CN1530938A - 光盘记录方法及光盘记录系统 - Google Patents

Abstract

存储以最佳记录功率记录的可重写光盘的串扰量，然后在将数据重写到该可重写光盘上时，再现记录于可重写光盘上的数据，然后检测再现信号的串扰量，并将此串扰量与参考串扰量进行比较。由于串扰量的特征在于这种串扰量随着凹坑宽度变厚即随着记录功率增大而增加，通过比较串扰量可以检测记录功率值。结果，利用该特征将两个数据的串扰量相互比较，然后响应比较的结果来改变诸如擦除功率、记录功率等记录条件，以便重写数据。

Description

光盘记录方法及光盘记录系统

技术领域

本发明涉及一种光盘记录方法及一种光盘记录系统，用于在可重写光盘上重写数据时，通过再现记录于该光盘上的原有数据来推测记录条件，然后在响应再现信号而应用记录条件的同时，记录该数据。

背景技术

作为可重写光盘，存在有CD-RW、DVD-RW、DVD+RW、DVD-RAM等等。根据其各自的制造商，这些盘的记录特征各不相同，并且即使使用了相同的制造者制造的可重写光盘，其记录特征也会根据其各自的类型而各不相同。当将数据写到可重写光盘上时，通常，通过检测记录于该光盘上的可重写光盘识别信息(盘ID)，并利用OPC(最佳功率控制：最佳记录功率确定操作)确定该可重写光盘的最佳记录功率值，光盘记录系统调整允许获得最佳记录质量的记录质量，然后执行数据写入(例如参考专利文献1)。

专利文献1

JP-A-11-7645

然而，在专利文献1所述的光盘系统中，如果将数据重写在由其它光盘系统记录了数据的光盘上，然后再现数据，则存在着这种抖动恶化以及差错率增大的问题。

下面给出了出现这种问题的原因。也就是说，尽管光盘记录系统根据其各自的制造者或类型而具有不同的记录条件，专利文献1所述的光盘系统将数据记录在光盘上，同时使自身系统的设备标识信息与可重写光盘的盘标识信息相关。因此，在将数据重写到在其上通过另一个光盘记录系统已经记录了数据的光盘上的情况下，如果不应用OPC，就不能获得最佳记录功率。即使在通过执行OPC检测到最佳记录功率值之后记录数据，在某些情况下还是不能很好地擦除原有的数据，这是因为现在的光盘记录条件不同于用于记录原有数据的光盘记录系统的光盘记录条件。

由于照射到可重写光盘上的激光束的诸如记录功率、擦除功率、底部功率(bottom power)等各种设置会根据各自的制造者或各自的类型而有所不同，因此，该光盘记录系统表现出了下列特征。图1A和1B是分别示出了重写次数和可重写光盘抖动之间的关系、以及在以不同记录功率重写光盘时的抖动变化的曲线图。在这种情况下，图1A和1B示出了以不同记录功率将数据连续重写到同一类型可重写光盘上的情况。将记录功率的幅度设为P2w＜P0w＜P1w，且P0w是最佳记录功率。

(1)响应照射激光束的记录功率，可重写光盘具有在再现时的不同的抖动值和重写可执行次数。换句话说，如图1A所示，在以最佳记录功率P0w对可重写光盘进行记录的情况下，最初抖动发生恶化，然而这种抖动随着重写次数的增加而逐渐得到改善。然后，在执行了大约10次重写之后，这种抖动随后稳定，但在重写次数超过1000次之后，抖动突然恶化。结果，在以最佳记录功率P0w记录可重写光盘的情况下，用户能够重写1000次，这是橙皮书(Orange Book)第三部分所定义的可重写次数。

在以强于最佳记录功率P0w的记录功率P1w记录可重写光盘的情况下，即使在重写次数还很小时，抖动也很稳定且没有恶化，并且与最佳记录功率P0w大不相同，抖动始终在改善。然而，在重写次数小于1000次时，光盘老化加速且抖动突然恶化。结果，由于在以记录功率P1w记录可重写光盘的情况下缩短了可重写光盘的寿命，用户只能重写与1000次相比相当小的次数。

相反，在以弱于最佳记录功率P0w的记录功率P2w记录可重写光盘的情况下，表现出了与最佳记录功率P0w情况下相似的特征，然而，这时的抖动值始终比最佳记录功率P0w的情况要差。当执行重写1000次或更多次时，光盘老化变慢且抖动恶化。结果，由于在以记录功率P2w记录可重写光盘的情况下延长了可重写光盘的寿命，用户能够重写超过1000次。

(2)在以一定记录功率将数据记录于可重写光盘上，然后以不同记录功率重写数据的情况下，抖动是变化的。换句话说，如图1B所示，在按照P2w＜P0w＜P1w的关系设置照射到光盘的激光束记录功率情况下，当以记录功率P2w将数据记录到可重写光盘上，然后以记录功率P0w(＞P2w)重写数据时，抖动得到了改善。当以记录功率P0w将数据记录到可重写光盘上，然后以相同记录功率P0w重写时，抖动不发生变化。相反，当以记录功率P1w将数据记录到可重写光盘上，然后以记录功率P0w(＜P1w)重写数据时，抖动发生恶化。

(3)在照射激光束具有相同的光斑形状的情况下，当记录功率增强时，形成于可重写光盘上的凹坑的宽度变宽。图2A至2C示出了形成于可重写光盘上的凹坑形状。例如，如图2A至2C所示，在按照P2w＜P0w＜P1w的关系设置照射到光盘的激光束记录功率的情况下，凹坑的宽度随着记录功率的增强而增大，各个凹坑的宽度具有W2＜W0＜W1的关系。当按照P2e＜P0e＜P1e的关系设置照射到光盘的激光束擦除功率的情况下，擦除区域随着擦除功率的增大而变宽。

在图2A和2C所示的示例中，如果将激光束的擦除功率设为P2e或更大，能够很好地擦除通过以记录功率P2w照射激光束而形成的凹坑。即，以擦除功率P2e、P0e或P1e能够擦除该凹坑。如果将激光束的擦除功率设置为P0e或者更大，则可以很好地擦除通过以记录功率P0w照射激光束而形成的凹坑。即，可以以擦除功率P0e或P1e来擦除该凹坑，而以擦除功率P2e不能够很好地擦除这样的凹坑，并且其侧端部仍然保留。此外，如果将激光束的擦除功率设为P1e或更大，能够很好地擦除通过以记录功率P1w照射激光束而形成的凹坑。即，以擦除功率P1e能够擦除凹坑，但是以擦除功率P2e或P0e不能很好地擦除这种凹坑并且其侧端部仍然会保留。

因此，在通过不同于用来记录原有数据的光盘记录系统的光盘记录系统重写可重写光盘的情况下，会产生下列现象。图3A和3B是示出了当重写可重写光盘时的情况的图像视图。即，如图3A所示，在以记录功率P2w记录可重写光盘，然后通过以擦除功率P0e及记录功率P0w(＞P2w)照射激光束来重写数据的情况下，由擦除功率P0e的激光束能够很好地擦除通过以记录功率P2w照射激光束而形成的原始凹坑。因此，以记录功率P2w形成的凹坑一点也不保留。当凹坑通过以记录功率P0w照射激光束形成时，如图1B所示，当以记录功率P0w照射激光束时，抖动的情况很好。因此，抖动得到改善并且差错率减小。

相反，如图3B所示，在以记录功率P1w记录可重写光盘，然后通过以擦除功率P0e和记录功率是P0w(＜P1w)照射激光束来重写可重写光盘的情况下，通过以擦除功率P0e照射激光束不能很好地擦除通过以记录功率是P1w照射激光束而形成的原始凹坑，并且其侧端部仍然保留。这是因为擦除功率P0e的激光束具有较窄的擦除区域。由于通过以记录功率P0w照射激光束而形成的凹坑比通过以记录功率P1w照射激光束而形成的凹坑具有更窄的宽度，因此形成了在原始凹坑的侧端部和新形成凹坑之间的重叠部分。结果，抖动发生恶化并且差错率增大。

某制造商或模型类型的光盘记录系统具有其自身的写策略设置。图4是这种可重写光盘的写策略的示例。此外，通常，通过设置写策略可以控制可重写光盘的激光功率。在这种情况下，当更改固件(firmware)形式时，同时改变写功率Pw、擦除功率Pe以及底部功率Pb，或者改变其中的任意一个。在这种方式中，如果改变了写功率Pw、擦除功率Pe以及底部功率Pb中至少任意一个，则即使在同一光盘记录系统中，也不能很好擦除先前所记录的数据，并且凹坑的末端部分仍然保留。因此，抖动发生恶化并且差错率增大。

光盘记录系统中照射到光盘的激光束的光斑形状根据光盘记录系统的各自制造者而各不相同。图5A到5D示出了来自光盘记录系统的激光束的光斑形状、以及形成于可重写光盘上的凹坑形状。如图5A至5D所示，在可重写光盘是CD-RW的情况下，在A公司、B公司及C公司制造的系统中，该光盘记录系统的光斑形状分别设置为沿光斑前进方向的横向较长椭圆、垂向较长椭圆以及倾斜方向较长椭圆。在可重写光盘是DVD-RW、DVD+RW或DVD-RAM的情况下，呈现出了圆、垂直椭圆、横向椭圆以及倾斜椭圆作为其光盘记录系统的光斑形状。

在这种趋势下，如图5A至5D所示，由于激光束的光斑形状不同，形成于可重写光盘上的凹坑形状(宽度)根据光盘记录系统的各个制造者而不同。因此，在由另一个制造者的光盘记录系统将数据重写在其上通过某制造商的光盘记录系统记录了数据的可重写光盘上的情况下，即使分别将记录功率和擦除功率设置为相同值，还是会出现与参考图3B所述相同的现象。换句话说，在通过照射具有图5A所示光斑形状的激光束将数据记录于可重写光盘D上，然后通过照射具有图5B所示光斑形状的激光束重写数据的情况下，原有凹坑的端部没有被擦除并仍然保留。因此，抖动发生恶化，并且差错率增加。相反，在通过照射具有图5B所示光斑形状的激光束将数据记录于可重写光盘D上，然后通过照射具有图5A所示光斑形状的激光束来重写数据的情况下，能够很好地擦除原有的凹坑。因此，抖动得到改善且降低了差错率。

在这种光盘记录系统中，通常，在记录速度发生变化之后能够形成具有相同宽度(形状)的凹坑，并且当重写数据时，设置记录功率和擦除功率，以便很好地擦除原有的数据。然而，当记录速度不同时，由于可重写光盘或激光二极管的材料变化，因此所形成凹坑的宽度(形状)会变得不同。出于此原因，在某些情况下，当重写数据时，不能很好地擦除以前形成的凹坑。例如，当将数据以标准速度重写到其上以四倍速度记录了数据的可重写光盘上时，则不能很好地擦除以四倍速度记录的凹坑，从而有时抖动会发生恶化且差错率增大。

如上所述，在现有技术的光盘记录系统中，照射到可重写光盘上的激光束的诸如记录功率、擦除功率、底部功率、写策略以及光斑形状等记录条件会根据制造者、模型类型、固件形式、记录速度等而有所不同。根据记录条件，可重写光盘具有不同的记录特征。因此，在由另一光盘记录系统将数据重写在其上由某光盘记录系统记录了数据的可重写光盘的情况下，既不能很好地擦除可重写光盘上形成的凹坑，也不能形成新的凹坑来覆盖原有的凹坑。结果，抖动发生恶化且差错率增大。

发明内容

因此，本发明的目的是提供一种光盘记录方法及一种光盘记录系统，即使当由另一个光盘记录系统重写由某光盘记录系统记录的可重写光盘时，能够记录数据而不会使抖动恶化并能够得到较低的差错率。

为了克服上述问题，本发明具有以下结构。

(1)一种光盘记录方法，包括步骤：

通过再现原有数据或根据再现波形，获得记录于可重写光盘上的原有数据的记录条件；

确定重写记录条件以将新数据重写到在原有数据的记录条件下记录的原有数据上；以及

根据所确定的重写记录条件将新数据重写到原有数据上。

(2)根据(1)的光盘记录方法，其中，当指示将新数据重写到记录于可重写光盘上的原有数据上时，获得原有数据的记录条件。

(3)一种光盘记录方法，包括步骤：

从记录于可重写光盘上的原有数据的再现波形中检测串扰量；

根据检测到的串扰量来设置记录条件；以及

根据记录条件来重写新数据。

(4)根据(3)所述的光盘记录方法，其中，当指示将新数据重写到记录于可重写光盘上的原有数据上时，检测串扰量。

(5)根据(3)所述的光盘记录方法，其中，响应检测到的串扰量和参考串扰量之间的差值，设置记录条件。

(6)根据(5)所述的光盘记录方法，其中，通过将尝试写入应用于可重写光盘上的尝试写入区域来确定最佳记录功率，并根据以最佳记录功率记录的数据的再现波形来检测参考串扰量。

(7)一种光盘记录方法，包括步骤：

获取记录于可重写光盘上的原有数据再现信号的峰到峰值；

根据峰到峰值来设置记录条件；以及

根据记录条件来重写新数据。

(8)根据(7)所述的光盘记录方法，其中，当指示将新数据重写到记录于可重写光盘上的原有数据上时，获取所述峰到峰值。

(9)根据(7)所述的光盘记录方法，其中，通过将尝试写入应用于可重写光盘上的尝试写入区域上来确定最佳记录功率，并响应以最佳记录功率记录的数据的再现信号的峰到峰值与原有数据的再现信号的峰到峰值之间的差值来设置记录条件。

(10)一种光盘记录方法，包括步骤：

在以预定量改变照射于可重写光盘的尝试写入区域的激光功率的同时，应用所述的尝试写入；

根据尝试写入数据的再现信号来确定最佳记录功率；

根据以最佳记录功率记录的数据的再现信号的峰值和谷值，获取第一峰到峰值；

根据记录于可重写光盘上的原有数据的再现信号的峰值和谷值，获取第二峰到峰值；以及

响应所述第一和第二峰到峰值之间的差值，校正照射到可重写光盘上激光束的擦除功率，并通过应用校正后的擦除功率来重写新数据。

(11)根据(10)所述的光盘记录方法，其中，当指示将新数据重写到记录于可重写光盘上的原有数据上时，应用所述的尝试写入。

(12)一种光盘记录系统，包括：

再现单元，用于再现记录于可重写光盘上的数据；

串扰检测单元，用于从再现单元的再现波形中检测串扰量；

记录条件设置单元，用于根据由串扰检测单元检测到的串扰量，设置记录条件；以及

记录单元，用于根据由记录条件设置单元所设置的记录条件，将新数据重写到原有的数据上。

(13)一种光盘记录系统，包括：

再现单元，用于再现记录于可重写光盘上的数据；

包络检测单元，用于获取再现单元的再现信号的峰到峰值；

记录条件设置单元，用于根据包络检测单元获取的所述幅度的峰到峰值，设置记录条件；以及

记录单元，用于根据记录条件设置单元所设置的记录条件，将新数据重写到原有的数据上。

附图说明

图1A和1B是分别示出了重写次数和可重写光盘抖动之间的关系以及在以不同记录功率重写光盘时抖动的变化的曲线图。

图2A至2C是示出了形成于可重写光盘上的凹坑形状的视图。

图3A和3B是示出了当重写可重写光盘时的情况的图像视图。

图4是可重写光盘的写策略的示例。

图5A至5D是示出了来自光盘记录系统的激光束的光斑形状以及形成于可重写光盘上的凹坑形状。

图6是示出了根据本发明实施例的光盘记录系统结构的框图。

图7是示出了光盘的区域结构的截面图。

图8A和8B是示出了记录区域和再现光斑之间关系的示意图。

图9是示出了串扰检测电路细节的方框图。

图10A和10B是当光拾取器移动时输出的信号以及串扰量定义的波形图。

图11是在根据第一实施例的光盘记录系统中，说明检测串扰量的操作的流程图。

图12A至12C是示出了以不同记录功率记录的凹坑以及各个凹坑的再现波形的图。

图13A至13C是再现信号的图案，其中再现了在图12A所示条件下记录的凹坑3T至11T。

图14是示出了包络检测电路细节的方框图。

图15是在根据第二实施例的光盘记录系统中，说明检测PP值的操作的流程图。

具体实施方式

下面对将数据重写到作为可重写光盘的实例的CD-RW上的情况进行说明。首先，将对根据本发明实施例的光盘记录系统的细节进行说明。图6是示出了根据本发明实施例的光盘记录系统结构的框图。在本实施例中，这种结构示出了使用激光束作为照射到光盘上的光束。如图6所述，光盘记录系统1包括光拾取器10、主轴电动机11、RF放大器12、伺服电路13、ATIP检测电路14、解码器15、控制部分16、编码器17、策略电路18、激光驱动器19、激光功率控制电路20、频率产生器21、串扰检测电路22、包络检测电路23、再现信号质量检测电路24、存储部分25、操作部分27以及显示部分28。由光拾取器10、伺服电路13、编码器17、策略电路18、激光驱动器19以及激光功率控制电路20构成作为数据记录单元的记录部分29。此外，由光拾取器10和RF放大器12构成作为数据再现单元的再现部分30。

主轴电动机11是用于旋转/驱动作为数据记录目标的光盘D的电动机。向主轴电动机的旋转轴的顶端部分设置用于固定(夹住)光盘的回转台等光盘固定装置(未示出)。

光拾取器10包括激光二极管、诸如透镜、反射镜等的光学系统、返回光(反射光)接收单元以及聚焦伺服机构等。在记录和重现时，将激光束照射到光盘D上，然后接收来自光盘D的返回光，并将作为经过了EFM(八到十四调制)的接收光信号的RF信号输出到RF放大器12。在这种情况下，该聚焦伺服机构是用于使光拾取器10的透镜与光盘的数据表面之间的距离保持恒定的伺服机制。光拾取器10有监控(monitor)二极管。由来自光盘D的返回光在监控二极管中产生电流，并且将该电流提供给激光功率控制电流20。

频率产生器21检测从主轴电动机11输出的旋转角或旋转数，然后将该信号输出到伺服电路13。

RF放大器放大由光拾取器10提供的EFM调制RF信号，然后将放大的RF信号输出到伺服电路13、ATIP检测电流14、串扰检测电路22、包络检测电路23、用于测量再现信号质量的再现信号质量检测电路24、以及解码器15。

在再现操作中，解码器15EFM解调由RF放大器12提供的EFM调制后的RF信号以产生再现的数据，然后将该数据输出到存储部分25。在记录操作中，解码器15在再现其中由测试记录记录了数据的区域时，对由RF放大器12提供的RF信号进行EFM解调。

在根据本实施例的光盘记录系统1中，当记录数据时，在进行正常数据记录之前，将测试记录应用于光盘D的内圆周侧的PCA(功率校准区)区域。然后，根据此测试记录区域的再现结果，产生允许较好地记录到光盘上的记录条件。

现在，参考图7对其中应用了测试记录的光盘D的区域进行说明。图7是示出了光盘区域结构的示意图。该光盘D的外直径是120mm。沿着光盘D直径方向的46mm至50mm部分准备作为导入区域114，而在导入区域114的外圆周侧准备了用于记录数据的节目区域118以及保留区域120。相反，在导入区域114的内圆周侧准备了内圆周侧PCA区域112。在PCA区域112的内圆周侧准备了测试区域112a和计数区域112b。如上所述，在正常记录之前，将测试记录应用于测试区域112a。这里，准备将可能多次应用测试记录的区域，作为测试区域112a。将表示在测试记录结束时记录到测试区域112a的哪一部分被完成的EFM信号记录于计数区域112b上。因此，在下一次将测试记录应用于该光盘D时，通过检测在计数区域112b中的EFM信号，可以知道应当从测试区域112a的哪一位置开始该测试记录。在本实施例的光盘记录系统1中，在执行正常的数据记录之前将测试记录应用于上述测试区域112a中。

返回图6，存储部分25已经存储了从解码器15输出的光盘D的再现数据、从光盘记录系统1的外部输入的数据等。然后，在播放时，将存储的数据输出到数据再现部分(未示出)，而当将数据记录到记录光盘上时，将所存储的数据输出到编码器17。

ATIP检测电路14提取出包含于RF放大器12提供的RF信号中的摆动(wobble)信号成分，然后对包含于该摆动信号成分中的各个位置的时间信息(地址信息)、用于识别该光盘的标识信息(盘ID)、以及指示诸如盘中所使用的颜料的盘类型的信息进行解码，然后将这些信息输出到控制部分16。这里，摆动信号成分单元是表示记录光盘系统中的摆动记录轨道的摆动频率的信号成分。通过对摆动频率进行FM调制，记录时间信息、标识信息等。

串扰检测电路22再现记录于光盘上的数据，并根据具体情况，在旋转光盘的同时，检测来自相邻轨道的信号量(串扰量)。这种串扰根据轨道间距和凹坑宽度(形状)而变化。

为了在将测试记录应用到光盘D之前，检测应当从光盘D的测试区域112a的哪一部分开始，包络检测电路23检测光盘D的上述计数区域112b中的EFM信号的包络。

当再现光盘D的测试记录区域的同时，再现信号质量检测电路24根据由RF放大器12提供的RF信号，计算与再现信号质量相关的β值和不对称性，然后将计算得到的结果输出到控制部分16。可以通过β＝(a+b)/(a-b)来计算β值，其中a是经过EFM调制的信号波形的峰值电平(符号是+)，而b是其中的谷值电平(符号是-)。

伺服电路13执行主轴电动机11的旋转控制以及光拾取器10的聚焦控制、跟踪控制以及进给控制。在根据本实施例的光盘记录系统1中，在进行记录时可以在CAV(恒定角速度)系统和CLV(恒定线速度)系统之间进行切换，其中CAV和CLV分别作为以恒定角速度驱动光盘D的系统和以恒定线速度驱动光盘D的系统。因此，伺服电路13响应由控制部分16提供的控制信号，切换CAV系统和CLV系统。现在，在由伺服电路13进行的CAV控制中，控制了由频率产生器21检测到的主轴电动机11的旋转数，使其与设置的旋转数一致。在伺服电路13进行的CLV控制中，控制主轴电动机11，从而将由RF放大器12提供的RF信号中的摆动信号设置为速度的倍数。

编码器17对由存储部分25提供的记录数据进行EFM调制，然后将该数据输出到策略电路18。策略电路18将时间基准校正处理等应用于由编码器17提供的EFM信号，然后将结果信号输出到激光驱动器19。激光驱动器19响应由策略电路18提供的记录数据以及激光功率控制电路20的控制，按照调制的信号驱动光拾取器10中的激光二极管。

激光功率控制电路20控制由光拾取器10中的激光二极管照射的激光功率。更具体地，激光功率控制电路20按照应当根据由光拾取器10中监控二极管提供的电流值以及由控制部分16提供的用于指示最佳激光功率目标值的信息，从光拾取器10中照射出具有最佳激光功率的激光束的方式，控制激光驱动器19。

控制部分16由CPU、ROM、RAM等组成，并且根据存储于其ROM中的程序来控制光盘记录系统1的各个部分。如上所述，控制部分16控制系统的各个部分，从而如上所述，在正常的数据记录之前，将测试记录应用于光盘记录系统1中所设置的光盘DDD的预定区域。然后，在控制部分16中，根据由再现信号质量检测电路24从通过再现上述测试记录区域所获得的信号中检测到的诸如β值等再现信号的质量，通过检测再现信号的质量和系统记录参数(记录条件)例如目标β值、写策略等之间的关系，将用于确定可记录速度的记录速度确定过程应用于已经由光盘记录系统1应用了测试记录的光盘D，该记录速度确定过程允许无记录差错的较好记录。

存储部分25存储每一模型类型的可重写光盘的参考串扰量CT0。设置操作部分27以执行将数据记录到光盘上的操作。设置显示部分28以显示诸如由操作部分27执行的、应当传送给用户的操作内容之类的内容。

第一实施例

下面将对根据本发明第一实施例的光盘记录系统进行说明。图8A和8B是示出了记录区域和再现光斑之间关系的示意图，其中图8A示出了以最佳记录功率记录的区域和再现光斑之间的关系，而图8B示出了以高于最佳记录功率的功率记录的区域和再现光斑之间的关系。如图8A所示，当以最佳功率记录数据时，适当地形成了凹坑(通过将激光束照射到可重写光盘上，使记录层处于非晶态的部分)的宽度。因此，由于当光斑位于平地(land)时凹坑所造成的影响很小，所以反射光的信号电平减少也较小。在按照这种方式以最佳记录功率来记录数据的情况下，在某一轨道的再现过程中，其它轨道几乎不施加影响(串扰量)。相反，如图8B所示，当以高于最佳功率的功率记录数据时，凹坑的宽度变厚。因此，由于当光斑位于平地时凹坑对光斑的影响变大，所以反射光的信号电平进一步减小。在这种方式下，在该可重写光盘中，凹坑的宽度根据记录功率而变得不同，并且串扰量也相应地不同。

因此，在根据本发明第一实施例的光盘记录系统中，提前存储在该可重写光盘的最佳记录功率处所产生的串扰量，然后当要将数据重写到该可重写光盘上时，通过再现记录于可重写光盘上的数据来检测这种再现信号中的串扰量，然后将此串扰量与参考串扰量进行比较。如上所述，由于串扰量的特征在于串扰量随着凹坑宽度变厚，即随着记录功率增强而增大，因此，通过相互比较串扰量来检测记录功率值是可行的。在根据本发明第一实施例的光盘记录系统中，使用此特征将两个数据的串扰量相互比较，然后响应比较的结果，改变诸如擦除功率、记录功率等之类的记录条件(例如，将这些条件改变为与记录原有数据的光盘记录系统的记录条件相同)，以便重写数据。结果，当通过不同于记录原有数据的光盘记录系统的光盘记录系统来重写数据时，能够很好地擦除原有的数据，因而能够防止抖动的恶化并能够减小差错率。

由于记录条件根据串扰量的比较结果而变化，当将数据重写到可重写光盘上时，可以改变光盘记录系统照射到该可重写光盘上的激光束擦除功率，从而能够不失败地擦除要经过重写的原有数据。通过改变诸如由OPC等得到的记录功率、底部功率(偏置功率)、ε(擦除功率/记录功率)、写策略、记录功率校正值等条件，可以如同原始光盘记录系统那样来重写(擦除和记录)数据。

在这种情况下，在用于记录原有数据的光盘记录系统的记录功率弱于用于重写数据等的光盘记录系统的记录功率的情况下，必须增加擦除功率和记录功率。因此，加快了可重写光盘和光盘记录系统1中激光二极管的老化。因此，在这种情况下，当将数据重写到可重写光盘上时，可以响应原有数据的串扰值，增加照射到可重写光盘上的激光束的擦除功率，然后可以使用在光盘记录系统中作为其自身初始值设置的值来重写数据，而无需改变记录功率。因此，可以抑制可重写光盘和光盘记录系统1中激光二极管的老化。

在用于重写数据的光盘记录系统的记录功率强于用于记录原有数据等的光盘记录系统的记录功率的情况下，可以以其初始擦除功率和记录功率对数据进行重写，而不改变初始值

图9是示出了串扰检测电路细节的方框图。图10A和10B是光拾取器移动时输出的信号以及串扰量定义的波形图。在光盘记录系统1中，如上所述，由串扰检测电路22检测串扰值。如图9所示，该串扰检测电路22由低通滤波器(LPF)31、谷值保持电路(B/H)32、峰值保持电路(P/H)33以及计算电路34构成。

低通滤波器31使RF放大器12中输出信号的高频成分截止，并将低频分量输出到谷值保持电路32和峰值保持电路33。谷值保持电路32保持从低通滤波器31中输出的信号的谷值A并将其输出。峰值保持电路33保持从低通滤波器31输出的信号的峰值B并将其输出。计算电路34通过使用从谷值保持电路32输出的谷值A及从峰值保持电路33输出的峰值B执行操作，从而计算串扰量。

在串扰检测电路22，执行以下所述的处理。如图10A所示，当在旋转光盘的同时移动了光拾取器时，从RF放大器12输出信号I。信号I是其电平在其中反射系数相对于镜像电平较低的凹坑部分中减小的信号。凹坑信号(EFM)是一种高频信号。凹坑信号的谷值电平在平地或凹槽的重复周期处被增大或缩小，并且电平的增大/减小以预定的周期出现在其峰值信号上。图10A中实线表示的包络给出了当再现以最佳记录功率记录的部分时得到的包络，而图10A中虚线表示的包络给出了当再现以高功率记录的部分时得到的包络。

在信号通过低通滤波器31之后，RF放大器12输出的信号I变为图9所示的信号II。信号II是信号I的较低包络信号，并且在凹槽中处于最低电平，在平地上处于最高电平。谷值保持电路32将从低通滤波器31输出的信号II的最低电平进行谷值保持为A电平并获取该电平。峰值保持电路33将低通滤波器31输出的信号II的最高电平进行峰值保持为B电平并获取该电平。计算电路34利用从谷值保持电路32输出的谷值A及从峰值保持电路33输出的峰值B执行运算B/A，以便计算串扰电平。

在光盘记录系统1中，执行如下所述的处理以便将数据重写到可重写光盘上。图11是用于说明在根据第一实施例的光盘记录系统中检测串扰量的操作的流程图。

首先，在将数据记录于CD-RW上的情况下，用户将CD-RW放置于光盘记录系统1的盘托上。光盘记录系统的控制部分16检测到光盘已设置(s1)，然后夹住该CD-RW，之后，将光拾取器移动到预定位置上，并通过照射激光束获取光盘的初始信息(s2)。更具体地，首先控制部分16确定激光束的反射率以识别光盘的类型。此时，如果光盘的反射率较低，则可以确定该光盘是可重写光盘(CD-RW)，而如果如果光盘的反射率较高，则该光盘是一次写入光盘(CD-R)或只读(不可记录)光盘(CD-ROM)。控制部分16检测设置在光盘记录系统1中光盘的导入区域内是否存在摆动成分，并当存在摆动信息时，检测ATIP信息。如果检测到ATIP信息，则将光盘确定为可重写或一次写入光盘，然后在各个控制中使用包含于ATIP信息中的诸如盘ID(制造者代码)、STLT(导入区的开始时间：等同于制造者代码和盘代码)等信息。在这种方式下，控制部分16根据反射率和ATIP信息，确定对应于可重写、写一次以及只读光盘中的哪一个。控制部分16从ATIP信息中获取光盘的盘ID。

然后，控制部分16在显示部分28上显示用于询问应用到由用户设置的CD-RW的处理的内容(s3)。用户响应该显示，输入要应用于所设置的CD-RW的处理。如果控制部分16检测到来自操作部分27的输入(s4)，并且如果设置了数据再现(s5)，则该控制部分16执行数据再现处理(s6)。当数据再现完成时，控制部分16结束此处理。

相反，如果设置了数据记录(s5)，控制部分16确定该记录操作是初始记录或重写(s7)。更具体地，控制部分16确定在导入区和PMA中是否存在EFM信号，然后，如果在这两个区域或导引区中没有记录EFM信号，则将该记录操作确定为初始记录。在CD-RW是空白盘或处于记录过程中的情况下，在第一次时，将数据记录于光盘D的未记录区。因此，控制部分16通过执行PCA中的OPC，确定最佳记录功率(s8)。然后，控制部分16在CD-RW上记录数据或一次写入数据(s9)，然后结束处理。

相反，在步骤s7，如果EFM信号记录于CD-RW的导入区或PMA中，则控制部分16确定应当执行重写，然后再现记录于该可重写光盘上的原有数据(s11)。如果控制部分16从串扰检测电路22中获得了记录于可重写光盘上的数据的串扰量CT1(s12)，则该控制部分16从存储部分25中读取参考串扰量CT0(S13)。然后，控制部分16计算CT1CT0(s14)。如果计算的结果超过了0，则控制部分16改变记录条件。例如，控制部分16通过将参考擦除功率P0e和参考记录功率P0w与CT1/CT0和预定枚举(enumeration)相乘来执行校正，然后设置这些校正值(s16)然后，控制部分16以校正后的擦除功率和校正后的记录功率将数据重写到可重写光盘上(s18)，并且当记录完成时，结束此处理。

相反，如果CT1-CT0的计算结果小于0(s15)，则控制部分16将记录条件设置为在该光盘记录系统1中所设置的初始值。换句话说，控制部分16将擦除功率和记录功率设置为参考擦除功率P0e和参考记录功率P0w(s17)，然后将数据重写到可重写光盘上(s18)，然后当数据记录完成时，结束此处理。

这里，如上所述，可以针对每一种模型类型的可重写光盘，将参考串扰量CT0记录于存储部分25。可以如下所述来计算该参考串扰量CT0。即，当光盘记录系统重写数据时，通过执行OPC确定最佳记录功率，然后再现以该最佳记录功率记录的测试数据，以便计算串扰量的值，然后此值设置为参考串扰量。然后，如上所述，可以通过再现记录于可重写光盘上的原有数据来检测数据的串扰量CT1，然后可以响应CT1-CT0的差值，确定记录条件。如果这样做，则会略微增加确定记录条件所需的时间，然而，即使此可重写光盘是新售出的光盘，也可以迅速确定此可重写光盘的最佳记录条件而无需更新固件等。

第二实施例

接下来，将对根据本发明第二实施例的光盘记录系统进行说明。图12A至12C是以不同记录功率记录的凹坑以及各个凹坑的再现波形的视图。在图12A中，凹坑a是通过由比最佳策略短的策略以高于最佳记录功率的记录功率记录的凹坑。凹坑b是由最佳策略以最佳记录功率记录的凹坑。凹坑c是通过比最佳策略长的策略以低于最佳记录功率的记录功率记录的凹坑。如图12A所示，凹坑a、凹坑b及凹坑c的宽度具有Wa＞Wb＞Wc的关系，且凹坑a、凹坑b及凹坑c的长度具有La＜Lb＜Lc的关系。如图12B所示，当再现各个凹坑时，随着凹坑宽度的变厚，与再现束斑尺寸相关的这样产生的再现信号的峰到峰值(以下称之为“PP值”)增加得越大。然而，如图12C所示，当对各个再现信号二进制编码时，它们全都给出相同的信号。

图13A至13C是再现信号的图案，其中再现了在图12A所示条件下记录的凹坑3T至11T。下文中将这种再现信号的图案称为“眼图”。图13A示出了通过比最佳策略短的策略以高于最佳记录功率的记录功率记录的凹坑的再现信号的眼图。图13B示出了通过最佳策略、以最佳记录功率记录的凹坑的再现信号的眼图。图13C示出了通过比最佳策略长的策略以低于最佳记录功率的记录功率记录的凹坑的再现信号的眼图。如图13A至13C所示，可以理解的是，当沿着中心波形线(waveline)分割这些眼图时，在所有条件下这些再现信号都是相等的，但是，随着记录功率增大，作为眼图开口的PP值变大。即，将图13A至13C中所示各个眼图的PP值之间的关系给出为PPa＞PPb＞PPc。

因此，在根据本发明第二实施例的光盘记录系统中，当将数据重写到可重写光盘上时，通过将OPC应用于可重写光盘，检测最佳记录功率，然后计算以最佳记录功率记录的数据的PP值。通过再现记录于可重写光盘上的要被重写的原有的数据来检测PP值，然后将此PP值与以最佳记录功率记录的数据的PP值进行比较。如上所述，由于PP值的特征在于这种PP值随着记录功率变大而增大，因此这种PP值的比较能够检测记录功率值。在根据本发明第二实施例的光盘记录系统中，通过使用此特征将两个数据的PP值(眼图的开口)相互进行比较，响应比较的结果来改变诸如擦除功率、记录功率等记录条件(例如，将记录条件改变为与通过其记录了原有数据的光盘记录系统的记录条件相同的记录条件)，以便重写数据。结果，由于当利用与通过其记录了原有数据的光盘记录系统不同的光盘记录系统来重写数据时，能够很好地擦除原有数据，因此能够避免抖动的恶化并能够减小差错率。

由于根据串扰量的比较结果来改变记录条件，当将数据重写到可重写光盘上时，可以改变光盘记录系统照射到可重写光盘上的激光束的擦除功率，从而能够确保擦除正受到重写的原有数据。通过改变诸如由OPC获得的记录功率、底部功率(偏置功率)、ε(擦除功率/记录功率)、写策略、记录功率校正值等条件，可以如同原始光盘记录系统那样重写(擦除和记录)数据。

在这种情况下，在用于记录原有数据的光盘记录系统的记录功率弱于用于重写数据等的光盘记录系统的记录功率的情况下，必须增大擦除功率和记录功率。所以，加快了可重写光盘和光盘记录系统1中激光二极管的老化。因此，在这种情况下，当将数据重写到可重写光盘上时，可以响应原有数据的PP值，增大照射到可重写光盘的激光束的擦除功率，然后可以使用在光盘记录系统中作为其自身初始值设置的值来重写数据，而不改变记录功率。结果，可以抑制可重写光盘和光盘记录系统1中激光二极管的老化。

图14是示出了包络检测电路细节的框图。在光盘记录系统1中，由包络检测电路23检测再现信号的PP值。如图14所示，该包络检测电路23由AC耦合器41、谷值保持电路(B/H)42、峰值保持电路(P/H)43以及计算电路(OP放大器)44组成。

AC耦合器41使RF放大器12中输出信号的DC成分截止，然后将AC成分输出到谷值保持电路42和峰值保持电路43。谷值保持电路42保持从AC耦合器41中输出的信号的谷值A(位于低电平侧的峰值)，然后将其输出。峰值保持电路43保持从AC耦合器41中输出的信号的峰值B(位于高电平侧的峰值)，并将其输出。计算电路44利用从谷值保持电路42中输出的谷值及从峰值保持电路43中输出的峰值执行计算，从而计算PP值。在包络检测电路23中，用于执行上述处理的各个电路协同工作，以检测记录于可重写光盘上的原有数据的再现信号的眼图的PP值。

在光盘记录系统1中，当重写数据时，检查在其上已经记录了数据的凹坑的记录条件中的记录功率是否高于最佳记录功率。如参考图3A和3B所说明的那样，这是因为在某些情况下，如果在重写时没有适当地设置记录条件，则不能充分地擦除原有数据，。因此，在光盘记录系统1中，通过以再现功率电平将光束照射到作为重写对象的轨道记录凹坑上来获得再现信号。在包络检测电路23中，在从RF放大器12输出的再现信号通过AC耦合器41之后，由谷值保持电路42保持谷值，而由峰值保持电路保持峰值，然后，根据这些值之间的差值计算PP值(眼图开口信号)，并输出到控制部分16。

可以在OPC时刻获取在其上以最佳记录功率记录了数据的记录区域的PP值，或者可以在另一时机获得该值。控制部分16根据两个PP值之间的差值，确定哪一个眼孔图案的开口更大，并响应该差值，使擦除功率最佳。如果在作为重写对象的区域中的眼图较大，则执行控制以增大擦除功率。

接下来，将说明当根据本发明第二实施例的光盘记录系统将数据重写到可重写光盘上时所应用的处理。图15是说明在根据第二实施例的光盘记录系统中用于检测PP值的操作的流程图。

如图15所示，首先，在将数据记录于CD-RW上的情况下，用户将CD-RW置于光盘记录系统1的盘托上。光盘记录系统1的控制部分16检测到光盘已设置(s21)，然后夹住该CD-RW，之后，将光拾取器移动到预定位置上，并通过照射激光束获取光盘的初始信息(s22)。更具体地，首先，控制部分16确定激光束的反射率，以识别该光盘的类型。此时，如果光盘的反射率较低，则可以确定该光盘是可重写光盘(CD-RW)，而如果如果光盘的反射率较高，则该光盘是一次写入光盘(CD-R)或只读(不可记录)光盘(CD-ROM)。控制部分16检测在光盘记录系统1中所设置的光盘的导入区域内是否存在摆动成分，如果存在摆动信息，检测ATIP信息。如果检测到ATIP信息，则将光盘确定为可重写或一次写入光盘，然后在各个控制中使用包含于ATIP信息中的诸如盘ID(制造者代码)、STLI(导入区开始时间：等同于制造者代码和盘代码)等信息。在这种方式下，控制部分16根据反射率和ATIP信息，确定光盘对应于可重写、一次写入和只读光盘中的哪一个。控制部分16从ATIP信息中获取光盘的盘ID。

然后，控制部分16在显示部分28上显示用于询问应用于由用户设置的CD-RW的处理的内容(s23)。用户响应此显示，输入要应用于所设置的CD-RW的处理。如果控制部分16检测到来自操作部分27的输入(s24)并且如果设置了数据再现(s25)，则此控制部分16执行数据再现处理(s26)。当数据再现完成时，控制部分16结束此处理。

相反，如果设置了数据记录(s25)，控制部分16确定该记录操作是初始记录或者重写(s27)。更具体地，控制部分16确定在导入区和PMA中是否出现了EFM信号，然后如果在两个区域或在导入区中没有记录EFM信号，则将该记录操作确定为初始记录。在CD-RW是空白盘或处于记录过程中的情况下，在第一次时，将数据记录于光盘D的未记录区。因此，控制部分16通过在PCA中执行OPC来确定最佳记录功率(s28)。然后，控制部分16在CD-RW上记录该数据或一次写入数据(s29)，然后结束该处理。

相反，在步骤s27，如果EFM信号记录于CD-RW的导入区或PMA中，则控制部分16确定应当执行重写，并首先通过执行OPC来确定最佳记录功率(s31)。更具体地，通过重复预定功率增量，在CD-RW的PCA中以15个功率电平来执行尝试写入。然后，再现尝试写入的数据，然后将再现信号输出到再现信号质量检测电路24，以便计算β值。然后，选择用于记录其中该β值最接近于预定值的区域的功率电平，作为最佳记录功率电平。

然后，光盘记录系统1的控制部分16再现以最佳记录功率记录的数据(s32)，然后获得由包络检测电路23输出的PP值P0，并暂时地保持(存储)该值(s33)。控制部分16再现记录于可重写光盘上的原有数据(s34)，然后获得由包络检测电路23输出的PP值P1(s35)。然后，控制部分16计算PP值P0和PP值P1之间的差值，并响应该差值使擦除功率最佳。在P0-P1＜0的情况下，控制部分16改变记录条件。例如，由于原有数据具有较大的记录功率，因此控制部分16将擦除功率设置为大于参考值的预定值(s37)。然后，控制部分16通过应用此校正后的擦除功率，将数据重写到可重写光盘上(s39)，之后，当数据记录完成时，结束此处理。

相反，在P0-P1≥0的情况下，控制部分16将记录条件设置为光盘记录系统1中设置的初始值。即，控制部分16将擦除功率和记录功率设置为参考擦除功率P0e和参考记录功率P0w(s38)，然后将数据重写到可重写光盘上(s39)，并且当数据记录完成时，结束此处理。

利用上述内容，对记录介质是CD-RW的情况进行了说明。本发明还可应用于DVD-RW和DVD+RW。

根据本发明，能够实现下列优点。

(1)根据与记录于可重写光盘上原有数据的再现信号一致的记录条件重写数据。因此，能够很好地擦除原有数据，并能够再现新重写的数据而不会受到原有数据的影响。

(2)串扰量随着照射到可重写光盘上的记录功率的增强而增大，由此，凹坑的宽度变厚。因此，通过比较串扰量能够推测应用到原有数据上的记录功率值。

(3)计算了在从记录于可重写光盘上数据的再现信号中检测到的串扰量和参考串扰量之间的差值。因此，能够掌握以相对于参考记录功率(最佳记录功率)的多大功率电平记录了原有数据。

(4)通过再现以最佳记录功率记录的测试数据，从再现信号中检测串扰量的值，然后将该值用作参考串扰量。因此，即使在新售出的可重写光盘中，也可以快速确定针对可重写光盘的最佳记录条件而无需更新固件等。

(5)记录于可重写光盘的数据的幅度的峰到峰值随着照射到可重写光盘上的记录功率的增强而增大，由此，凹坑的宽度变厚。因此，根据再现信号幅度的峰到峰值能够推测原有数据的记录功率值。

(6)通过再现记录于可重写光盘上的原有数据来检测幅度的峰到峰值，并将此幅度的峰-峰值与以最优功率所记录的数据幅度的峰到峰值进行比较。因此，能够推测原有数据的记录功率值。

(7)通过检测记录于可重写光盘上的原有数据的再现信号的峰到峰值与以最优记录功率记录的数据的峰到峰值之间的差值，能够检测原有数据和要重写数据之间记录条件的差别。因此，如果响应此差别校正了擦除功率，则能够很好地擦除原有的数据，并在最优记录条件下记录要重写的数据。

Claims (13)

1.一种光盘记录方法，包括：

通过再现原有数据或根据再现波形，获得记录于可重写光盘上的原有数据的记录条件；

确定重写记录条件以将新数据重写到在原有数据的记录条件下记录的原有数据上；以及

根据所确定的重写记录条件将新数据重写到原有数据上。

2.根据权利要求1所述的光盘记录方法，其特征在于：当指示将新数据重写到记录于可重写光盘上的原有数据上时，获得原有数据的记录条件。

3.一种光盘记录方法，包括：

从记录于可重写光盘上的原有数据的再现信号中检测串扰量；

根据检测到的串扰量来设置记录条件；以及

根据记录条件来重写新数据。

4.根据权利要求3所述的光盘记录方法，其特征在于：当指示将新数据重写到记录于可重写光盘上的原有数据上时，检测串扰量。

5.根据权利要求3所述的光盘记录方法，其特征在于：响应检测到的串扰量和参考串扰量之间的差值，设置记录条件。

6.根据权利要求5所述的光盘记录方法，其特征在于通过将尝试写入应用于可重写光盘上的尝试写入区域来确定最佳记录功率，并根据以最佳记录功率记录的数据的再现信号来检测参考串扰量。

7.一种光盘记录方法，包括：

获取记录于可重写光盘上的原有数据再现信号的峰到峰值；

根据峰到峰值来设置记录条件；以及

根据记录条件来重写新数据。

8.根据权利要求7所述的光盘记录方法，其特征在于当指示将新数据重写到记录于可重写光盘上的原有数据上时，获取所述峰到峰值。

9.根据权利要求7所述的光盘记录方法，其特征在于通过将尝试写入应用于可重写光盘上的尝试写入区域上来确定最佳记录功率，并响应以最佳记录功率记录的数据的再现信号的峰到峰值与原有数据的再现信号的峰到峰值之间的差值来设置记录条件。

10.一种光盘记录方法，包括：

在以预定量改变照射于可重写光盘的尝试写入区域的激光功率的同时，应用所述的尝试写入；

根据尝试写入数据的再现信号来确定最佳记录功率；

根据以最佳记录功率记录的数据的再现信号的峰值和谷值，获取第一峰到峰值；

根据记录于可重写光盘上的原有数据的再现信号的峰值和谷值，获取第二峰到峰值；以及

响应所述第一和第二峰到峰值之间的差值，校正照射到可重写光盘上激光束的擦除功率，并通过应用校正后的擦除功率来重写新数据。

11.根据权利要求10所述的光盘记录方法，其特征在于当指示将新数据重写到记录于可重写光盘上的原有数据上时，应用所述的尝试写入。

12.一种光盘记录系统，包括：

再现单元，用于再现记录于可重写光盘上的数据；

串扰检测单元，用于从再现单元的再现信号中检测串扰量；

记录条件设置单元，用于根据由串扰检测单元检测到的串扰量，设置记录条件；以及

记录单元，用于根据由记录条件设置单元所设置的记录条件，将新数据重写到原有的数据上。

13.一种光盘记录系统，包括：

再现单元，用于再现记录于可重写光盘上的数据；

包络检测单元，用于获取再现单元的再现信号的峰到峰值；

记录条件设置单元，用于根据包络检测单元获取的峰到峰值，设置记录条件；以及

记录单元，用于根据记录条件设置单元所设置的记录条件，将新数据重写到原有的数据上。

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