果不相同则功率调整模块24根据功率和驱动电流的对应关系调整光源模块21提供的光源的功率,以保证光学元件在稳定的照射环境下进行老化;方式二、第一功率检测模块23获取不同时刻的光量,并根据不同时刻的光量确定其中相邻两个时刻的光量是否相同,如果不相同,则计算获取相邻两个时刻光学元件接收到光源照射的光功率,并将相邻两个时刻光学元件接收到光源照射的光功率发送给功率调整模块24,功率调整模块24根据相邻两个时刻光学元件接收到光源照射的光功率以及功率与驱动电流的对应的关系调整光源模块21提供的光源的功率,以保证光学元件在稳定的照射环境下进行老化。即,通过比较相邻两个时刻光学元件接收到光源照射的光功率,确定光学元件接收到光源照射的光功率是否发生变化,如果变化,则调整光源模块21的驱动电流,以使光学元件接收到光源照射的光功率稳定在一个恒定水平。
举例而言,第一功率检测模块23可以获取t1,t2,……,tm时刻光学元件接收到光源照射的光功率,判断相邻两个时刻光学元件接收到光源照射的光功率是否发生变化,具体是随着时间的推移分别比较t1和t2时刻光学元件接收到光源照射的光功率,t2和t3时刻光学元件接收到光源照射的光功率,依次类推,如果发生变化,则功率调整模块24总是将光学元件接收到光源照射的光功率调整为前一个时刻的光功率,例如,t2和t3时刻光学元件接收到光源照射的光功率不同,则功率调整模块24将光学元件接收到光源照射的光功率调整为t2时刻的光功率。
由此可见,第一功率检测模块23可以实时检测光学元件当前接收到光源照射的光功率,并将检测结果发送给功率调整模块24,功率调整模块24可以根据第一功率检测模块23获取的结果对光源模块21的光源的功率进行调整,进而使得光学元件接收到光源照射的光功率得到相应调整,以使光学元件接收到光源照射的光功率稳定在一个恒定水平。
其中,第一功率检测模块23检测光学元件在不同时刻接收到的光源照射的光功率,不同时刻中相邻两个时刻之间的时间间隔可以相同也可以不同,其可以根据需求进行灵活设置,具体的,当光源模块21刚开始提供光源时,其发生衰减的可能性比较小,则可以设置检测光学元件接收到光源照射的光功率的时间间隔长些,而当光源模块21提供光源照射一段时间后,随着照射时间的增长,其发生衰减的可能性逐渐增加,则可以随着照射时间的增长提升检测光学元件接收到光源照射的光功率的频率,以便在获知光源发生衰减时,及时调整驱动电流,使得光学元件接收到光源照射的光功率稳定在一个恒定水平。当然可以理解的,也可以以一段时间周期检测光学元件接收到光源照射的光功率,即按照时间周期进行采样,其中,时间周期可以根据需求进行灵活设置。
可选的,本发明的光学元件的老化装置还可以用于在特定要求功率照射下对光学元件进行老化,具体的实现方式可以为:功率调整模块24还用于根据第一预设功率值(特定要求功率)调整所述光源模块的驱动电流,以使所述光学元件接收到光源照射的光功率为所述第一预设功率值。在第一检测功率模块23获取光学元件接收到光源照射的光功率为第一预设功率值后,可以执行获取不同时刻所述光学元件接收到光源照射的光功率,利用上述方式一或者方式二以使光学元件接收到光源照射的光功率稳定在该第一预设功率值的恒定水平。
进一步的,还可以设置多个预设功率值以及各个预设功率值对应的预设时长,那么,功率调整模块24还用于获取当前照射时长,根据所述当前照射时长、第一预设功率值、第一预设时长、第二预设功率值和第二预设时长调整所述光源模块的驱动电流,以使在第一预设时长内所述光学元件接收到光源照射的光功率为所述第一预设功率值,在第二预设时长内所述光学元件接收到光源照射的光功率为所述第二预设功率值。即,在第一预时长内使光学元件接收到光源照射的光功率稳定在该第一预设功率值的恒定水平,在第二预时长内使光学元件接收到光源照射的光功率稳定在该第二预设功率值的恒定水平。进而通过测试可以获知光学元件的光学透过率的衰减情况。
举例而言,设置多个预设功率值以及各个预设功率值对应的预设时长具体为:(P1,T1),(P2,T2),……,(Pn,Tn),那么,功率调整模块24在T1时间段内,调整光源模块的驱动电流,使得第一功率检测模块23获取的光功率为P1,在T1时间段内第一功率检测模块23检测接收光源照射的光功率是否为P1,如果不是,则告知功率调整模块24,以使功率调整模块24对光源模块21提供的光源的功率进行调整,以使得光学元件可以在P1的光功率照射下进行老化。功率调整模块24在T2时间段内,调整光源模块的驱动电流,使得第一功率检测模块23获取的光功率为P2,在T2时间段内第一功率检测模块23检测接收光源照射的光功率是否为P2,如果不是,则告知功率调整模块24,以使功率调整模块24对光源模块21提供的光源的功率进行调整,以使得光学元件可以在P2的光功率照射下进行老化。经过不同功率和相应预设时长的光照下对光学元件进行老化,并配合使用光谱仪分别对光学元件经过不同功率老化后的光学透过率进行测试,获取光学元件的光学透过率的衰减情况。即可以根据实际测试需求改变光学元件的光照功率。
上述实施方式中,光源模块21提供的光源的中心与设置于光学元件放置架22上的光学元件的中心重合,使得光源光束中心能量最大的部分通过光学元件中心区域,从而可以使得光源模块21提供的光源的光学利用率最大。
上述实施方式以使光学元件接收到光源照射的光功率稳定在一个恒定水平,进一步的,所述光学元件设置架22还可以沿中心轴轴向移动,这样可以通过调节光学元件设置架22距离光源模块21的距离,从而调节光学元件接收到光源照射的面积,进而对功率密度进行调节。使得本发明的光学元件衰减测试装置应用更为灵活广泛。
在上述实施方式中,光源模块21包括多个激光器、选择开关和壳体,所述多个激光器可提供不同波长的激光,所述选择开关用于根据需求使得相应激光器导通向所述光学元件提供照射光源,所述壳体上设置有出光孔,所述出光孔的中心与所述光学元件的中心重合。具体的,有光学元件对不同颜色的光照射会存在不同的衰减特性,可以依次将光源模块21提供的光源设置为单色光源,使用本发明的装置对光学元件分别进行老化,进而配合使用光谱仪获取光学透过率的衰减情况,然后进行拟合,可以获取该光学元件的白色光谱衰减曲线。
本实施例的光学元件的老化装置,通过光源模块向光学元件提供照射光源,在该光源照射下对光学元件进行老化处理,在进行老化处理过程中,通过第一功率检测模块可以检测该光学元件在不同时刻接收到的光源照射的光功率,功率调整模块根据所述不同时刻光学元件接收到的光源照射的光功率对所述光源模块进行调整,以使得光学元件在稳定的光功率的光照下发生老化,在对学元件进行光照老化后可以通过配合使用光谱仪等光学测量设备进行测量获取光学元件的光学透过率的衰减情况,从而对使用该光学镜片的激光显示产品的可靠性进行评估。
实施例二
图3为本发明光学元件的老化装置实施例二的结构示意图,如图3所示,本实施例的装置在图2所述实施例的装置的基础上,进一步的,还可以包括:光束接收模块25,该光束接收模块25用于吸收光源透过光学元件的光束,该光束接收模块25具体可以是接收屏或者由吸光材料制成的接收屏。
本实施例的光学元件的老化装置通过光束接收模块25防止光源模块21提供的光源,比如激光,从光学元件透射后对周围环境造成光污染或者产生人身伤害。
在使用上述图2或者图3所示实施例的装置对光学元件进行衰减测试时,具体过程可以为,在将光学元件放置于上述装置的光学元件放置架22进行光照之前,首先通过光谱仪的测量,获取未经老化前的光学透过率,之后,将光学元件放置于上述装置的光学元件放置架22进行光照,按照预设需求进行一段时间照射后,再次通过光谱仪的测量,获取照射一段时间后的光学透过率,两次数据进行比较,便可以获取经过光照后的光学元件的光学透过率的衰减情况,按照与上述方式相同的处理进行多次进行光照,可以获得该光学元件的光谱衰减曲线。其中,有光学元件对不同颜色的光照射会存在不同的衰减特性,可以依次将光源模块21提供的光源设置为单色光源,使用本发明的装置对光学元件分别做光学透过率的衰减测试,然后进行拟合,可以获取该光学元件的白色光谱衰减曲线。
实施例三
图4为本发明光学元件的老化装置实施例三的结构示意图,本实施例的老化装置可以仅依靠本实施例的老化装置获取光学元件的透过率曲线,而无需如图2和图3所示实施例的老化装置在获取光学元件的透过率曲线时,需要配合使用光谱仪。如图4所示,本实施例的装置在图2或图3所述实施例的装置的基础上,进一步的,还可以包括:第二功率检测模块26,所述第二功率检测模块26和所述第一功率检测模块23分别设置于所述光学元件放置架的两侧。
具体的,与图2和图3所述实施例的装置不同,本实施例的装置可以通过第二功率检测模块26和第一功率检测模块25分别检测接收到的光量,将第二功率检测模块26和第一功率检测模块25获取到的光量进行运算,可以实时得出未透过光学元件的光量,以及光学元件对光源模块21提供的光源的光学透过率的曲线。
本实施例的光学元件的老化装置通过第二功率检测模块26使得仅使用本实施例的装置也可以在稳定的光功率的光照下对光学元件进行老化的同时,获取光学元件的光学透过率的曲线。
光学元件包括各种玻璃镜片,塑胶镜片,镜片组,以及镀膜的镜片,使用上述实施例方案可以对上述各种镜片进行老化并获得衰减测试结果。
使用本发明上述实施例的装置也可以对膜层的透过率的衰减情况进行测试,膜层通常设置于透明基材上,透明基材比如可以为普通透明玻璃。具体的实施方式为,使用两个相同的基材,一个基材镀膜,另一个基材不镀膜,使用本发明上述实施例的装置分别对基材镀膜和基材不镀膜进行相同功率和照射时长的光源照射,进行老化后,对两者的结果进行对比,即将基材镀膜的衰减曲线减去基材不镀膜的衰减曲线,便可以得到该膜层对光谱的衰减曲线。
本领域普通技术人员可以理解:实现上述各方法实施例的全部或部分步骤可以通过程序指令相关的硬件来完成。前述的程序可以存储于一计算机可读取存储介质中。该程序在执行时,执行包括上述各方法实施例的步骤;而前述的存储介质包括:ROM、RAM、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
最后应说明的是:以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案,而非对其限制;尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换;而这些修改或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的范围。

Claims (10)

1.一种光学元件的老化装置,其特征在于,包括:
光源模块、光学元件放置架、第一功率检测模块以及功率调整模块;
所述光源模块用于提供照射光学元件的光源;
所述光学元件放置架用于设置光学元件;
所述第一功率检测模块用于检测所述光学元件在不同时刻接收到的光源照射的光功率;
所述功率调整模块用于根据所述不同时刻接收到的光源照射的光功率对所述光源模块进行调整,以使所述光学元件在所述光源模块提供的稳定的光功率的光照射下发生老化;
所述第一功率检测模块还用于判断所述光学元件在第一时刻接收到的光源照射的光功率和在与所述第一时刻相邻的第二时刻接收到的光源照射的光功率是否相同,若否,则所述第一功率检测模块将所述第一时刻和所述第二时刻接收到的光源照射的光功率发送给所述功率调整模块;
所述功率调整模块具体用于根据所述第一时刻和所述第二时刻接收到的光源照射的光功率调整所述光源模块的驱动电流,以使所述光学元件在所述第一时刻接收到的光源照射的光功率的光照射下发生老化。
2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述功率调整模块还用于根据第一预设功率值调整所述光源模块的驱动电流,以使所述光学元件接收到光源照射的光功率为所述第一预设功率值。
3.根据权利要求2所述的装置,其特征在于,所述功率调整模块还用于获取当前照射时长,根据所述当前照射时长、第一预设功率值、第一预设时长、第二预设功率值和第二预设时长调整所述光源模块的驱动电流,以使在第一预设时长内所述光学元件接收到的光源照射的光功率为所述第一预设功率值,在第二预设时长内所述光学元件接收到的光源照射的光功率为所述第二预设功率值。
4.根据权利要求1至3任一项所述的装置,其特征在于,所述光源模块提供的光源的中心与设置于光学元件放置架上的光学元件的中心重合。
5.根据权利要求4所述的装置,其特征在于,所述光学元件设置架可沿所述光学元件的中心轴轴向移动。
6.根据权利要求1至3任一项所述的装置,其特征在于,所述装置还包括:光束接收模块,所述光束接收模块用于吸收光源透过所述光学元件的光束。
7.根据权利要求1至3任一项所述的装置,其特征在于,所述第一功率检测模块设置于所述光源模块和所述光学元件放置架之间。
8.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,所述装置还包括第二功率检测模块,所述第二功率检测模块和所述第一功率检测模块分别设置于所述光学元件放置架的两侧,所述第二功率检测模块用于检测不同时刻透过所述光学元件的光功率。
9.根据权利要求1至3任一项所述的装置,其特征在于,所述光源为激光光源和荧光光源中至少一项或其组合,所述激光光源包括至少一种波长的激光光源。
10.根据权利要求9所述的装置,其特征在于,所述光源模块包括多个激光器、选择开关和壳体;
所述多个激光器可提供不同波长的激光;
所述选择开关用于根据需求使得相应激光器导通向所述光学元件提供照射光源;
所述壳体上设置有出光孔,所述出光孔的中心与所述光学元件的中心重合。
CN201610367931.4A 2016-05-27 2016-05-27 光学元件的老化装置 Active CN106053022B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201610367931.4A CN106053022B (zh) 2016-05-27 2016-05-27 光学元件的老化装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201610367931.4A CN106053022B (zh) 2016-05-27 2016-05-27 光学元件的老化装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN106053022A CN106053022A (zh) 2016-10-26
CN106053022B true CN106053022B (zh) 2019-09-17

Family

ID=57176120

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201610367931.4A Active CN106053022B (zh) 2016-05-27 2016-05-27 光学元件的老化装置

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN106053022B (zh)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108982426A (zh) * 2018-08-14 2018-12-11 南京牧镭激光科技有限公司 窗口镜的使用寿命检测方法及装置

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102680208A (zh) * 2011-03-15 2012-09-19 隆达电子股份有限公司 具有多种波域检索光源的晶粒检视机台
CN103018012A (zh) * 2012-12-07 2013-04-03 中国科学院光电研究院 一种光学元件透过率的测量方法及装置
CN104345025A (zh) * 2013-08-02 2015-02-11 财团法人工业技术研究院 材料老化测试设备及其测试方法
CN104897365A (zh) * 2015-05-27 2015-09-09 广东高聚激光有限公司 一种光纤激光器的老化测试装置
CN205027510U (zh) * 2015-08-13 2016-02-10 中国科学院光电研究院 一种高功率光学镜片测量装置

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102680208A (zh) * 2011-03-15 2012-09-19 隆达电子股份有限公司 具有多种波域检索光源的晶粒检视机台
CN103018012A (zh) * 2012-12-07 2013-04-03 中国科学院光电研究院 一种光学元件透过率的测量方法及装置
CN104345025A (zh) * 2013-08-02 2015-02-11 财团法人工业技术研究院 材料老化测试设备及其测试方法
CN104897365A (zh) * 2015-05-27 2015-09-09 广东高聚激光有限公司 一种光纤激光器的老化测试装置
CN205027510U (zh) * 2015-08-13 2016-02-10 中国科学院光电研究院 一种高功率光学镜片测量装置

Also Published As

Publication number Publication date
CN106053022A (zh) 2016-10-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE112013002917B4 (de) Erzeugung von Lichtmustern mit einem MEMS-Scanspiegel
Nagaraja Effect of luminance noise on contrast thresholds
US20110182529A1 (en) Methods and apparatuses for structured illumination microscopy
CN110411348A (zh) 一种激光光斑焦点的自动化检测与定位装置及方法
JP6840881B1 (ja) 検査装置及び検査方法
CN110945380B (zh) ToF模块以及使用ToF模块的对象识别装置
CN111684266A (zh) 用于测量透明制品的光学特性的方法
CN106053022B (zh) 光学元件的老化装置
CN109100118A (zh) 光源测试方法与系统
KR20120133644A (ko) 자동초점조절장치 및 이를 이용한 자동초점조절방법
CN110456380A (zh) 飞行时间传感相机及其深度检测方法
CN206164747U (zh) 一种x射线分幅相机曝光时间的测量装置
CN105841933B (zh) 光学元件衰减测试装置
CN106092516B (zh) 光学元件的老化装置
JP4883762B2 (ja) ムラ検査装置およびムラ検査方法
US20220157591A1 (en) Laser coaxial ion excitation device
CN215931623U (zh) 一种光电材料与器件表征系统
KR20150014740A (ko) 적분구에 의한 광 측정장치
JP3901884B2 (ja) 画像処理方法および装置
KR20170131428A (ko) 이미징 플레이트 스캐너
CN112161956A (zh) 一种镜片检测方法、装置、系统及可读存储介质
FR2679759A1 (fr) Materiel de test d'acuite visuelle et/ou de sensibilite aux contrastes spatiaux chez l'homme, dispositif et procede de fabrication correspondants.
WO2020152059A1 (en) Pulse shaping for stimulated emission depletion microscopy
CN112577958A (zh) 量子点检测装置和方法
KR100767499B1 (ko) 불균일 검사장치 및 불균일 검사 방법

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant