CN1257580A - 检测光纤表面缺陷的方法和装置 - Google Patents

Abstract

适合于对光纤瑕疵进行在线检测使用的检测器,当光纤快速地通过检测点时对从光纤表面上逃逸光引起的闪光进行检测。检测器包括多个观测系统,每个观测系统由一个球面反射镜(608)、多个透镜和一个检测器(616)构成。每个球面反射镜(608)置于离开待检测瑕疵的光纤(618)的距离等于其曲率半径的地方。每个观测系统的第一透镜(610)置于离开光纤(618)的距离等于其焦距的地方,与反射镜相对。每个观测系统的第二透镜(612)置于与第一透镜(610)相对的位置上。检测器(616)置于离开第二透镜(612)的距离等于第二透镜(612)焦距的位置上,与第一透镜(610)相对。可以将附加的透镜置于每个观测系统的第一透镜(610)与第二透镜(612)之间。采用多个观测系统减小或消除了检测系统的死区。当光纤快速地通过检测器移动时可以采用所有上述方法来检测瑕疵。可以实时地鉴别和记录瑕疵,改善了质量控制;以及提供制造过程数据。

Description

检测光纤表面缺陷的方法和装置

                          发明领域

本发明一般地涉及光纤生产中的质量控制和光纤缺陷的早期检测。更具体地说，本发明涉及检测诸如在光纤制造期间由粘附到光纤表面上的颗粒引起的这些瑕疵和表面缺陷的光电检测器系统和方法。

                          发明背景

在由坯料抽拉光纤期间会出现各种缺陷。这些缺陷包括光纤内的孔、光纤内的杂物或粒子、光纤表面上的粒子以及表面磨蚀。光纤上存在表面磨蚀或粒子会在光纤制造后道工序阶段引起光纤断裂。因此，从实现最高制造成品率的角度考虑，在光纤制造期间，质量控制是很关键的。为此，已知有多种多样测试光纤质量的技术。例如，在完成光纤制造后有时可以脱线进行光纤张力筛选。缺陷或瑕疵会导致光纤断裂。现有的技术中没有一种能够解决在拉制或制造光纤时对表面粒子的在线实时检测。

                          发明概要

在拉制光纤时检测光纤上粒子的能力无论是作为一种工艺过程改善工具还是提供减少在光纤制造后道工序中会出现引起光纤断裂的粒子数目所需的信息都是有利的。举例来说，实时检测到瑕疵数目有较大增加则表示熔炉耐火材料正在劣化，应当替换熔炉。

本发明认为光纤预型件和在其镀膜前含有包层的拉制光纤形成优良的波导。照此，在镀膜前，光基本上渗透光纤的整个截面。大部分光在光纤整个长度上向下传导，除非被诸如孔、表面磨蚀或粒子等缺陷沿光纤长度散射掉。在拉制过程中，在拉制熔炉中光纤充满光，拉制熔炉是良好的强白光光源。在拉制光纤时，来自拉制熔炉的光沿着光纤传导，碰到缺陷时被散射到外。由于在拉制光纤时光纤移动存在速率，当缺陷快速地通过检测器时散射光作为一道短暂的闪光被检测器所检测。

在由本发明解决的其它需求中，需要一种能够检测正在拉制光纤时由光纤中缺陷造成的光散射而引起的闪光的检测器。本发明还提供一种能够以拉制光纤的正常速率有效地工作，以识别由光纤表面上存在粒子引起的闪光的检测器。这里可以把这种粒子称为玻璃或POG上的粒子。

本发明的一个方面较佳地包括位于椭圆反射镜的一个焦点上的高速、大面积检测器。接受检测的光纤置于反射镜的另一个焦点上。反射镜的排列提供从光纤散射的光将以180度反射在检测器上。较佳地把检测元件屏蔽起来以阻挡杂散光，以及用惰性气体进行净化，以保持光纤表面的清洁。

根据本发明的另一个方面，采用椭圆反射镜。将光纤置于反射镜的一个焦点上，直径最好为1cm的荧光棒置于另一个焦点上。荧光棒最好具有抛光的端面并平行于光纤取向。棒的一端最好是反射面，而高速硅检测器附着在另一端上。棒中掺入吸收可见光、最好是黄光而在可见光或近红外光谱区中发射荧光的荧光染料。当来自光纤的光碰到棒时，将出现荧光。大约一半的光将在棒外发荧光和被损失。四分之一的光将被引导到棒内、被反射镜表面反射，然后被向下引导返回到检测器上，而其余四分之一的光被直接引导到检测器上。荧光的出现非常快速，在10ns量级上，如此超快速闪光可以被检测。此外，由于棒的直径为1cm，从光纤散射的光全部都将落在棒上，系统对光纤移动是不敏感的。再有，将会看到，通过增加棒的长度，将能增加观测闪光持续的时间。另外，可以预先使棒加上遮板，以区分例如粒子与孔。

本发明的另一个方面较佳地包括二个观测系统。每个观测系统包括一个小面积、高速、高灵敏度硅检测器、两个透镜和一个球面反射镜。透镜系统使得观测系统对光纤移动不敏感。在本发明的较佳实施例中，采用的透镜允许系统有2.5cm的光纤移动容限。

将透镜置于光纤的一侧，球面反射镜置于光纤的另一侧，在离开光纤等于其曲率半径的位置上。因此，来自光纤的所有入射光被反射返回到检测器。利用以90度在空间上分开的两个观测系统增加了收集来自POG闪光的似真性。此外，只要增加快速分析信号差的合适信号处理支持，相信可以采用两个检测器之间的信号差来鉴别粒子类型和孔的存在。系统最好封装在一个盒子中，以阻挡杂散光和用惰性气体进行净化，外壳最好安装在可调节的x和y工作台上，以将检测器适当地相对于光纤定位。提供一个净化气体源以保持检测器的光学表面无沾污。

本发明的另一个方面较佳地包括三观测系统。每个观测系统包括一个小面积、高速、高灵敏度硅检测器、三个透镜和一个球面反射镜。透镜置于光纤的一侧，球面反射镜置于光纤的另一侧，在离开光纤等于其曲率半径的位置上。因此，来自光纤的所有入射光被反射返回到检测器。利用以120度在空间上分开的三个观测系统消除了可能存在光纤而没有检测到闪光的任何死区。只要适当选择和配置各个部分，利用三个视角和三个透镜允许根据本发明这个方面的检测器以高速度检测闪光，如在光纤制造期间采用的典型抽拉速度。此外，虽然详细地描述了各个方法，应当看到，多观测系统可以采用由应用以及诸如成本的考虑因素所确定的视角个数。可以适当地采用其它各种光学排列和检测器。

从以下的详细描述和附图，显然可获得对本发明的更全面的理解以及本发明的进一步的特征和优点。

                         附图简述

图1示出根据本发明的光纤抽拉过程和系统。

图2A示出根据本发明的包括椭圆反射镜和检测器的闪光检测系统的俯视图。

图2B示出图2A所示的闪光检测系统的侧视图。

图3示出根据本发明的采用椭圆反射镜和荧光棒的闪光检测系统的侧视图。

图4示出根据本发明的两个观测系统的闪光检测系统的俯视图。

图5示出图4所示的两个观测系统的闪光检测系统的侧视图。

图6是根据本发明的三个观测系统的闪光检测系统。

图7示出按照本发明的闪光检测的方法。

                   较佳实施例的详细描述

图1示出采用按照本发明的光纤瑕疵检测的光纤拉制过程和系统10。在系统10中，光纤1是从拉制熔炉11中抽出的，熔炉11最好将光纤加热到约1900-2000℃的温度。这个温度是足以引起光纤发光以及基本上充满白光。当光纤1离开拉制熔炉11时，它通过瑕疵检测器12，瑕疵检测器最好是按照以下将结合图2A-7讨论作进一步描述的原理构造的，尽管将会认识到，可以适当地设计其它与接下来的说明和权利要求相一致的光学检测器排列和封壳。瑕疵检测器12最好直接位于拉制熔炉11后，因为在工艺过程中在这个位置上通过拉制熔炉11的高温基本上已经消除了所有的表面磨蚀。然而，将会看到，瑕疵检测器12也可以位于其它位置上，如图1所示的位于直径检验器13或冷却管15之后的A点或B点，或者另一方面，如果需要的话，可以与直径检验器13相结合，形成一个双重功能的单个外壳单元。

接着，光纤1通过直径检验器13，它以已知的方式对光纤1的直径进行检验。直径检验器13可以是干涉直径测量(“IDM”)装置，如美国专利5,309,221中所描述的这些装置，该专利转让给本发明的受让人，这里将其全文引作参考。从直径检验器13，光纤1然后通过冷却管15、一次镀膜机17、第一镀膜固化器19、二次镀膜机21、第二镀膜固化器23和牵引机25。牵引机25以所需的工艺处理速率提供抽拉光纤1的适度的力。在转让给本发明受让人的在这里全文引作参考的美国专利5,443,610中描述了一种现行的抽拉系统的进一步详细情况。

除了以上描述的部件外，系统10还包括净化气体源14，为净化瑕疵检测器11的光学表面防止该表面受外来沾污提供气体。系统10还包括数据获取系统20、图表记录仪30和报警系统40。数据获取系统20最好包括对瑕疵检测器12产生的信号进行放大、转换和处理的快速数字信号处理电路。其中可以适当地包括含有已适当编程的控制器、存储器、显示器、键盘和打印机的PC、工作站或小型计算机。通过使数据获取系统20与瑕疵检测器12、直径检验器13和牵引机25相连接，从诸如POG的其它瑕疵能够鉴别出孔，因为能够采用IDM以已知方式对孔进行检测，例如美国专利5,185,636中所描述，该专利转让给本发明的受让人，这里将其全文引作参考。数据获取系统20能够监视和检验光纤1的抽拉速度。能够采用图表记录仪30来保持光纤1上各种瑕疵位置的记录。响应于实时瑕疵检测，可以采用报警系统40给制造工艺过程控制人员或者控制处理器提供适当的报警。

图2A示出根据本发明一个方面的闪光检测系统100的俯视图。这一系统100可以适用于作图1的瑕疵检测器12。检测系统100包括椭圆反射镜102和检测器104。检测器104位于反射镜102的一个焦点上。在反射镜102的另一个焦点上将光纤106引入检测器104与反射镜102之间。正如图2A所示，光纤106正在走向纸面内。正常地光通过光纤106传导，不会从光纤106上射出。然而，光纤106表面上的不规则或其它瑕疵将会引起光112从表面上逃逸。这种不规则性最常见的就是粘附到光纤106表面上的玻璃或POG上粒子。光112将会在POG处从光纤106上逃逸。光112经过大约180度落在反射镜102上以及反射到检测器104上。

图2B示出检测系统100的侧视图，光纤106从熔炉114馈送到检测系统100中，该图了提供反射镜102、检测器104和光纤106的附加视图。图2B还示出一个封壳或外壳116，检测器100适合于封装在内，以阻止环境光进入其中。挡板118和120在光纤106进入和退出外壳116的点上提供对环境光的附加屏蔽。另外，可以适当采用x和y平移台130，以便手工或自动地调节反射镜102相对于光纤106的位置。

在光纤106拉制期间采用检测器100是有利的。当光纤106中熔炉114中拉出时可以将其馈送到检测器100中，这里熔炉是诸如图1所示拉制熔炉11的拉制熔炉。熔炉114使从其拉制光纤106的预型件加热到发白。这一加热导致强的白光在光纤106中传导。

由于光纤106和检测器104位于椭圆反射镜102的相对两个焦点上，根据本发明所例举方面的检测器100对光纤106的移动是敏感的。光纤106的移动使光纤106移动到偏离反射镜102焦点之外，由此阻止反射镜102把从光纤106上逃逸的光严格地会聚在检测器104上。

图3示出根据本发明另一个方面的检测系统200。系统200也可以适当地用作图1的瑕疵检测器12。检测系统200包括椭圆反射镜202。光纤204置于反射镜202的第一焦点上，而荧光棒208，其直径最好为1厘米，置于反射镜202的第二焦点上。检测器212置于棒208的第一端214上，而反射镜216置于棒208的第二端上。棒208可以由掺有荧光染料的丙烯酸或玻璃材料适当制成。染料最好吸收可见光，如由白色热预型件所发射的光，以及在可见光或近红外光谱区中发出荧光。

被引导到光纤204一端中的光将沿光纤204长度传输直至碰到一个不规则点220为止。然后将从光纤204发出散射光222并被反射镜202所收集。然后大部分散射光222将被会聚在棒208上，它将发出荧光，产生荧光224。大约一半荧光224逃逸到棒208外损失掉。大约四分之一荧光224将从棒208向上引导，被反射镜212反射，从棒208向下引导返回到检测器218。另外四分之一荧光224将从棒208直接向下引导到检测器218上。由于棒208的体积，检测系统200对光纤204的移动相对不太敏感。散射光222焦点的少许失调将不妨碍光222落在棒208一些地方。然后，棒208产生荧光224，用于检测器218的检测。

通过增加棒208的长度，将能够增加闪光观测时间。此外，可以有选择地掩盖棒，使得它以不同的方式检取优先散射。例如，遮板209可以使棒208上部三分之一对于从一个角度范围入射的光屏蔽，应当看到，也可以采用图中未示出的另外遮板。通过将闪光通过棒上部三分之一时测得的信号与闪光通过棒208下部时测得的信号进行比较，区分孔与表面粒子应当是可能的，如果这些粒子导致优先散射，区分粒子的不同类型也是可能的。

检测系统200可以适当地封装在一个不透光的封壳226内，在光纤204进入和退出不透光封壳的点处有挡板228和230，以阻止环境光进入不透光封壳226内。正如以上讨论的，可以采用净化气体和可调节工作台。

图4示出根据本发明的另一个方面的两个观测系统的闪光检测器300的俯视图。检测器300适合于用作图1的瑕疵检测器12。检测器300分别包括第一和第二观测系统302和304。虽然下面将会描述本较佳光学组件，但是应当看到，可以采用其它任何合适的光学组件来收集和引导从光纤314侧壁出射的光并将其照在第一检测器312上。

第一观测系统302包括第一球面反射镜306、第一和第二透镜308和310以及第一检测器312。反射镜306放置在离光纤314的距离等于其曲率半径的地方。第二透镜310置于光纤314的与反射镜306相对的一侧，与反射镜306成直线，离光纤314的距离等于透镜310的焦距长度。第一透镜308置于透镜310的与光纤314相对的一侧上，与反射镜306和透镜310成直线。第一检测器312位于透镜308的与光纤314相对的一侧上，与反射镜306和透镜308和310成直线，离透镜308的距离等于透镜308的焦距。透镜308和310最好安装在透镜架322上，透镜架322最好适合于直接配合到封装检测器312的封壳326中。这一排列使检测器312对可能进入检测系统300的环境光产生屏蔽。

第二观测系统304包括第二球面反射镜316、第三和第四透镜318和320以及第二检测器322。第二观测系统304垂直于第一观测系统302成90度取向并位于与第一观测系统302相同的平面内。反射镜316放置在离光纤314的距离等于其曲率半径的地方。第四透镜320置于光纤314的与反射镜316相对的一侧，与反射镜316成直线，离光纤314的距离等于透镜320的焦距长度。第三透镜318置于透镜320的与光纤314相对的一侧上，与反射镜316和透镜320成直线。第二检测器322位于透镜318的与光纤314相对的一侧上，与反射镜316和透镜318和320成直线，离透镜318的距离等于透镜318的焦距。透镜318和320安装在透镜架324上，透镜架324最好适合于直接配合到封装检测器322的封壳328中。这一排列使检测器322对环境光产生屏蔽。

检测系统300最好封装在具有光纤314合适入口和出口的带有屏蔽入口和出口挡板的不透光封壳内。图中未示出检测系统300的不透光封壳，但是可以与以上结合图2B和3实施例所描述的相似。虽然使观测系统302和304共面目前是较佳的，但是应当看到，也可以将它们排列成彼此相互移开，那么可以对它们的输出进行处理，以分析优先散射，检测孔和区分粒子的不同类型。

应当看到，两个或多个观测系统当光纤314移动时更一般地可以同时提供多个信号。经过适当分析，可以证明可以分析这些信号的差别，以获得进一步的有价值的信息。例如，可以证明可以区分孔与POG或者POG的一种类型与另一种类型。

图5示出检测器300的观测系统302的侧视图。正如以上所讨论的，观测系统302包括反射镜306、第一和第二透镜308和310以及第一检测器312，所有元件都成直线取向，该直线与光纤314相交。

图6提供三个观测系统600的俯视图。检测系统600也可以适合于用作图1的瑕疵检测器12。检测系统600包括观测系统602、604和606。每个观测系统602、604和606定位在离光纤314相同的距离上。观测系统602包括球面反射镜608、第一、第二和第三透镜610、612和614、以及第一检测器616。可以适当地采用Oriel公司提供的焦距为f＝25mm、部件编号为44351的凹面反射镜作为反射镜608。适当选择的第一、第二和第三透镜610、612和614分别是焦距为f＝25.4mm、部件编号为KBX046AR.14双凸透镜；焦距为f＝50.2mm、部件编号为KBX142AR.14双凸透镜；以及焦距为f＝6.4mm、部件编号为KPX010AR.14平凸透镜，所有透镜都来自Newport公司。适当选择的第一检测器616是Thorlabs公司的检测器/放大器封装件，部件编号为PDA50。反射镜608置于离开光纤618的距离等于其曲率半径的地方。第三透镜614与反射镜608和光纤618成直线地置于光纤618的与反射镜608相对的一侧上，离光纤618的距离等于透镜614的焦距。透镜612与反射镜608、光纤618和透镜614成直线地置于透镜614的与光纤618相对的一侧上。透镜610与反射镜608、光纤618和透镜614和612成直线地置于透镜612的与透镜614相对的一侧上。透镜610和612最好分开间隔17.8mm。检测器616与反射镜608、光纤618和透镜614、612和610成直线地置于透镜610的与透镜612相对的一侧上，离透镜610的距离等于透镜610的焦距。透镜610、612和614最好适合于安装在透镜架640上，它最好合适于直接配合到检测器616封壳646中。这一排列使检测器616对可能进入检测系统600的环境光产生屏蔽。

观测系统604的取向在与光纤618相交的直线上，与观测系统602成60度，它位于与观测系统602相同的平面内。观测系统604包括第二球面反射镜620、第四、第五和第六透镜，分别为622、624和626以及第二检测器828。反射镜620置于离开光纤618的距离等于其曲率半径的地方。第六透镜626与反射镜620和光纤618成直线地置于光纤618的与反射镜620相对的一侧上，离光纤618的距离等于透镜626的焦距。透镜624与反射镜620、光纤618和透镜626成直线地置于透镜626的与光纤618相对的一侧上。透镜622与反射镜620、光纤618和透镜626和624成直线地置于透镜626的与透镜624相对的一侧上。检测器628与反射镜620、光纤618和透镜626、624和622成直线地置于透镜624的与透镜622相对的一侧上，离透镜622的距离等于透镜622的焦距。透镜622、626和624适合于安装在透镜架642上，它最好合适于直接配合到检测器628封壳648中。这一排列使检测器628对可能进入检测系统600的任何环境光产生屏蔽。

观测系统606的取向在与光纤618相交的直线上，与观测系统602成60度角，在与观测系统604的相反方向上，位于与观测系统602和604相同的平面内。观测系统606包括球面反射镜628、第七、第八和第九透镜，分别为630、632和634，以及第三检测器636，它们的定位、安装和封装类似于观测系统602和604的相应元件。与在第一观测系统602描述中适用情况一样，以上列出的部件也适用于第二观测系统604和第三观测系统606中的相应部件。

检测系统600最好封装在不透光的封壳内，封壳具有光纤618的合适入口和出口和屏蔽这些入口和出口的挡板。图中未示出检测系统600的封壳，但是，可以与以上结合图2B和3的实施例所描述的情况相似。

三个观测系统600消除了图4所示两个观测系统的检测器系统300易产生的死区。此外，通过适当地选择诸如以上列出的这些元件，可以把三个观测系统构造成使得闪光在视场中的时间达到最大，由此方便以高速(如典型的拉制速度)进行闪光检测。

图7是说明根据本发明内容的闪光检测700的流程图。在步骤702，把光引入到光纤中，如图1的光纤1中，在拉制熔炉11中，光纤充满光。在步骤704，把光纤引入并快速地拉过检测器，检测器最好包括反射镜、透镜或其它光学器件以及当光纤快速移动时检测预定点的光的检测电路。光纤继续通过检测器移动，使得整个光纤通过检测器，对沿光纤长度任何点上逃逸的光进行检测，使得该过程高速，适合于制造过程期间的实时测试。如上所述，检测器元件最好放在一个基本上不透光的封壳内。在步骤706，从光纤逃逸的光落在检测器中的所需点上。在步骤708，对落在所需点上的光进行检测，产生代表该光的电信号。最后，在步骤710，对电信号进行处理和分析，以检测光纤的瑕疵。可以采用诸如图1所示的数据获取系统20的数据处理和分析系统来分析信号和区分一种类型的瑕疵与另一种类型。被检测瑕疵的记录可以存储在存储器中、打印在图表记录仪上，如图1所示的记录仪30上、或者显示在显示器上。

虽然本发明揭示了本较佳实施例的内容，但是应当看到，本领域的专业技术人员按照以上的讨论以及以下的权利要求可以采用多种多样的实施方案。

Claims (21)

1.一种检测从光纤侧壁出射的光的光纤瑕疵检测系统，该出射光是由玻璃瑕疵上粒子或者光纤中的磨蚀导致的，当光纤快速地向下通过检测系统时检测系统进行工作，其特征在于所述检测系统包括：

位于邻近光纤附近和镀膜系统前的检测器，所述检测器对出射光进行检测；以及

识别玻璃瑕疵上粒子的处理电路。

2.如权利要求1所述的瑕疵检测系统，其特征在于进一步包括收集出射光和将其照射在检测器上的光学组件。

3.如权利要求1所述的瑕疵检测系统，其特征在于：所述光学组件包括椭圆反射镜，所述椭圆反射镜有两个焦点。

4.如权利要求3所述的瑕疵检测系统，其特征在于：所述光纤通过所述椭圆反射镜的一个焦点快速地拉制。

5.如权利要求4所述的瑕疵检测系统，其特征在于：所述检测器位于椭圆反射镜的另一个焦点上。

6.如权利要求5所述的瑕疵检测系统，其特征在于：所述反射镜和检测器封装在一个基本上不透光的封壳内。

7.如权利要求6所述的瑕疵检测系统，其特征在于：所述不透光封壳进一步包括允许光纤通过检测系统的进入和出口孔以及环绕所述孔的挡板，使得可以进入检测系统的杂散光减至最少。

8.一种检测从光纤侧壁出射的光的光纤瑕疵检测系统，该出射光是由光纤内瑕疵导致的，其特征在于，所述检测系统包括：

绕所述光纤取向的多个观测系统，每个观测系统包括：

收集从光纤出射的光并改变其指向的光学组件；以及

置于接收被光学组件改向的光和位于镀膜系统前的检测器；以及

通过多个观测系统快速拉制光纤的机构。

9.如权利要求17所述的瑕疵检测系统，其特征在于：所述光学组件中至少一个包括：

具有曲率半径的球面反射镜，所述反射镜置于离光纤的距离等于其曲率半径的地方；

具有第一焦距的第一透镜，所述第一透镜置于与所述反射镜和所述光纤的直线上位于所述光纤的与所述反射镜相对一侧上，离所述光纤的距离等于第一焦距；以及

具有第二焦距的第二透镜，所述第二透镜置于与第一透镜、所述光纤和所述反射镜的直线上位于所述第一透镜的与所述光纤相对一侧上。

10.如权利要求17所述的瑕疵检测系统，其特征在于：所述观测系统的数目为2。

11.如权利要求19所述的瑕疵检测系统，其特征在于：所述观测系统相互置于同一平面内，相互成90度取向。

12.如权利要求17所述的瑕疵检测系统，其特征在于：所述观测系统的数目为3。

13.如权利要求21所述的瑕疵检测系统，其特征在于：所述观测系统相互置于同一平面内，相互成60度取向。

14.如权利要求18所述的瑕疵检测系统，其特征在于：每个观测系统还包括一个位于第一透镜与第二透镜之间的第三透镜。

15.如权利要求17所述的瑕疵检测系统，其特征在于：进一步包括产生代表所述多个视角观测系统中至少两个系统的输出之间的差的差值信号的差分电路。

16.如权利要求17所述的瑕疵检测系统，其特征在于进一步包括：

封装多个观测系统和光纤的不透光封壳，所述不透光封壳上有光纤出入孔；以及

覆盖所述不透光封壳上孔的挡板，阻止杂散光进入不透光封壳内。

17.一种检测光纤瑕疵的方法，所述瑕疵会引起光从光纤的侧壁上逃逸，所述方法包括步骤：

把光引入光纤中；

把光纤引入检测器组件中；

利用检测器组件检测从光纤侧壁上逃逸的光；以及

基于被检测的光在线确定瑕疵的自然特性。

18.一种在光纤拉制过程期间检测孔以外的玻璃瑕疵上粒子的系统，所述系统包括：

位于拉制熔炉后和镀膜系统前安排用来检测出射光的光学检测器；以及

对检测光进行分析和识别孔以外的光纤瑕疵的数据获取系统。

19.如权利要求29所述的系统，其特征在于进一步包括收集出射光并将其照射到光学检测器上的光学组件。

20.如权利要求29所述的系统，其特征在于进一步包括连接至数据获取系统的光纤孔检测器。

21.如权利要求29所述的系统，其特征在于进一步包括报警装置，这里如果检测到在玻璃瑕疵上预定个数的颗粒，数据获取系统便触发报警。

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