CN1200495C - 激光二极管管芯测试工作台的光探测器调整架 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及激光二极管管芯测试工作台的光探测器调整架，它包括支承杆(3)，支承杆(3)的两端分别设有销钉(1、4)，销钉(1、4)插在工作台座(6)上的对应的孔中，其中，一端的销钉(4)上设有调节杆(8)，调节杆(8)的轴(7)偏心设置在销钉(4)上；光探测器(2)设置在支承杆(3)上。本发明在调整光探测器与LD管芯的相对位置时，无须对LD管芯进行调整，使人工或机械手对LD管芯干预减少，从而减少了管芯在测试过程损坏的可能性。本发明结构简单，在激光二极管管芯测试工作台上使用后，可降低测试工作台的测试过程对环境、对操作员、对操作过程、设备的要求，从而大大降低了成本。
Description
技术领域
本发明涉及在激光二极管管芯生产过程中，用于测试激光二极管管芯的测试系统，特别是测试系统中的测试工作台的光探测器调整架。
背景技术
激光二极管(LD)管芯是LD器件的核心部件，由于管芯生产工艺复杂，一些关键的工艺参数还在探索之中，因此LD管芯生产设备昂贵，成品率低，对LD管芯测试成为LD管芯生产工艺中的重要环节。
对LD管芯的测试是在测试工作台上进行的，用人工或机械手将LD管芯放置在测试工作台上，给LD管芯加载电流，通过光探测器探测LD管芯的发光功率进行测试，现有的光探测器都是固定工作台上的，这样，调整光探测器与LD管芯的相对位置时，只有对LD管芯进行调整。由于LD管芯长度只有350微米左右，厚度只有几十微米左右，人工或机械手对管芯调整很困难，由于未封装的管芯很脆弱，对静电非常敏感，任何微小的静电，对管芯都是致命的。因此该测试工作台的测试过程对环境、对操作员、对操作过程、设备的要求都很高。尽管如此，调整LD管芯位置时，仍然存在由于摩擦产生的静电击穿管芯的可能性，从而严重影响了管芯的成品率。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是：提供一种激光二极管管芯测试工作台的光探测器调整架。
本发明解决上述技术问题所采用的技术方案是：它包括支承杆，支承杆的两端分别设有销钉，销钉插在工作台座上的对应的孔中，其中，一端的销钉上设有调节杆，调节杆的轴偏心设置在销钉上；光探测器设置在支承杆上。两端的销钉上设有可调锁紧螺栓。
调节杆的轴偏心设置在销钉上，可以通过转动调节杆对调整架进行微调，以调整光探测器与LD管芯的相对位置。
本发明在调整光探测器与LD管芯的相对位置时，无须对LD管芯进行调整，使人工或机械手对LD管芯干预减少，从而减少了管芯在测试过程损坏的可能性。
本发明结构简单，在激光二极管管芯测试工作台上使用后，可降低测试工作台的测试过程对环境、对操作员、对操作过程、设备的要求，从而大大降低了成本。
附图说明
图1为本发明实施例的结构示意图
图2为本发明实施例的俯视图
图3为LD管芯测试工作台的结构示意图
具体实施方案
如图1、2所示本发明光探测器调整架实施例，它包括支承杆3，支承杆3的两端分别设有销钉1、4，销钉1、4插在工作台座6上的对应的孔中，其中，一端的销钉4上设有调节杆8，调节杆8的轴7偏心设置在销钉4上；光探测器2设置在支承杆3上。销钉1、4上设有可调锁紧螺栓5，以锁定支承杆3。
须调整光探测器和LD管芯受激发光面的位置时，先将两端的可调锁紧螺栓5松开，调节调节杆8，调节杆8的偏心轴7使支承杆3带动光探测器2移动，光探测器2和LD管芯受激发光面的位置设置正确后，用两端的可调锁紧螺栓5锁紧即可。
如图3所示，测试工作台由电控微动平台10、光探测器2、本发明光探测器调整架组成。电控微动平台10上设有激光二极管管芯11的固定装置9。光探测器2设置在本发明调整架的支承杆3上。
测试工作台实施例测试前，将从晶元中解理出来的线性排列的管芯11放在电控微动平台1上的固定装置9上；操作员通过本发明光探测器调整架调节管芯11与光探测器2的正确位置，即可开始测试。
Claims (1)
1、激光二极管管芯测试工作台的光探测器调整架，其特征在于：它包括支承杆(3)，支承杆(3)的两端分别设有销钉(1、4)，销钉(1、4)插在工作台座(6)上的对应的孔中，其中，一端的销钉(4)上设有调节杆(8)，调节杆(8)的轴(7)偏心设置在销钉(4)上；光探测器(2)设置在支承杆(3)上；两端的销钉(1、4)上设有可调锁紧螺栓(5)。
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