CN1294583C - 检测盒式磁带导销对准和/或不存在的光学检测器和方法 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种用于检测盒式磁带导销对准和/或不存在的光学检测器和方法，其中，为了检测在盒式磁带开孔内磁带导销的对准和/或不存在，光源扫描开孔。检测逻辑分析被检反射波形信号与磁带导销的柱面反射的偏差，若有的话，如椭圆或锥形表面反射，此偏差表示导销的倾斜角偏离。进而，扫描导销的两端以分析位移差异和振幅差异，位移表示扫描方向的倾斜，而振幅表示一端或另一端有可能已被拉入盒式磁带中。两个振幅都较低则表示导销不存在。

Description

检测盒式磁带导销对准和/或 不存在的光学检测器和方法

技术领域

本发明涉及从数据存储盒式磁带访问磁带的盒式磁带装载器，如数据存储驱动器，并且更具体地，涉及访问具有导销的磁带，此导销用于从数据存储盒式磁带退绕磁带。

背景技术

数据存储盒式磁带为数据存储提供方便和低成本的装置。作为一个实例，便携式数据存储盒式磁带从一个数据处理系统的数据存储驱动器转移到另一数据处理系统的数据存储驱动器。作为另一实例，大量的数据存储盒式磁带装入箱子中并存储在档案存储区如岩盐坑中，并且如果随后需要，检索所述数据存储盒式磁带并运输到用户，以便例如进行数据恢复。

数据存储盒式磁带包括磁带导销，其中，磁带导销位于磁带的一端并定位在盒式磁带的开孔处。例如，数据存储驱动器的盒式磁带装载器具有与对准的磁带导销啮合的引导块，以便从数据存储盒式磁带退绕磁带。

必要时，盒式磁带的处理允许卸下一个或多个盒式磁带。在此情况下，冲击力使磁带导销的一端或两端位移，从而使磁带导销未对准。通常，磁带导销的端部位于盒式磁带相反侧的槽中，并且，当未对准时，盒式磁带稍微扩展，从而使磁带导销的一端或两端落在槽外。当磁带导销的一端因位于槽外而未对准时，未对准端被所连接的磁带拉入盒式磁带中，或向旁边移动。当磁带导销的两端位于它们的槽之外时，整个磁带导销被所连接的磁带拉入盒式磁带中，并且在盒式磁带开孔处不出现。

盒式磁带装载器使其引导块与盒式磁带的磁带导销啮合并从盒式磁带退绕磁带的无效企图、以及在没觉察到磁带导销的实际位置时旋拧磁带导销和磁带的企图，导致盒式磁带装载器或数据存储驱动器或其它具有盒式磁带装载器的器件受损或出故障，从而要求更换。

发明内容

根据本发明的几方面，提供用于检测磁带导销在盒式磁带开孔内对准和/或不存在的光学检测器、盒式磁带装载器、方法和计算机程序产品。磁带导销具有至少一个暴露柱面，如顶部和底部暴露柱面。

根据本发明的一个方面，提供一种用于检测盒式磁带开孔内磁带导销对准的光学检测器，所述磁带导销具有至少一个暴露的柱面，所述光学检测器包括：至少一个光源，当所述盒式磁带相对所述至少一个光源运动时，所述至少一个光源用于扫描所述盒式磁带的所述开孔的至少一个部分；至少一个光学检测装置，用于检测所述至少一个光源从所述盒式磁带的所述开孔的反射，并提供所述被检测反射的至少一个被检反射波形信号；以及接收所述至少一个被检反射波形信号的检测逻辑部件，所述检测逻辑部件：分析所述至少一个被检反射波形信号与所述磁带导销的柱面反射的偏差；以及如果存在所述至少一个被检反射波形信号的所述已分析的偏差，则确定所述至少一个暴露柱面的倾斜角是偏离的。

根据本发明的另一个方面，提供一种用于检测盒式磁带开孔内磁带导销对准的光学检测器，所述磁带导销具有顶部和底部暴露柱面，所述光学检测器包括：至少一个光源，当所述盒式磁带相对所述至少一个光源运动时，所述至少一个光源用于扫描所述盒式磁带的所述开孔的顶部和底部；用于扫描所述开孔的所述顶部和底部的至少一个光学检测装置，以分别检测所述至少一个光源从所述盒式磁带的所述开孔的所述顶部和底部的反射，并提供所述被检测反射的被检反射波形信号；以及接收所述被检反射波形信号的检测逻辑部件，所述检测逻辑部件：分析分别来自所述开孔的所述顶部和底部的所述被检反射波形信号，比较所述被检反射波形信号与所述磁带导销的所述顶部和底部暴露柱面的柱面反射的位移差异和振幅差异；以及如果存在所述已分析的所述被检反射波形信号的差异，则确定所述磁带导销的倾斜角偏离。

根据本发明的另一个方面，提供一种用于检测盒式磁带开孔内磁带导销对准的光学检测器，所述磁带导销具有顶部和底部暴露柱面，所述光学检测器包括：至少一个光源，当所述盒式磁带相对所述至少一个光源运动时，所述至少一个光源用于扫描所述盒式磁带的所述开孔的顶部和底部；用于扫描所述开孔的所述顶部和底部的至少一个光学检测装置，以分别检测所述至少一个光源从所述盒式磁带的所述开孔的所述顶部和底部的反射，并提供所述被检测反射的被检反射波形信号；以及接收所述被检反射波形信号的检测逻辑部件，所述检测逻辑部件：分析所述被检反射波形信号与所述磁带导销的柱面反射的偏差；分析分别来自所述开孔的所述顶部和底部的所述被检反射波形信号，比较所述被检反射波形信号与所述磁带导销的所述顶部和底部暴露柱面的柱面反射的位移差异和振幅差异；以及从所述已分析的所述被检反射波形信号的偏差，并且如果存在所述已分析的所述被检反射波形信号的差异，则确定所述磁带导销的倾斜角是偏离的。

根据本发明的另一个方面，提供一种用于检测在盒式磁带开孔内磁带导销的至少一端不存在的光学检测器，所述磁带导销具有顶部和底部暴露柱面，所述光学检测器包括：至少一个光源，当所述盒式磁带相对所述至少一个光源运动时，所述至少一个光源用于扫描所述盒式磁带的所述开孔的顶部和底部；用于扫描所述开孔的所述顶部和底部的至少一个光学检测装置，以分别检测所述至少一个光源从所述盒式磁带的所述开孔的顶部和底部的反射，并提供所述被检测反射的被检反射波形信号；以及接收所述被检反射波形信号的检测逻辑部件，所述检测逻辑部件：分析所述被检反射波形信号与所述磁带导销的所述顶部和底部暴露柱面的柱面反射的振幅偏差；以及从所述已分析的所述被检反射波形信号的振幅偏差，判断在所述盒式磁带的所述开孔的所述顶部和/或底部不存在所述暴露柱面。

根据本发明的另一个方面，提供一种用于访问数据存储盒式磁带开孔内的导销以便从所述数据存储盒式磁带退绕磁带的盒式磁带装载器，所述磁带导销具有至少一个暴露的柱面，所述盒式磁带装载器包括：与在所述数据存储盒式磁带的所述开孔内的已对准的所述磁带导销啮合的引导块；至少一个光源，当所述盒式磁带相对所述至少一个光源运动时，所述至少一个光源用于扫描所述盒式磁带的所述开孔的所述至少一个部分；至少一个光学检测装置，用于检测所述至少一个光源从所述盒式磁带的所述开孔的反射，并提供所述被检测反射的至少一个被检反射波形信号；以及接收所述至少一个被检反射波形信号的检测逻辑部件，所述检测逻辑部件：分析所述至少一个被检反射波形信号与所述磁带导销的柱面反射的偏差；以及如果存在所述已分析的所述至少一个被检反射波形信号的偏差，则确定所述至少一个暴露柱面的倾斜角是偏离的；以及当判断所述倾斜角偏离时，不能操作所述引导块与所述磁带导销啮合。

根据本发明的另一个方面，提供一种用于访问数据存储盒式磁带开孔内的导销以便从所述数据存储盒式磁带退绕磁带的盒式磁带装载器，所述磁带导销具有顶部和底部暴露柱面，所述盒式磁带装载器包括：与在所述数据存储盒式磁带的所述开孔内的已对准的所述磁带导销啮合的引导块；至少一个光源，当所述盒式磁带相对所述至少一个光源运动时，所述至少一个光源用于扫描所述盒式磁带的所述开孔的顶部和底部；用于扫描所述开孔的所述顶部和底部的至少一个光学检测装置，以分别检测所述至少一个光源从所述盒式磁带的所述开孔的所述顶部和底部的反射，并提供所述被检测反射的被检反射波形信号；以及接收所述被检反射波形信号的检测逻辑部件，所述检测逻辑部件：分析分别来自所述开孔的所述顶部和底部的所述被检反射波形信号，比较所述被检反射波形信号与所述磁带导销的所述顶部和底部暴露柱面的柱面反射的位移差异和振幅差异；如果存在所述已分析的所述被检反射波形信号的差异，则确定所述磁带导销的倾斜角是偏离的；以及当判断所述倾斜角偏离时，不能操作所述引导块与所述磁带导销啮合。

根据本发明的另一个方面，提供一种用于访问数据存储盒式磁带开孔内的导销以便从所述数据存储盒式磁带退绕磁带的盒式磁带装载器，所述磁带导销具有顶部和底部暴露柱面，所述盒式磁带装载器包括：与在所述数据存储盒式磁带的所述开孔内的已对准的所述磁带导销啮合的引导块；至少一个光源，当所述盒式磁带相对所述至少一个光源运动时，所述至少一个光源用于扫描所述盒式磁带的所述开孔的顶部和底部；用于扫描所述开孔的所述顶部和底部的至少一个光学检测装置，以分别检测所述至少一个光源从所述盒式磁带的所述开孔的所述顶部和底部的反射，并提供所述被检测反射的被检反射波形信号；以及接收所述被检反射波形信号的检测逻辑部件，所述检测逻辑部件：分析所述被检反射波形信号与所述磁带导销的柱面反射的偏差；分析分别来自所述开孔的所述顶部和底部的所述被检反射波形信号，比较所述被检反射波形信号与所述磁带导销的所述顶部和底部暴露柱面的柱面反射的位移差异和振幅差异；如果存在所述已分析的所述被检反射波形信号的偏差，并且从所述已分析的所述被检反射波形信号的差异，则确定所述磁带导销的倾斜角是偏离的；以及当判断所述倾斜角偏离时，不能操作所述引导块与所述磁带导销啮合。

根据本发明的另一个方面，提供一种用于访问数据存储盒式磁带开孔内的导销以便从所述数据存储盒式磁带退绕磁带的盒式磁带装载器，所述磁带导销具有顶部和底部暴露柱面，所述盒式磁带装载器包括：与在所述数据存储盒式磁带的所述开孔内的已对准的所述磁带导销啮合的引导块；至少一个光源，当所述盒式磁带相对所述至少一个光源运动时，所述至少一个光源用于扫描所述盒式磁带的所述开孔的顶部和底部；用于扫描所述开孔的所述顶部和底部的至少一个光学检测装置，以分别检测所述至少一个光源从所述盒式磁带的所述开孔的所述顶部和底部的反射，并提供所述被检测反射的被检反射波形信号；以及接收所述被检反射波形信号的检测逻辑部件，所述检测逻辑部件：分析所述被检反射波形信号与所述磁带导销的所述顶部和底部暴露柱面的柱面反射的振幅偏差；如果存在所述已分析的所述被检反射波形信号的振幅偏差，则确定在所述盒式磁带的所述开孔的所述顶部和/或底部不存在所述暴露柱面；以及当判断至少一个所述暴露柱面不存在时，不能操作所述引导块与所述磁带导销啮合。

根据本发明的另一个方面，提供一种用于检测盒式磁带开孔内磁带导销对准的方法，所述磁带导销具有至少一个暴露的柱面，所述方法包括以下步骤：用至少一个光源扫描所述盒式磁带的所述开孔的至少一个部分；检测所述至少一个光源从所述盒式磁带的所述开孔的反射，并提供所述被检测反射的至少一个被检反射波形信号；分析所述至少一个被检反射波形信号与所述磁带导销的柱面反射的偏差；以及如果存在从所述已分析的所述至少一个被检反射波形信号的偏差，则确定所述至少一个暴露柱面的倾斜角是偏离的。

根据本发明的另一个方面，提供一种用于检测盒式磁带的开孔内磁带导销对准的方法，所述磁带导销具有顶部和底部暴露柱面，所述方法包括以下步骤：用至少一个光源扫描所述盒式磁带的所述开孔的顶部和底部；分别检测所述至少一个光源从所述盒式磁带的所述开孔的所述顶部和底部的反射，并提供所述被检测反射的被检反射波形信号；分析分别来自所述开孔的所述顶部和底部的所述被检反射波形信号，比较所述被检反射波形信号与所述磁带导销的所述顶部和底部暴露柱面的柱面反射的位移差异和振幅差异；以及如果存在所述已分析的所述被检反射波形信号的差异，则确定所述磁带导销的倾斜角是偏离的。

根据本发明的另一个方面，提供一种用于检测盒式磁带的开孔内磁带导销对准的方法，所述磁带导销具有顶部和底部暴露柱面，所述方法包括以下步骤：用至少一个光源扫描所述盒式磁带的所述开孔的顶部和底部；分别检测所述至少一个光源从所述盒式磁带的所述开孔的所述顶部和底部的反射，并提供所述被检测反射的被检反射波形信号；分析所述被检反射波形信号与所述磁带导销的柱面反射的偏差；分析分别来自所述开孔的所述顶部和底部的所述被检反射波形信号，比较所述被检反射波形信号与所述磁带导销的所述顶部和底部暴露柱面的柱面反射的位移差异和振幅差异；以及如果存在所述已分析的所述被检反射波形信号的偏差，并且从所述已分析的所述被检反射波形信号的差异，则确定所述磁带导销的倾斜角是偏离的。

根据本发明的另一个方面，提供一种用于检测在盒式磁带开孔内磁带导销的至少一端不存在的方法，所述磁带导销具有顶部和底部暴露柱面，所述方法包括以下步骤：用至少一个光源扫描所述盒式磁带的所述开孔的顶部和底部；分别检测所述至少一个光源从所述盒式磁带的所述开孔的所述顶部和底部的反射，并提供所述被检测反射的被检反射波形信号；分析所述被检反射波形信号与所述磁带导销的所述顶部和底部暴露柱面的柱面反射的振幅偏差；以及如果存在所述已分析的所述被检反射波形信号的振幅偏差，则确定在所述盒式磁带的所述开孔的所述顶部和/或底部不存在所述暴露柱面。

根据本发明的一方面，当盒式磁带相对至少一个光源运动时，所述光源扫描盒式磁带开孔的至少一个部分。

至少一个光学检测器检测所述光源从盒式磁带开孔的反射，并提供被检测反射的至少一个被检反射波形信号。

在一个实施例中，检测逻辑接收被检反射波形信号，并且，若有的话，分析被检反射波形信号与磁带导销的柱面反射的偏差；以及若有的话，从已分析的至少一个被检反射波形信号的偏差，若有的话，来判断至少一个暴露柱面的倾斜角偏离。柱面的倾斜角偏离可指示磁带导销未对准。

作为一个实例，如果倾斜角基本上在扫描方向，被检波形信号与柱面反射的偏差就包括代表椭圆表面反射的更宽波形信号，并且，如果倾斜角基本上与扫描方向正交，所述偏差就包括代表锥形面反射的振幅更窄且更低的波形信号。

在用于检测在盒式磁带开孔内不存在磁带导销的另一实施例中，若有的话，检测逻辑分析被检反射波形信号与磁带导销的柱面反射的振幅偏差；并且，若有的话，检测逻辑从已分析的被检反射波形信号的振幅偏差，若有的话，判断在盒式磁带开孔的所述部分不存在暴露柱面。低振幅有可能表示缺少从磁带导销的反射，这又表示正被检查的磁带导销的至少一端有可能已被拉入盒式磁带中。

在另一实施例中，磁带导销在每一端都具有柱面并且通常是垂直地位于开孔中，当盒式磁带移动时，至少一个光源聚焦在盒式磁带开孔的顶部和底部并扫描它们。至少一个光学检测器聚焦在开孔的顶部和底部，以分别检测光源从此开孔的顶部和底部的反射，并提供被检测反射的被检反射波形信号。检测逻辑分析分别来自所述开孔的顶部和底部的被检反射波形信号，若有的话，比较被检反射波形信号与磁带导销的顶部和底部暴露柱面的柱面反射的位移差异和振幅差异；并且，若有的话，检测逻辑从已分析的被检反射波形信号的差异，若有的话，判断磁带导销的倾斜角偏离。例如，如果顶部和底部柱面位移，磁带导销有可能在扫描方向上倾斜；并且，如果振幅有差异，一端或另一端有可能已被拉入盒式磁带中。

在又一实施例中，光源是静止的，盒式磁带装载器移动数据存储盒式磁带，使得盒式磁带的开孔移动经过光源；并且，装载传感器提供表示正在装入数据存储盒式磁带的信号。检测逻辑响应装载传感器信号，以在装载传感器信号之后预定时间内操作光源，使得当盒式磁带开孔被盒式磁带装载器移动经过光源时，所述光源工作。检测逻辑分析被检反射波形信号，以判断磁带导销的未对准和/或不存在。

参照以下结合附图所进行的详细描述，可对本发明有进一步的了解。

附图说明

图1为连接到磁带的导销的侧视图，其中，由本发明检测导销的对准；

图2为在数据存储盒式磁带中示出的图1导销和磁带的横截面视图；

图3为根据本发明一个实施例的用于扫描图2盒式磁带开孔的光源和光学检测器的轴测图；

图4为具有图3光源和光学检测器的数据存储驱动器和盒式磁带装载器的侧视图；

图5为图4数据存储驱动器和盒式磁带装载器的示意图；

图6为根据本发明的用于检测图1磁带导销对准和/或不存在的检测器实施例的示意性框图；

图7为在图1磁带导销对准时，图6检测器的未经滤波的被检反射波形信号的示意图；

图8为在盒式磁带开孔处不存在图1磁带导销时，图6检测器的未经滤波的被检反射波形信号的示意图；

图9为在图1磁带导销沿扫描未对准时，图6检测器的经过滤波的被检反射波形信号的示意图；

图10为在图1磁带导销偏离得与扫描方向正交时，图6检测器的经过滤波的被检反射波形信号的示意图；

图11为在图1磁带导销分别沿扫描方向对准、偏离和偏离得与扫描方向正交时，图6检测器的各个经过滤波的被检反射波形信号的示意图；以及

图12为根据本发明的计算机实施方法的实施例的流程图。

具体实施方式

本发明在以下优选实施例中结合附图进行描述，在附图中，相似的参考号代表相同或相似的元件。虽然是根据用于实现本发明目的的最佳模式来描述本发明，但本领域中技术人员应该理解，只要不偏离本发明的精神或范围，就可对这些描述进行变更。

图1和2示出固定到磁带12引导端的磁带导销10。例如，磁带导销为在LTO(开放线性磁带)盒式磁带中使用的类型。磁带12由中央段14固定在适当位置，并留出自由端15。磁带导销10具有顶部暴露柱面17和底部暴露柱面18，它们用作磁带导销的导向器。通常，磁带导销的端部位于盒式磁带相反侧的槽内，例如，在数据存储盒式磁带21中示出底槽20。

例如，数据存储驱动器的盒式磁带装载器具有与对准的磁带导销啮合的引导块，以便从数据存储盒式磁带退绕磁带。在图1和2的实例中，引导块在狭窄段23和24与磁带导销10啮合，从槽20通过开孔25拉出磁带导销，并在数据存储驱动器中旋拧磁带导销和磁带，从盒式磁带21退绕磁带。

有时，在处理过程中卸下盒式磁带。在此情况下，冲击力使磁带导销的一端或两端位移，从而使磁带导销未对准。通常，当未对准时，盒式磁带稍微扩展，从而使磁带导销的一端或两端落在槽外。在图1和2的实例中，端部17、或端部18、或者两端都从它们的槽如槽20跑出，从而，磁带导销因位于槽外而未对准。未对准端被所连接的磁带拉入盒式磁带中，或向旁边移动。当磁带导销的两端位于它们的槽之外时，整个磁带导销被所连接的磁带拉入盒式磁带中，并且在盒式磁带开孔处不存在。

参照图3、4和5，根据本发明的实施例，在例如与数据存储驱动器34相联的盒式磁带装载器31处设置光学组件30。光学组件30包括至少一个光源，所述光源聚焦在盒式磁带开孔的至少一部分上，随着盒式磁带相对光源移动，光源扫描开孔的所述部分。例如，盒式磁带装载器移动盒式磁带，使盒式磁带21的开孔25移动经过光学组件30的光源。在图3、4和5的实施例中，设置两个光源：分别聚焦在图2盒式磁带21中开孔25的顶部和底部的顶光源36和底光源37。

图3、4和5的光学组件30还包括至少一个光学检测器，其中，光学检测器聚焦在盒式磁带开孔的至少一部分上，以扫描此开孔部分，并检测光源从盒式磁带开孔处的反射。在图3、4和5的实施例中，设置两个光源：分别聚焦在图2盒式磁带21中开孔25的顶部和底部的顶部光学检测器38和底部光学检测器39。因而，光学检测器扫描此开孔，并检测光源从盒式磁带开孔处的反射。

另外参照图6，在图6中示出一组光源36和光学检测器38，光学检测器提供例如从盒式磁带21的开孔25的顶部反射的被检反射波形信号。作为实例，光源包括890nm激光器，脉冲发生器40根据处理器43的信号而操作890nm激光器。处理器43例如包括数据存储驱动器34的控制器或专用逻辑处理器。处理器43执行可由可编程计算机使用的计算机程序产品，其中，可编程计算机包含计算机可读程序代码，计算机可读程序代码使计算机处理器执行本发明的步骤。处理器43的实例包括本领域技术人员所了解的通用微处理器、定制处理器、离散逻辑等，所述代码例如可由只读存储器提供。

光源36的光聚焦在盒式磁带开孔的至少一部分上，随着盒式磁带相对光源移动，光源36扫描开孔的所述部分。如果导销10出现在开孔中，光源36的光就被扫描到的柱面如图1的柱面17反射，并被光学检测器38检测。图6的光学检测器38聚焦在光源36所扫描的盒式磁带开孔的所述部分上，并检测光源从盒式磁带的开孔的反射，而且，检测前置放大器45、高通滤波器46、以及放大器峰值和保持电路47提供被检测反射的被检反射波形信号。对光源37和光学检测器39提供相似的布置。如本领域技术人员所知道的，对于设置至少一个光源36、37和光学检测器38、39的输出，可提供各种布置。在本实例中，被检测反射的被检反射波形信号包括经放大器峰值和保持电路47滤波和采样的输出。

参照图3、4、5和6，在一个实施例中，光学组件30的光源36、37和检测器38、39是静止的，并且盒式磁带装载器31移动数据存储盒式磁带21，使得盒式磁带的开孔25沿箭头49方向移动经过光源36、37。装载传感器50提供表示正在装入数据存储盒式磁带的信号。处理器43的检测逻辑响应装载传感器信号，以便在装载传感器信号之后预定时间内操作光源36、37，使得在盒式磁带的开孔25的顶部和底部被盒式磁带装载器移动经过光源时，光源工作。这使得光源的激光器只工作一段较短的时间，这样既省电，又达到激光器更高的眼安全性级别。例如，在盒式磁带的开孔经过激光器时，激光器每隔500微秒连续脉动50微秒。

本发明检测图1磁带导销10在图2盒式磁带21的开孔25中的对准和/或不存在，在这，磁带导销具有至少一个暴露的柱面，如顶部和底部暴露柱面柱面17和18。

根据本发明的一个方面，当盒式磁带相对光源移动时，至少一个光源聚焦在盒式磁带开孔的至少一部分上，以扫描此开孔部分。光源36的光聚焦在盒式磁带开孔的至少一部分上，并扫描开孔的所述部分。如果在开孔中存在导销10，光源36的光由被扫描的柱面如图1的柱面17反射，并由光学检测器38检测。图6的光学检测器38聚焦在光源36所扫描的盒式磁带中的开孔部分上，并检测光源从盒式磁带开孔处的反射，而且，检测前置放大器45、高通滤波器46、以及放大器峰值和保持电路47提供被检测反射的被检反射波形信号，并对光源37和光学检测器39提供相似的布置。

图7示出从图1的磁带导销10“良好销存在”的柱面17、18的反射所检测到的未加工信号53的实例。未加工信号表示从图3和6的光学组件30的检测器38、39的反射振幅采集的大量样本“n”。例如，以2khz采样率采集样本。

图8示出当正被检测的磁带导销10的端部已被拉入没有可见反射光的盒式磁带中时从图2盒式磁带21的开孔25的反射所检测到的未加工信号55的实例，此信号表示“没有销存在”。而且，未加工信号表示从图3和6的光学组件30的检测器38、39的反射振幅采集的大量样本“n”。

如上所述，参照图6，检测前置放大器45、高通滤波器46、以及放大器峰值和保持电路47提供图3光学检测器38、39的被检测反射的被检反射波形信号。

图6的处理器43的检测逻辑接收被检反射波形信号，并分析磁带导销未对准的，若有的话，并分析磁带导销不存在的被检反射波形信号。

参照图9，示出磁带导销的柱面(图1中的表面17和18)的经过滤波的波形信号57和58。磁带导销一般垂直地位于开孔中，并且，当盒式磁带相对光源移动时，图3的光源36、37聚焦在盒式磁带开孔的顶部和底部上，并扫描所述顶部和底部。光学检测器38、39聚焦在开孔的顶部和底部上，以分别检测光源从开孔的顶部和底部的反射，并提供被检测反射的反射波形信号。对于每一个检测器，图6的高通滤波器46与放大器峰值和保持电路47提供被检测反射的被检反射波形信号。检测逻辑43分析开孔的顶部和底部的被检反射波形信号57和58，若有的话，比较被检反射波形信号与磁带导销的顶部和底部暴露柱面的柱面反射的位移差异和振幅差异；并且，若有的话，从所分析的被检反射波形信号的差异来判断磁带导销的倾斜角偏离，若有的话。在图9的实施例中，如直线60和61所示，波形信号57相对波形信号58位移，表示顶部和底部柱面位移，并表示磁带导销有可能沿扫描方向倾斜。再参照图10，波形信号63的振幅与波形信号64的振幅显著不同，表示磁带导销有可能倾斜得与扫描方向正交，其中，波形信号64所代表的磁带导销的端部有可能已经被拉入盒式磁带中。

参照图11，在一个实施例中，检测逻辑接收被检反射波形信号，并且若有的话，分析被检反射波形信号与磁带导销的柱面反射的偏差。波形信号70代表磁带导销的基本对准的暴露柱面的被检反射波形信号。

对于被检波形信号与柱面反射偏差的一个实例，如果倾斜角基本上在扫描方向，波形信号71就包括代表椭圆表面反射的更宽波形信号。对于被检波形信号与柱面反射偏差的另一实例，如果倾斜角基本上与扫描方向正交，波形信号72就包括代表锥形面反射的振幅更窄且更低的波形信号。

因而，若有的话，磁带导销一端的被检反射波形信号的形状提供磁带导销倾斜的指示。磁带导销的两端提供相似的被检反射波形信号。根据本领域技术人员已知的校准处理，设定表示未对准的精确阈值。

如果检测磁带导销的两端并且两个被检反射波形信号与图10的波形信号64相似，它就包括已分析的被检反射波形信号的振幅偏差，以及在盒式磁带开孔的两个部分上不存在暴露的柱面，低的振幅表示缺少在磁带导销任一端的反射，这又表示正被检查的磁带导销有可能已被拉入盒式磁带中。

在本发明的又一方面，例如如图6的处理器43的检测逻辑，从顶部和底部检测器38、39接收被检反射波形信号，并且若有的话，分析被检反射波形信号与磁带导销的柱面反射的偏差。处理器43还分析分别来自图2盒式磁带21的开孔25的顶部和底部的被检反射波形信号，若有的话，比较被检反射波形信号与磁带导销的顶部和底部暴露柱面的柱面反射的位移差异和振幅差异。若有的话，图6的处理器43从已分析的被检反射波形信号与柱面反射的偏差，并且若有的话，从已分析的顶部和底部被检反射波形信号之间的差异，若有的话判断磁带导销的倾斜角偏离。

图12示出本发明的计算机实施方法的实施例。

在步骤80，数据存储盒式磁带，如图2和5中的盒式磁带21，放置在盒式磁带装载器中，如图4和5的盒式磁带装载器31。

在图12的步骤81，图2和5中的数据存储盒式磁带21在箭头49方向上被盒式磁带装载器31移动经过装载传感器50，从而，盒式磁带21的开孔25移动经过光学组件30。图5和6的装载传感器50提供表示正在装入数据存储盒式磁带的信号。如步骤83和84所示，图6的处理器43的检测逻辑响应装载传感器信号，以便在装载传感器信号之后预定时间内操作图3的光源36、37，使得在图2的盒式磁带21的开孔25的顶部和底部被盒式磁带装载器移动经过光源时，光源工作。另外，光源的激光器只工作一段较短的预定时间，以扫描开孔25的顶部和底部。当盒式磁带相对光源移动时，图3和6的光源36、37的光聚焦在盒式磁带开孔的部分上，以扫描开孔的所述部分。如图12的步骤87所示，图3和6的光学检测器38、39聚焦在由光源36、37所扫描的盒式磁带的开孔部分上，并检测各个光源从盒式磁带开孔的反射。例如，检测前置放大器45、高通滤波器46、以及放大器峰值和保持电路47提供对于每个检测器的被检测反射的被检反射波形信号。处理器43的逻辑随后分析被检反射波形信号。

在一个实施例中，图12的步骤90判断处理是单通道还是双通道，这意味着，在单通道实施中采用一个光学检测器，或者，在双通道实施中，目前采用图3和6的光学检测器38、39。如果只采用一个光学检测器，图12的步骤90就前进到步骤95，在此步骤中，处理器分析被检测的反射以判断磁带导销是否倾斜和/或不存在。在步骤96中，若有的话，分析被检反射波形信号与磁带导销的柱面反射的振幅偏差，并且，若有的话，从已分析的被检反射波形信号的振幅偏差，若有的话判断在盒式磁带开孔处不存在暴露柱面。如果基于预定的阈值，振幅不充分，例如，如图10的波形64所示，处理就前进到图12的步骤100，在此步骤中判断磁带导销不存在。

如果步骤96判断振幅是充分的，处理就前进到步骤101，在此步骤中分析被检波形信号与柱面反射的偏差。如图11所示，如果倾斜角基本上在扫描方向，偏差就包括代表椭圆表面反射的更宽波形信号71，并且，如果倾斜角基本上与扫描方向正交，偏差就包括代表锥形面反射的振幅更窄且更低的波形信号72。

如果基于预定的阈值，与柱面的偏差不充分，如波形信号70所示，就认为磁带导销是对准的，并且处理前进到图12的步骤103。相反，如果基于预定的阈值，与柱面的偏差是充分的，处理就前进到步骤100，在此步骤中确定磁带导销是未对准的。

如果步骤90确定图2的盒式磁带21的开孔25的顶部和底部正被图3的光学检测器36、37与图3和6的光学检测器38、39扫描，处理就前进到图12的步骤110，由处理器43分析两个波形信号。

在步骤116中，若有的话，分析被检反射波形信号与磁带导销的柱面反射的任一波形信号的振幅偏差，并且，若有的话，从已分析的被检反射波形信号的振幅偏差，若有的话，判断在盒式磁带开孔处磁带导销任一端的暴露柱面是否不存在。如果基于预定的阈值，任一端的振幅是不充分的，例如，如图10的波形信号64所示，处理就前进到图12的步骤100，在此步骤中确定磁带导销是未对准的(一端不存在，包括磁带导销的振幅差异和倾斜角偏离)，或是不存在的(两端不存在，从而磁带导销不存在)。

如果步骤116指示磁带导销两端的波形信号振幅在预定阈值范围内，处理就前进到步骤118，此步骤分析分别来自开孔的顶部和底部的被检反射波形信号，若有的话，比较被检反射波形信号与磁带导销的顶部和底部暴露柱面的柱面反射的位移之差。例如，通过比较波形信号的计时而进行分析。如果在步骤118中分析的被检反射波形信号的计时之差超过预定的阈值，例如，如图9的波形信号57和58的计时60和61所示，图12的步骤118就前进到步骤100，以指示磁带导销的倾斜角偏离。

如果在步骤118中计时在预定阈值之内，处理就前进到步骤121，在此步骤中，分析每一个被检波形信号与柱面反射的偏差。如图11所示，如果倾斜角基本上在扫描方向，偏差就包括代表椭圆表面反射的更宽波形信号71，并且，如果倾斜角基本上与扫描方向正交，偏差就包括代表锥形面反射的振幅更窄且更低的波形信号72。

如果基于预定的阈值，对于磁带导销的两端，与柱面的偏差是不充分的，如波形信号70所示，那么，就认为磁带导销是对准的，并且处理前进到图12的步骤123。相反，如果基于预定的阈值，对于磁带导销的任一端，与柱面的偏差是充分的，处理就前进到步骤100，在此步骤中确定磁带导销是未对准的。

在图12方法的实例中，步骤121作为步骤116和118的检查步骤，并且步骤101作为步骤96的检查步骤，只要任何一个失效就满足表示磁带导销偏离或不存在的阈值。本领域中技术人员理解，图12的步骤可以不同地组织，例如，颠倒检查步骤，并且进一步地，相反，为了判断在盒式磁带开孔处磁带导销的偏离或不存在，要求多于一个的阈值失效。

虽然已经详细说明本发明的优选实施例，但本领域中技术人员应该明白，只要不偏离在后附权利要求中提出的本发明范围，可对这些实施例作出变更和修改。

Claims (36)

1.一种用于检测盒式磁带开孔内磁带导销对准的光学检测器，所述磁带导销具有至少一个暴露的柱面，所述光学检测器包括：

至少一个光源，当所述盒式磁带相对所述至少一个光源运动时，所述至少一个光源用于扫描所述盒式磁带的所述开孔的至少一个部分；

至少一个光学检测装置，用于检测所述至少一个光源从所述盒式磁带的所述开孔的反射，并提供所述被检测反射的至少一个被检反射波形信号；以及

接收所述至少一个被检反射波形信号的检测逻辑部件，所述检测逻辑部件：

分析所述至少一个被检反射波形信号与所述磁带导销的柱面反射的偏差；以及

如果存在所述至少一个被检反射波形信号的所述已分析的偏差，则确定所述至少一个暴露柱面的倾斜角是偏离的。

2.如权利要求1所述的光学检测器，其中，所述至少一个光源是静止的，并且其中，当所述盒式磁带的所述开孔的所述至少一个部分运动经过所述至少一个光源时，所述检测逻辑部件操作所述至少一个光源。

3.如权利要求1所述的光学检测器，其中，所述检测逻辑部件还分析所述至少一个被检波形信号与柱面反射的偏差，如果所述倾斜角在所述扫描方向，所述偏差就包括代表椭圆表面反射的更宽波形信号，并且，如果所述倾斜角与所述扫描方向正交，所述偏差就包括代表锥形面反射的振幅更窄且更低的波形信号。

4.如权利要求1所述的光学检测器，还用于检测所述盒式磁带的所述开孔中磁带导销不存在，所述检测逻辑部件还：

分析所述至少一个被检反射波形信号与所述磁带导销的所述柱面反射的振幅偏差；以及

如果存在所述已分析的所述至少一个被检反射波形信号的振幅偏差，则确定在所述盒式磁带的所述开孔的所述至少一个部分处不存在所述至少一个暴露柱面。

5.一种用于检测盒式磁带开孔内磁带导销对准的光学检测器，所述磁带导销具有顶部和底部暴露柱面，所述光学检测器包括：

至少一个光源，当所述盒式磁带相对所述至少一个光源运动时，所述至少一个光源用于扫描所述盒式磁带的所述开孔的顶部和底部；

用于扫描所述开孔的所述顶部和底部的至少一个光学检测装置，以分别检测所述至少一个光源从所述盒式磁带的所述开孔的所述顶部和底部的反射，并提供所述被检测反射的被检反射波形信号；以及

接收所述被检反射波形信号的检测逻辑部件，所述检测逻辑部件：

分析分别来自所述开孔的所述顶部和底部的所述被检反射波形信号，比较所述被检反射波形信号与所述磁带导销的所述顶部和底部暴露柱面的柱面反射的位移差异和振幅差异；以及

如果存在所述已分析的所述被检反射波形信号的差异，则确定所述磁带导销的倾斜角是偏离的。

6.如权利要求5所述的光学检测器，其中，所述至少一个光源是静止的，并且，所述盒式磁带的所述开孔的所述顶部和底部被移动经过所述至少一个静止光源；并且，所述检测逻辑部件分析分别来自所述开孔的所述顶部和底部的所述被检反射波形信号，比较所述被检反射波形信号的相对定时与所述磁带导销的所述顶部和底部暴露柱面的所述柱面反射的位移差异。

7.如权利要求5所述的光学检测器，还用于检测在所述盒式磁带的所述开孔中所述磁带导销不存在，所述检测逻辑部件还：

分析所述被检反射波形信号与所述磁带导销的所述顶部和底部暴露柱面的柱面反射的振幅偏差；以及

如果存在所述已分析的所述被检反射波形信号的振幅偏差，则确定在所述盒式磁带的所述开孔的所述顶部和/或底部处不存在所述暴露柱面。

8.一种用于检测盒式磁带开孔内磁带导销对准的光学检测器，所述磁带导销具有顶部和底部暴露柱面，所述光学检测器包括：

至少一个光源，当所述盒式磁带相对所述至少一个光源运动时，所述至少一个光源用于扫描所述盒式磁带的所述开孔的顶部和底部；

用于扫描所述开孔的所述顶部和底部的至少一个光学检测装置，以分别检测所述至少一个光源从所述盒式磁带的所述开孔的所述顶部和底部的反射，并提供所述被检测反射的被检反射波形信号；以及

接收所述被检反射波形信号的检测逻辑部件，所述检测逻辑部件：

分析所述被检反射波形信号与所述磁带导销的柱面反射的偏差；

分析分别来自所述开孔的所述顶部和底部的所述被检反射波形信号，比较所述被检反射波形信号与所述磁带导销的所述顶部和底部暴露柱面的柱面反射的位移差异和振幅差异；以及

从所述已分析的所述被检反射波形信号的偏差，并且如果存在所述已分析的所述被检反射波形信号的差异，则确定所述磁带导销的倾斜角是偏离的。

9.如权利要求8所述的光学检测器，其中，当所述检测逻辑部件从所述已分析的偏差或从所述已分析的差异而判断所述磁带导销的倾斜角偏离时，所述检测逻辑部件指示所述磁带导销的倾斜角偏离。

10.如权利要求8所述的光学检测器，其中，所述至少一个光源是静止的，并且，所述盒式磁带的所述开孔的所述顶部和底部被移动经过所述至少一个光源；并且，所述检测逻辑部件分析分别来自所述开孔的所述顶部和底部的所述被检反射波形信号，比较所述被检反射波形信号的相对定时与所述磁带导销的所述顶部和底部暴露柱面的所述柱面反射的位移差异。

11.如权利要求8所述的光学检测器，其中，所述检测逻辑部件还分析所述被检波形信号与柱面反射的偏差，如果所述倾斜角在所述扫描方向，所述偏差就包括代表椭圆表面反射的更宽波形信号，并且，如果所述倾斜角与所述扫描方向正交，所述偏差就包括代表锥形面反射的振幅更窄且更低的波形信号。

12.一种用于检测在盒式磁带开孔内磁带导销的至少一端不存在的光学检测器，所述磁带导销具有顶部和底部暴露柱面，所述光学检测器包括：

至少一个光源，当所述盒式磁带相对所述至少一个光源运动时，所述至少一个光源用于扫描所述盒式磁带的所述开孔的顶部和底部；

用于扫描所述开孔的所述顶部和底部的至少一个光学检测装置，以分别检测所述至少一个光源从所述盒式磁带的所述开孔的顶部和底部的反射，并提供所述被检测反射的被检反射波形信号；以及

接收所述被检反射波形信号的检测逻辑部件，所述检测逻辑部件：

分析所述被检反射波形信号与所述磁带导销的所述顶部和底部暴露柱面的柱面反射的振幅偏差；以及

如果存在所述已分析的所述被检反射波形信号的振幅偏差，则确定在所述盒式磁带的所述开孔的所述顶部和/或底部不存在所述暴露柱面。

13.一种用于访问数据存储盒式磁带开孔内的导销以便从所述数据存储盒式磁带退绕磁带的盒式磁带装载器，所述磁带导销具有至少一个暴露的柱面，所述盒式磁带装载器包括：

与在所述数据存储盒式磁带的所述开孔内的已对准的所述磁带导销啮合的引导块；

至少一个光源，当所述盒式磁带相对所述至少一个光源运动时，所述至少一个光源用于扫描所述盒式磁带的所述开孔的所述至少一个部分；

至少一个光学检测装置，用于检测所述至少一个光源从所述盒式磁带的所述开孔的反射，并提供所述被检测反射的至少一个被检反射波形信号；以及

接收所述至少一个被检反射波形信号的检测逻辑部件，所述检测逻辑部件：

分析所述至少一个被检反射波形信号与所述磁带导销的柱面反射的偏差；以及

如果存在所述已分析的所述至少一个被检反射波形信号的偏差，则确定所述至少一个暴露柱面的倾斜角是偏离的；以及

当确定所述倾斜角偏离时，不能操作所述引导块与所述磁带导销啮合。

14.如权利要求13所述的盒式磁带装载器，其中，所述至少一个光源是静止的；其中，所述盒式磁带装载器还包括用于移动所述数据存储盒式磁带的装载器，使得所述盒式磁带的所述开孔运动经过所述至少一个光源；其中，所述盒式磁带装载器还包括装载传感器，此传感器提供指示正在装入所述数据存储盒式磁带的信号；以及其中，所述检测逻辑部件响应所述装载传感器信号，以在所述装载传感器信号之后预定时间内操作所述至少一个光源，使得当所述盒式磁带的所述开孔的所述至少一个部分被所述装载器移动经过所述至少一个光源时，所述至少一个光源工作。

15.如权利要求13所述的盒式磁带装载器，其中，所述检测逻辑部件还分析所述至少一个被检波形信号与柱面反射的偏差，如果所述倾斜角在所述扫描方向，所述偏差就包括代表椭圆表面反射的更宽波形信号，并且，如果所述倾斜角与所述扫描方向正交，所述偏差就包括代表锥形面反射的振幅更窄且更低的波形信号。

16.如权利要求13所述的盒式磁带装载器，其中，所述检测逻辑部件还：

分析所述至少一个被检反射波形信号与所述磁带导销的所述柱面反射的振幅偏差；

如果存在所述已分析的所述至少一个被检反射波形信号的振幅偏差，则确定在所述盒式磁带的所述开孔的所述至少一个部分处不存在所述至少一个暴露柱面；以及

当确定所述至少一个暴露柱面不存在时，不能操作所述引导块与所述磁带导销啮合。

17.一种用于访问数据存储盒式磁带开孔内的导销以便从所述数据存储盒式磁带退绕磁带的盒式磁带装载器，所述磁带导销具有顶部和底部暴露柱面，所述盒式磁带装载器包括：

与在所述数据存储盒式磁带的所述开孔内的已对准的所述磁带导销啮合的引导块；

至少一个光源，当所述盒式磁带相对所述至少一个光源运动时，所述至少一个光源用于扫描所述盒式磁带的所述开孔的顶部和底部；

用于扫描所述开孔的所述顶部和底部的至少一个光学检测装置，以分别检测所述至少一个光源从所述盒式磁带的所述开孔的所述顶部和底部的反射，并提供所述被检测反射的被检反射波形信号；以及

接收所述被检反射波形信号的检测逻辑部件，所述检测逻辑部件：

分析分别来自所述开孔的所述顶部和底部的所述被检反射波形信号，比较所述被检反射波形信号与所述磁带导销的所述顶部和底部暴露柱面的柱面反射的位移差异和振幅差异；

如果存在所述已分析的所述被检反射波形信号的差异，则确定所述磁带导销的倾斜角是偏离的；以及

当确定所述倾斜角偏离时，不能操作所述引导块与所述磁带导销啮合。

18.如权利要求17所述的盒式磁带装载器，其中，所述至少一个光源是静止的；其中，所述盒式磁带装载器还包括用于移动所述数据存储盒式磁带的装载器，使得所述盒式磁带的所述开孔运动经过所述至少一个光源；其中，所述盒式磁带装载器还包括装载传感器，此传感器提供指示正在装入所述数据存储盒式磁带的信号；以及其中，所述检测逻辑部件响应所述装载传感器信号，以在所述装载传感器信号之后预定时间内操作所述至少一个光源，使得当所述盒式磁带的所述开孔的所述顶部和底部被所述装载器移动经过所述至少一个光源时，所述至少一个光源工作；以及其中，所述检测逻辑分析分别来自所述开孔的所述顶部和底部的所述被检反射波形信号，比较所述被检反射波形信号的相对定时与所述磁带导销的所述顶部和底部暴露柱面的所述柱面反射的位移差异。

19.如权利要求17所述的盒式磁带装载器，其中，所述检测逻辑部件还：

分析所述被检反射波形信号与所述磁带导销的所述顶部和底部暴露柱面的柱面反射的振幅偏差；

如果存在所述已分析的所述被检反射波形信号的振幅偏差，则确定在所述盒式磁带的所述开孔的所述顶部和/或底部处不存在所述暴露柱面；以及

当确定所述至少一个暴露柱面不存在时，不能操作所述引导块与所述磁带导销啮合。

20.一种用于访问数据存储盒式磁带开孔内的导销以便从所述数据存储盒式磁带退绕磁带的盒式磁带装载器，所述磁带导销具有顶部和底部暴露柱面，所述盒式磁带装载器包括：

与在所述数据存储盒式磁带的所述开孔内的已对准的所述磁带导销啮合的引导块；

至少一个光源，当所述盒式磁带相对所述至少一个光源运动时，所述至少一个光源用于扫描所述盒式磁带的所述开孔的顶部和底部；

用于扫描所述开孔的所述顶部和底部的至少一个光学检测装置，以分别检测所述至少一个光源从所述盒式磁带的所述开孔的所述顶部和底部的反射，并提供所述被检测反射的被检反射波形信号；以及

接收所述被检反射波形信号的检测逻辑部件，所述检测逻辑部件：

分析所述被检反射波形信号与所述磁带导销的柱面反射的偏差；

分析分别来自所述开孔的所述顶部和底部的所述被检反射波形信号，比较所述被检反射波形信号与所述磁带导销的所述顶部和底部暴露柱面的柱面反射的位移差异和振幅差异；

如果存在所述已分析的所述被检反射波形信号的偏差，并且从所述已分析的所述被检反射波形信号的差异，则确定所述磁带导销的倾斜角是偏离的；以及

当确定所述倾斜角偏离时，不能操作所述引导块与所述磁带导销啮合。

21.如权利要求20所述的盒式磁带装载器，其中，当所述检测逻辑部件从所述已分析的偏差和/或从所述已分析的差异而判断所述磁带导销的倾斜角偏离时，所述检测逻辑指示所述磁带导销的倾斜角偏离。

22.如权利要求20所述的盒式磁带装载器，其中，所述至少一个光源是静止的；其中，所述盒式磁带装载器还包括用于移动所述数据存储盒式磁带的装载器，使得所述盒式磁带的所述开孔运动经过所述至少一个光源；其中，所述盒式磁带装载器还包括装载传感器，此传感器提供指示正在装入所述数据存储盒式磁带的信号；以及其中，所述检测逻辑部件响应所述装载传感器信号，以在所述装载传感器信号之后预定时间内操作所述至少一个光源，使得当所述盒式磁带的所述开孔的所述顶部和底部被所述盒式磁带装载器移动经过所述至少一个光源时，所述至少一个光源工作；以及其中，所述检测逻辑部件分析分别来自所述开孔的所述顶部和底部的所述被检反射波形信号，比较所述被检反射波形信号的相对定时与所述磁带导销的所述顶部和底部暴露柱面的所述柱面反射的位移差异。

23.如权利要求20所述的盒式磁带装载器，其中，所述检测逻辑部件还分析所述被检波形信号与柱面反射的偏差，如果所述倾斜角在所述扫描方向，所述偏差就包括代表椭圆表面反射的更宽波形信号，并且，如果所述倾斜角与所述扫描方向正交，所述偏差就包括代表锥形面反射的振幅更窄且更低的波形信号。

24.一种用于访问数据存储盒式磁带开孔内的导销以便从所述数据存储盒式磁带退绕磁带的盒式磁带装载器，所述磁带导销具有顶部和底部暴露柱面，所述盒式磁带装载器包括：

与在所述数据存储盒式磁带的所述开孔内的已对准的所述磁带导销啮合的引导块；

至少一个光源，当所述盒式磁带相对所述至少一个光源运动时，所述至少一个光源用于扫描所述盒式磁带的所述开孔的顶部和底部；

用于扫描所述开孔的所述顶部和底部的至少一个光学检测装置，以分别检测所述至少一个光源从所述盒式磁带的所述开孔的所述顶部和底部的反射，并提供所述被检测反射的被检反射波形信号；以及

接收所述被检反射波形信号的检测逻辑部件，所述检测逻辑部件：

分析所述被检反射波形信号与所述磁带导销的所述顶部和底部暴露柱面的柱面反射的振幅偏差；

如果存在所述已分析的所述被检反射波形信号的振幅偏差，则确定在所述盒式磁带的所述开孔的所述顶部和/或底部不存在所述暴露柱面；以及

当确定至少一个所述暴露柱面不存在时，不能操作所述引导块与所述磁带导销啮合。

25.一种用于检测盒式磁带开孔内磁带导销对准的方法，所述磁带导销具有至少一个暴露的柱面，所述方法包括以下步骤：

用至少一个光源扫描所述盒式磁带的所述开孔的至少一个部分；

检测所述至少一个光源从所述盒式磁带的所述开孔的反射，并提供所述被检测反射的至少一个被检反射波形信号；

分析所述至少一个被检反射波形信号与所述磁带导销的柱面反射的偏差；以及

如果存在所述已分析的所述至少一个被检反射波形信号的偏差，则确定所述至少一个暴露柱面的倾斜角是偏离的。

26.如权利要求25所述的方法，其中，所述至少一个光源是静止的，并且所述扫描步骤包括当所述盒式磁带移动时，所述至少一个光源工作，使得所述盒式磁带的所述开孔的所述至少一个部分运动经过所述至少一个光源。

27.如权利要求25所述的方法，其中，所述分析步骤还包括分析所述至少一个被检波形信号与柱面反射的偏差，如果所述倾斜角在所述扫描步骤的方向，所述偏差就包括代表椭圆表面反射的更宽波形信号，并且，如果所述倾斜角与所述扫描步骤的方向正交，所述偏差就包括代表锥形面反射的振幅更窄且更低的波形信号。

28.如权利要求25所述的方法，还用于检测在盒式磁带的所述开孔内磁带导销不存在，包括以下步骤：

分析所述至少一个被检反射波形信号与所述磁带导销的所述柱面反射的振幅偏差；以及

如果存在所述已分析的所述至少一个被检反射波形信号的振幅偏差，则确定在所述盒式磁带的所述开孔的所述至少一个部分处不存在所述至少一个暴露柱面。

29.一种用于检测盒式磁带的开孔内磁带导销对准的方法，所述磁带导销具有顶部和底部暴露柱面，所述方法包括以下步骤：

用至少一个光源扫描所述盒式磁带的所述开孔的顶部和底部；

分别检测所述至少一个光源从所述盒式磁带的所述开孔的所述顶部和底部的反射，并提供所述被检测反射的被检反射波形信号；

分析分别来自所述开孔的所述顶部和底部的所述被检反射波形信号，比较所述被检反射波形信号与所述磁带导销的所述顶部和底部暴露柱面的柱面反射的位移差异和振幅差异；以及

如果存在所述已分析的所述被检反射波形信号的差异，则确定所述磁带导销的倾斜角是偏离的。

30.如权利要求29所述的方法，其中，所述至少一个光源是静止的；所述扫描步骤包括当所述盒式磁带移动时，所述至少一个光源工作，使是所述盒式磁带的所述开孔的所述顶部和底部运动经过所述至少一个光源；并且，所述分析步骤包括比较所述被检反射波形信号的相对定时与所述磁带导销的所述顶部和底部暴露柱面的所述柱面反射的位移差异。

31.如权利要求29所述的方法，还用于检测在盒式磁带的所述开孔内所述磁带导销不存在，包括以下步骤：

分析所述被检反射波形信号与所述磁带导销的所述顶部和底部暴露柱面的柱面反射的振幅偏差；以及

如果存在所述已分析的所述被检反射波形信号的振幅偏差，则确定在所述盒式磁带的所述开孔的所述顶部和/或底部处不存在所述暴露柱面。

32.一种用于检测盒式磁带的开孔内磁带导销对准的方法，所述磁带导销具有顶部和底部暴露柱面，所述方法包括以下步骤：

用至少一个光源扫描所述盒式磁带的所述开孔的顶部和底部；

分别检测所述至少一个光源从所述盒式磁带的所述开孔的所述顶部和底部的反射，并提供所述被检测反射的被检反射波形信号；

分析所述被检反射波形信号与所述磁带导销的柱面反射的偏差；

分析分别来自所述开孔的所述顶部和底部的所述被检反射波形信号，比较所述被检反射波形信号与所述磁带导销的所述顶部和底部暴露柱面的柱面反射的位移差异和振幅差异；以及

如果存在所述已分析的所述被检反射波形信号的偏差，并且从所述已分析的所述被检反射波形信号的差异，则确定所述磁带导销的倾斜角是偏离的。

33.如权利要求32所述的方法，其中，当从所述已分析的偏差进行判断和/或从所述已分析的差异进行判断时，判断所述磁带导销的倾斜角偏离，所述判断步骤指示所述磁带导销的倾斜角偏离。

34.如权利要求32所述的方法，其中，所述至少一个光源是静止的；所述扫描步骤包括当所述盒式磁带移动时，所述至少一个光源工作，使得所述盒式磁带的所述开孔的所述顶部和底部运动经过所述至少一个光源；并且，所述差异分析步骤包括比较所述被检反射波形信号的相对定时与所述磁带导销的所述顶部和底部暴露柱面的所述柱面反射的位移差异。

35.如权利要求32所述的方法，其中，所述偏差分析步骤还包括分析所述被检波形信号与柱面反射的偏差，如果所述倾斜角在所述扫描步骤的方向，所述偏差就包括代表椭圆表面反射的更宽波形信号，并且，如果所述倾斜角与所述扫描步骤的方向正交，所述偏差就包括代表锥形面反射的振幅更窄且更低的波形信号。

36.一种用于检测在盒式磁带开孔内磁带导销的至少一端不存在的方法，所述磁带导销具有顶部和底部暴露柱面，所述方法包括以下步骤：

用至少一个光源扫描所述盒式磁带的所述开孔的顶部和底部；

分别检测所述至少一个光源从所述盒式磁带的所述开孔的所述顶部和底部的反射，并提供所述被检测反射的被检反射波形信号；

分析所述被检反射波形信号与所述磁带导销的所述顶部和底部暴露柱面的柱面反射的振幅偏差；以及

如果存在所述已分析的所述被检反射波形信号的振幅偏差，则确定在所述盒式磁带的所述开孔的所述顶部和/或底部不存在所述暴露柱面。

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