CN1378259A - 具自动辨识功能的半导体多管芯测试系统 - Google Patents

具自动辨识功能的半导体多管芯测试系统 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种具自动辨识功能的半导体多管芯测试系统,使用复数测试频道对复数待测管芯进行测试,包括一编码装置一测试装置及一辨识装置;其中,编码装置产生每一待测管芯的识别码且每一识别码与每一测试频道相对;测试装置对待测管芯进行测试而读取并转送每一待测管芯的测试结果与识别码;辨识装置自测试装置接收每一待测管芯的测试结果与识别码,并依据识别码,将每一待测管芯的测试结果输出至一相对测试频道;本系统可免除因接线错误而使测试结果不正确的问题。

Description

具自动辨识功能的半导体多管芯测试系统
本发明涉及一种半导体多管芯测试系统，特别是一种具自动辨识功能的半导体多管芯测试系统，可免除因接线错误而使测试结果不正确的问题。
图1显示了一传统半导体多管芯测试系统的方块图，此系统包括一测试处理机1(Handler/prober)、一测试装置2、及一界面装置3。
测试处理机1包括一接收装置13，在接收装置13中放入一具有三个待测管芯(Die)11a、11b、11c的晶片(图未显示)以进行测试。显示器14则从测试频道15a、15b、15c取得测试结果并将其显示。
测试装置2包括与待测管芯11a、11b、11c相对的多个(此处为三个)测试模组21a、21b、21c及测试机22a、22b、22c。测试机22a、22b、22c分别控制测试模组21a、21b、21c经由信号线L1、L2、L3发出一组测试用信号至待测管芯11a、11b、11c，待测管芯11a、11b、11c的测试结果将经由信号线L1、L2、L3传回，再经由测试模组21a、21b、21c转送至测试机22a、22b、22c。
测试机22a、22b、22c经由信号线L4、L5、L6将测试结果送至界面装置3，经界面装置3转换信号接头后再经由信号线L7送回测试处理机1的测试频道15a、15b、15c。
上述的半导体多管芯测试系统有发生接线错误而导致测试结果错误的问题。如图2所示，当信号线L1、L2连接顺序倒置时，即待测管芯11a的输出连接至测试模组21b，而待测管芯11b的输出连接至测试模组21a，使得测试装置2将由信号线L4输出待测管芯11b的测试结果，而由信号线L5输出待测管芯11a的测试结果，最后使得显示器14在测试频道15a上显示待测管芯11b的测试结果，而在测试频道15b上显示待测管芯11a的测试结果。如果此时操作人员未追踪接线的方向，将会误把待测管芯11a及11b的测试结果倒置而发生错误。
由于只有在信号线L7一端为单一接线，上述的问题除了信号线L7以外，信号线L1、L2、L3一端及信号线L4、L5、L6一端都会有接线错误的问题。
因此，为克服以上现有技术的不足，本发明特提供一种具自动辨识功能的半导体多管芯测试系统，使用复数测试频道对复数待测管芯进行测试，其技术方案为：该系统包括一编码装置、一测试装置及一辨识装置。其中编码装置产生每一待测管芯的识别码且每一识别码与每一测试频道相对。测试装置对待测管芯进行测试而读取并转送每一待测管芯的测试结果与识别码。辨识装置自测试装置接收每一待测管芯的测试结果与识别码，并依据识别码，将每一待测管芯的测试结果输出至一相对测试频道。
本发明的另一目的在于提供一种具自动辨识功能的半导体多管芯测试系统，使用复数测试频道对一晶片上的复数待测管芯进行测试，其技术方案为：该系统包括一接收装置、一显示装置、一编码装置、一测试装置及一辨识装置。其中，接收装置接收该晶片。显示装置自该些测试频道接收并显示该些测试结果。编码装置产生该晶片上每一待测管芯的识别码，且每一识别码与每一测试频道相对。测试装置，对该些待测管芯进行测试而读取并转送每一待测管芯的测试结果与识别码。辨识装置自该测试装置接收每一待测管芯的测试结果与识别码，并依据该些识别码，将每一待测管芯的测试结果输出至一相对测试频道。
通过以上对本发明的目的和技术方案的描述可知，本发明借由一编码装置提供一识别码随测试结果输出，再由一辨识装置依据识别码决定测试结果的输出频道，因此，即使操作人员在测试装置与测试处理机间或在测试装置与辨识装置间发生接线错误时，本系统依然可自动将测试结果送入识别码所指定的测试频道，防止错误的发生。
下面是本发明的附图：
图1为传统的半导体多管芯测试系统的方块图；
图2为发生接线错误时的传统的半导体多管芯测试系统的方块图；
图3为本发明一实施例的半导体多管芯测试系统的方块图；
图4为本发明一实施例的半导体多管芯测试系统中辨识装置的电路图。
图中元件符号说明：
1测试处理机          11a-11c待测管芯         13接收装置
14显示器             15a-15c测试频道         L1-L7信号线
21a-21c测试模组      22a-22c测试机           3界面装置
4辨识装置            41a-41c选择器           411a-419c开关
5编码装置            51a-51c开关组
下面结合附图对本发明做进一步详述：
请参阅图3，图3中与图1及图2相同的元件使用相同的符号，且相同元件亦不再重复说明。本实施例的半导体多管芯测试系统包括一测试处理机1(Handler/prober)、测试装置2、一辨识装置4、及一编码装置5。
从图3中可以看出，本实施例的半导体多管芯测试系统与图1中的不同在于，额外提供一编码装置5并将界面装置3改设为辨识装置4。
编码装置5由三个开关组51a、51b、51c所构成，每一个开关组51a、51b、51c均具有两个切换开关，每个切换开关均可在一代表高电位的电压Vh及代表低电位的地点之间进行切换而产生识别码。此处开关组51a、51b、51c的输出端分别连接至信号线L1、L2、L3而输出识别码11、01及00。
辨识装置4除了具有原界面装置3转换信号接头的功能外，还可依据经由信号线L4、L5、L6接收的识别码决定将信号线L4、L5、L6送至测试频道15a、15b、15c，即决定信号线L4、L5、L6与测试频道15a、15b、15c的对应关系。
如图4所示为辨识装置4的电路图。辨识装置4包括三个选择器41a、41b、41c，每一个选择器41a、41b、41c分别连接到开关411a、412a、413a及414b、415b、416b及417c、418c、419c。每一个选择器41a、41b、41c从信号线L4、L5、L6中读取识别码而分别控制开关411a、412a、413a及414b、415b、416b及417c、418c、419C的开关动作，此处当识别码为11时，开关411a、414b、417c被关闭而形成通路；当识别码为01时，开关412a、415b、418c被关闭而形成通路；当识别码为00时，开关413a、416b、419C被关闭而形成通路。
请再参阅图3，当信号线L1与信号线L2发生接线错误时，编码装置5送出的识别码会随待测管芯11a、11b的测试结果经由测试装置2、信号线L5、L4送至辨识装置4。辨识装置4的选择器41a、41b分别会读取伴随待测管芯11a及11b测试结果的识别码11、01，分别将开关412a及414b关闭形成通路，而将待测管芯11a、11b的测试结果输至测试频道15a及15b。
此外，编码装置5亦可直接设置于接收装置中，使识别码伴随测试结果输出至测试装置。
虽然本发明已以一较佳实施例揭露如上，然其并非用以限定本发明，任何本专业的普通技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内所作的更动与润饰，均应在本发明的保护范围内。

Claims (10)

1.一种具自动辨识功能的半导体多管芯测试系统，包括对复数待测管芯进行测试的复数测试频道，其特征在于：它包括：
一产生每一待测管芯的识别码且将每一识别码与每一测试频道相对的编码装置；
一对该些待测管芯进行测试而读取并转送每一待测管芯的测试结果与识别码的测试装置；
一自该测试装置接收每一待测管芯的测试结果与识别码、并依据该些识别码将每一待测管芯的测试结果输出至一相对测试频道的辨识装置。
2.如权利要求1所述的具自动辨识功能的半导体多管芯测试系统，其特征在于：其中该编码装置具有可设定其中一组开关状态而产生一个识别码的复数开关组，每一开关组连接于一高电位供应源及一低电位供应源与该测试装置之间。
3.如权利要求1所述的具自动辨识功能的半导体多管芯测试系统，其特征在于：其中该辨识装置包括：
复数开关组，每一开关组具有与该些识别码相对的复数开关，每一开关的一端连接至每一测试频道而另一端共同接收该些待测管芯的测试结果之一；
控制复数开关组从而使每一待测管芯的测试结果输出至一相对测试频道的复数选择器。
4.如权利要求1所述的具自动辨识功能的半导体多管芯测试系统，其特征在于：其中该测试装置包括互相一一配合并对每一待测管芯进行测试的复数测试机与测试模组。
5.一种具自动辨识功能的半导体多管芯测试系统，包括对一晶片上的复数待测管芯进行测试的复数测试频道，其特征在于：它包括：
一接收该晶片的接收装置；
一自该些测试频道接收并显示该些测试结果的显示装置；
一产生该晶片上每一待测管芯的识别码且每一识别码与每一测试频道相对的编码装置；
一对该些待测管芯进行测试而读取并转送每一待测管芯的测试结果与识别码的测试装置；
一自该测试装置接收每一待测管芯的测试结果与识别码、并依据该些识别码将每一待测管芯的测试结果输出至一相对测试频道的辨识装置。
6.如权利要求5所述的具自动辨识功能的半导体多管芯测试系统，其特征在于：其中该编码装置具有可设定其中一组开关状态而产生一个识别码的复数开关组，每一开关组连接于一高电位供应源及一低电位供应源与该测试装置之间。
7.如权利要求5所述的具自动辨识功能的半导体多管芯测试系统，其特征在于：其中该编码装置位于该接收装置中。
8.如权利要求5所述的具自动辨识功能的半导体多管芯测试系统，其特征在于：其中该辨识装置包括：
复数开关组，每一开关组具有与该些识别码相对的复数开关，每一开关的一端连接至每一测试频道而另一端共同接收该些待测管芯的测试结果之一；
控制复数开关组从而使每一待测管芯的测试结果输出至一相对测试频道的复数选择器。
9.如权利要求5所述的具自动辨识功能的半导体多管芯测试系统，其特征在于：其中该测试装置包括互相一一配合并对每一待测管芯进行测试的复数测试机与测试模组。
10.如权利要求5所述的具自动辨识功能的半导体多管芯测试系统，其特征在于：其中该接收装置与该显示装置整合于一测试处理机中。
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