CN1299277C - 光盘装置 - Google Patents

Abstract

根据本发明一个方面的一种光盘装置包含光处理单元(2)，被配置成检测来自光盘的反射光；信号产生单元(4)，被配置成根据光处理单元检测到的反射信号产生聚焦控制信号和寻道控制信号；校正单元(5)，被配置成根据事先调节的校正值来校正由信号产生单元产生的信号；以及调节单元(7，9)，被配置成重新调节校正值。

Description

光盘装置

技术领域

本发明涉及一种光盘装置，它读出如CD或VCD等光盘介质上记录的数据。

背景技术

如日本专利申请公开出版物6-243496号中公开说明的那样，光盘装置包含各种伺服电路以实现稳定地读、写数据。例如，聚焦伺服机构检测从光检拾器发射的激光束要走到理想焦点位置之外的情况，并使聚焦致动器操作以恢复激光束的位置，从而使激光束总是聚焦在光盘的记录表面上。寻道伺服机构沿光盘径向被驱动，从而使激光束总是聚焦在盘的轨道上。

然而，近来的多功能光检拾器却难于得到稳定的操作特性。例如，如果在盘插入时光盘装置中的温度不同于操作期间的温度，则光检拾器的最佳校正方法便改变。甚至被插入的盘本身会由于受热而卷曲，而且它的物理特性在操作期间不总是恒定的。

传统的方法不允许在使用期间改变光检拾器或光盘的特性。因此，在使用过程中读和写的性能逐渐下降。

发明内容

本发明的一个目的是提供一种光盘装置，它能在光检拾器或光盘的特性改变后执行信号处理。

根据本发明的一个方面，提供了一种光盘装置，包含：旋转驱动单元，被配置成旋转驱动一个光盘；光处理单元，被配置成以一光束照射光盘并检测来自光盘的反射光；光驱动单元，被配置成驱动光处理单元；信号产生单元，被配置成产生控制光束聚焦的聚焦控制信号、控制光束寻道的寻道控制信号以及根据由光处理单元检测到的反射光产生的对应于光盘上数据的数据信号；校正单元，被配置成根据预先调节过的校正值校正由信号产生单元产生的信号；控制单元，被配置成根据被校正单元校正过的聚焦控制信号和寻道控制信号来控制聚焦和寻道；以及调节单元，被配置成在预定时刻调节校正值，其中调节单元对根据数据信号产生的读取数据的数目进行计数，监视校正字节的数目，检验校正字节的数目是否等于或大于第一指定值，在校正字节的数目等于或大于第一指定值的情况下，递增NG计数器，在读取数据的数目已达到预定值的情况下，清除该读取数据的数目，并检验NG计数器的值是否等于或大于第二指定值，在NG计数器的值等于或大于第二指定值的情况下，执行校正值的重新调节。

本发明的其他目的和优点将在下文的描述中提出，而且部分地将从描述中清楚可见，或可从本发明的实践中学到。本发明的目的和优点可借助下文具体指出的手段和组合来实现和获得。

附图说明

被纳入本说明书并成为其组成部分的这些附图说明本发明的当前优选实施例，并与上文给出的一般描述以及下文给出的对优选实施例的详细描述一起，用于解释本发明的原理。

图1显示根据本发明一个实施例的光盘驱动器(光盘装置)的示意性结构图；

图2显示一个有实际漂移的信号，从而解释从理想聚焦点漂移的漂移量；

图3显示一个其漂移被校正后的信号，从而解释从理想聚焦点漂移的漂移量；

图4是流程图，显示根据本发明在插入盘时的处理；

图5是流程图，显示根据第一实施例的再调节处理；

图6是流程图，显示根据第二实施例在插入盘时的处理；

图7是流程图，显示根据第二实施例的再调节处理；

图8是流程图，显示根据第三实施例在插入盘时的处理和再调节处理；

图9是流程图，显示根据第四实施例在插入盘时的处理和再调节处理；

图10是流程图，显示根据第五实施例在插入盘时的处理；

图11显示在第五实施例中产生的位置/校正值对应表的一个举例；

图12是流程图，显示根据第五实施例的重新调节处理；

图13是流程图，用于解释RF信号振幅的调节；以及

图14是流程图，用于解释聚焦偏移调节。

具体实施方式

下面将参考附图描述本发明的实施例。

图1显示根据本发明一个实施例的光盘驱动器(光盘装置)的示意性结构图。这一光盘驱动器在诸如读和写之类操作期间动态重新调节设置值。如图1中所示，该光盘驱动器包含主轴马达1、光检拾器(pickup)2、聚焦致动器3、信号转换器4、信号校正器5、伺服电路6、设置学习单元7、校正数据存储单元8以及控制单元9。

主轴马达1旋转地驱动光盘D。光检拾器2以光束照射光盘D并检测来自光盘D的反射光。聚焦致动器3沿垂直于光盘D的方向移动光检拾器2。

伺服电路6的功能是实现稳定的数据读/写。例如，在伺服电路6中的聚焦伺服机构检测从光检拾器发射的激光束要走出理想焦点位置之外并使聚焦致动器操作以恢复它，从而使激光束总是聚焦在光盘D的记录表面。在伺服电路6中的寻道(tracking)伺服机构沿光盘D的径向被驱动，从而使激光束总是聚焦在光盘的轨道上。

从光检拾器2检测到的反射光所得到的原始信号被发送给信号转换器4。信号转换器4通过把光检拾器2距理想聚焦点的漂移量转换成信号强度来产生一个漂移量信号。漂移量信号强度的改变依赖于从理想位置漂移的方向，即正方向或负方向，如图2中所示。漂移量信号还有振幅质量问题，即信号可能超过其最大振幅或只有不够大的振幅。

由信号转换器4产生的漂移量信号被发送到信号校正器5。信号校正器5将漂移量信号的振幅增大/减小到适当值，使沿正方向和负方向的信号强度对应的漂移量等值化，以及把整个振幅调节到一个适当值，从而产生校正后的漂移量信号。校正后的漂移量信号是基于例如RF信号的波动(左和右平衡)而产生的。或者，校正后的漂移量信号是通过对反射光检测信号进行增益调节而产生的，这些反射光检测信号是从光检测器的多个光检测区得到的。由RF信号的最大值(恰在焦点)能检测到漂移量信号的中心。失焦边缘是0.5μm。根据一个温度范围(例如20℃至30℃)对受温度影响的漂移量信号进行校正。

由信号校正器5产生的校正后的漂移量信号被发送给伺服电路6。如图3中所示，校正后的漂移量信号沿着从光检拾器的理想位置漂移的两个方向几乎相等。此外，信号的最大振幅也是适当的，落入最大振幅的80％至90％的范围。伺服电路6执行一个从校正后的漂移量信号到信号的漂移量的负反馈操作，从而产生一个聚焦控制信号。

由伺服电路6产生的聚焦控制信号被发送给聚焦致动器3。聚焦致动器3根据聚焦控制信号垂直移动光检拾器2。结果，光检拾器2跟踪焦点位置。

信号校正器5根据事先存储在校正数据存储单元8中的信号放大/衰减数据，通过对信号的放大和衰减来执行校正。信号放大/衰减数据是在光盘驱动器制造过程中通过调节以吸收光检拾器2的特性变化而得到的。再有，为吸收每个被插入的光盘在光盘插入时的特性变化，设置学习单元7根据事先存储的信号放大/衰减数据来改变信号校正器5的特性，检验从光检拾器2得到的原始信号的变化，并将信号校正器5的最佳特性存储在校正数据存储单元8，作为新的信号放大/衰减数据。

下文将描述由图1所示光盘驱动器的控制单元9进行的重新调节处理的第一至第五实施例。

首先将描述第一实施例。控制单元9具有检测光盘驱动器中每个单元操作状态或向这些单元给出操作指标的功能，并指定设置学习单元7的操作计时。

图4和图5是流程图，显示由控制单元9进行的各种控制。更具体地说，图4是流程图，显示在插入盘时学习聚焦伺服机构的信号校正器5的特性的处理。图5是流程图，显示在不能从盘中读出任何数据的情况下的重新调节处理。

如图4中所示，当一张盘被插入时，执行准备步骤(ST101和ST103)，使得能对盘读或写数据。在这些准备步骤之间，控制单元9指示设置学习单元7开始学习。响应这一指示，设置学习单元7学习信号校正器5的聚焦系统的最佳特性(ST102)。通过学习得到的信号放大/衰减数据被存储在校正数据存储单元8中。

控制单元9管理一个NG计数器的计数值。如图5中所示，当接收一个读命令，控制单元9便清除NG计数器(ST201)并执行一个搜寻操作(ST202)。在搜寻操作之后，从目标地址位置读出要读出的数据(ST203)。要读出的数据是通过光检拾器2读出的。控制单元9确定读出的数据是否有差错(ST204)。如果读出数据没有差错(在步骤ST204中的“是”)，则数据被传送(ST205)，于是读操作结束。

如果读出数据有差错(在步骤ST204中的“否”)，则控制单元9使NG计数器增1(ST206)。控制单元9参考NG计数器。如果该值小于一个预定值(在步骤ST207中的“否”)，则重复搜寻操作(ST202)。如果NG计数器等于或大于该预定值(在步骤ST207中的“是”)，则重新学习信号校正器5的聚焦系统的设置(ST208)。更具体地说，控制单元9启动设置学习单元7。其后，控制单元9清除NG计数器(ST209)并返回搜寻操作(ST202)。

如前所述，在第一实施例中，当即使在预定次数重试之后仍不能执行数据读时，信号校正器5的伺服机构的特性被重新学习和此时被校正到最佳值。于是，在重新学习之后读操作能被成功执行。

接下来将描述第二实施例。如在第一实施例中那样，控制单元9具有控制光盘驱动器中每个单元操作状态或向这些单元给出操作指示的功能，并指定设置学习单元7的操作计时。

如图6中所示，当一张盘被插入时，执行准备步骤(ST301和ST303)，使得能对盘读或写数据。在这些准备步骤之间，控制单元9指示设置学习单元7开始学习。响应这一指示，设置学习单元7学习信号校正器5的聚焦系统的最佳特性(ST302)。通过学习得到的信号放大/衰减数据被存储在校正数据存储单元8中。在准备步骤之后，控制单元9清除处理后的扇区计数(下文中将描述)以及NG计数器的两个变量(ST304)。

如图7中所示，当接收一个读命令，控制单元9便执行一个搜寻操作(ST401)以把光检拾器2移动到目标扇区的可读位置。在搜寻操作结束之后，控制单元9对每次收到目标扇区中数据时的数据数进行计数(ST402)，并监视校正字节的个数(ST403)。校正字节个数是读CD介质时的一个有效性指数。在读DVD介质时，代之以校正行数。

控制单元9检验校正字节数是否等于或大于一个指定值(ST404)。如果校正字节数等于或大于该指定值(在步骤ST404中的“是”)，则控制单元9清除NG计数器(ST405)。如果校正字节数小于该指定值(在步骤ST404中的“否”)，则NG计数器不需增值。

控制单元9还检验处理过的扇区数(ST406)。如果处理过的扇区数尚未达到预定值(在步骤ST406中的“否”)，则数据被获取(ST410)。如果处理过的扇区数已达到预定值(在步骤ST406中的“是”)，则处理过的扇区数被清除以准备下一次检验(步骤407)。

再有，控制单元9检验NG计数器值是否等于或大于一个指定值(ST408)。如果NG计数器值小于该指定值(步骤ST408中的“否”)，则从该光盘的数据读出质量不差。NG计数器被清除以准备下一次检验(ST409)，数据被获取(ST410)。在数据被获取之后，控制单元9检验所获取的数据是否包含差错(ST411)。如果所获取的数据含有差错(步骤ST411中的“是”)，则从搜寻操作起量新处理(ST401)。如果所获取的数据不含差错(步骤ST411中的“否”)，即如果该数据是正常的，则该数据被传送(ST412)，于是读操作结束。

另一方面，如果由检验NG计数器值确定该值等于或大于指定值(步骤ST408中的“是”)，则从该光盘读数据质量差。在这种情况中，控制单元9指示设置学习单元7重新学习信号校正器5的聚焦系统的设置(ST413)。在此之后，控制单元9清除NG计数器以准备下一次测量(ST414)并返回到搜寻操作(ST401)。

如上所述，在第二实施例中，事先检测指示读出数据会变为不可校正的标志，并且信号校正器5的聚焦系统的设置被重新学习。因此，能得到与第一实施例中相同的稳定的读、写性能，同时防止任何数据不可读状态。

接下来将描述第三实施例。如在第一实施例中那样，控制单元9具有检测光盘驱动器中每个单元操作状态或向这些单元给出操作指示的功能，并指定设置学习单元7的操作计时。

如图8中所示，当一张盘被插入时，执行准备步骤(ST501和ST503)，使得能对盘读或写数据。在这些准备步骤之间，控制单元9指示设置学习单元7开始学习。响应这一指示，设置学习单元7学习信号校正器5的聚焦系统的最佳特性(ST502)。通过学习得到的信号放大/衰减数据被存储在校正数据存储单元8中。在准备步骤之后，控制单元9把未调节时间作为一个内部变量复位(ST504)。这是一个计时器变量，它测量从复位时刻起已经过的时间。光盘驱动器被被设置成一种能接受读或写命令的状态。控制单元9启动一个事件等待循环(ST505)。

在事件等待循环中，当收到读命令时(步骤ST506中的“是”)，执行读处理(ST507)。当收到写命令时(步骤ST508中的“是”)，执行写处理(ST509)。在事件等待循环中，控制单元9监视未调节时间是否超过一个指定值(ST510)。如果未调节时间超过该指定值(步骤ST510中的“是”)，则重新学习信号校正器5的聚焦系统的设置(ST511)，并复位未调节时间，以准备下一次学习(ST512)。

如上所述，在第三实施例中，特别使用未接受读/写命令的时间，即空闲时间，来重新学习信号校正器5的聚焦系统的设置。因此，光盘驱动器总能使信号校正器5的聚焦系统保持在最佳状态而不影响读或写命令处理。另一方面，如果连续接收读或写命令，则不能重新学习信号校正器5的聚焦系统的设置。结果，可能在漂移后的最佳点连续处理读或写命令。为防止这种情况，优选的是第三实施例与第一或第二实施例组合实现。

接下来将描述第四实施例。如在第一实施例中那样，控制单元9具有检测光盘驱动器中每个单元操作状态或向这些单元给出操作指示的功能，并指定设置学习单元7的操作计时。

如图9中所示，当一张盘被插入时，执行准备步骤(ST601和ST603)，使得能对盘读或写数据。在这些准备步骤之间，控制单元9指示设置学习单元7开始学习。响应这一指示，设置学习单元7学习信号校正器5的聚焦系统的最佳特性(ST602)。通过学习得到的信号放大/衰减数据被存储在校正数据存储单元8中。在准备步骤之后，控制单元9使由控制单元9管理的空闲计时器复位(ST604)。

在此之后，光盘驱动器被设置在能接受读或写命令的状态。控制单元9启动事件等待循环(ST605)。

在事件等待循环中，控制单元9等待来自主计算机的命令。一旦接收一个读命令(步骤ST606中的“是”)，控制单元9检验主轴马达1是否处在静待状态(ST607)。如果确定主轴马达1是处在静待状态(步骤ST607中的“是”)，则主轴马达1被启动(ST608)。此后，控制单元9指示设置学习单元7重新学习信号校正器5的聚焦系统的设置(ST609)。此后，执行读处理(ST610)。在读处理过程中，光检拾器2搜寻目标位置，并从光盘获取数据。如果所获取的数据是一个差错，则再次执行搜寻。如果由搜寻获取到正常数据，则该正常数据被传送到主机。在读处理之后，控制单元9复位空闲计时器(ST611)并返回事件等待循环以为下一次事件做准备(ST605)。

一旦接收一个写命令(步骤ST612中的“是”)，则控制单元9检验主轴马达1是否处在静待状态(ST613)。如果确定主轴马达1是处在静待状态(步骤ST613中的“是”)，则主轴马达1被启动(ST614)。此后，控制单元9指示设置学习单元7重新学习信号校正器5的聚焦系统的设置(ST615)。此后，执行写处理(ST616)。在写处理过程中，接收来自主计算机的写数据，并在需要时执行OPC学习，光检拾器2被移动到目标写位置，并且光检拾器2将数据写在光盘上。在写处理之后，控制单元9复位空闲计时器(ST611)并返回事件等待循环，以为下一个事件做准备(ST605)。

在事件等待循环中，一旦检测到空闲计数器的计数时间已达到一个预定值(步骤ST617中的“是”)，则控制单元9停止主轴马达1(ST619)。如果主轴马达已处在静待状态(步骤ST618中的“是”)，则主轴马达不再次被停止。在这两种情况的任何一种情况中，控制单元9复位空闲计时器(ST611)并返回事件等待循环(ST605)。

作为第四实施例的特征性特性，当空闲计时器的计数时间已达到一个预定时间时，主轴马达1被停止。如果自那时起有一个读或写命令要执行，则主轴马达1被启动。其后，信号校正器5的聚焦系统的设置被重新学习。

如上所述，在第四实施例中，控制单元9在主轴马达1启动时间执行信号校正器5的聚焦系统设置再学习。通常，在一个与主计算机连接的光盘驱动器中，主轴马达1往往被连续长时间设置在静待状态。在此期间，温度能有很大改变。根据第四实施例，即使在这种情况下，信号校正器5的聚焦系统的设置也能保持在一个最佳状态。

接下来将描述第五实施例。如在第一实施例中那样，控制单元9具有检测光盘驱动器中每个单元操作状态或向这些单元给出操作指示的功能，并指定设置学习单元7的操作计时。

如图10中所示，当一张盘被插入时，执行准备步骤(ST701和ST703)，使得能对盘读或写数据。在这些准备步骤之间，控制单元9指示设置学习单元7开始学习。响应这一指示，设置学习单元7学习信号校正器5的聚焦系统的最佳特性(ST702)。通过学习得到的信号放大/衰减数据被存储在校正数据存储单元8中。在准备步骤之后，控制单元9准备一个位置/校正值对应表(ST704)。实际上，位置/校正值对应表是在校正数据存储单元8中准备(存储)的。

图11显示位置/校正值对应表的一个举例。在位置/校正值对应表中的位置是通过把盘中的扇区地址分隔成适当区域来定义的，并永久性地给予该盘。在位置/校正值对应表中的校正值是通过学习步骤得到的(ST702)。就是说，在学习步骤(ST702)中，根据从各个位置得到的校正值产生位置/校正值对应表(ST704)。

当产生了位置/校正值对应表时(ST704)，控制单元9开始事件等待循环(ST705)。一旦在事件等待循环中接受一个读命令(步骤ST706中的“是”)，则控制单元9参考位置/校正值对应表(ST707)，从位置/校正值对应表中得到对应于读目标地址的校正值，并执行读处理(ST708)。

图12是流程图，显示读处理过程(ST708)。如图12中所示，当接收一个读命令，控制单元9首先清除NG计数器(ST801)并执行搜寻操作(ST802)。在搜寻操作之后，从目标地址位置读出要读出的数据(ST803)。要读出的数据是通过光检拾器2读出的。控制单元9确定读出的数据是否有差错(ST804)。如果读出数据没有差错(步骤ST804中的“是”)，则数据被传送(ST805)，于是读操作结束。

如果读出数据有差错(步骤ST804中的“否”)，则控制单元使NG计数器增1(ST806)。控制单元9参考NG计数器。如果该值小于一个预定值(步骤ST807中的“否”)，则重复搜寻操作(ST802)。如果NG计数器等于或大于该预定值(步骤ST807中的“是”)，则重新学习信号校正器5的聚焦系统设置(ST808)。更具体地说，控制单元9启动设置学习单元7。通过这一重新学习，根据从各个位置得到的校正值产生位置/校正值对应表并将其存储在校正数据存储单元8(ST809)。此后，控制单元清除NG计数器(ST810)并返回搜寻操作(ST802)。

如上所述，在第五实施例中，例如对于信号校正器5的聚焦系统最佳设置值随盘上每个位置而改变的一个大卷曲盘，能给出满意的校正值。因此，在盘的整个表面总能得到令人满意的读性能。

现在将概括总结上述第一至第五实施例。如上所述，在第一至第五实施例中，由预定的触发器(在预定的时刻)重新调节伺服系统设置值。

在第一实施例中，读数据中一个差错的发生被用作触发器，就是说，确定读数据是否正常。根据该确定结果重新调节伺服系统设置值。

在第二实施例中，读数据校正字节数被用作触发器。就是说，确定在获取读数据时的校正字节数或校正行数是否等于或大于一个指定值。根据该确定结果重新调节伺服系统设置值。

在第三实施例中，空闲状态被用作触发器。就是说，确定是否既没有产生读命令也没有产生写命令而且从前一个重新调节起是否已经过了一个预定时间。根据该确定结果重新调节伺服系统设置值。

在第四实施例中，从待用状态的返回被用作触发器。就是说，当已处在静待状态的主轴马达被重新启动时，或者为了读或写的目主轴马达被重新启动时，伺服系统设置值被重新调节。

在第五实施例中，盘的径向位置被用作触发器。就是说，当对盘上的一个预定径向位置要读出数据时，位置/校正值对应表被参考，并根据对应于该径向位置的校正值重新调节伺服系统设置值。此外，根据需要，位置/校正值对应表被更新为最新信息。

在上文的描述中，要被调节的对象是为伺服系统事先设置的校正值，更具体地说，是聚焦系统的校正值。然而，本发明不限于此。例如，可以调节为寻道系统设置的校正值。事先设置的用于调节作为数据信号的RF信号振幅的校正值也可被调节。另一种作法是，事先给予致动器的偏移等调节值也可被调节。上文描述的各种值可被上述触发器(在预定时间)重新调节。

在本发明中，对于其特性在操作期间变化的物理设备适当地执行学习聚焦伺服特性、寻道伺服特性、RF信号特性以及致动器偏移调节值，从而实现最佳信号校正。因此，能在整个操作期间实现稳定的读、写性能。

例如，假定盘大大地卷曲，而且在其表面上的聚焦点几乎不能只由聚焦伺服来保持。在这种情况中，光检拾器的位置沿聚焦方向被机械校正，或一个电性偏移被添加到聚焦致动器以帮助聚焦伺服机构聚焦。当本发明与校正量学习功能结合时，可以对付甚至是插入盘卷曲随时间的变化。

现在将参考图13描述RF信号振幅调节。当开始RF信号振幅调节时，对信号校正器5(它作为RF放大器)给予一个适当的RF信号放大器增益值作为当前增益值(ST901)。当给出适当的RF信号放大器增益值时，RF信号预期有可测量的振幅。

根据当前增益值得到RF信号的上、下限值(ST902)。RF信号是通过将寻道状态下来自轨道的激光束反射光转换成电信号，积分信号的振幅并通过LPF去掉DC分量而得到的。由于DC分量被去除，RF信号显示出复杂的运动同时均一地沿垂直方向从0[V]变化。测量进行预定的时间。所得到的最大值和最小值作为RF信号的上、下限值。

其后，得到RF振幅。能由RF信号上限值-RF信号下限值得到RF振幅(ST903)。接下来，检验所得到的RF振幅是否落入允许的范围(ST904)。如果RF振幅落入允许范围(步骤ST904中的“是”)，则当前增益值被用作RF增益调节值，并结束处理(ST905)。如果RF振幅落在允许范围之外(步骤ST904中的“否”)，则检验RF振幅是否太大(ST906)。如果RF振幅是太大(步骤ST906中的“是”)，则RF信号放大器的增益，即当前增益值，被适当减小(ST907)。如果RF振幅太小(步骤ST906中的“否)，则RF信号放大器的增益，即当前增益值，被适当增大(ST908)。

在这些步骤中有各种方法能用于选择新值。例如，该值可增大或减小一个固定量。另一种作法是，可采用放大器增益值和RF振幅值之间基本上成比例的关系来加速收敛。在这任何一种情况中，都再次测量RF振幅的上、下限值(ST902)。

以上述方式设置的RF增益调节值由上述触发器(在预定时间)重新调整。因此，能实现稳定的读性能。

接下来将参考图14描述聚焦偏移调节。聚焦偏移是指聚焦误差信号的DC分量。伺服电路6只在去掉聚焦误差信号的DC电流之后才能执行伺服控制。为得到聚焦偏移，首先，关掉激光器(laser)(ST1001)。于是，在光检测元件上的入射光几乎为零。

接下来，聚焦平衡调节值被设为无效，以使正方向和负方向的聚焦平衡等值化(ST1002)。然后，聚焦误差值被测量(ST1003)。当激光器被关掉(ST1001)，而且聚焦平衡被等值化时(ST1002)，在这时测量的聚焦误差值与聚焦误差信号的DC分量相符合。所测量的值被作为聚焦偏移记录下来(ST1004)。

接下来，为启动聚焦伺服进行准备。首先，恢复聚焦平衡调节值(ST1005)。激光器再次被接通，并且聚焦伺服机构被接通(ST1006)。在此时，在步骤ST1004中得到的聚焦偏移被从聚焦误差信号中减掉。

利用上述同样方法也能获得寻道偏移。

以上述方式事先设置的聚焦平衡调节值由上述触发器(在预定时间)重新调节。因此，能实现稳定的读性能。

在上文的描述中，预置校正值或调节值在从光盘读数据的读步骤和在盘上写数据的写步骤中都被重新调节。除了这些情况之外，例如，预置校正值或调节值可只在读步骤中被重新调节。

根据上述本发明，能提供一种光盘装置。它能够例如在光检拾器或光盘的特性改变之后执行信号处理。

对本领域技术人员而言，易于想到其他的优点和修改。所以，本发明在其更广的方面不限于这里显示和描述的具体细节和代表性实施例。因此，可进行各种修改而不离开由所附权利要求及其等同定义的本发明一般概念的精神或范围。

Claims (5)

1.一种光盘装置，其特征在于包含：

旋转驱动单元，被配置成旋转地驱动光盘；

光处理单元，被配置成以光束照射光盘并检测从光盘反射的反射光；

光驱动单元，被配置成驱动光处理单元；

信号产生单元，被配置成产生控制光束聚焦的聚焦控制信号，控制光束寻道的寻道控制信号，以及根据光处理单元检测的反射信号产生对应于光盘上数据的数据信号；

校正单元，被配置成根据事先调节的校正值校正由信号产生单元产生的信号；

控制单元，被配置成根据由校正单元校正的聚焦控制信号和寻道控制信号来控制聚焦和寻道；以及

调节单元，被配置成在预定时间重新调节校正值，

其特征在于：调节单元对根据数据信号产生的读取数据的数目进行计数，监视校正字节的数目，检验校正字节的数目是否等于或大于第一指定值，在校正字节的数目等于或大于第一指定值的情况下，递增NG计数器，在读取数据的数目已达到预定值的情况下，清除该读取数据的数目，并检验NG计数器的值是否等于或大于第二指定值，在NG计数器的值等于或大于第二指定值的情况下，通过执行学习过程执行校正值的重新调节。

2.根据权利要求1的装置，其特征在于调节单元根据自前一次重新调节所经过的时间来执行重新调节。

3.根据权利要求1的装置，其特征在于调节单元根据旋转驱动单元的重新启动来执行重新调节。

4.根据权利要求1的装置，其特征在于调节单元学习在光盘上多个径向位置中的每个位置处的特性，计算与光盘上所述多个径向位置中的每个位置对应的校正值，产生一个能指出校正值和光盘上所述多个径向位置之间对应关系的校正表，以及以光束照射光盘上一个预定径向位置时，利用与该预定径向位置对应的一个校正值。

5.根据权利要求4的装置，其特征在于在以光束照射光盘上预定径向位置时，调节单元再次学习在此预定径向位置处的特性，计算与此预定径向位置对应的校正值并更新校正值表。

Images