CN1601617A - 光信息记录方法，光信息记录设备和光信息记录介质 - Google Patents

光信息记录方法，光信息记录设备和光信息记录介质 Download PDF

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Abstract

本发明的目的是减少使用CAV记录方法时的测试记录时间，并使主轴电机较便宜。当使用具有CAV格式的介质进行测试记录时，在介质的转速等于或小于进行信息记录时介质的转速的径向位置设置供中间线速度使用的测试记录区24，在介质的转速等于进行信息记录时介质的转速的径向位置设置供最小线速度使用的测试记录区22和供最大线速度使用的测试记录区23。

Description

光信息记录方法，光信息记录设备和 光信息记录介质
技术领域
本发明涉及一种光学地记录/再现信息的光信息记录介质，记录/再现方法，和记录/再现设备，特别是涉及以恒定转速将信息记录到光信息记录介质上的记录方法。
背景技术
近来，作为用于光学地记录信息的介质，已经提出并开发了光盘，光卡，光带等记录介质。特别是，期待光盘以高容量和高密度来记录/再现信息。
例如，对于相变光盘，以下面的方式进行信息记录/再现。当把由光头聚焦的激光束施加到光盘的信息膜时，激光器的功率比再现功率高(该功率等级被称为记录功率)，并使信息膜的温度升高到其熔点之上，随着激光束在膜上经过，该膜的熔化部分被迅速猝熄(quench)，形成具有非结晶(非晶)状态的标记。另外，当把聚焦的激光束施加到信息膜时，其功率高到足以使膜的温度增加到大于或等于结晶温度并小于或等于熔点(该功率等级被称为删除功率)，该膜被施加了激光束的部分变成结晶状。
于是，在介质上形成由处在非晶状态的数据信号的标记(mark)，和围绕它们，处在结晶状态的间隙(space)构成的记录码型(pattern)。然后，利用结晶区和非晶区之间反射系数的差别进行数据再现。
如上面提到的，为了在介质上形成标记，需要发射激光，同时调制光束的功率等级，使其至少处在删除功率和记录功率之间的等级。用于该调制性能的脉冲波形被称为记录脉冲。
对于DVD(数字多能盘)类型的光盘，到目前为止主要采用CLV(恒定线速度)记录方法。该记录方法要求线速度，传输率，和线性密度在介质的整个区域上接近恒定。这种情况下，介质的转速根据介质的记录/再现位置(即，径向位置)而改变。
另外，作为CLV记录方法的替换，为了便于记录/再现设备的主轴电机的转动控制，已经提出了Z-CLV(分区恒定线速度)记录方法。Z-CLV记录方法的光盘具有将信息区划分成具有预定的轨迹数量的分区的格式，并且每个分区的扇区数量从内向外侧圆周增加。具有Z-CLV格式的光盘的记录/再现设备通过下面的操作进行记录/再现：以从内向外侧圆周逐步的方式降低盘的转动频率(在此，每个分区的转动频率是恒定的)；和通过使线速度在整个盘上接近恒定。对于Z-CLV格式，在非专利文献中(光盘技术，无线技术公司，p.223)，也称其为M-CLV(改变的恒定线速度)。
另外，已经提出了CAV(恒定角速度或恒定转速)记录方法，该方法使盘的转速和线性密度在整个盘上接近于常数。由于不需要控制转动盘的主轴电机的转速，因此CAV记录方法的优点在于主轴电机和其控制电路的生产成本较低。另外，在寻找到记录/再现位置后，由于在记录/再现操作期间直到转速达到预定速度为止不需要等待，因此能够缩短对盘的存取速度。
另一方面，由于在记录/再现设备中可以互换光盘，该设备则需要针对多个光盘进行稳定的记录/再现。然而，即使是在相同的条件生产的光盘，由于在介质制造过程中出现的差异或介质随时间而产生的变化造成最佳功率等级不同。另外，由于盘的基片表面上的污垢，记录/再现设备的光学系统的传输效率的降低，和操作条件的改变，能够改变去往光盘的记录膜的激光束的功率。
为了处理记录条件中的这些变化，通过在把实际的信息信号记录到盘上之前进行测试记录来找出这些条件。通常，在测试记录中，将特定的测试码型记录到盘的测试记录区上，然后从记录信号的特性中找出记录脉冲的最佳记录功率或形状。在盘上，共同准备用于测试记录的区域(被称为测试记录区)，该区域与用户记录信息信号的区域(称为数据区)分开。
然而，在上述CAV记录方法中，线速度和传输速率根据盘的径向位置而持续改变。因此，根据记录/再现位置，改变盘的记录条件(即，施加激光束的条件或加热/冷却条件)，以形成特定的记录标记。
例如，在具有快线速度的径向位置，盘的每单位面积施加的激光束的热量降低。于是，在此处，激光器功率要比在具有低线速度的径向位置的记录功率高。
另一方面，在具有低线速度的径向位置，由于激光束光点通过盘上速度变得更低，盘的信息膜的冷却速度也变得更低，并且被过度地进行了结晶化处理。使形成信息标记变得困难。因此，在此的信息脉冲的占空比要比在具有快线速度的径向位置进行记录时的占空比低。
在CAV记录方法中，每当线速度随时间发生变化而通过重复测试记录来找出记录条件并不实际，因为测试记录要占有大量时间。
于是，提出了评估测试记录区中至少两个线速度的记录功率，然后通过利用预先评估的记录功率应用内插或外插处理评估在那些线速度之外的速度的记录功率来找出记录条件的方法(例如，见日本未审专利申请H05-225570，pp.3-5和图6)。另外，根据记录线速度，也公开了诸如改变记录功率与删除功率之比或以特定间隔改变每个记录脉冲的宽度之类的方法(例如，见日本未审专利申请2001-118245，pp.5-7和图1)。
在上述常规的记录/再现方法中，由于在测试记录期间主轴电机的转速必须比实际的信息记录/再现期间主轴电机的转速快，必须要使用高性能的主轴电机，因此，增加了电机成本。下面说明该问题。
例如，在上面引用的日本未审专利申请中，通过在内侧圆周而不是数据区来提供测试记录区，以多种线速度进行测试记录。然而，在CAV记录方法中，线速度在外侧圆周比在内侧圆周快，因此，当在内侧圆周的测试记录区进行具有与外圆周对应的线速度的测试记录时，根据径向位置的比例将主轴电机的转速设置得更快。
于是，必须使用具有较高转动性能的、并且能够以比用于记录实际信息信号的转速更快地转动的主轴电机。结果是，记录/再现设备变得昂贵。另外，当以多种线速度进行测试记录时，由于主轴电机必须根据该多种线速度改变其速度，测试记录因为改变速度所需的时间而要花费更多时间。
此外，在上面提到的常规CAV记录方法中，当在盘上从内侧圆周向外侧圆周形成螺旋轨``迹时，存在着记录信息信号期间传输速率在盘的开始处变低的问题。这是由于对于CAV记录方法，在盘的整个表面上将记录线性密度设置成接近恒定，传输速率在其外侧圆周变得更高。考虑到用户并不总是用尽一张盘的记录容量，从最内侧圆周开始记录/再现相对于数据传输速率是不利的。
发明内容
本发明解决了上述常规问题，本发明的目的是提供一种光信息记录方法，光信息记录设备和光信息记录介质，能够使用便宜的主轴电机针对多种线速度进行测试记录，还能够通过减少测试记录所需的时间使用户以较短的时间开始记录信息信号。另外，本发明的目的在于提供能够解决常规问题的光信息记录方法，并且能够使用于记录信息信号的传输速率在盘的开始处具有较高的值。
为了实现上述目的，在本发明的第一方面中，一种光信息记录方法包括在通过转动光信息记录介质以至少两种不同的线速度在光信息记录介质上记录信息信号，同时通过根据线速度的变化来改变沟道时钟周期来保持线性密度近似为常数，和在记录信息信号之前进行测试记录。以至少一种线速度进行测试记录。进行测试记录时的光信息记录介质的转速等于或低于在介质上记录信息信号时的最大转速。
按照该方法，由于主轴电机的转动频率不必大于进行测试记录时信息记录的转动频率，可以使用比常规电机便宜的电机，因此信息记录设备较便宜。
另外，本发明第一方面的另一种光信息记录方法包括在通过以恒定速度s0转动光信息记录介质和通过根据线速度的变化来改变沟道时钟周期使线性密度接近保持恒定的同时，记录信息信号，和在记录信息信号之前进行测试记录。该介质具有数据区，以多种线速度v进行测试记录，其中V1≤v≤v2，或以至少一种线速度v进行测试记录，其中v1＜v＜v2，v1表示在数据区最内侧圆周的线速度，v2表示在数据区最外侧圆周的线速度，进行测试记录时，介质的转速s可以是s0或更低。
根据该方法，即使是针对使用CAV记录方法时的介质，由于主轴电机的转动频率不必大于进行测试记录时信息记录的转动频率，可以使用比常规电机便宜的电机，因此信息记录设备较便宜。
本发明第一方面的另一种光信息记录方法包括在通过以恒定速度s0转动光信息记录介质和通过根据线速度的变化来改变沟道时钟周期使线性密度接近保持恒定的同时，记录信息信号，和在记录信息信号之前进行测试记录。该介质具有数据区，将数据区分成具有预定轨迹数量的多个区域，每个区域的扇区数量从最内区域向最外区域增加，同一个区域中的线性密度相等，以多种线速度v进行测试记录，其中v1≤v≤v2，或以至少一种线速度进行测试记录，其中v1＜v＜v2，v1表示在最内侧圆周的线速度，v2表示在最外侧圆周的线速度，进行测试记录时，光信息记录介质的转速s可以是s0或更低。
根据该方法，即使是针对具有Z-CLV格式的介质，由于主轴电机的转动频率不必大于进行测试记录时信息记录的转动频率，可以使用比常规电机便宜的电机，因此信息记录设备较便宜。
应该指出，对于本发明第一方面的光信息记录方法，由于在中间位置不分割数据区，优选的是靠近数据区的最外侧圆周进行测试记录。
为了实现上述目的，提供本发明第一方面中的光信息记录设备，通过转动记录介质以至少两种不同的线速度在光信息记录介质上记录信息信号，以便在通过根据线速度的变化来改变沟道时钟周期使线性密度保持接近恒定的同时记录信息信号，并在记录信息信号前进行测试记录，该光信息记录设备包括转动控制单元，可操作用于控制光信息记录介质的转速；测试记录单元，通过在介质上记录测试信号可操作用于确定记录条件；和信息记录单元，可操作用于在介质上记录信息信号。测试记录单元以至少一种线速度记录测试数据，转动控制单元控制进行测试记录时的光信息记录介质的转速等于或低于在介质上记录信息信号时的最大转速。
据此，由于主轴电机的转动频率不必大于进行测试记录时信息信息的转动频率，可以使用比常规电机便宜的电机，因此信息记录设备较便宜。
另外，提供本发明第一方面的光信息记录设备，通过以恒定速度s0转动光信息记录介质和通过根据线速度的变化来改变沟道时钟周期使线性密度保持接近恒定的同时，记录信息信号，并在记录信息信号前进行测试记录，该光信息记录设备包括转动控制单元，可操作用于控制光信息记录介质的转速；测试记录单元，通过在介质上记录测试信号可操作用于确定记录条件；和信息记录单元，可操作用于在介质上记录信息信号。该介质具有数据区，测试记录单元以多种线速度v记录测试信号，其中v1≤v≤v2，或以至少一种线速度v进行测试记录，其中v1＜v＜v2，v1表示在数据区最内侧圆周的线速度，v2表示在数据区最外侧圆周的线速度，进行测试记录时，转动控制单元控制介质的转速s等于s0或更低。
因此，即使是具有CAV格式的介质，由于主轴电机的转动频率不必大于进行测试记录时信息记录的转动频率，可以使用比常规电机便宜的电机，因此信息记录设备较便宜。
此外，提供本发明第一方面的光信息记录设备，通过以恒定速度s0转动光信息记录介质和通过根据线速度的变化来改变沟道时钟周期使线性密度保持接近恒定的同时，记录信息信号，并在记录信息信号前进行测试记录，该光信息记录设备包括转动控制单元，可操作用于控制光信息记录介质的转速；测试记录单元，通过在介质上记录测试信号可操作用于确定记录条件；和信息记录单元，可操作用于在介质上记录信息信号。该介质具有数据区，将数据区分成具有预定轨迹数量的多个区域，每个区域的扇区数量从最内侧区域向最外侧区域增加，在同一个区域中的线性密度相等，测试记录单元以多种线速度v记录测试信号，其中v1≤v≤v2，或以至少一种线速度v进行测试记录，其中v1表示在最内侧圆周的线速度，v2表示在最外侧圆周的线速度，进行测试记录时，转动控制单元控制介质的转速s等于s0或更低。
因此，即使是具有CAV格式的介质，由于主轴电机的转动频率不必大于进行测试记录时信息记录的转动频率，可以使用比常规电机便宜的电机，因此信息记录设备较便宜。
应该指出，对于本发明第一方面的光信息记录设备，测试记录最好在靠近数据区的最外侧圆周进行，因为该区域未被在中间位置分开。
为了实现上述目的，提供本发明第一方面的光信息记录介质，在转动期间，以至少两种不同的线速度在该介质上记录信息信号，同时通过根据线速度的变化来改变沟道时钟周期而保持线性密度近似为常数，并在记录信息信号之前在记录介质上记录测试信号。以至少一种线速度进行测试记录，在径向位置设置进行测试记录的区域，以使进行测试记录时介质的转速等于或小于在介质上记录信息信号时的最大转速。
按照该介质，由于主轴电机的转动频率不必大于进行测试记录时信息记录的转动频率，可以使用比常规电机便宜的电机，因此信息记录设备较便宜。
另外，根据本发明的第一方面提供另一种光信息记录介质，在以恒定速度s0转动期间在记录介质上记录信息信号，同时通过根据线速度的变化来改变沟道时钟周期而保持线性密度近似为常数，并在记录信息信号之前在记录介质上记录测试信号。该介质具有数据区，以多种线速度v进行测试记录，其中v1≤v≤v2，或以至少一种线速度v进行测试记录，其中v1＜v＜v2，v1表示在数据区的最内侧圆周的线速度，v2表示在数据区的最外侧圆周的线速度，在径向位置设置进行测试记录的区域，以使在进行测试记录时介质的转速s等于或低于在介质上记录信息信号时的恒定转速s0。
按照该介质，即使是具有Z-CLV格式的介质，由于主轴电机的转动频率不必大于进行测试记录时记录信息的转动频率，可以使用比常规电机便宜的电机，因此信息记录设备较便宜。
另外，提供本发明的第一方面的另一种光信息记录介质，在以恒定速度s0转动期间在记录介质上记录信息信号，同时通过根据线速度的变化来改变沟道时钟周期而保持线性密度近似为常数，并在记录信息信号之前在记录介质上记录测试信号。该介质具有数据区，数据区被分成具有预定轨迹数量的多个区域，每个区域的扇区数量从最内部区域向最外部区域增加，同一个区域中的线性密度相等，以多种线速度v进行测试记录，其中v1≤v≤v2，或以至少一种线速度v进行测试记录，其中v1＜v＜v2，v1表示在最内侧圆周的线速度，v2表示在最外侧圆周的线速度，在径向位置设置进行测试记录的区域，以使在进行测试记录时介质的转速s等于或低于在介质上记录信息信号时的恒定转速s0。
按照该介质，即使是具有CAV格式的介质，由于主轴电机的转动频率不必大于进行测试记录时记录信息的转动频率，可以使用比常规电机便宜的电机，因此信息记录设备较便宜。
应该指出，对于本发明第一方面的光信息记录介质，测试记录最好在数据区的最外侧圆周进行，因为该区域未被在中间位置分开。
此外，对于本发明的光信息记录介质，以线速度v1和线速度v2进行测试记录，以线速度v2进行测试记录的区域最好设置在数据区的最外侧圆周，由于在每个线速度的记录条件的估算精度更精确。
为了实现上述目的，本发明第二方面的光信息记录方法包括通过转动介质以至少两种不同的线速度在光信息记录介质上记录信息信号，通过根据线速度的变化来改变沟道时钟周期而保持线性密度近似为常数的同时，记录信息信号，在记录信息信号之前进行测试记录。至少以线速度v1和v2进行测试记录，v1表示记录信息信号时的最小线速度，v2表示记录信息信号时的最大线速度，在进行测试记录时，介质的每个转速近似为常数。
按照该方法，由于主轴电机的转动频率不必大于进行测试记录时信息记录的转动频率，可以使用比常规电机便宜的电机，因此信息记录设备较便宜。并且，在测试记录期间，主轴电机不必改变其速度，因此可减少测试记录所需的时间。
另外，本发明第二方面的另一种光信息记录方法包括通过以恒定速度转动光信息记录介质和通过根据线速度的变化来改变沟道时钟周期而在保持线性密度近似常数的同时，记录信息信号，在记录信息信号之前进行测试记录。该介质具有数据区，至少以线速度v1和v2进行测试记录，其中v1表示在数据区的最内侧圆周的线速度，v2表示在数据区的最外侧圆周的线速度，进行测试记录时，介质的每个转速近似等于s0。
根据该方法，即使是具有CAV格式的介质，由于主轴电机的转动频率不必大于进行测试记录时信息记录的转动频率，可以使用比常规电机便宜的电机，因此信息记录设备较便宜。并且，在测试记录期间，主轴电机不必改变其速度，因此可减少测试记录所需的时间。
另外，本发明第二方面的另一种光信息记录方法包括通过以恒定速度s0转动光信息记录介质和通过根据线速度的变化来改变沟道时钟周期而在保持线性密度近似常数的同时，记录信息信号，在记录信息信号之前进行测试记录。该介质具有数据区，数据区被分成具有预定轨迹数量的多个区域，每个区域的扇区数量从最内部区域向最外部区域增加，在同一个区域内的线性密度相等，至少以线速度v1和v2进行测试记录，其中v1表示在最内侧圆周的线速度，v2表示在最外侧圆周的线速度，进行测试记录时，介质的每个转速近似等于s0。
根据该方法，即使是具有Z-CLV格式的介质，由于主轴电机的转动频率不必大于进行测试记录时信息记录的转动频率，可以使用比常规电机便宜的电机，因此信息记录设备较便宜。并且，在测试记录期间，主轴电机不必改变其速度，因此可减少测试记录所需的时间。
为了实现上述目的，提供本发明第二方面的光信息记录设备，通过转动光信息记录介质以至少两种不同的线速度在光信息记录介质上记录信息信号，通过根据线速度的变化来改变沟道时钟周期来记录信息信号而使线性密度保持接近恒定的同时，记录信息信号，并在记录信息信号前进行测试记录，该光信息记录设备包括转动控制单元，可操作用于控制光信息记录介质的转速；测试记录单元，通过在介质上记录测试信号可操作用于确定记录条件；和信息记录单元，可操作用于在介质上记录信息信号。测试记录单元至少以线速度v1和v2进行测试记录，其中v1表示记录信息信号时的最小线速度，v2表示记录信息信号时的最大线速度，在进行测试记录时，转动控制单元使光信息记录介质的每个转速近似为常数。
据此，由于主轴电机的转动频率不必大于进行测试记录时信息记录的转动频率，可以使用比常规电机便宜的电机，因此信息记录设备较便宜。并且，在测试记录期间，主轴电机不必改变其速度，因此可减少测试记录所需的时间。
另外，提供本发明第二方面的光信息记录设备，通过以恒定速度s0转动光信息记录介质和通过根据线速度的变化来改变沟道时钟周期使线性密度保持接近恒定的同时，记录信息信号，并在记录信息信号前进行测试记录，该光信息记录设备包括转动控制单元，可操作用于控制光信息记录介质的转速；测试记录单元，通过在介质上记录测试信号可操作用于确定记录条件；和信息记录单元，可操作用于在介质上记录信息信号。该介质具有数据区，测试记录单元至少以线速度v1和v2进行测试记录，其中v1表示在数据区最内侧圆周的线速度，v2表示在数据区最外侧圆周的线速度，在进行测试记录时，转动控制单元控制介质的每个转速等于s0。
据此，即使是具有CAV格式的介质，由于主轴电机的转动频率不必大于进行测试记录时记录信息的转动频率，可以使用比常规电机便宜的电机，因此信息记录设备较便宜。并且，在测试记录期间，主轴电机不必改变其速度，因此可减少测试记录所需的时间。
另外，提供本发明第二方面的光信息记录设备，通过以恒定速度s0转动光信息记录介质和通过根据线速度的变化来改变沟道时钟周期使线性密度保持接近恒定的同时，记录信息信号，并在记录信息信号前进行测试记录，该光信息记录设备包括转动控制单元，可操作用于控制光信息记录介质的转速；测试记录单元，通过在介质上记录测试信号可操作用于确定记录条件；和信息记录单元，可操作用于在介质上记录信息信号。该介质具有数据区，数据区被分成具有预定轨迹数量的多个区域，每个区域的扇区数量从最内部区域向最外部区域增加，在同一个区域内的线密度相等，测试记录单元至少以线速度v1和v2进行测试记录，其中v1表示在最内侧圆周的线速度，v2表示在最外侧圆周的线速度，在进行测试记录时，转动控制单元控制介质的每个转速近似等于s0。
因此，即使是具有Z-CLV格式的介质，由于主轴电机的转动频率不必大于进行测试记录时记录信息的转动频率，可以使用比常规电机便宜的电机，因此信息记录设备较便宜。并且，在测试记录期间，主轴电机不必改变其速度，因此可减少测试记录所需的时间。
为了实现上述目的，提供根据本发明第二方面的光信息记录介质，在转动期间，以至少两种不同的线速度在该介质上记录信息信号，同时通过根据线速度的变化来改变沟道时钟周期而保持线性密度近似为常数，并在记录信息信号之前在记录介质上记录测试信号。至少以线速度v1和v2进行测试记录，其中v1表示记录信息信号时的最小线速度，v2表示记录信息信号时的最大线速度，在径向位置设置进行测试记录的区域，以使介质的转速近似为常数。
按照该介质，由于主轴电机的转动频率不必大于进行测试记录时记录信息的转动频率，可以使用比常规电机便宜的电机，因此信息记录设备较便宜。并且，在测试记录期间，主轴电机不必改变其速度，因此可减少测试记录所需的时间。
另外，提供根据本发明第二方面的另一种光信息记录介质，在以恒定速度s0转动期间，在该介质上记录信息信号，同时通过根据线速度的变化来改变沟道时钟周期而保持线性密度近似为常数，并在记录信息信号之前在记录介质上记录测试信号。该介质具有数据区，至少以线速度v1和v2进行测试记录，其中v1表示在数据区的最内侧圆周的线速度，v2表示在数据区的最外侧圆周的线速度，在径向位置设置进行测试记录的区域，以使进行测试记录时介质的转速近似等于s0。
按照该介质，由于主轴电机的转动频率不必大于进行测试记录时记录信息的转动频率，可以使用比常规电机便宜的电机，因此信息记录设备较便宜。并且，在测试记录期间，主轴电机不必改变其速度，因此可减少测试记录所需的时间。
此外，提供根据本发明第二方面的另一种光信息记录介质，在以恒定速度s0转动期间，在该介质上记录信息信号，同时通过根据线速度的变化来改变沟道时钟周期而保持线性密度近似常数，并在记录信息信号之前在记录介质上记录测试信号。该介质具有数据区，数据区被分成具有预定轨迹数量的多个区域，每个区域的扇区数量从最内部区域向最外部区域增加，在同一个区域内的线性密度相等，至少以线速度v1和v2进行测试记录，其中v1表示在最内侧圆周的线速度，v2表示在最外侧圆周的线速度，在径向位置设置进行测试记录的区域，以使进行测试记录时介质的转速近似等于s0。
按照该介质，即使是具有Z-CLV格式的介质，由于主轴电机的转动频率不必大于进行测试记录时记录信息的转动频率，可以使用比常规电机便宜的电机，因此信息记录设备较便宜。并且，在测试记录期间，主轴电机不必改变其速度，因此可减少测试记录所需的时间。
应该指出，对于上面本发明的第一和第二方面的光信息记录方法，可以使用测试记录来确定激光器功率和/或用于记录信息信号的记录脉冲波形。
此外，对于上面本发明的第一和第二方面的光信息记录介质，由于该介质可以用于以恒定线速度进行记录的设备和以恒定转速进行记录的设备，因此，最好是以恒定转速进行信息信号的记录。
为了实现上述目的，本发明第三方面的光信息记录方法包括在通过以恒定速度s0转动光信息记录介质和通过根据线速度的变化来改变沟道时钟周期而保持线速度近似为常数的同时，记录信息信号。该介质具有螺旋轨迹，在介质在预定方向转动并且激光光点已经在从内侧圆周向外侧圆周移动的情况下，在介质上从外侧圆周向内侧圆周记录信息信号。
按照该方法，能够在盘开始处实现以高数据传输率记录信息的效果。
为了实现上述目的，本发明第四方面的光信息记录方法包括在通过以恒定速度s0转动光信息记录介质和通过根据线速度的变化来改变沟道时钟周期而保持线速度近似为常数的同时，记录信息信号，在记录信息信号之前进行测试记录。该介质具有数据区，数据区被分成具有预定轨迹数量的多个区域，每个区域的扇区数量从最内部区域向最外部区域增加，在同一个区域内的线性密度相等，该介质具有螺旋轨迹，在介质在预定方向转动并且激光光点已经在从内侧圆周向外侧圆周移动的情况下，在介质上从外侧圆周向内侧圆周记录信息信号。
按照该方法，即使是具有Z-CLV格式的介质，能够从盘开始处实现以高数据传输率记录信息的效果。
在本发明的第三和第四方面的光信息记录方法中，优选的是从内侧圆周向外侧圆周的方向在区域中进行记录。
另外，在本发明的第四方面的光信息记录方法中，由于在记录信息信号时能够减少轨迹跳跃的数量，优选的是从内侧圆周向外侧圆周的方向在区域中进行记录。
此外，在本发明第四方面的光信息记录方法中，从外侧圆周向内侧圆周的方向在轨迹之间进行的跳跃最好在进行记录时在介质的每圈出现一次。
根据本发明的光信息记录方法，由于在测试记录期间主轴电机的转动频率不必大于其在信息记录期间的转动频率，可以采用比传统电机便宜的电机。结果是，信息记录设备也可以较便宜。另外，能够减少测试记录期间改变速度所需的时间，因此，可减少整个测试记录所需的时间量。
另外，根据本发明的光信息记录方法，通过使用CAV记录方法在具有从内向外侧圆周的螺旋轨迹的介质上从外侧圆周进行记录，可实现从盘的开始处以高传输率记录信息的效果。
附图说明
图1是表示本发明的实施例中描述的记录/再现设备的结构的方框图；
图2示出了本发明的实施例1中描述的光盘的格式；
图3是表示实施例1中描述的记录/再现设备的使用流程图；
图4示出了实施例1的另一个实例中描述的光盘的格式；
图5是表示实施例1的另一个实例中描述的记录/再现设备的使用流程图；
图6示出了实施例1的另一个实例中描述的光盘的格式；
图7的表示当使用实施例1的另一个实例中描述的CAV方法记录具有Z-CLV格式的盘时的参数的流程图；
图8是表示本发明实施例2中描述的激光光点在轨迹上的运动方向的示意。
图9是表示本发明实施例2的另一个实例中描述的盘上的记录方向的示意图。
具体实施方式
下面更详细地描述本发明的实施例。
(实施例1的结构)
首先，针对本发明的实施例1的光信息记录/再现方法，利用图1和图2描述进行测试记录的结构。
在本发明的实施例中，描述具有以例如最小线速度v1，最大线速度v2，和中间线速度v(在此，v＝(v1+v2)/2)的三点，通过CAV记录方法在盘上进行测试记录。
图1是本发明的该实施例中描述的信息记录/再现设备的总体结构的方框图。
参考标号1是记录/再现数据的光盘，参考标号2是控制整个记录/再现设备的系统控制电路。参考标号3是用于产生信息数据信号的调制电路，所述信息数据信号被按照记录数据二进制化，参考标号4是记录脉冲产生电路，用于根据信息数据信号产生驱动激光器的脉冲。参考标号5是激光器驱动电路，用于根据从记录脉冲产生电路输出的脉冲来调制用于驱动光头6中的激光器的电流。参考标号7是控制光盘的线速度(即转动频率)的线速度设置电路，参考标号8是用于驱动光盘1的主轴电机。参考标号9是再现信号处理电路，用于根据来自光盘1的反射光进行再现信号的波形处理，参考标号10是接收再现数据的解调电路。参考标号11是在测试记录期间发出测试码型信号的测试码型产生电路。
图2是表示本发明的该实施例中描述的光盘的结构(即，格式)的示意图。该光盘包括测试记录区22，23和23，每个测试记录区按顺序分别对应于最内侧圆周(半径r1)，中部圆周(半径r2)和最外侧圆周(半径r3)，该盘在每个测试记录区之间具有数据区21。
(实施例1的操作)
接下来，利用图1，图2和图3描述实施例1的记录/再现设备的操作。
图3是显示该实施例的操作的流程图。
在记录时，首先，在设置转速的步骤301(下文缩写为S301)，转速设置电路7控制主轴电机8的转动频率，并以转速s0转动光盘1，转速s0是在接收到来自系统控制电路2的命令之后进行信息记录的转速。在寻找操作步骤S302，光头6在光盘1上寻找最内侧圆周测试记录区22。该点的线速度是信息记录期间最小的线速度v1。测试记录区22设置在径向位置，以使在以最小速度v1进行测试记录时光盘1的转速变为等于信息记录的转速s0。
在测试记录步骤S303，系统控制电路2确定线速度的最佳记录条件。在该步骤中，系统控制电路2设置沟道(channel)时钟周期，用于记录与线速度反向关联的信息(即，在这种情况下，由于线速度是最小线速度，沟道时钟周期被设置为其最大值)。从测试码型产生电路11向记录脉冲产生电路4发送测试码型信号，激光器驱动电路5驱动光头6，然后，在光盘1上进行记录。通过使用光头6再现记录的测试码型来获得再现信号。此后，该信号在经过再现信号处理电路9和解调电路10后转成再现数据，并由系统控制电路2评估再现数据的质量。
在确定记录条件步骤S304，系统控制电路2确定使记录数据具有最好的质量的记录条件。
对于从步骤S304确定的记录条件，最好是确定：记录时激光器的发射功率等级，例如，记录功率或删除功率；记录脉冲的波形。这是由于最佳发射功率等级和记录脉冲的波形根据线速度而以高灵敏度而改变。
接下来，在寻找操作步骤S305，光头6寻找光盘1上的中部圆周测试记录区24。在测试记录步骤S306和确定记录条件步骤S307，通过以与步骤S303和S304相同的方式进行测试记录来确定在线速度v时的记录条件。
在此，本发明的关键在于在光盘1的转速等于或小于以线速度v进行测试记录时的信息记录的转速s0的径向位置设置测试记录区24。
换句话说，在本实施例中，由于v＝(v1+v2)/2，在r3≥(r1+r2)的径向位置r3设置测试记录区24。由此，由于在线速度v的测试记录的转速不超过s0，主轴电机不必具有高转速。因此，即使在测试记录时，主轴电机所需的最大转速等于或小于s0。按常规，在测试记录期间，由于转速必须等于或大于s0，因此，需要主轴电机以比信息记录更高的速度转的。另一方面，在本实施例中，可采用比常规电机便宜的主轴电机。结果是，信息记录设备也可以比较便宜。
另外，测试记录区24最好是设置在光盘1的转速等于以线速度v进行测试记录时的信息记录的转速s0。换句话说，在径向位置r3设置测试记录区24，其中r3＝(r1+r2)，以线速度v进行测试记录的转速等于前面在测试记录区22以线速度v1进行测试记录的转速。结果是，在以线速度v进行测试记录之前(即，步骤S306之前)，主轴电机8不必从s0减速，并且也不必在以线速度v确定记录条件后(即，步骤S307之后)将速度升高到s0。因此，减少了改变速度所需的时间，并可减少整个测试记录所需的时间量。
在步骤S307以线速度v确定记录条件后，光头6通过寻找操作步骤S308在光盘1上寻找最外侧圆周的测试记录区23。此处的线速度是信息记录的最大线速度v2。
与步骤S303和S304相同，在测试记录步骤S309和确定记录条件步骤S310，在以线速度v2确定记录条件之后，测试记录结束。在测试记录之后，开始光盘1上进行实际信息信号的记录。
在此，应该指出的是，在光盘1的转速等于以最大线速度v2进行测试记录时的信息记录的转速s0的径向位置设置测试记录区23。换句话说，对于CAV记录方法，不仅在光盘的最外侧圆周以最大线速度v2提供记录区，而且在靠近最外侧圆周提供测试记录区23，转速不必比s0快。因此，以与在线速度v进行测试记录的相同方式，可采用比常规主轴电机更便宜的主轴电机。结果是，信息记录设备也可以较便宜。另外，可以减少改变测试记录的速度所需的时间，并减少整个测试记录所需的时间量。
根据上述实施例，对于采用CAV记录方法的介质，在其转速等于或小于信息记录期间介质的转速的径向位置设置具有中部线速度的测试记录区。此外，在测试记录期间，在其转速等于信息记录期间介质的转速是径向位置设置具有最小线速度和最大线速度的测试记录区。从上面可以看出，可以采用比常规主轴电机更便宜的主轴电机。结果是，信息记录设备也可以较便宜。另外，可以减少改变测试记录的速度所需的时间，并减少整个测试记录所需的时间量。
(实施例1的改进1)
在上述实施例中，在数据区21的中间位置设置使用中间线速度v的测试记录区24。然而，根据介质的格式，数据区有时不能被分在中间位置。这种情况下，光盘最好具有图4所示的结构。图4的结构与上面提到的实施例(图2)之间的区别在于在靠近光盘的最外侧圆周(即径向位置r4)设置供线速度v2使用的测试记录区41。
图5给出了具有图4所示结构的实施例的操作流程图。图5的操作与上面实施例的操作之间的区别在于，在以中间线速度v进行测试记录之前(S507)，由设置转速的步骤S506将主轴电机8从速度s0减速，然后，在确定记录条件之后，由设置转速的步骤S509将速度升高到s0(S509)。
在本实施例中，虽然在以中间线速度v进行测试记录期间执行改变主轴电机8的速度的操作，该方法具有不按测试记录区划分光盘1的数据区的优点。此外，主轴电机的转速不必比s0快，因此，信息记录设备可以较便宜。该效果与上述实施例的效果相同。
应该指出，在本实施例中，以中间线速度v使用的测试记录区41和以最大线速度使用的测试记录区23是以不同的区域给出的。然而，如图6的光盘结构中所示，以最大线速度使用的测试记录区23也可以是以中间线速度使用的测试记录区。
(实施例1的改进2)
在上面的实施例中，为了在介质的整个区域上设置盘的线性密度为常数，解释了以反比例的方式使沟道时钟周期缩短、以增加线速度的CAV方法。除了本实施例之外，使用CAV记录方法记录具有Z-CLV格式的盘的方法也是可能的。下面参考图7描述该实施例。
图7示出了当应用CAV记录方法在Z-CLV格式的盘上进行记录时，沿盘半径在不同点的各种设置的变化。在本实施例中，说明将数据区分成8个区域的情况。
图7(a)示出了Z-CLV格式的盘的每个轨迹的扇区数量，并且该数量向着盘的外侧圆周的方向增加。图7(b)示出了盘的转速，该转速在整个内侧和外侧圆周被设置为常数。图7(c)示出了盘的线速度，在这种情况下，与上述实施例相同，线速度向盘的外侧圆周方向变快。图7(d)示出了信息记录期间的沟道时钟周期，在信息记录期间，每个区域的周期被设置为常数，该周期向着盘的外侧圆周方向以逐步的方式变小。由此，可以使用与Z-CLV记录方法相同的线性密度，应用CAV记录方法进行记录。
对于在使用CAV记录方法时对具有Z-CLV格式的盘的测试记录，获得了与上述实施例相同的效果。通过在介质的转速等于或小于信息记录的转速的径向位置为以中间线速度使用的区域(例如区域4或5)设置测试记录区，和通过在介质的转速等于信息记录的转速的径向位置为最小线速度使用的区域(区域1)和以最大线速度使用的区域(例如区域8)设置测试记录区来进行测试记录。由此，可以采用比常规主轴电机更便宜的主轴电机。结果是，信息记录设备可以较便宜。另外，可以减少改变测试记录的速度所需的时间，并且可以减少整个测试记录所需的时间量。
应该指出，在上述第一实施例中，以三种速度进行测试记录，例如，最小线速度，最大线速度，和中间线速度。然而，仅使用从上面选择的两种线速度进行测试记录也是可能的，对于另一种速度，利用内插或外插进行计算。作为替换，仅使用从上面选择的线速度之一进行测试记录是可能的，并估算其它速度。
(实施例2的结构和操作)
接下来，描述本发明的实施例2的结构和操作。
图8示出了在本实施例中当在光盘上进行记录/再现时激光光点在轨迹上的移动方向。参考标号801是轨迹，参考标号802是激光光点，箭头表示光点的移动方向。参考标号803表示轨迹跳动的方向。
按常规，对于其上从内侧圆周向外侧圆周形成螺旋轨迹的光盘，从盘的内侧圆周向外侧圆周开始记录。
然而，对于CAV记录方法，由于数据传输率在最内侧圆周最低(即，沟道时钟周期变得更长)，当开始在盘上记录时的记录速度最低。相反，当在盘的整个区域上记录/再现时，在靠近最外侧圆周进行记录时的记录速度最快。
因此，在本发明中，使用图8所示的方法在盘上进行记录。当开始在盘上记录时，记录在最外侧圆周从轨迹801开始。当激光光点802每圈一次跳过2个轨迹(箭头803示出了轨迹跳动)到达内侧圆周时，记录/再现则继续，可以沿从外向内侧圆周的方向使用该盘。这样能够在开始使用光盘时以更高的数据传输率进行信息记录。
另外，当在已经从内向外侧圆周形成螺旋轨迹的Z-CLV格式的盘上进行CAV记录时，可获得相同的效果。图9示出了具有Z-CLV格式的、数据区被分成8个区域的光盘的记录操作。这种情况下，在该盘开始使用时，记录在区域8的最内侧开始。在记录向区域8的最外侧进行后，激光光点通过在区域901之间跳跃寻找区域7的最内侧，然后记录再次开始。在记录向区域7的最外侧圆周进行后，激光光点通过再次在区域901之间跳跃寻找区域6的最内侧。因此，通过向盘的内圆周进行记录，可以从在该盘开始使用时以较高的数据传输率进行信息记录。
如上所述，在本实施例中，利用CAV记录方法，从具有从盘的内向外侧圆周开始的螺旋轨迹的介质的外侧圆周进行记录。这样能使该盘开始使用时，以较高的数据传输率进行信息记录。
应该指出，在本发明的第二实施例中，轨迹可以是导向槽，或导向槽之间的纹间表面(land)，或交替追踪的导向槽和纹间表面的组合。
此外，每个实施例的范围和这种区域格式，数据区和测试记录区不限于上面给出的那些内容，而是可以根据记录条件和介质设置为合适的参数。
另外，如果上面提到的光盘是具有相变材料，或磁光材料，或染色材料等的介质，并且如果热或光可以作用在盘的记录膜上，引起局部的状态改变，以致从现在具有改变的光学特性的那些部分产生记录标记，那么也可以应用上述方法。
(实例)
现在描述本发明的实施例1的更详细的例子。
对于光盘1的基片，使用直径为120mm和厚度为0.6mm的聚碳酸酯树脂。具有凹坑形状的凹坑和纹间表面预先格式化在预先作为轨迹控制区的该基片上。
利用指示由盘支持的记录线速度的信息作为标识符，在轨迹控制区上进行记录。在该实例中，该盘支持的记录线速度的范围是从8.2m/s到20.5m/s。
在树脂基片的数据区中，形成导向槽。导向槽的间距长度是1.4μm。应该指出，除了带有具有扇区的数据区的盘结构外，具有形成用来指示例如扇区之间的地址信息的相位凹坑的另一种结构也是可能的。
接下来，通过溅射法在基片上形成包括保护膜，记录膜，保护膜，和反射膜的四层，将保护基片粘接到该结构上。使用ZnS-SiO2和GeSbTe分别作为保护膜和反射膜。
在23.2mm到58.0mm的径向位置之间设置数据区，在邻接数据区的两个点，例如在内侧圆周和外侧圆周设置测试记录区。换句话说，在径向位置23.1mm到23.2mm，和58.0mm到58.1mm之间设置测试记录区。
当该盘以3375rpm的预定转动频率(即，恒定转速)转动时，在数据区的最内侧圆周(即，半径23.2mm)的线速度是8.2m/s，在最外侧圆周(即，半径58.0mm)以20.5m/s的线速度进行记录/再现。
在CAV记录方法中，通过根据线速度在内到外侧圆周上的变化来改变沟道时钟周期，在记录期间将线性密度设置为常数。在本实施例的实例中，信息调制方法采用8-16脉冲宽度调制，控制沟道时钟周期，以使最小标记长度为0.40μm。
使用该光盘，以三种速度，例如最小线速度为8.2m/s，中间线速度为12.3m/s，和最大线速度为20.5m/s进行测试记录。
在本实施例的实例的记录方法和介质中，由于在盘的最内和最外侧圆周设置测试记录区，如果在最内侧圆周使用最小线速度进行测试记录，在最外侧圆周使用中间线速度和最大线速度二者进行测试记录，在每种线速度的测试记录的转动频率如下：
在最小线速度：(8.2/(2×π×0.0231))×60＝3389rpm
在中间线速度：(12.3/(2×π×0.0580))×60＝2025rpm
在最大线速度：(20.5/(2×π×0.0580))×60＝3375rpm。正如刚指出的，主轴电机所需的最大转动频率是3389rpm。
另一方面，在常规记录方法和介质中，在位于于最内侧圆周的测试记录区中也需要以中间线速度和最大线速度进行测试记录。因此，在每种线速度的测试记录的转动频率如下：
在最小线速度：(8.2/(2×π×0.0231))×60＝3389rpm
在中间线速度：(12.3/(2×π×0.0231))×60＝5085rpm
在最大线速度：(20.5/(2×π×0.0231))×60＝8474rpm。
正如刚指出的，主轴电机所需的最大转动频率是8474rpm。
因此，在本实施例的实例中，主轴电机所需的最大转动频率大约是常规主轴电机的40％。因此，可在记录设备中使用比常规主轴电机更便宜并且具有更简单结构的主轴电机。
应该指出，在本实施例的实例中，如果在允许数据区的划分时在34.8mm至34.09mm的径向位置之间设置针对中间线速度的测试记录区，中间线速度的测试记录的转动频率如下：
(12.3/(2×π×0.0348))×60＝3375rpm。该数值几乎等于在最小线速度和最大线速度两种线速度的测试记录的转动频率。结果是，改变主轴电机的速度所需的时间几乎为零，并可减少测试记录所需的时间。
上述光信息记录方法，光信息记录设备和光信息记录介质本身可以应用于个人计算机，服务器，或记录器，并且可以获得与上述那些相同的效果。
虽然仅选择了实施例说明本发明，本领域技术人员从这些揭示可以理解，在部脱离所附权利要求定义的本发明的范围的情况下，可以做出各种变化和改进。此外，仅为了说明，而不是限制的目的提供了根据本发明的实施例的上述描述。本发明的范围由所附权利要求和其等同物定义。

Claims (38)

1.一种光信息记录方法，包括在通过转动光信息记录介质以至少两种不同的线速度在光信息记录介质上记录信息信号，同时通过根据线速度的变化来改变沟道时钟周期来保持线性密度近似为常数，和在记录信息信号之前进行测试记录，其中：
以至少一种线速度进行测试记录；和
进行测试记录时的光信息记录介质的转速等于或低于在介质上记录信息信号时的最大转速。
2.一种光信息记录方法，包括在通过以恒定速度s0转动光信息记录介质和通过根据线速度的变化来改变沟道时钟周期使线性密度接近保持恒定的同时，记录信息信号，和在记录信息信号之前进行测试记录，其中：
该介质具有数据区；
以多种线速度v进行测试记录，其中v1≤v≤v2，v1表示在数据区最内侧圆周的线速度，v2表示在数据区最外侧圆周的线速度；和
进行测试记录时，介质的转速s可以是s0或更低。
3.一种光信息记录方法，包括在通过以恒定速度s0转动光信息记录介质和通过根据线速度的变化来改变沟道时钟周期使线性密度接近保持恒定的同时，记录信息信号，和在记录信息信号之前进行测试记录，其中：
该介质具有数据区；
以至少一种线速度v进行测试记录，其中v1＜v＜v2，v1表示在数据区最内侧圆周的线速度，v2表示在数据区最外侧圆周的线速度；和
进行测试记录时，介质的转速s可以是s0或更低。
4.根据权利要求2或3所述的光信息记录方法，其中靠近数据区的最外侧圆周进行测试记录。
5.一种光信息记录方法，包括在通过以恒定速度s0转动光信息记录介质和通过根据线速度的变化来改变沟道时钟周期使线性密度接近保持恒定的同时，记录信息信号，和在记录信息信号之前进行测试记录，其中：
该介质具有数据区；
将数据区分成具有预定轨迹数量的多个区域，每个区域的扇区数量从最内区域向最外区域增加，同一个区域中的线性密度相等；
以多种线速度v进行测试记录，其中v1≤v≤v2，v1表示在最内侧圆周的线速度，v2表示在最外侧圆周的线速度；和
进行测试记录时，光信息记录介质的转速s是s0或更低。
6.一种光信息记录方法，包括在通过以恒定速度s0转动光信息记录介质和通过根据线速度的变化来改变沟道时钟周期使线性密度接近保持恒定的同时，记录信息信号，和在记录信息信号之前进行测试记录，其中：
该介质具有数据区；
将数据区分成具有预定轨迹数量的多个区域，每个区域的扇区数量从最内区域向最外区域增加，同一个区域中的线性密度相等；
以至少一种线速度进行测试记录，其中v1＜v＜v2，v1表示在最内侧圆周的线速度，v2表示在最外侧圆周的线速度；和
进行测试记录时，光信息记录介质的转速s是s0或更低。
7.根据权利要求5或6所述的光信息记录方法，其中靠近数据区的最外区域进行测试记录。
8.一种光信息记录设备，通过转动记录介质以至少两种不同的线速度在光信息记录介质上记录信息信号，以便在通过根据线速度的变化来改变沟道时钟周期使线性密度保持接近恒定的同时记录信息信号，并在记录信息信号前进行测试记录，包括：
转动控制单元，可操作用于控制光信息记录介质的转速；
测试记录单元，通过在介质上记录测试信号可操作用于确定记录条件；和
信息记录单元，可操作用于在介质上记录信息信号，其中：
测试记录单元以至少一种线速度记录测试数据；和
转动控制单元控制进行测试记录时的光信息记录介质的转速等于或低于在介质上记录信息信号时的最大转速。
9.一种光信息记录设备，通过以恒定速度s0转动光信息记录介质和通过根据线速度的变化来改变沟道时钟周期使线性密度保持接近恒定的同时，记录信息信号，并在记录信息信号前进行测试记录，包括：
转动控制单元，可操作用于控制光信息记录介质的转速；
测试记录单元，通过在介质上记录测试信号可操作用于确定记录条件；和
信息记录单元，可操作用于在介质上记录信息信号，其中：
该介质具有数据区；
测试记录单元以多种线速度v记录测试信号，其中v1≤v≤v2，v1表示在数据区最内侧圆周的线速度，v2表示在数据区最外侧圆周的线速度；和
进行测试记录时，转动控制单元控制介质的转速s等于s0或更低。
10.一种光信息记录设备，通过以恒定速度s0转动光信息记录介质和通过根据线速度的变化来改变沟道时钟周期使线性密度保持接近恒定的同时，记录信息信号，并在记录信息信号前进行测试记录，包括：
转动控制单元，可操作用于控制光信息记录介质的转速；
测试记录单元，通过在介质上记录测试信号可操作用于确定记录条件；和
信息记录单元，可操作用于在介质上记录信息信号，其中：
该介质具有数据区；
测试记录单元以至少一种线速度v进行测试记录，其中v1＜v＜v2，v1表示在数据区最内侧圆周的线速度，v2表示在数据区最外侧圆周的线速度；和
进行测试记录时，转动控制单元控制介质的转速s等于s0或更低。
11.根据权利要求9或10所述的光信息记录设备，其中测试记录单元靠近数据区的最外侧圆周记录测试信号。
12.一种光信息记录设备，通过以恒定速度s0转动光信息记录介质和通过根据线速度的变化来改变沟道时钟周期使线性密度保持接近恒定的同时，记录信息信号，并在记录信息信号前进行测试记录，包括：
转动控制单元，可操作用于控制光信息记录介质的转速；
测试记录单元，通过在介质上记录测试信号可操作用于确定记录条件；和
信息记录单元，可操作用于在介质上记录信息信号，其中：
该介质具有数据区；
将数据区分成具有预定轨迹数量的多个区域，每个区域的扇区数量从最内侧区域向最外侧区域增加，在同一个区域中的线性密度相等；
测试记录单元以多种线速度v记录测试信号，其中v1≤v≤v2，其中v1表示在最内侧圆周的线速度，v2表示在最外侧圆周的线速度；和
进行测试记录时，转动控制单元控制介质的转速s等于s0或更低。
13.一种光信息记录设备，通过以恒定速度s0转动光信息记录介质和通过根据线速度的变化来改变沟道时钟周期使线性密度保持接近恒定的同时，记录信息信号，并在记录信息信号前进行测试记录，包括：
转动控制单元，可操作用于控制光信息记录介质的转速；
测试记录单元，通过在介质上记录测试信号可操作用于确定记录条件；和
信息记录单元，可操作用于在介质上记录信息信号，其中：
该介质具有数据区；
将数据区分成具有预定轨迹数量的多个区域，每个区域的扇区数量从最内侧区域向最外侧区域增加，在同一个区域中的线性密度相等；
测试记录单元以至少一种线速度v记录测试信号，其中v1＜v＜v2，其中v1表示在最内侧圆周的线速度，v2表示在最外侧圆周的线速度；和
进行测试记录时，转动控制单元控制介质的转速s等于s0或更低。
14.根据权利要求12或13所述的光信息记录设备，其中测试记录单元靠近数据区的最外侧圆周记录测试信号。
15.一种光信息记录介质，在转动期间，以至少两种不同的线速度在该介质上记录信息信号，同时通过根据线速度的变化来改变沟道时钟周期而保持线性密度近似为常数，并在记录信息信号之前在记录介质上记录测试信号，其中：
以至少一种线速度进行测试记录；和
在径向位置设置进行测试记录的区域，以使进行测试记录时介质的转速等于或小于在介质上记录信息信号时的最大转速。
16.一种光信息记录介质，在以恒定速度s0转动期间在记录介质上记录信息信号，同时通过根据线速度的变化来改变沟道时钟周期而保持线性密度近似为常数，并在记录信息信号之前在记录介质上记录测试信号，其中：
该介质具有数据区；
以至少一种线速度v进行测试记录，其中v1＜v＜v2，v1表示在数据区的最内侧圆周的线速度，v2表示在数据区的最外侧圆周的线速度；和
在径向位置设置进行测试记录的区域，以使在进行测试记录时介质的转速s等于或低于在介质上记录信息信号时的恒定转速s0。
17.根据权利要求16所述的光信息记录介质，其中靠近数据区的最外侧圆周设置进行测试记录的区域。
18.根据权利要求17所述的光信息记录介质，其中以线速度v和线速度v2进行测试记录，在靠近数据区的最外侧圆周设置以线速度v2进行测试记录的区域。
19.一种光信息记录介质，在以恒定速度s0转动时在记录介质上记录信息信号，同时通过根据线速度的变化来改变沟道时钟周期而保持线性密度近似为常数，并在记录信息信号之前在记录介质上记录测试信号，其中：
该介质具有数据区；
数据区被分成具有预定轨迹数量的多个区域；
每个区域的扇区数量从最内部区域向最外部区域增加，同一个区域中的线性密度相等；
以至少一种线速度v进行测试记录，其中v1＜v＜v2，v1表示在最内侧圆周的线速度，v2表示在最外侧圆周的线速度；和
在径向位置设置进行测试记录的区域，以使在进行测试记录时介质的转速s等于或低于在介质上记录信息信号时的恒定转速s0。
20.根据权利要求19所述的光信息记录介质，其中靠近数据区的最外侧圆周设置进行测试记录的区域。
21.根据权利要求20所述的光信息记录介质，其中以线速度v和线速度v2进行测试记录，在靠近数据区的最外侧圆周设置以线速度v2进行测试记录的区域。
22.一种光信息记录方法，包括通过转动介质以至少两种不同的线速度在光信息记录介质上记录信息信号，通过根据线速度的变化来改变沟道时钟周期而保持线性密度近似为常数的同时，记录信息信号，在记录信息信号之前进行测试记录，其中：
至少以线速度v1和v2进行测试记录，v1表示记录信息信号时的最小线速度，v2表示记录信息信号时的最大线速度；和
在进行测试记录时，介质的每个转速近似为常数。
23.一种光信息记录方法，包括通过以恒定速度s0转动光信息记录介质和通过根据线速度的变化来改变沟道时钟周期而在保持线性密度近似为常数的同时，记录信息信号，在记录信息信号之前进行测试记录，其中：
该介质具有数据区；
至少以线速度v1和v2进行测试记录，其中v1表示在数据区的最内侧圆周的线速度，v2表示在数据区的最外侧圆周的线速度；和
进行测试记录时，介质的每个转速近似等于s0。
24.一种光信息记录方法，包括通过以恒定速度s0转动光信息记录介质和通过根据线速度的变化来改变沟道时钟周期而在保持线性密度近似为常数的同时，记录信息信号，在记录信息信号之前进行测试记录，其中：
该介质具有数据区；
数据区被分成具有预定轨迹数量的多个区域，每个区域的扇区数量从最内部区域向最外部区域增加，在同一个区域内的线性密度相等；
至少以线速度v1和v2进行测试记录，其中v1表示在最内侧圆周的线速度，v2表示在最外侧圆周的线速度；和
进行测试记录时，介质的每个转速近似等于s0。
25.一种光信息记录设备，通过转动光信息记录介质以至少两种不同的线速度在光信息记录介质上记录信息信号，通过根据线速度的变化来改变沟道时钟周期来记录信息信号而使线性密度保持接近恒定的同时，记录信息信号，并在记录信息信号前进行测试记录，包括：
转动控制单元，可操作用于控制光信息记录介质的转速；
测试记录单元，通过在介质上记录测试信号可操作用于确定记录条件；和
信息记录单元，可操作用于在介质上记录信息信号，其中：
测试记录单元至少以线速度v1和v2进行测试记录，其中v1表示记录信息信号时的最小线速度，v2表示记录信息信号时的最大线速度；和
在进行测试记录时，转动控制单元控制光信息记录介质的每个转速近似为常数。
26.一种光信息记录设备，通过以恒定速度s0转动光信息记录介质和通过根据线速度的变化来改变沟道时钟周期使线性密度保持接近恒定的同时，记录信息信号，并在记录信息信号前进行测试记录，包括：
转动控制单元，可操作用于控制光信息记录介质的转速；
测试记录单元，通过在介质上记录测试信号可操作用于确定记录条件；和
信息记录单元，可操作用于在介质上记录信息信号，其中：
该介质具有数据区；
测试记录单元至少以线速度v1和v2记录测试记录，其中v1表示在数据区最内侧圆周的线速度，v2表示在数据区最外侧圆周的线速度；和
在进行测试记录时，转动控制单元控制光信息记录介质的每个转速近似等于s0。
27.一种光信息记录设备，通过以恒定速度s0转动光信息记录介质和通过根据线速度的变化来改变沟道时钟周期使线性密度保持接近恒定的同时，记录信息信号，并在记录信息信号前进行测试记录，包括：
转动控制单元，可操作用于控制光信息记录介质的转速；
测试记录单元，通过在介质上记录测试信号可操作用于确定记录条件；和
信息记录单元，可操作用于在介质上记录信息信号，其中：
该介质具有数据区；
数据区被分成具有预定轨迹数量的多个区域，每个区域的扇区数量从最内部区域向最外部区域增加，在同一个区域内的线密度相等；
测试记录单元至少以线速度v1和v2记录测试信号，其中v1表示在最内侧圆周的线速度，v2表示在最外侧圆周的线速度；和
在进行测试记录时，转动控制单元控制介质的每个转速近似等于s0。
28.一种光信息记录介质，在转动期间，以至少两种不同的线速度在该介质上记录信息信号，同时通过根据线速度的变化来改变沟道时钟周期而保持线性密度近似为常数，并在记录信息信号之前在记录介质上记录测试信号，其中：
至少以线速度v1和v2进行测试记录，其中v1表示记录信息信号时的最小线速度，v2表示记录信息信号时的最大线速度；
在径向位置设置进行测试记录的区域，以使介质的转速近似为常数。
29.一种光信息记录介质，在以恒定速度s0转动时，在该介质上记录信息信号，同时通过根据线速度的变化来改变沟道时钟周期而保持线性密度近似为常数，并在记录信息信号之前在记录介质上记录测试信号，其中：
该介质具有数据区；
至少以线速度v1和v2进行测试记录，其中v1表示在数据区的最内侧圆周的线速度，v2表示在数据区的最外侧圆周的线速度；和
在径向位置设置进行测试记录的每个区域，以使进行测试记录时介质的转速近似等于s0。
30.一种光信息记录介质，在以恒定速度s0转动期间，在该介质上记录信息信号，同时通过根据线速度的变化来改变沟道时钟周期而保持线性密度近似常数，并在记录信息信号之前在记录介质上记录测试信号，其中：
该介质具有数据区；
数据区被分成具有预定轨迹数量的多个区域，每个区域的扇区数量从最内部区域向最外部区域增加，在同一个区域内的线性密度相等；
至少以线速度v1和v2进行测试记录，其中v1表示在最内侧圆周的线速度，v2表示在最外侧圆周的线速度；和
在径向位置设置进行测试记录的每个区域，以使进行测试记录时介质的转速近似等于s0。
31.根据权利要求1-7或22-24中的任何一项所述的光信息记录方法，其中通过进行测试记录来确定用于记录信息信号的激光器功率。
32.根据权利要求1-7或22-24中的任何一项所述的光信息记录方法，其中通过进行测试记录来确定用于记录信息信号的记录脉冲波形。
33.根据权利要求15-21或28-30中的任何一项所述的光信息记录方法，其中还以恒定线速度进行信息信号的记录。
34.一种光信息记录方法，包括在通过以恒定速度s0转动光信息记录介质和通过根据线速度的变化来改变沟道时钟周期而保持线速度近似为常数的同时，记录信息信号，其中：
该介质具有螺旋轨迹；和
在介质在预定方向转动并且激光光点已经在从内侧圆周向外侧圆周移动的情况下，在介质上从外侧圆周向内侧圆周记录信息信号。
35.根据权利要求34所述的光信息记录方法，其中在记录时，在从外侧圆周向内侧圆周的方向，在介质每转动一圈出现一次轨迹之间的跳跃。
36.一种光信息记录方法，包括在通过以恒定速度s0转动光信息记录介质和通过根据线速度的变化来改变沟道时钟周期而保持线速度近似为常数的同时，记录信息信号，在记录信息信号之前进行测试记录，其中：
该介质具有数据区；
数据区被分成具有预定轨迹数量的多个区域，每个区域的扇区数量从最内部区域向最外部区域增加，在同一个区域内的线性密度相等；
该介质具有螺旋轨迹；和
在介质在预定方向转动并且激光光点已经在从内侧圆周向外侧圆周移动的情况下，在介质上从外侧圆周向内侧圆周记录信息信号。
37.根据权利要求36所述的光信息记录方法，其中在记录时，在从外侧圆周向内侧圆周的方向，介质每转动一圈出现一次轨迹之间的跳跃。
38.根据权利要求36所述的光信息记录方法，其中在从内侧圆周向外侧圆周的方向上，在区域中进行记录。
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