CN1551222A - 具有为读写放大器产生电压之电压产生电路的集成存储器 - Google Patents
具有为读写放大器产生电压之电压产生电路的集成存储器 Download PDFInfo
- Publication number
- CN1551222A CN1551222A CNA2004100334437A CN200410033443A CN1551222A CN 1551222 A CN1551222 A CN 1551222A CN A2004100334437 A CNA2004100334437 A CN A2004100334437A CN 200410033443 A CN200410033443 A CN 200410033443A CN 1551222 A CN1551222 A CN 1551222A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- reading
- writing amplifier
- generator circuit
- tool
- voltage generator
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/4063—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
- G11C11/407—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
- G11C11/409—Read-write [R-W] circuits
- G11C11/4091—Sense or sense/refresh amplifiers, or associated sense circuitry, e.g. for coupled bit-line precharging, equalising or isolating
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/06—Sense amplifiers; Associated circuits, e.g. timing or triggering circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C2207/00—Indexing scheme relating to arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C2207/06—Sense amplifier related aspects
- G11C2207/065—Sense amplifier drivers
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Dram (AREA)
- Static Random-Access Memory (AREA)
Abstract
一种集成存储器包含存储单元阵列,其具字线(WL0至WL2)及位线(BL0、BL1),及亦具读写放大器,其系连接于该位线以进行存取及放大数据信号的目的。一种电压产生器电路(VG1、VG2)产生施用于该读写放大器(SA)的供电电压,一种电位差使用不同供电电位被施用于该读写放大器,该电压产生器电路在该读写放大器(SA)的存取及放大操作期间增加施用于该读写放大器的该电位差一段有限时间期间(T)。电荷相依控制,根据此其可使用经订定量的电荷产生增加的电位差,被实施于该电压产生器电路。结果,使得一种存取及放大操作可在相当高的切换速度及低功率消耗进行。
Description
技术领域
本发明系关于具存储单元阵列的集成存储器,其具字线以选择存储单元及具位线以读取或写入数据信号,及亦具读写放大器,读写放大器系连接于位线以进行存取及放大数据信号的目的。进一步提供电压产生器电路以产生施用于该读写放大器的供电电压。
背景技术
一种集成存储器,例如以DRAM的型式,一般具包括字线及位线的存储单元阵列。在此情况下,该存储单元被排列于该位线及该字线的交叉点。该存储单元特别是由储存电容器及选择晶体管制造,该选择晶体管连接该个别储存电容器至该位线的其中一个,该个别选择晶体管的控制终端个别连接至该字线的其中一个以进行选择存储单元的目的。主动的字线个别地开启连接的选择晶体管。在相关字线已被选择后,沿该经选择字线的该存储单元的数据信号存在于相对应位线。该经选择存储单元的数据信号在该存储单元阵列的读写放大器被存取及放大。在读取存取期间,该经选择存储单元的数据信号被读取以进一步处理,及在写入存取期间,要被写入的该数据信号被被写至该经选择存储单元。
在存储器存取期间,字线首先被活化,结果,沿该字线排列的该存储单元经由相关选择晶体管被个别传导地连接至位线,在此情况下,所储存电荷根据该存储单元电容及位线电容被分割,根据这两电容的比值(一般称的转换比率),此导致位线电压的偏差。位于位线一端的读写放大器存取此电压及放大该相当低的电位差直到该位线已达到储存逻辑1(对应于如正供电电位)的全信号位准或是逻辑0(对应于如参考电位)的信号位准,这些全信号位准系由电压产生器电路提供,此电压产生器电路系连接至该相关读写放大器。
存储器的供应电压的值被固定的减少,特别是以可靠性及低能量消耗的持续增加需求之观点。在该减少过程中,现代集成存储器调节外部施用的供应电压至在该存储器内的较小供应电压。另一方面,存储器的较高处理速度及较高数据产出为需求的,特别是因为增加的存储器尺寸。然而,特别是关于集成存储器的读写放大器的供电电压,为减少功率消耗的较小供应电压亦产生相关读写放大器的切换速度之降低亦为真,若用于存取及放大操作的读写放大器使用该较低供应电压活化。
发明内容
本发明系基于订定一种集成存储器的目的,其中存取及放大操作系由在相当高切换速度的读写放大器进行,及其中,低功率消耗为可行。
此目的可藉由根据权利要求第1项的集成存储器达到。
根据本发明,所提及型式的集成存储器之电压产生器电路先产生应用于读写放大器的供电电压,电位差使用不同供电电位被施用于该读写放大器。在该读写放大器的存取及放大操作期间,该电压产生器电路增加应用于该读写放大器的电位差一段有限时间。根据本发明,应用于该读写放大器的增加电位差因而使得对切换速度为关键性的该读写放大器的存取及放大操作的部份为可进行的,且结果为可得到该读写放大器的相当高切换速度。在同时,因对其余时间期间所施用电位差为相当低的结果,该集成存储器的功率消耗被降低。
根据本发明的一个具体实施例,在该读写放大器的存取及放大操作期间,该电压产生器电路增加在该读写放大器的第一端点的第一供电电位及/或减少在该读写放大器的第二端点的第二供电电位。
根据本发明,电荷相依控制,根据此其可使用经订定量的电荷产生增加的电位差,被实施于该电压产生器电路,此表示增加的电位差在相关的的存取及放大操作前藉由被充电的经订定电容以电荷控制方式被施用于读写放大器,该电容接着在存取及放大操作期间被再次放电。
本发明的进一步有利设计及发展被订定于子权利要求。
附图说明
本发明参考图式更详细解释于下,这些图式表示用于本发明的示例具体实施例及被说明于图式中,其中:
第1图显示根据本发明集成存储器的存储单元阵列之图标说明,
第2图显示根据本发明读写放大器的供电电压之电位数据,
第3图显示具读写放大器的电压产生器电路之具体实施例,与相关信号图,及
第4图显示根据本发明具读写放大器的电压产生器电路之具体实施例,及相关信号图。
具体实施方式
第1图显示集成存储器M的存储单元阵列之图标说明,其中存储单元MC沿字线WL0、WL1、WL2及位线BL0、BL1排列,该存储单元MC被排列于该位线BL0、BL1及该字线WL0、WL1、WL2的交叉点。在本示例具体实施例中,因清晰缘故,仅有限数目的字线及位线被示出,但实际上集成存储器具许多字线及位线。每一个存储单元MC包括储存电容C,其经由选择晶体管AT被连接至该位线BL0、BL1的其中一个,为选择该存储单元MC的其中一个,个别选择晶体管AT由活化的字线WL0、WL1、WL2开启,结果为数据信号可被接着由经选择存储单元被读取,或是写至经选择存储单元。该经选择存储单元的数据信号存在于该相关位线BL0、BL1且在该说明的读写放大器SA0、SA1的其中一个被存取及放大。
在自该存储单元的其中一个读取数据信号的操作期间,经储存电荷根据该存储单元电容及位线电容被分割,根据这两电容的比值,此导致该位线电压的偏差,该读写放大器SA0、SA1存取此位线电压,及当读取该存储单元时,放大该相当低的电位差直到该相关位线已达到储存逻辑1(对应于如正供电电位V1)的全信号位准或是逻辑0(对应于如该供电电位V2)的信号位准,该供电电位V1及V2系由电压产生器电路产生(未说明于第1图),且结果为相对应电位差存在于该感应放大器SA0、SA1。
第2图显示根据本发明原则,示于第1图的读写放大器SA0、SA1的供电电压之电位数据。在存取及放大操作开始时,该供电电位V1=Vb1h及V2=gnd+V存在于该读写放大器SA0、SA1。此在该供电电位V1及V2间的相当低的电位差使得该存储器的相当低功率消耗为可行。为在该读写放大器的存取及放大操作期间增加切换速度,在瞬时t1及t2间的时间期间T,增加的电位差被施用于示于第1图的该相关读写放大器SA0、SA1,在此实例,更精确地说于V1=Vb1h+V及V2=gnd。所以,在此情况下,在该读写放大器SA0、SA1的存取及放大操作期间,在该相关读写放大器的上方端点的供电电位V1被增加及在该相关读写放大器的下方端点的供电电位V2被减少。
第3图显示具读写放大器SA的电压产生器电路之具体实施例,其中电路时间控制被实施,根据此,该电位差在订定时间期间被增加。该电压产生器电路VG1(第3A图)具脉冲成形器PF,其驱动PFET晶体管P1及NFET晶体管N1,该晶体管P1及N1系分别连接至该供电电位Vb1h+V及gnd。该两晶体管P1、N1分别以信号/P及P驱动,其关于彼此为倒反。相反地,该PFET晶体管P2系连接至该供电电位Vb1h及该NFET晶体管N2系连接至该供电电位gnd+V。根据第3A图所示的说明,该电压产生器电路VG1的两供应路径SP1、SP2被据此提供用于该读写放大器SA,该供应路径具不同的电位差。
第3B图说明信号图,示于第3A图该电压产生器电路VG1根据此被操作。对该感应放大器SA的存取及放大操作(开始于瞬时t1),该脉冲成形器PF的控制信号SET被切换至该主动状态。结果,该脉冲成形器PF产生主动信号P,其开启该晶体管N1,该晶体管P1由倒反信号/P开启。具订定时间期间T的控制脉冲P或/P据此在该读写放大器SA的存取及放大操作开始时被产生,该控制脉冲驱动具该较高电位差的供应路径SP1。在存取及放大操作结束前,该控制脉冲P在瞬时t2被去活化及该控制信号NSET及PSET被活化以进行分别驱动该晶体管N2及P2的目的,且结果为该第二供应路径SP2的较低电位差存在于该读写放大器SA。
第4A图显示根据本发明具读写放大器SA的电压产生器电路VG2之具体实施例,电荷相依控制,根据此其可使用经订定量的电荷于该感应放大器SA产生增加的电位差,被实施于第4A图所示的该电压产生器电路VG2。如同第3A图所示的具体实施例,于第4A图所示的该电压产生器电路VG2具用于该读写放大器SA的两供应路径SP1、SP2,该供应路径可以不同的电位差操作。如同第3A图所示的相对应供应路径,于第4A图所示的供应路径SP1、SP2可以时间彼此交替地驱动及可连接至该读写放大器SA。分别连接至该供电电位gnd及gnd+V的电容C1、C2被连接至该供应路径SP1,其意欲为该读写放大器SA提供较高的电位差,该电容C1、C2可经由PFET晶体管P4及NFET晶体管N4分别连接至该读写放大器SA。该晶体管P4及N4分别由该脉冲成形器PF的控制脉冲P或/P驱动。分别连接至该供电电位Vb1h+V及gnd的该PFET晶体管P3及该NFET晶体管N3被提供用于充电及放电该电容C1、C2的目的。该晶体管P3由控制脉冲P驱动及该晶体管N3由倒反控制脉冲/P驱动。该读写放大器SA可经由该第二供应路径SP2的PFET晶体管P5连接至该供电电位Vb1h及经由该NFET晶体管N5连接至该供电电位gnd+V。
第4B图显示信号图以操作示于第4A图的该电压产生器电路VG2。在由该读取放大器SA的存取及放大操作开始,该控制信号SET在瞬时t1被活化以驱动该脉冲成形器PF。该电容C1、C2藉由该脉冲信号P、/P在时间期间T连接至该读写放大器SA及在此状态被放电(C1)及充电(C2)。在该读写放大器SA的存取及放大操作结束前,该控制脉冲P在瞬时t2被去活化及该晶体管P5及N5由该控制信号NSET、PSET开启。而且,该晶体管P3及N3被开启,结果为该电容C1、C2为下一个存取及放大操作被分别放电及充电。在由该读取放大器SA的下一个存取及放大操作的情况下,该电容接着由该脉冲成形器PF的新的控制脉冲P,/P在该存取及放大操作开始时被连接。结果,该增加的电位差由与一段经定的时间期间的增加供应隔离的先前预充电电容提供,因该电容C1、C2的电荷仅使用相当低的电位差被倒反,该读取放大器SA的功率消耗被限制。
参考符号清单:
M 集成存储器
WL0、WL1、WL2 字线
BL0、BL1 位线
MC 存储单元
AT 选择晶体管
C 储存电容
SA0、SA1 读写放大器
V1、V2 供电电位
Vb1h、Vb1h+V 供电电位
gnd、gnd+V 供电电位
t1、t2 瞬时
T 时间期间
VG1、VG2 电压产生器电路
SP1、SP2 供应路径
PF 脉冲成形器
SA 读写放大器
P1至P5 晶体管
N1至N5 晶体管
P、/P 控制脉冲
SET 控制信号
NSET、PSET 控制信号
C1、C2 电容
Claims (5)
1.一种集成存储器
-具一种存储单元阵列,其具字线(WL0至WL2)以选择存储单元(MC)及具位线(BL0、BL1)以读取或写入数据信号,
-具读写放大器(SA、SA0、SA1),其系连接于该位线(BL0、BL1)以进行存取及放大数据信号的目的,
-具电压产生器电路(VG1、VG2)以产生施用于该读写放大器(SA)的供电电压,一种电位差使用不同供电电位(Vb1h、gnd+V)被施用于该读写放大器,
-其中该电压产生器电路(VG1、VG2)在该读写放大器(SA)的存取及放大操作期间增加施用于该读写放大器的该电位差(Vb1h+V、gnd)一段有限时间期间(T),
-其中电荷相依控制(PF、C1、C2、P3、P4、N3、N4),根据此其可使用经订定量的电荷产生增加的电位差,被实施于该电压产生器电路(VG2)。
2.根据权利要求第1项的集成存储器,
其中
在该读写放大器(SA)的存取及放大操作期间,该电压产生器电路(VG1、VG2)增加在该读写放大器的第一端点的第一供电电位(V1)及/或减少在该读写放大器的第二端点的第二供电电位(V2)。
3.根据权利要求第1或2项的集成存储器,
其中
该电压产生器电路(VG2)具该读写放大器(SA)的两供应路径(SP1、SP2),该供应路径具不同的电位差且它们可以时间彼此交替地驱动及可被连接至该读写放大器。
4.根据权利要求第3项的集成存储器,
其中
连接至个别供电电位(gnd、gnd+V)的至少两电容(C1、C2)被连接至该供应路径(SP1),其具较高的电位差,在此情况下,该电容可在一段有限时间期间(T)被连接至该读写放大器(SA)及在此状态被充电及放电。
5.根据权利要求第4项的集成存储器,
其中
具较高的电位差的该供应路径(SP1)系由脉冲成形器(PF)驱动,其产生控制脉冲(P、/P)以在该读写放大器(SA)的存取及放大操作开始时进行连接该电容(C1、C2)的目的。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE10316581.9 | 2003-04-10 | ||
DE10316581A DE10316581B4 (de) | 2003-04-10 | 2003-04-10 | Integrierter Speicher mit einer Spannungsgeneratorschaltung zur Erzeugung einer Spannungsversorgung für einen Schreib-Lese-Verstärker |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN1551222A true CN1551222A (zh) | 2004-12-01 |
CN100401421C CN100401421C (zh) | 2008-07-09 |
Family
ID=33103319
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CNB2004100334437A Expired - Fee Related CN100401421C (zh) | 2003-04-10 | 2004-04-09 | 具有为读写放大器产生电压的电压产生电路的集成存储器 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7068546B2 (zh) |
CN (1) | CN100401421C (zh) |
DE (1) | DE10316581B4 (zh) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN108877864A (zh) * | 2017-05-16 | 2018-11-23 | 爱思开海力士有限公司 | 半导体存储装置及其操作方法 |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101761432B1 (ko) | 2009-11-06 | 2017-07-25 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 반도체 장치 |
US8792284B2 (en) | 2010-08-06 | 2014-07-29 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Oxide semiconductor memory device |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4156938A (en) * | 1975-12-29 | 1979-05-29 | Mostek Corporation | MOSFET Memory chip with single decoder and bi-level interconnect lines |
US5416743A (en) * | 1993-12-10 | 1995-05-16 | Mosaid Technologies Incorporated | Databus architecture for accelerated column access in RAM |
JPH09147557A (ja) * | 1995-11-17 | 1997-06-06 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体記憶装置および半導体装置 |
US5767737A (en) * | 1996-08-09 | 1998-06-16 | Mosel Vitelic | Methods and apparatus for charging a sense amplifier |
JP3742191B2 (ja) * | 1997-06-06 | 2006-02-01 | 株式会社東芝 | 半導体集積回路装置 |
JP2000348488A (ja) * | 1999-06-08 | 2000-12-15 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体記憶装置 |
JP2001273796A (ja) * | 2000-03-29 | 2001-10-05 | Nec Microsystems Ltd | センスアンプ回路 |
JP2002083942A (ja) * | 2000-09-06 | 2002-03-22 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 半導体集積回路装置 |
-
2003
- 2003-04-10 DE DE10316581A patent/DE10316581B4/de not_active Expired - Fee Related
-
2004
- 2004-04-02 US US10/815,856 patent/US7068546B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2004-04-09 CN CNB2004100334437A patent/CN100401421C/zh not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN108877864A (zh) * | 2017-05-16 | 2018-11-23 | 爱思开海力士有限公司 | 半导体存储装置及其操作方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE10316581A1 (de) | 2004-11-04 |
US20040223376A1 (en) | 2004-11-11 |
CN100401421C (zh) | 2008-07-09 |
DE10316581B4 (de) | 2010-04-22 |
US7068546B2 (en) | 2006-06-27 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5373463A (en) | Ferroelectric nonvolatile random access memory having drive line segments | |
US8194432B2 (en) | Ferroelectric memory device for adjusting the capacitor of a bit line | |
US8559253B2 (en) | Variable-resistance memory device with charge sharing that discharges pre-charge voltage of a selected bit line to share charge with unselected bit lines | |
CN1086836C (zh) | 半导体存储器装置及其驱动装置 | |
US6154387A (en) | Semiconductor memory device utilizing a polarization state of a ferroelectric film | |
EP0528352B1 (en) | Semiconductor memory device | |
US20120106251A1 (en) | Flash memory device configured to switch wordline and initialization voltages | |
CN1459795A (zh) | 具有板线控制电路的铁电存储器件及其操作方法 | |
CN101329899B (zh) | 使用多个电源电压的半导体器件 | |
JPH10302469A (ja) | 半導体記憶装置 | |
US6654274B2 (en) | Ferroelectric memory and method for driving the same | |
CN1433026A (zh) | 包含能产生足够恒定延时信号的延时电路的半导体存储器 | |
CN1825474A (zh) | 具有快速列存取的随机存取存储器 | |
JPH11238388A (ja) | 半導体記憶装置 | |
JP2680007B2 (ja) | 半導体メモリ | |
US6906945B2 (en) | Bitline precharge timing scheme to improve signal margin | |
CN1161788C (zh) | 具有双晶体管/双电容型存储单元的集成存储器 | |
CN1551222A (zh) | 具有为读写放大器产生电压之电压产生电路的集成存储器 | |
JPH04155694A (ja) | 半導体記憶装置 | |
EP1071093A2 (en) | Semiconductor memory | |
US6700811B1 (en) | Random access memory device and method for driving a plate line segment therein | |
US6927994B2 (en) | Ferroelectric memory device | |
CN102290096A (zh) | 静态随机存取存储器的译码和逻辑控制电路 | |
US20090003041A1 (en) | Semiconductor memory device and read method thereof | |
CN1510692A (zh) | 包括写保护区的非易失性存储器件 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
C14 | Grant of patent or utility model | ||
GR01 | Patent grant | ||
C17 | Cessation of patent right | ||
CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |
Granted publication date: 20080709 |