CN1301665A - 对微机电装置的某些改进 - Google Patents

对微机电装置的某些改进 Download PDF

Info

Publication number
CN1301665A
CN1301665A CN00136436A CN00136436A CN1301665A CN 1301665 A CN1301665 A CN 1301665A CN 00136436 A CN00136436 A CN 00136436A CN 00136436 A CN00136436 A CN 00136436A CN 1301665 A CN1301665 A CN 1301665A
Authority
CN
China
Prior art keywords
layer
ground floor
titanium
described method
group
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN00136436A
Other languages
English (en)
Inventor
H·雅科布森
S·M·尼尔森
S·哈比比
T·罗马森
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
SENSANNOL CO Ltd
Original Assignee
SENSANNOL CO Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by SENSANNOL CO Ltd filed Critical SENSANNOL CO Ltd
Publication of CN1301665A publication Critical patent/CN1301665A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B81MICROSTRUCTURAL TECHNOLOGY
    • B81BMICROSTRUCTURAL DEVICES OR SYSTEMS, e.g. MICROMECHANICAL DEVICES
    • B81B7/00Microstructural systems; Auxiliary parts of microstructural devices or systems
    • B81B7/0006Interconnects
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01PMEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
    • G01P15/00Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration
    • G01P15/02Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses
    • G01P15/08Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values
    • G01P15/0802Details
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/0002Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/31504Composite [nonstructural laminate]
    • Y10T428/31678Of metal

Abstract

一种包含电气和机械元件的装置,它由多层组成,其中:第一层或层组用作一个或多个电极或导体;第二层用作一个或多个压力触点或导线触点或导线连接垫。第二层具有与第一层不同的物理特性,第一层或层组比较硬或韧性较好,而第二层比较软或延展性较好。还提供了一种相应的制造方法。

Description

对微机电装置的某些改进
本发明与微机电装置有关,更具体地说,是与那些由几层衬底制成且在制造过程中要经过阳极连接处理的装置有关。
目前已有的一些微机电装置包括加速仪,压力传感器,角速度传感器,倾角仪等。
大家都知道,这类微机电装置中要在半导体衬底上加一个玻璃衬罩。此衬罩为该装置提供机械防护,而且可提供一个真空室。玻璃还可用作某些需要的电气元件的安装座。将电气元件安装在玻璃片上而不装在半导体衬底上,可以减小微机电装置中的杂散电容。玻璃通过一种称为阳极连接的工艺连到半导体基底上去。大家知道,这种工艺是很粗糙的,而且可能损坏有关的元件。
例如,由于操作时温度高可能使某些材料变形而引起缺陷,这将对微机电装置的性能产生不利的影响。此外,与应变有关的一些作用可能使装置的功能在连接后遭到破坏。
按照本发明的第一部分,由电气和机械元件构成的装置包括多层,其中:
第一层或包含几层的第一组被用作一个或几个电极或导体;
第二层被用作一个或几个压力触点或导线连接垫,
其中第二层的物理特性与第一层或包含几层的第一组不相同,第一层或包含几层的第一组是比较硬或韧的,而第二层是比较软或延展性较好的。
第一层或包含几层的第一组建立用钛来做,或者最好用钛和氮化钛来做。
第二层建议用铝或金来做。第一和第二层可以做在含硼硅酸盐玻璃的碱金属上。
建议第一层的厚度为7000埃左右,第二层的厚度为5000埃左右。为了形成压力触点并将这些触点用作导体,要求各层的厚度很精确,而且是可以重复的。
本发明提供的电气和机械元件满足微机电装置几种功能的多种要求,并可经受阳极连接过程中严苛而可能是破坏性的环境考验。在本发明的一个实施例中,安装在玻璃底座上的元件包括电容器电极,电导体,压力触点,和导线连接垫。导体用来作电容器电极的电连接,也可用作电屏蔽板的电连接。当玻璃和硅衬底通过阳极连接工艺连在一起时,压力触点形成与相配的硅衬底上的导体的电连接。
本发明的第二部分提供一种形成微机电装置中电气和机械元件的方法,该方法包含以下步骤:
形成第一层或包含几层的第一组,它们被用作一个或多个电极或导体;
形成第二层,用作一个或多个压力触点或导线连接垫;
其中第二层具有与第一层或包含几层的第一组不相同的物理特性,第一层或包含几层的第一组是比较硬或韧的,而第二层是比较软或延展性较好的。
建议将第一层和第二层经过刻蚀后分别形成电极/导体或连接垫/压力触点。这个过程可能要采用光刻技术。
最好所述较硬的层或包含几层的一组为沉积在玻璃衬底上的第一层或包含几层的一组,然后把第二层沉积在第一层的上面。此后可能要在各层上进行两次或多次光刻,首先把导线连接垫和压力触点刻在第二层上,然后把导体和电极连同导线连接垫和压力触点一起刻在第一层或包含几层的第一组上。第一层的图形必须包含第二层的全部细节,因为第一层是处在第二层的下面。
第一层可以是钛。
钛可以用作消气剂以降低阳极连接后密封室内的气压,最好在室温下就能有这种效果。
钛层形成的电极最好在阳极连接过程中保持平整,而且在阳极连接过程不与柔性的硅结构形成永久的连接。当钛用作一个或多个电导体时也希望是这样。
下面结合附图对本发明的一种实施例加以说明,附图中:
图1是带一组元件的玻璃衬底的平面示意图;
图2是几个层面在沉积后、刻上图形前的剖面示意图;
图3和4是在第二层刻上图形后以及第一多层组刻上图形后通过衬底和各层的剖面示意图;
图5是本发明的一个完整装置的剖面示意图。
图1中绘出了四个元件;1是两个导体和一个电极,2是一个导线连接垫和几个压力触点,它们全都座落在一个玻璃衬底3上。
图2中第一层组1用作底层且刻有一个电容器电极和几个导体;还有一个导线连接垫和几个压力触点。第二层2刻有一个导线连接垫和几个压力触点,3是玻璃衬底。
图3中第一层组1用作底层且刻有一个电容电极和几个导体;还有一个导线连接垫和几个压力触点。第二层2刻有一个导线连接垫和几个压力触点,3为玻璃衬底。
图4中第一层组1用作底层且刻有一个电容器电极和几个导体、还有一个导线连接垫和几个压力触点。第二层2上刻有一个导线连接垫和几个压力触点,3为玻璃衬底。
图5为整个装置,其中第一层组1用作底层且上面刻有一个电容器电极和几个导体;还有一个导体连接垫和几个压力触点。第二层2上刻有一个导线连接垫和几个压力触点。3为玻璃衬底。压力触点4座落在硅衬底5上。除了压力触点外,图5未绘出座落在硅衬底上的其它机电元件。
现在来叙述本发明所用的方法。
首先采用任何一种现有的工艺依次将第1和第2层沉积在玻璃衬底3上。
然后对第一和第二层进行光刻,先将导线连接垫和几个压力触点刻在第二层内,再连同所需的任何导体和电极一起刻在第一层内。当然,第一层的图形必须包含第二层的全部细节,因为第一层是处在第二层下面。
本发明要用到的光刻和刻触方法中,第一层可以在氢氧化铵和过氧化氢的水溶液中进行湿法刻蚀。建议溶液采用一份氢氧化铵,五份过氧化氢,和九份水。最要紧的是刻蚀应该一致,要将所有残留物去掉,而且要对线条的清晰度和线宽进行控制。
第一和第二层也可以不做在半导体衬底上而做在玻璃衬底上,这样可以保证装置内的杂散电容较低。
第一和第二层所用材料的选择与对材料应具有的一些特性的要求有关。第一层或层组需具有以下属性:导电性好,与玻璃的粘接性好,可以刻上图形,应力低,在阳极连接处理后与玻璃的连接性好,很硬,不与柔软的硅结构粘连,而且价格低廉。有一些材料具备这些特性,但是很难甚至不可能在湿法刻蚀剂中显出图形。由于溅射刻蚀法在阳极连接处理前会毁坏玻璃表面,因而不能采用。
第二层必须比较软或其延展性必须能承受阳极连接过程中所加压力下产生的变形,以便形成一个电阻低的可靠压力触点。另外,它用作导线连接接垫时必须很可靠,而且可以用标准光刻法和湿刻蚀剂刻出图形。最后,材料的成本也应低廉。
所有各层的刻蚀最好是有选择性的。也就是说,每一层经过刻蚀形成图形时不应当影响其它的一层或几层。另外,经过刻蚀后希望线条的清晰度非常好,线宽控制得也很好。
在阳极连接处理过程中,柔软的硅结构在高温下受到极高电场的作用而被压紧在第一层上。在柔软的硅结构和第一层或层组之间的单位面积上的压力极其高。相应地,用作第一层或层组的材料在这种极端的条件下不应产生塑性变形或永久地改变形状。虽然通常把这种品质看成是硬度高,但一种强度和柔性都很好的韧性材料也可以满足这个要求。第一层材料还必须在它与硅经受极端条件处理时不与硅产生化学反应。由于阳极连接过程通常是在高真空中进行的,所有用作衬底和各元件层的材料必须是真空性能良好的。

Claims (21)

1.一种包含电气和机械元件的装置,它由多层组成,其中:
第一层或层组被用作一个或多个电极或导体;以及
第二层被用作一个或多个压力触点或导线连接垫;
其中第二层具有与第一层不相同的物理特性,第一层或层组比较硬或韧,第二层比较软或延展性较好。
2.如权利要求1所述的装置,其中第一层或层组是由钛制成的。
3.如权利要求1所述的装置,其中有一个用钛和氮化钛制成的第一层组。
4.如上述任一条权利要求所述的装置,其中较软或延展性较好的第二层是由铝或金制成的。
5.如上述任一条权利要求所述的装置,其中第一层或层组的厚度为7000埃。
6.如上述任一条权利要求所述的装置,其中第一层或层组的厚度为3000至10000埃左右。
7.如上述任一条权利要求所述的装置,其中第二层的厚度约为5000埃。
8.如上述任一条权利要求所述的装置,其中第二层的厚度约为2000至6000埃。
9.如上述任一条权利要求所述的装置,其中在一个或几个表面上加一层钛,所述表面构成加工好的装置内的一个密封室的内表面。
10.一种形成微机电装置的电气和机械元件的方法,它包括以下步骤:
形成第一层,用作一个或多个电极或导体;
形成第二层,用作一个或多个压力触点或导线连接垫,
第二层的物理特性与第一层不同,第一层或层组比较硬或韧性较大,而第二层比较软或延展性较好。
11.如权利要求10所述的方法,其中第一层或层组和第二层经过选择性刻蚀分别形成电极/导体或连接垫/压力触点。
12.如权利要求10所述的方法,其中刻图过程包括光刻和蚀刻。
13.如权利要求10至12任一项所述的方法,其中硬层是沉积在玻璃上的第一层,接着把第二层沉积在第一层的上面。
14.如权利要求10至13任一项所述的方法,其中然后对各层进行两步或多步光刻,首先在第二层上形成压力触点和导线连接垫,然后在第一层上形成电导体和电极。
15.如权利要求10至14任一项所述的方法,其中在一个或几个表面上加一层钛,该表面构成加工好的装置内的一个密封室的内表面。
16.如权利要求10至15任一项所述的方法,其中在阳极连接处理后用钛作为降低密封室内气体压力的消气剂。
17.如权利要求10至16任一项所述的方法,其中钛用作阳极连接处理后降低密封室内气体压力的消气剂,且这种作用最好在室温下就能产生。
18.如权利要求10至17任一项所述的方法,其中钛用作阳极连接处理后以及热处理过程中或处理后降低密封室内气体压力的消气剂。
19.如权利要求10至18任一项所述的方法,其中第一层是在氢氧化铵和过氧化氢的水溶液中进行湿法刻蚀的。
20.如权利要求19所述的方法,其中溶液是一份氢氧化铵,五份过氧化氢和九份水。
21.如权利要求10至20任一项所述的方法,其中第一和第二层是座落在玻璃衬底上而不是半导体衬底上,以保证装置内的杂散电容较低。
CN00136436A 1999-12-24 2000-12-22 对微机电装置的某些改进 Pending CN1301665A (zh)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP99310582A EP1110905A1 (en) 1999-12-24 1999-12-24 Micro-electromechanical device
EP99310582.4 1999-12-24
US09/711,834 US6756138B1 (en) 1999-12-24 2000-11-13 Micro-electromechanical devices

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN1301665A true CN1301665A (zh) 2001-07-04

Family

ID=33161047

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN00136436A Pending CN1301665A (zh) 1999-12-24 2000-12-22 对微机电装置的某些改进

Country Status (5)

Country Link
US (1) US6756138B1 (zh)
EP (1) EP1110905A1 (zh)
JP (1) JP2001284493A (zh)
CN (1) CN1301665A (zh)
BR (1) BR0005727A (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2010072044A1 (zh) * 2008-12-25 2010-07-01 北京大学 一种基于金属钛的mems机械继电器的制备方法

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100474455B1 (ko) * 2002-11-08 2005-03-11 삼성전자주식회사 기판단위 mems 진공실장방법 및 장치
JP6218330B2 (ja) * 2014-07-04 2017-10-25 アルプス電気株式会社 圧力センサ及びその製造方法

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3607379A (en) * 1968-01-22 1971-09-21 Us Navy Microelectronic interconnection substrate
US5207103A (en) * 1987-06-01 1993-05-04 Wise Kensall D Ultraminiature single-crystal sensor with movable member
US5323520A (en) * 1993-04-29 1994-06-28 Fujitsu Limited Process for fabricating a substrate with thin film capacitor
US5592736A (en) * 1993-09-03 1997-01-14 Micron Technology, Inc. Fabricating an interconnect for testing unpackaged semiconductor dice having raised bond pads
US5508228A (en) * 1994-02-14 1996-04-16 Microelectronics And Computer Technology Corporation Compliant electrically connective bumps for an adhesive flip chip integrated circuit device and methods for forming same
US5449955A (en) * 1994-04-01 1995-09-12 At&T Corp. Film circuit metal system for use with bumped IC packages
US5739046A (en) * 1994-09-30 1998-04-14 United Microelectronics Corporation Method of making a reliable barrier layer
US5591679A (en) * 1995-04-12 1997-01-07 Sensonor A/S Sealed cavity arrangement method
US5789271A (en) * 1996-03-18 1998-08-04 Micron Technology, Inc. Method for fabricating microbump interconnect for bare semiconductor dice
US6140144A (en) * 1996-08-08 2000-10-31 Integrated Sensing Systems, Inc. Method for packaging microsensors
US6025277A (en) * 1997-05-07 2000-02-15 United Microelectronics Corp. Method and structure for preventing bonding pad peel back
US6078103A (en) * 1998-10-29 2000-06-20 Mcdonnell Douglas Corporation Dimpled contacts for metal-to-semiconductor connections, and methods for fabricating same

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2010072044A1 (zh) * 2008-12-25 2010-07-01 北京大学 一种基于金属钛的mems机械继电器的制备方法

Also Published As

Publication number Publication date
EP1110905A1 (en) 2001-06-27
JP2001284493A (ja) 2001-10-12
BR0005727A (pt) 2001-08-07
US6756138B1 (en) 2004-06-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP1445861A3 (en) Electronic device and method of manufacturing the same
CN1930482A (zh) 探针以及探针的制造方法
EP1221715A3 (en) High density metal capacitor using via etch stopping layer as field dielectric in dual-damascence interconnect process
CN1815714A (zh) 半导体装置及其制造方法
EP1329949A3 (en) Semiconductor device and method of manufacturing semiconductor device
EP0969694A3 (en) Pressure transducer and manufacturing method thereof
JP2006352823A (ja) 高分子基コンデンサー超音波エネルギー転換器の製造方法
EP1482553A3 (en) Semiconductor device and manufacturing method thereof
EP1489658A3 (en) Method for manufacturing semiconductor package
CN1646417A (zh) 制造电子器件的方法
CN102185517A (zh) 静电致动器
CN1897265A (zh) 包括一个或多个嵌入式通孔的互联器件及其生产方法
JP2010135634A (ja) 半導体装置の製造方法及び半導体装置
KR20170126302A (ko) 압력 센서 소자 및 압력 센서 소자 제조 방법
CN1301665A (zh) 对微机电装置的某些改进
CN1135583C (zh) 按钮开关
US11946822B2 (en) Semiconductor transducer device with multilayer diaphragm and method of manufacturing a semiconductor transducer device with multilayer diaphragm
JP2002523881A (ja) 回路担体における電気的構成部材の接続のための接続装置並びにその製造法
EP1237204A3 (en) Piezoelectric/electrostrictive film element
CN1574284A (zh) 复合低介电常数的介电结构
JP2008251721A (ja) 貫通配線基板及びその製造方法
CN1883822A (zh) 高分子基电容式超音波换能器制作方法
US20080278185A1 (en) Electrical contact device and its manufacturing process
KR20030023554A (ko) 여러 개별 기판에 집적된 마이크로시스템을 본딩하고전기적으로 연결하는 방법
CN111591951B (zh) 一种超声传感器结构及其制造方法

Legal Events

Date Code Title Description
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C06 Publication
PB01 Publication
C02 Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001)
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication