CN1629997A - 合金型温度熔断器和温度熔丝用线材 - Google Patents
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Abstract
提供了一种熔丝,该熔丝尽管以In-Sn合金为主成分,但是能在长时间直流通电时防止在熔点之下的剪切破坏,能保证对于热循环的工作稳定性,并且能保证熔丝的成品率好的拉丝加工。使用这种熔丝的合金型温度熔断器的工作温度为120℃~150℃。在In52%~85%、残余部为Sn的In-Sn组成中添加Cu作为用于防止长时间直流通电下的熔丝断裂的长时间直流断裂防止用金属元素。
Description
技术领域
本发明涉及工作温度几乎属于120℃~150℃的合金型温度熔断器和温度熔丝用线材。
背景技术
作为电学仪器或电路元件,例如半导体器件、电容器、电阻元件等的热保护器,通常使用合金型温度熔断器。
该合金型温度熔断器的结构为:把给定熔点的合金作为熔丝,在该熔丝上涂敷助熔剂,用绝缘体密封该涂敷了助熔剂的熔丝。
该合金型温度熔断器的工作结构如下所述。
在要保护的电学仪器或电路元件上热接触地配置合金型温度熔断器。如果电学仪器或电路元件由于任意异常情况而发热,则由于该发热,温度熔断器的熔丝合金将熔化。由于熔化的合金在与已经熔化的助熔剂的共存情况下向引线导体或电极的侵润,其球状化破裂。该球状化破裂的进行,使通电被中断。因该断电引起的仪器的降温,使破裂的熔化合金凝固,结束了不恢复的切断。因此,要求电学仪器等的允许温度和熔丝合金的断裂温度几乎相等。
对所述熔丝通常使用低熔点合金。可是,从平衡状态图可知,在合金中具有固相线温度和液相线温度,在固相线温度和液相线温度一致的共晶点,用经过共晶点的温度加热,合金从固相一举变化为液相。但是在共晶点以外的组成中,进行从固相→固液共存相→液相的变化,在固相线温度Ts和液相线温度T1之间存在固液共存区的温度宽度ΔT。可是,虽然所述熔丝在固液共存区的断裂概率小,但还是有发生的可能性。为了减小温度熔丝的工作温度的离散偏移,要求使用所述固液共存区温度宽度ΔT尽可能小的合金组成,ΔT小是合金型温度熔断器要求的条件之一。
在合金型温度熔断器的熔丝中,常常使用线状片的形式,为了对应于近来的仪器小型化的温度熔断器的小型化,有时要求熔丝的细线化,还要求达到细直径(例如直径400μm以下)的拉丝加工性。
近来在电学仪器中,由于环保意识的提高,限制对生物体有害的物质,特别是Pb、Hg、Tl等的使用,在温度熔断器的熔丝中,要求不包含这些有害金属。
如果从工作温度方面对合金型温度熔断器进行分类,则大多使用工作温度在120℃~150℃的熔丝。
对于In-Sn合金来说,从平衡状态图可知,在In85~52%、残余部为Sn的液相线温度为119℃~145℃。与液相线温度同样是119℃~145℃的In52~43%、残余部Sn的范围相比,该范围的固相线温度高,所述固液共存区温度宽度窄小。因此,In85~52%、残余部为Sn的合金满足所述工作温度的离散偏移的减少、工作温度120℃~150℃(通常,熔丝温度比温度熔断器表面温度低数℃,其工作温度比熔丝的熔点还高数℃)、无有害金属的环保等的要件。
In的延展性大,在含有大量In的合金中,延展性过大,使得拉丝加工很困难。
可是,对于In-Sn合金,如果In为70%以下,则拉丝成为可能。因此,有人提出了把In70~52%、残余部Sn的合金组成(In的下限为52%的理由与如前所述,是为了抑制工作温度的离散偏移)作为熔丝的、工作温度120℃~130℃的合金型温度熔断器。(例如,专利文献1)
[专利文献1]特开2002-25402号公报
在温度熔断器中,由于受到因仪器的负载变动或气温变动等而产生的热循环,在熔丝中发生热畸变,但是在通常的合金型温度熔断器的熔丝中,该热畸变不会引起特性的变化。
可是,本发明者知道如果把In为52%以上的In-Sn合金作为熔丝,则热循环引起的熔丝的电阻值变动(电阻值上升)显著。这是合金组织内的异相界面发生的位移增大,因该位移的重复,从而发生熔丝的极端的截面积变化和熔丝的线长增加的结果。
根据电阻值的增加,由于焦耳热,熔丝温度上升,如果上升温度为ΔT,则在到达仪器的允许温度前只是上升温度ΔT的低的温度下就会动作。如果该温度ΔT增大,就带来大的工作误差。
因此,本发明者经过专心的研究,提出了把在100重量份的In52~85%、残余部Sn中添加0.1~7重量份的Ag、Au、Cu、Ni、Pd、Pt、Sb的1种或2种以上的合金组成作为温度熔断器的熔丝使用(特开2004-055164号)。
本发明者此后继续进行了研究对于把以所述In-Sn为主成分的合金作为温度熔断器用的熔丝使用的情况,结果意外地发现,如果长时间通过直流电流,在熔丝的熔点以下的温度熔丝会产生剪切破坏。而且确认,该现象在交流通电时不发生,是直流通电时固有的现象。
如果表示长期直流通电断裂的一例,则把以In74%、Sn26%的In-Sn合金拉丝而取得的直径500μm的线材作为熔丝的筒型温度熔断器(各数50个)放入94℃的恒温箱中,用直流5A通电3000小时,尽管熔丝温度为熔点以下,却有几乎50%的试料在熔丝的中间向斜向剪切破坏。
人们知道,作为熔丝在熔点以下断裂的现象有:在熔点以下的固有温度发生晶体变形,由于基于晶体变形的体积变化而产生的应力使熔丝断裂,但是用DSC(示差扫描热量计)已经确认了所述长时间直流通电断裂不是基于晶体变形而产生的。
作为所述熔丝的长期直流通电断裂的原因,虽然还未做出推测,但是能假定因为直流通电,在熔丝的全长上,由于电磁力的作用,产生向中心方向的压缩力,结果,作用基于泊松比的轴向压缩应力,因为含有很多In而变得柔软的In-Sn合金熔丝根据所述轴向压缩应力,在剪切应力作用的斜面产生剪切破坏。
该剪切破坏在直流产生而在交流下不发生的理由,能推测为:如果在交流下角频率为ω,则在所述斜面上,剪切应力变为频率为2ω的交变力(F=sin2ωt),在交变应力变为0的期间,结晶间的变形恢复了,而在直流下,频率变为0时,结晶间的变形一直积累下去,逐渐达到剪切破坏。
上述In-Sn组成的熔丝的长期直流通电断裂对熔丝是斜向的剪切破坏,这一事实与该推测有相吻合的地方。
根据上述理由,当把In-Sn系组成作为合金型温度熔断器的熔丝的主成分使用时,有必要防止长期直流通电下的剪切破坏。
发明内容
本发明的目的在于:提供一种尽管使用以In-Sn合金为主成分的熔丝,却能够在长时间直流通电下,防止熔点以下的剪切破坏,能保证对于热循环的工作稳定性,并且能保证熔丝的成品率良好的拉丝加工的、工作温度在120℃~150℃的合金型温度熔断器。
第一发明的温度熔丝用线材是合金型温度熔断器的温度熔丝用线材,其特征在于:在In52%~85%、残余部Sn的In-Sn组成中添加用于防止长时间直流通电下的熔丝断裂的长时间直流断裂防止用金属元素。
第二发明的温度熔丝用线材为根据第一发明的温度熔丝用线材,其特征在于:
长时间直流断裂防止用金属元素为Cu,相对于100重量份的In-Sn组成的添加量为0.1~7重量份。
第三发明的合金型温度熔断器的特征在于:以第一发明或第二发明的温度熔丝用线材作为熔丝。
第四发明的合金型温度熔断器根据第三发明的合金型温度熔断器,其特征在于:附设有用于使熔丝熔断的发热体。
在上述发明中,允许含有各原料基础金属的制造和这些原料的搅拌上产生的不可避免的杂质。
当把In52%~85%、残余部Sn的In-Sn组成作为合金型温度熔断器的熔丝使用时,在直流电流的长期通电下,熔丝在熔点以下产生剪切破坏,通过使所述In-Sn组的合金为侵入型固溶体,能防止该剪切破坏;通过Cu的添加,使In-Sn合金为侵入型固溶体组织,所以排除长期直流老化的熔丝的剪切破坏引起的问题,不仅用于交流,在直流时也一样能安全使用。
因为基于侵入型固溶体的合金强度提高,所以能提高对于热循环的耐热疲劳性,使直径300μm的细线的拉丝加工成为可能,从而可以使温度熔断器的小型化。
因为Cu的添加量小于等于7重量份,所以能很好保持液相线温度为120℃~150℃、固液共存区的温度宽度窄小(6℃以下)的所述In-Sn类组成的熔化特性。
因此,能提供工作温度在120℃~150℃、离散偏移充分小且适合于环保的合金型温度熔断器。
在本发明中,熔丝的合金组成的基础为In52~85%、残余部Sn的理由是液相线温度为119℃~145℃、固液共存区的温度宽度几乎窄小到6℃以内,所以温度熔断器的工作温度为120℃~150℃,并且能使工作温度的离散偏移很小(在4~5℃以内)。
Cu元素在防止熔丝的所述长时间直流通电破坏方面有效的理由可以推定为由于Cu原子进入In-Sn合金母体的晶格之间,成为侵入型固溶体,能提高对所述斜剪切破坏的强度。
由于Cu的添加,能提高对于所述热循环的耐热疲劳性,此外,直径300μm的细线的拉丝加工成为可能,能谋求温度熔断器的小型化。
该Cu的添加量为0.1~7重量份的理由是:如果不到0.1重量份,则所述侵入型固溶体化不充分,如果超过7重量份,就无法保持In52~85%、残余部Sn的合金的所述熔化特性。
在本发明中,可以通过合金母材的拉丝能制造熔丝,保持截面的圆形不变,或再压缩加工为扁平状来使用。熔丝的直径在圆形线时,外径为200μm~600μm,希望为250μm~350μm。
本发明能够以作为独立的热保护器的温度熔断器的形态实施。此外,也能用在半导体器件或电容器或电阻上串联连接温度熔丝,在该熔丝上涂敷助熔剂,把该涂敷了助熔剂的熔丝接近配置在半导体、电容器元件或电阻元件上,与半导体或电容器或电阻一起用树脂塑模或箱体密封的形态实施。
附图说明
下面简要说明附图。
图1是表示本发明的合金型温度熔断器的一例的图。
图2是表示本发明的合金型温度熔断器的与上述不同的例子的图。
图3是表示本发明的合金型温度熔断器的与上述不同的例子的图。
图4是表示本发明的合金型温度熔断器的与上述不同的例子的图。
图5是表示本发明的合金型温度熔断器的与上述不同的例子的图。
具体实施方式
图1表示本发明的筒型箱式合金型温度熔断器,在一对引线1、1间连接低熔点可熔合金片2,在该低熔点可熔合金片2上涂敷助熔剂3,把涂敷了助熔剂的低熔点可熔合金片插入耐热性和热传导性好的绝缘筒4例如陶瓷筒,把该绝缘筒4的各端和各引线1之间用常温硬化的密封剂5(例如环氧树脂)密封起来。
图2表示本发明的带型的合金型温度熔断器,在厚度为100~300μm的塑料基薄膜41上,通过粘合剂或焊接固定厚度为100~200μm的带状引线导体1、1,在带状引线导体间连接直径为250μm~500μm的熔丝2,在该熔丝2上涂敷助熔剂3,用厚度为100~300μm的塑料覆盖薄膜42的粘合剂或通过热焊接的固定把该涂敷了助熔剂的熔丝密封起来。
图3表示箱式放射型合金型温度熔断器,在并行引线导体1、1的顶端部间通过焊接来接合熔丝2,在熔丝2上涂敷助熔剂3,用一端开口的绝缘箱4(例如陶瓷箱)包围该涂敷了助熔剂的熔丝,用环氧树脂等密封剂5密封绝缘箱4的开口。
图4表示基板式合金型温度熔断器,在绝缘基板4(例如陶瓷基板)上,通过导电膏(例如银膏)的印刷烧结,形成一对膜电极1、1,在各电极1、1上通过焊接连接引线导体11,在电极1、1之间通过焊接接合熔丝2,在熔丝2上涂敷助熔剂3,用密封剂5(例如环氧树脂)覆盖涂敷了助熔剂的熔丝。
图5表示树脂浸渍式放射型合金型温度熔断器,在并行引线导体1、1的顶端部间通过焊接接合熔丝2,在熔丝2上涂敷助熔剂3,把涂敷了助熔剂的熔丝通过浸渍树脂,用绝缘密封剂(例如环氧树脂5)密封起来。
本发明也能用以下形态实施:在合金型温度熔断器上设置发热体,例如通过涂敷和烧结电阻膏(例如氧化钌等的氧化金属粉的膏)来设置膜电阻,检测成为仪器异常发热的原因的前兆,用检测信号把膜电阻通电,使其发热,由该发热使熔丝熔断。
这时,在绝缘基体的上表面上设置所述发热体,在其上形成耐热性和热传导性的绝缘膜(例如玻璃烧结膜),再设置一对电极,在各电极上连接扁平的引线导体,在两电极间连接熔丝,从熔丝到所述引线导体的顶端部覆盖助熔剂,在所述绝缘基体上设置绝缘盖,能通过粘合剂把该绝缘盖的周围密封在绝缘基体上。
通常使用熔点比熔丝熔点还低的助熔剂,例如能使用松香90~60重量份、硬脂酸10~40重量份、活性剂0~3重量份。这时,对于松香能使用天然松香、变性松香(如加水松香、不均匀松香、聚合松香)或它们的精制松香,活性剂能使用二乙基胺的盐酸盐、氢溴酸盐、己二酸等有机酸。
在以下的实施例和比较例中,对于合金型温度熔断器,能使用在直径为600μm、长度为3.5mm的熔丝的两端连接引线导体,在熔丝上涂敷以松香为主成分、添加己二酸1重量%的助熔剂,把涂敷助熔剂的熔丝插入外径2.5mm、厚度0.5mm、长度9mm的陶瓷筒,用常温硬化型的环氧树脂密封该陶瓷筒各端和各引线导体之间的筒型温度熔断器。
关于实施例和比较例的工作温度,试样数为50个,用0.1安培的电流通电,浸渍在升温速度为1℃/分钟的油浴中,测定熔断造成的断电时的油温度。
关于实施例和比较例的长期直流通电老化评价,使试样数为50个,插入工作温度为-35℃的恒温槽内,用DC5A通电3000小时,在通电后,用软X射线观察装置检查熔丝的断裂的有无,完全没有断裂时为合格。
关于长期直流通电老化试验后的工作温度,用0.1安培的电流通电,浸渍在升温速度为1℃/分钟的油浴中,测定熔断造成的断电时的油温度。
此外,为了确认由长期直流通电而产生的断裂是直流所固有的,在比较例中,试样数为50个,放入工作温度为-35℃的恒温槽内,用有效值与DC5A为同一值的AC电流(峰值为
)通电3000小时,通电后,用软X射线观察装置检查熔丝有无断裂,确认全部没有断裂。
此外,关于熔丝对热循环的电阻值变化,使用试样数为50个,测定把在110℃加热30分钟、在-40℃冷却30分钟为1循环的热循环试验进行500个循环后的电阻值变化,进行判断。如果电阻值增加为全部的50%以内,为合格,如果超过50%,即使存在一个,也作为不合格。
对于熔丝的拉丝加工性,将一个拉模的拉成率定为6.5%,拉丝速度为45m/min,把能够无断丝地拉丝到直径300μm的定为○,断丝的定为×。
[实施例1]
熔丝的合金组成为In74份(重量份,以下相同)、Sn26份、Cu0.7份,制作筒型温度熔断器。
工作温度为130.0℃±1℃。
对于长期直流通电老化试验,发生的熔丝断裂为0,评价为长期直流通电老化合格。
测定长期直流通电老化试验后的50个试样的工作温度,在129.4℃~131.0℃的范围内,相对于老化试验前未发现实质性的变化,能稳定维持动作性能。
对于热循环试验,电阻值变为1.5倍以上的试样个数为0,评价为热循环合格。
在到线径300μm的拉丝加工中没发生断丝,评价为拉丝加工性为○。
[实施例2]
熔丝的合金组成为In74份(重量份,以下相同)、Sn26份、Cu0.4份,制作筒型温度熔断器。
工作温度为129.5℃±1℃。
对于长期直流通电老化试验,熔丝断裂为0,评价为合格。
测定长期直流通电老化试验后的50个试样的工作温度,在128.9℃~130.8℃的范围内,相对于老化试验前未发现实质性的变化。
对于热循环试验,电阻值变为1.5倍以上的试样个数为0,评价为合格。
在到线径300μm的拉丝加工中无断丝,拉丝加工性的评价为○。
[实施例3]
熔丝的合金组成为In74份(重量份,以下相同)、Sn26份、Cu4份,制作筒型温度熔断器。
工作温度为131.0℃±2℃。
对于长期直流通电老化试验,熔丝断裂为0,评价为合格。
测定长期直流通电老化试验后的50个试样的工作温度,在129.8℃~132.2℃的范围内,相对于老化试验前未发现实质性的变化。
对于热循环试验,电阻值变为1.5倍以上的试样个数为0,评价为合格。
在到线径300μm的拉丝加工中无断丝,拉丝加工性的评价为○。
[实施例4]
熔丝的合金组成如表1所述,制作筒型温度熔断器。
工作温度如表1所述。
对于长期直流通电老化试验,熔丝断裂为0,评价为全部合格。测定这些试验品的长期直流通电老化试验后的工作温度,结果相对于老化试验前未发现实质性的变化。
对于热循环试验,电阻值变为1.5倍以上的试样个数为0,评价为合格。
在对合金母材进行的到线径300μm的拉丝加工中在断丝发生,拉丝加工性的评价为○。
[实施例5]
熔丝的合金组成如表1所述,制作筒型温度熔断器。
工作温度如表1所述。
对于长期直流通电老化试验,熔丝断裂为0,评价为全部合格。测定这些实施例品的长期直流通电老化试验后的工作温度,相对于老化试验前未发现实质性的变化。
对于热循环试验,电阻值变为1.5倍以上的试样个数为0,评价为合格。
在对合金母材中进行到线径300μm的拉丝加工中无断丝,拉丝加工性的评价为○。
[实施例6]
熔丝的合金组成如表1所述,制作筒型温度熔断器。
工作温度如表1所述。
对于长期直流通电老化试验,熔丝断裂的为0,评价为全部合格。测定这些实施例品的长期直流通电老化试验后的工作温度,对于老化试验前,未发现实质性的变化。
对于热循环试验,电阻值变为1.5倍以上的试样个数为0,评价为合格。
在合金母材中,没有在向线径300μm的拉丝加工中断线的,拉丝加工性的评价为合格。
[实施例7]
熔丝的合金组成如表1所述,制作筒型温度熔断器。
工作温度如表1所述。
对于长期直流通电老化试验,熔丝断裂的为0,评价为全部合格。测定这些实施例品的长期直流通电老化试验后的工作温度,对于老化试验前,未发现实质性的变化。
对于热循环试验,电阻值变为1.5倍以上的试样个数为0,评价为合格。
在合金母材中,没有在向线径300μm的拉丝加工中断线的,拉丝加工性的评价为合格。
[实施例8]
熔丝的合金组成如表1所述,制作筒型温度熔断器。
工作温度如表1所述。
对于长期直流通电老化试验,熔丝断裂的为0,评价为全部合格。测定这些实施例品的长期直流通电老化试验后的工作温度,对于老化试验前,未发现实质性的变化。
对于热循环试验,电阻值变为1.5倍以上的试样个数为0,评价为合格。
在对合金母材进行的到线径300μm的拉丝加工中无断丝,拉丝加工性的评价为○。
[实施例9]
熔丝的合金组成如表1所述,制作筒型温度熔断器。
工作温度如表1所述。
对于长期直流通电老化试验,熔丝断裂为0,评价为全部合格。测定这些试验品的长期直流通电老化试验后的工作温度,结果相对于老化试验前未发现实质性的变化。
对于热循环试验,电阻值变为1.5倍以上的试样个数为0,评价为合格。
在对合金母材进行的到线径300μm的拉丝加工中无断丝,拉丝加工性的评价为○。
[实施例10]
熔丝的合金组成如表1所述,制作筒型温度熔断器。
工作温度如表1所述。
对于长期直流通电老化试验,熔丝断裂为0,评价为全部合格。测定这些试验品的长期直流通电老化试验后的工作温度,结果相对于老化试验前未发现实质性的变化。
对于热循环试验,电阻值变为1.5倍以上的试样个数为0,评价为合格。
在对合金母材进行的到线径300μm的拉丝加工中无断丝,拉丝加工性的评价为○。
[实施例11]
熔丝的合金组成如表1所述,制作筒型温度熔断器。
工作温度如表1所述。
对于长期直流通电老化试验,熔丝断裂为0,评价为全部合格。测定这些实施例品的长期直流通电老化试验后的工作温度,结果相对于老化试验前未发现实质性的变化。
对于热循环试验,电阻值变为1.5倍以上的试样个数为0,评价为合格。
在对合金母材进行的到线径300μm的拉丝加工中无断丝,拉丝加工性的评价为○。
[比较例1]
熔丝的合金组成为In74份、Sn26份,制作筒型温度熔断器。
工作温度为129.2℃±1℃。
对于长期直流通电老化试验,在50个中熔丝断裂的有28个评价为不合格。为了确认长期直流通电老化是直流固有的(即在长期直流通电老化试验中的断裂),代替直流电流通电,除了用有效值相等的交流电通电,其它条件都相同,进行试验,结果都没有断丝,能确认其直流固有性。
对于热循环试验,半数以上试验品的电阻值变为1.5倍以上,评价为不合格。
对合金母材的一个模块进行了拉曳率为6.5%、拉线速度为45m/min的、把直径拉到300μm的拉丝试验,结果断丝。为了防止断线,有必要把一个模块的拉曳率下调为4.0%、拉线速度下调为20m/min。其拉丝加工性的评价为×。
[比较例2]
熔丝的合金组成为52份In、48份Sn,制作筒型温度熔断器。
工作温度为119.0℃±1℃。
对于长期直流通电老化试验,在50个中熔丝断裂的有22个,评价为不合格。为了确认长期直流通电老化是直流固有的,代替直流电流通电,除了用有效值相等的交流电,其它条件都相同,进行试验,结果没有断丝,能确认其直流固有性。
对于热循环试验,半数以上试验品的电阻值变为1.5倍以上,评价为不合格。
能够在把合金母材的直径拉到300μm的拉丝加工中没有断丝,拉丝加工性的评价为○。
[表1]
实施例1 | 实施例2 | 实施例3 | 实施例4 | 实施例5 | 实施例6 | |
In(重量份) | 74 | 74 | 74 | 52 | 52 | 52 |
Sn(重量份) | 26 | 26 | 26 | 48 | 48 | 48 |
Cu(重量份) | 0.7 | 0.4 | 4 | 0.4 | 4 | 0.4 |
工作温度(℃) | 130.0±1 | 129.5±1 | 131.0±2 | 119.0±1 | 121.0±2 | 126.0±1 |
直流老化评价 | 合格 | 合格 | 合格 | 合格 | 合格 | 合格 |
热循环试验评价 | 合格 | 合格 | 合格 | 合格 | 合格 | 合格 |
拉丝加工性 | ○ | ○ | ○ | ○ | ○ | ○ |
实施例7 | 实施例8 | 实施例9 | 实施例10 | 实施例11 | |
In(重量份) | 65 | 70 | 70 | 80 | 80 |
Sn(重量份) | 35 | 30 | 30 | 20 | 20 |
Cu(重量份) | 4 | 0.4 | 4 | 0.4 | 4 |
工作温度(℃) | 128.0±2 | 128.0±1 | 130.0±3 | 134.0±1 | 136.0±2 |
直流老化评价 | 合格 | 合格 | 合格 | 合格 | 合格 |
热循环试验评价 | 合格 | 合格 | 合格 | 合格 | 合格 |
拉丝加工性 | ○ | ○ | ○ | ○ | ○ |
比较例1 | 比较例2 | |
In(重量份) | 74 | 52 |
Sn(重量份) | 26 | 48 |
Cu(重量份) | 0 | 0 |
工作温度(℃) | 129.2±1 | 119.0±1 |
直流老化评价 | 不合格 | 不合格 |
热循环试验评价 | 不合格 | 不合格 |
拉丝加工性 | × | ○ |
Claims (4)
1.一种温度熔丝用线材,用于合金型温度熔断器,其特征在于:在In52%~85%、残余部Sn的In-Sn组成中添加用于防止熔丝在长时间直流通电下断裂的长时间直流断裂防止用金属元素。
2.根据权利要求1所述的温度熔丝用线材,其特征在于:
长时间直流断裂防止用金属元素为Cu,其添加量对于In-Sn组成的100重量份为0.1~7重量份。
3.一种合金型温度熔断器,其特征在于:以权利要求1或2所述的温度熔丝用线材作为熔丝。
4.根据权利要求3所述的合金型温度熔断器,其特征在于:
附设有用于使熔丝熔断的发热体。
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