CN1192743C - Mr成像方法,相位误差测量方法和mri系统 - Google Patents

Mr成像方法,相位误差测量方法和mri系统 Download PDF

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Abstract

本发明的目的是减少由于剩磁造成的图像质量下降。在快速自旋回波过程的脉冲序列中，激励脉冲之前施以预脉冲，初始反转脉冲之前施以校正脉冲以校正由于预脉冲造成的相位误差。

Description

MR成像方法，相位误差测量方法和MRI系统
发明背景
本发明涉及一种MR成像方法，一种相位误差测量方法，以及一个MRI(磁共振成像)系统，更准确而言，是一种能够减少由于剩磁造成的图像质量下降的MR成像方法，一种用于测量由于剩磁造成的相位误差的相位误差测量方法，以及一个实施上述方法的MRI系统。
以下现有技术已公开于日本专利申请，公开号为H10-75840。
(1)一种实施预扫描序列的相位误差测量方法，用于发射一个激励脉冲，发射一个反转脉冲，在相位轴上施以相位编码脉冲，在读出轴上施以读出脉冲，在相位轴上施以重绕(rewind)脉冲，然后发射一个反转脉冲，在相位轴上施以去相脉冲，之后在相位轴上施以读出脉冲的同时采集来自回波的数据，根据将采集的数据转化为一维傅立叶形式得到的相位数据，测量每个回波由于相位编码脉冲的涡流和剩磁等的影响而产生的相位误差，以及
(2)一种用于快速自旋回波过程(process)的脉冲序列的MR成像方法，用于发射激励脉冲后再发射反转脉冲，在相位轴上施以相位编码脉冲，在读出轴上施以读出脉冲的同时采集来自回波的数据，改变相位编码脉冲的同时在相位轴上重复多次施以重绕脉冲，因此采集一个激励的多个来自回波的数据，建立一个补偿脉冲以补偿用上述相位误差测量方法(1)测出的在其相应的相位编码脉冲的相位误差量，将补偿脉冲叠加到紧邻相位编码脉冲之前或之后脉冲的一个或二者之上，将补偿脉冲并入它的相应的重绕脉冲之中，或者将补偿脉冲叠加到紧邻重绕脉冲之前或之后的脉冲的一个或二者之上。
这两个现有技术的前提是由上述相位误差测量方法(1)得到的相位误差量与快速自旋回波过程(2)中无补偿脉冲时的相位误差大小相等。
然而，由于相位误差测量开始时的剩磁和快速回波过程的脉冲序列开始时的剩磁并不总是相等，上述结论存在问题，现有技术的前提不能成立，剩磁产生相位误差并导致图像质量下降。
发明概述
本发明的目的是提供一种能够减少由于剩磁造成的图像质量下降的MR成像方法，一种测量由于剩磁造成的相位误差的相位误差测量方法，以及一个实施上述方法的MRI系统。
根据第一方面，本发明提供了一种用快速自旋回波过程的MR成像方法，包括发射激励脉冲后再发射反转脉冲，在相位轴上施以相位编码脉冲，在读出轴上施以读出脉冲的同时采集来自回波的数据，改变相位编码脉冲的同时在相位轴上重复多次施以重绕脉冲，采集一个激励的多个来自回波的数据，在激励脉冲前，在任意梯度轴上施以预脉冲，在初始反转脉冲之前或之后，在相位轴上施以校正脉冲以校正由于预脉冲造成的相位误差，或者，在初始反转脉冲上叠加该校正量以校正预脉冲造成的相位误差。
在依照第一方面的MR成像方法中，在激励脉冲前在任意梯度轴上施以预脉冲。由于该预脉冲快速自旋回波过程的脉冲序列开始时的剩磁可因此得以控制。而且，在初始反转脉冲之前或之后，在相位轴上施以校正脉冲以校正由于剩磁造成的相位误差，或者，在初始反转脉冲上叠加该校正量以校正由预脉冲造成的相位误差。因此，可以减少快速自旋回波过程的脉冲序列开始时的剩磁的影响并减少剩磁造成的图像质量下降。
根据第二方面，本发明提供了一种MR成像方法，其中，根据第一方面所述MR成像方法中，在相应的重绕脉冲或紧跟其后的相位编码脉冲上叠加所述校正量以校正由于相位编码脉冲造成的相位误差量，或者，在相应的重绕脉冲之前或之后，施以校正脉冲以校正由于相位编码脉冲造成的相位误差量。
在依照第二方面的MR成像方法中，可以抑制快速自旋回波过程的脉冲序列开始时的剩磁的影响并校正由于相位编码脉冲造成的相位误差，并因此可以减少剩磁造成的图像质量下降。
根据第三方面，本发明提供了一种采用快速自旋回波过程的MR成像方法，用于发射激励脉冲后再发射反转脉冲，在相位轴上施以相位编码脉冲，在读出轴上施以读出脉冲的同时采集来自回波的数据，改变相位编码脉冲的同时在相位轴上重复多次施以重绕脉冲，因而采集一个激励的多个来自回波的数据，在激励脉冲前，在任意梯度轴上施以预脉冲，在初始相位编码脉冲或初始重绕脉冲上叠加所述校正量以校正由预脉冲造成的相位误差。
在依照第三方面的MR成像方法中，激励脉冲前在任意梯度轴上施以预脉冲。由于该预脉冲，快速自旋回波过程的脉冲序列开始时的剩磁可因此得以控制。而且，在初始相位编码脉冲或初始重绕脉冲上叠加上述校正量以校正由于剩磁造成的相位误差。所以，可以抑制快速自旋回波过程的脉冲序列开始时的剩磁的影响并减少剩磁造成的图像质量下降。
根据第四方面，本发明提供了一种MR成像方法，其中，在第三方面所述MR成像方法中，在相应的重绕脉冲或紧跟其后的相位编码脉冲上叠加上述校正量以校正由于相位编码脉冲造成的相位误差，或者，在相应的重绕脉冲之前或之后，施以校正脉冲以校正由于相位编码脉冲造成的相位误差量。
在依照第四点的MR成像方法中，可以抑制快速自旋回波过程的脉冲序列开始时的剩磁的影响，可以校正相位编码脉冲造成的相位误差，可以减少剩磁造成的图像质量下降。
根据第五个方面，本发明提供了一种相位误差测量方法，包括如下步骤：
(1)在任意梯度轴上施以预脉冲，发射一个激励脉冲，发射一个第一反转脉冲，而后发射一个第二反转脉冲，相位轴上施以去相脉冲，相位轴上施以读出脉冲的同时采集来自回波的数据，施以复相脉冲，然后发射第三个反转脉冲，相位轴上施以去相脉冲，相位轴上施以读出脉冲的同时采集来自回波的数据，根据采集的数据确定相位误差大小；
(2)任意梯度轴上施以预脉冲，发射一个激励脉冲，发射一个第一反转脉冲，相位轴上施以相位编码脉冲，相位轴上施以重绕脉冲，而后发射一个第二反转脉冲，相位轴上施以去相脉冲脉冲，相位轴上施以读出脉冲的同时采集来自回波的数据，施以复相脉冲，然后发射第三个反转脉冲，相位轴上施以去相脉冲，相位轴上施以读出脉冲的同时采集来自回波的数据，根据采集的数据确定相位误差大小。
(3)任意梯度轴上施以预脉冲，发射一个激励脉冲，发射一个第一反转脉冲，相位轴上施以与上面的(2)极性相反的相位编码脉冲，相位轴上施以重绕脉冲，而后发射一个第二反转脉冲，相位轴上施以去相脉冲，相位轴上施以读出脉冲的同时采集来自回波的数据，施以复相脉冲，然后发射第三个反转脉冲，相位轴上施以去相脉冲，相位轴上施以读出脉冲的同时采集来自回波的数据并根据采集的数据确定相位误差大小；
(4)任意梯度轴上施以与上面的(1)极性相反的预脉冲，发射一个激励脉冲，发射一个第一反转脉冲，而后发射一个第二反转脉冲，相位轴上施以去相脉冲，相位轴上施以读出脉冲的同时采集来自回波的数据，施以复相脉冲，然后发射第三个反转脉冲，相位轴上施以去相脉冲，相位轴上施以读出脉冲的同时采集来自回波的数据，根据采集的数据确定相位误差大小；以及
(5)根据上述由(1)至(4)的每一个得到的相位误差，确定由于预脉冲造成的相位误差大小。
由采集的数据得到的相位误差包含三个参量，即产生于从脉冲序列开始到初始反转脉冲的分量Δ0(理论上由一个脉冲序列开始时的剩磁造成)，从初始反转脉冲到下一个反转脉冲的分量Δz(理论上由该脉冲序列开始时的剩磁造成)，或Δn(理论上由相位编码脉冲造成)，以及由读出脉冲造成的分量α。
在依照第五方面的相位误差测量方法中，相位误差Δ128-包括三个参量Δ0，-Δz和α，由上述(1)确定，相位误差Δ1+的大小包括三个参量-Δ0，-Δn和α，由上述(2)确定，相位误差Δ256+包括三个参量Δ0，Δn和α，由上述(3)确定。而且，相位误差Δ128+包括三个参量-Δ0，Δz和α，由上述(4)确定。即可得到下列方程。
              Φ128-＝ΔΦ0-ΔΦz+α
              Φn+＝-ΔΦ0-ΔΦ(n)+α
              Φ(256-n+1)+＝-ΔΦ0+ΔΦ(n)+α
              Φ128+＝-ΔΦ0+ΔΦz+α
如果上述(5)得以解出，那么，脉冲序列开始时由于剩磁造成的相位误差Δ0可由下列方程求出。
              ΔΦ0＝(Φ128-+Φ128+)/2-(Φn++Φ(256-n+)+)/2
根据第六方面，本发明提供了一种相位误差测量方法，其中在第五方面所述MR相位误差测量方法中，由相位编码脉冲造成的相位误差大小可根据上述(2)和(3)的每一个得到的相位误差来确定。
在依照第六方面的相位误差测量方法中，相位编码脉冲造成的相位误差Δ(n)可由上述(2)得到的n+和上述(3)得到的(256-n+1)+确定：
               ΔΦ(n)＝(Φ(256-n+1)+-Φn+)/2
根据第七方面，本发明提供了一种MRI系统，包括RF脉发射装置，梯度脉冲施加装置和NMR信号接收装置，通过快速自旋回波过程完成MR成像，用于控制相应的装置以发射激励脉冲后再发射反转脉冲，相位轴上施以相位编码脉冲，读出轴上施以读出脉冲的同时采集来自回波的数据，改变相位编码脉冲的同时在相位轴上重复多次施以重绕脉冲，采集一个激励的多个来自回波的数据，也包括预脉冲施加装置，用于在激励脉冲前在任意梯度上施以预脉冲，以及预脉冲校正装置，用于在初始反转脉冲之前或之后，在相位轴上施以校正脉冲以校正由于预脉冲造成的相位误差，或者，在初始反转脉冲上叠加该校正量以校正预脉冲造成的相位误差。
依照第七方面的MRI系统能够恰当实施第一方面所述MR成像方法。
根据第八方面，本发明提供了一种MRI系统，如第七方面所述，包括相位编码脉冲校正装置，用于在相应的重绕脉冲或紧跟其后的相位编码脉冲上叠加所述校正量以校正由于相位编码脉冲造成相位误差，或在相应的重绕脉冲前或后施以校正脉冲以校正由于相位编码脉冲造成的相位误差大小。
依照第八方面的MRI系统能够恰当实施第二方面所述MR成像方法。
根据第九方面，本发明提供了一种MRI系统，包括RF脉发射装置，梯度脉冲施加装置和NMR信号接收装置，该系统采用快速自旋回波过程完成MR成像，用于控制相应的装置，以发射激励脉冲后再发射反转脉冲，相位轴上施以相位编码脉冲，读出轴上施以读出脉冲的同时采集来自回波的数据，改变相位编码脉冲的同时在相位轴上重复多次施以重绕脉冲，因而采集一个激励的多个来自回波的数据，还包括预脉冲施加装置，用于在激励脉冲前在任意梯度上施以预脉冲，以及预脉冲校正装置，用于在初始相4位编码脉冲或初始重绕脉冲上叠加所述校正量以校正由于预脉冲造成的相位误差。
依照第九方面的MRI系统能够恰当实施第三所述所述MR成像方法。
根据第十方面，本发明提供了一种MRI系统，如第九方面所述，包括相位编码脉冲校正装置，用于在相应的重绕脉冲或紧跟其后的相位编码脉冲上叠加所述校正量以校正由于相位编码脉冲造成的相位误差，或在相应的重绕脉冲前或后施以校正脉冲以校正由于相位编码脉冲造成的相位误差大小。
依照第九方面所述MRI系统能够恰当实施第三方面所述MR成像方法。
根据第十一方面，本发明提供了一种MRI系统，如第七至十方面所述，包括采用如下步骤的相位误差测量装置：
(1)任意梯度轴上施以一个预脉冲，发射一个激励脉冲，发射一个第一反转脉冲，而后发射一个第二反转脉冲，相位轴上施以去相脉冲，相位轴上施以读出脉冲的同时采集来自回波的数据，施以复相脉冲，然后发射第三个反转脉冲，相位轴上施以去相脉冲，相位轴上施以读出脉冲的同时采集来自回波的数据，根据采集的数据确定相位误差大小；
(2)任意梯度轴上施以一个预脉冲，发射一个激励脉冲，发射一个第一反转脉冲，相位轴上施以相位编码脉冲，相位轴上施以重绕脉冲，而后发射一个第二反转脉冲，相位轴上施以一个去相脉冲，相位轴上施以读出脉冲的同时采集来自回波的数据，施以复相脉冲，然后发射第三个反转脉冲，相位轴上施以去相脉冲，相位轴上施以读出脉冲的同时采集来自回波的数据，根据采集的数据确定相位误差大小。
(3)任意梯度轴上施以一个预脉冲，发射一个激励脉冲，发射一个第一反转脉冲，相位轴上施以与(2)极性相反的相位编码脉冲，相位轴上施以重绕脉冲，而后发射一个第二反转脉冲，相位轴上施以去相脉冲，相位轴上施以读出脉冲的同时采集来自回波的数据，施以复相脉冲，然后发射第三个反转脉冲，相位轴上施以一个去相脉冲，相位轴上施以读出脉冲的同时采集来自回波的数据，根据采集的数据确定相位误差大小；
(4)任意梯度轴上施以一个与(1)极性相反的预脉冲，发射一个激励脉冲，发射一个第一反转脉冲，而后发射一个第二反转脉冲，相位轴上施以一个去相脉冲，相位轴上施以读出脉冲的同时采集来自回波的数据，施以一个复相脉冲，然后发射第三个反转脉冲，相位轴上施以一个去相脉冲，相位轴上施以读出脉冲的同时采集来自回波的数据，根据采集的数据确定相位误差大小；以及
(5)根据上述由(1)至(4)的每一个得到的相位误差，确定由于预脉冲造成的相位误差大小。
依照第十一点的MRI系统能够恰当实施第五方面所述相位误差测量方法。
根据第十二方面，本发明提供了一种MRI系统，其中，如第十一方面所述，其相位误差测量装置能够根据上述由(2)和(3)的每一个得到的相位误差，确定由于相位编码脉冲造成的相位误差大小。
依照第十二方面的MRI系统能够恰当实施第六方面所述相位误差测量方法。
依照本发明的MR成像方法，可以抑制快速自旋回波过程的脉冲序列开始时的剩磁的影响进而减少图像质量下降。
依照本发明的相位误差测量方法，可以恰当地测量快速自旋回波过程的脉冲序列开始时由于剩磁影响造成的相位误差。
而且，本发明的MRI系统的上述方法可以恰当地实施。
如附图所示，本发明的目的和优点可以从以下优选实施方案中明显显示。
附图简述
图1为本发明所述MRI系统框图。
图2为本发明所述相位误差测量过程流程图。
图3为本发明所述相位误差测量的一个预扫描序列的解释图。
图4为本发明所述相位误差测量的另一个预扫描序列的解释图。
图5为本发明所述相位误差进一步测量的预扫描序列的解释图。
图6为本发明所述相位误差更进一步测量的预扫描序列的解释图。
图7为本发明所述相位误差再进一步测量的预扫描序列的解释图。
图8为本发明第一实施方案所述成像扫描过程的流程图。
图9为本发明第一实施方案所述成像序列实例的解释图。
图10为本发明第二实施方案所述成像扫描过程的流程图。
图11为本发明第二实施方案所述成像序列实例的解释图。
发明祥述
现通过图表所示实施方案将本发明祥述如下。
-第一实施方案-
图1为根据本发明第一实施方案的MRI系统框图。
本发明MRI系统100中，磁体组件1上有一其中放置样品的空间(孔)，其周围装置了在样品中产生恒定的静态磁场的静态磁场线圈1p，用以为层选轴、读出轴和相位轴产生梯度或梯度磁场的梯度或梯度磁场线圈1g，为激励样品中核子自旋提供RF脉冲的发射线圈1t，以及探测来自样品中的NMR信号的接收线圈1r。静态磁场线圈1p，梯度磁场线圈1g，发射线圈1t和接收线圈1r分别与静态磁场源2、梯度或梯度磁场驱动电路3、RF功率放大器4和前置放大器5电连接。
有时，可用永久磁体代替静态磁场线圈1p。
根据计算机7给出的指令，序列储存电路6基于存贮于其中的脉冲序列控制或操作梯度磁场驱动电路3，通过在磁体组件1中的梯度磁场线圈1g产生梯度磁场。而且，序列储存电路6操作一门控调制器8，把RF震荡器9输出的载波信号调制成具有预定时序和包络的脉冲信号，再作为RF脉冲经RF功率放大器4进行放大。RF功率放大器4放大该脉冲并送到磁体组件1中发射线圈1t上，以选择和激励所需层面。
磁体组件1中的接收线圈1r探测来自样品的NMR信号，经前置放大器5放大，放大后的NMR信号输给相位检测器10。相位检测器10接收由RF震荡器9产生的的载波输出信号为参考信号，对前置放大器5输出的NMR信号进行相位检测并输给A/D转换器11，A/D转换器11将检测的相位模拟信号转换成数字信号并输给计算机7。
计算机7读出来自2A/D转换器11中的数据并对其进行图像重建运算因而产生所需层面的图像。图像显示器13显示该图像。而且，计算机7进行整体控制，比如接收控制台12的输入信息。
图2为本发明所述相位误差测量过程流程图。
步骤E1中，如图3所示，根据具有正静态或稳态预脉冲的编码0的相位误差测量预脉冲序列P128-，采集echo2和echo3的数据
图3所示相位误差测量预脉冲序列P128-中，相位轴上施以正稳态预脉冲，它包含负向饱和脉冲ns和面积为其一半的正稳态脉冲PP。然后，施以激励脉冲R和层选梯度ss。再施以一个第一反转脉冲P1和层选梯度ss。而后，读出轴上施以与正常读出脉冲(参见图9中gxw)前半部分对应的读出脉冲gxr。之后，设置读出脉冲为“0”。
然后，施以一个第二反转脉冲P2和层选梯度ss。再在相位轴上施以去相脉冲gywdn1。然后，相位轴上施以读出脉冲gywn1的同时接收来自回波echo1的NMR信号。之后，相位轴上施以与去相脉冲gywdn1相同的复相脉冲gywrn1。
然后，施以第三个反转脉冲P3和层选梯度ss。再在相位轴上施以去相脉冲gywdn2。然后，相位轴上施以读出脉冲gywn2的同时接收来自回波echo2的NMR信号。之后，相位轴上施以与去相脉冲gywdn2相同的复相脉冲gywrn2。
回到图2。图2的步骤E2中，将echo1和echo2的数据转换成一维傅立叶形式，用2和3分别代表结果中的相位值。
步骤E3中，计算(2-3)/2并经线性函数拟和后得到初级项d128-。
步骤E4中，相位误差的初级项大小128-由以下方程求得：
             Φ128-＝d128-·Xres·106/(γ·fov)
其中Xres为回波的采样点数。γ为磁旋比，fov代表成像野大小(cm)。
从图3中可以看出，相位误差128-包括三个参量，即Δ0，-Δz和α，并可表述如下：
             Φ128-＝ΔΦ0′-ΔΦz+α
对n＝1+到256+，重复步骤E5到E8。
步骤E5中，如图4所示，根据具有负静态或稳态预脉冲的编码0的相位误差测量预脉冲序列Nn，采集echo2和echo3的数据。
图4所示的相位误差测量预扫描序列Nn中，相位轴上施以负向稳态预脉冲，它包含正饱和脉冲ps和面积为其一半的负稳态脉冲np。然后，施以激励脉冲R和层选梯度ss。再施以一个第一反转脉冲P1和层选梯度ss。而后，相位轴上施以用来测量相位误差的相位编码脉冲gyn(n＝1+到256+)。之后，读出轴上施以与正常读出脉冲(参见图9中gxw)前半部分相应的读出脉冲gxr。然后，设读出脉冲为“0”。之后，相位轴上施以与相位编码脉冲gyn时间积分值相等，方向相反的重绕脉冲gyrn。
然后，施以一个第二反转脉冲P2和层选梯度ss。再在相位轴上施以与重绕脉冲gyrn相同的去相脉冲gywdn1。然后，相位轴上施以读出脉冲gywn1的同时接收来自回波echo1的NMR信号。之后，相位轴上施以与去相脉冲gywdn1相同的复相脉冲gywrn1。
然后，施以第三个反转脉冲P3和层选梯度ss。再在相位轴上施以与重绕脉冲gyrn相同的去相脉冲gywdn2。然后，相位轴上施以读出脉冲gywn2的同时接收来自回波echo2的NMR信号。之后，相位轴上施以与去相脉冲gywdn2相同的复相脉冲gywrn2。
回到图2。图2的步骤E6中，将echo2和echo3的数据转换成一维傅立叶形式，用2和3分别代表结果中的相位值。
步骤E7中，确定(2-3)/2并经线性函数拟和后得到初级项dn。
步骤E8中，相位误差的初级量大小n可由以下方程求得：
             Φn＝dn·Xres·106/(γ·fov)
其中Xres为回波的采样点数。γ为磁旋比，fov代表成像野大小(cm)。
图5显示当n＝1+时的相位误差测量预扫描序列N1+。假设基于相位编码脉冲gy1+的相位误差Δ1+的大小是Δe，相位误差1+大小包括-Δ0，-Δe和α，并可表述如下：
                 Φ1+＝-ΔΦ0-ΔΦe+α
图6显示当n＝128+时的相位误差测量预扫描序列N128+。假设当相位编码为0时，把众反转脉冲P1到反转脉冲P2的相位误差大小定义为-Δz，相位误差128+大小包括-Δ0，Δz和α，并可表述如下：
                 Φ128+＝-ΔΦ0+ΔΦz+α
图7显示当n＝256+时的相位误差测量预扫描序列N256+。假设基于相位编码脉冲gy256+的相位误差Δ256+是Δe，相位误差256+包括-Δ0，Δe和α，并可表-述如下：
                 Φ256+＝-ΔΦ0+ΔΦe+α
图8是第一实施方案的图像扫描流程图。
步骤Q1中，计算机7生成成像序列In并存在序列储存电路6中。
如图9所示，成像序列In导致一个成像序列，其中，在一个一般的快速自旋回波过程的脉冲序列中，在激励脉冲R前施以负静态或稳态预脉冲(ps，np)，在第一反转脉冲P1前施以校正脉冲以校正Δ0，在重绕脉冲gyr上叠加该校正量以校正Δ(n)。
有时，Δ0和Δ(n)可用以下方程求得：
                ΔΦ0＝(Φ128-+Φ128+)/2-(Φ1++Φ256+)/2
                ΔΦ(n)＝(Φ(256-n+1)+-Φn+)/2
再回到图8，在步骤Q2，用图9所示成像序列In采集数据来实现扫描。
根据上述第一实施方案的MRI系统100，根据激励脉冲R前施以预脉冲(ps，np)，第一反转脉冲P1前施以校正脉冲可以校正相位误差，可以确定快速自旋回波序列开始时的剩磁。所以，可以抑制快速自旋回波序列开始时剩磁的影响并由此可能减少图像质量下降。而且，可以通过在重绕脉冲gyr上叠加校正量以校正相位编码脉冲gy造成的相位误差，进而减少由此造成的图像质量下降。
有时，可以在初始反转脉冲后施以校正脉冲。而且，可在初始反转脉冲P1上叠加该校正量以校正预脉冲造成的相位误差。
-第二实施方案-
图10为依照第二实施方案的成像扫描的流程图。
步骤W1中，计算机7生成成像序列In并存在序列储存电路6中。
如图11所示，成像序列In导致一个成像序列，其中，在一般快速自旋回波过程的脉冲序列中，在激励脉冲R前施以负静态或稳态预脉冲(ps，np)，用于校正Δ0的校正量和用于校正Δ(n)的校正量被施加到初始重绕脉冲gyr上。再在后续的重绕脉冲gyr上叠加校正量以校正Δ(n)。
再参照图10，在步骤W2中，用图11所示成像序列In采集数据来实现扫描。
根据上述第二实施方案的MRI系统，根据在激励脉冲R前施以预脉冲(ps，np)，可以确定快速自旋回波过程的脉冲序列开始时的剩磁，由此，通过在初始重绕脉冲gyr上叠加校正量可以校正相位误差。所以，可以抑制快速自旋回波过程的脉冲序列开始时剩磁的影响并由此可能减少图像质量下降。而且，可以通过在重绕脉冲gyr上叠加校正量以校正相位编码脉冲gy造成的相位误差，进而减少由此造成的图像质量下降。
有时，可以在初始相位编码脉冲gy上叠加校正量以校正预脉冲(ps，np)造成的相位误差Δ0。
在不脱离本发明实质的情况下，还可以定义许多不同的实施方案，本发明的范围不限于说明中所述的特定实施方案。

Claims (12)

1.一种应用快速自旋回波过程的MR成像方法，包括以下步骤：
在发射激励脉冲后发射反转脉冲；
在相位轴上施以相位编码脉冲；
读出轴上施以读出脉冲的同时采集来自来自回波的数据；
改变相位编码脉冲的同时在相位轴上重复多次施加重绕脉冲；
采集来自通过一个激励的多个回波的数据；
在激励脉冲前在任意梯度轴上施以预脉冲；以及
在初始反转脉冲之前或之后，在相位轴上施以校正脉冲以校正由于预脉冲造成的相位误差，或者，在初始反转脉冲上叠加该校正量以校正由于预脉冲造成的相位误差。
2.如权利要求1的MR成像方法，其中，在相应的重绕脉冲或紧跟其后的相位脉冲上叠加所述校正量以校正由于相位编码脉冲造成的相位误差，或者，在相应的重绕脉冲之前或之后，施以校正脉冲以校正由于相位编码脉冲造成的相位误差。
3.一种应用快速自旋回波过程的MR成像方法，包括以下步骤：
在发射激励脉冲后发射反转脉冲；
在相位轴上施以相位编码脉冲；
在读出轴上施以读出脉冲的同时采集来自回波的数据；
改变相位编码脉冲的同时在相位轴上重复多次施加重绕脉冲；
采集来自通过一个激励的多个回波的数据；
在激励脉冲前，在任意梯度轴上施以预脉冲；以及
在初始相位编码脉冲或初始重绕脉冲上叠加校正量以校正预脉冲造成的相位误差。
4.如权利要求3的MR成像方法，其中，在相应的重绕脉冲或紧跟其后的相位脉冲上叠加所述校正量以校正由于相位编码脉冲造成的相位误差，或者，在相应的重绕脉冲之前或之后，施以校正脉冲以校正由于相位编码脉冲造成的相位误差。
5.一种相位误差测量方法，包括以下步骤：
(1)在任意梯度轴上施以预脉冲，发射激励脉冲，发射第一反转脉冲，而后发射第二反转脉冲，在相位轴上施以去相脉冲，在相位轴上施以读出脉冲的同时采集来自回波的数据，施以复相脉冲，然后发射第三反转脉冲，在相位轴上施以去相脉冲，在相位轴上施以读出脉冲的同时采集来自回波的数据，并根据采集的数据确定相位误差量；
(2)在任意梯度轴上施以预脉冲，发射激励脉冲，发射第一反转脉冲，在相位轴上施以相位编码脉冲，在相位轴上施以重绕脉冲，而后发射第二反转脉冲，相位轴上施以去相脉冲，相位轴上施以读出脉冲的同时采集来自回波的数据，施以复相脉冲，然后发射第三反转脉冲，相位轴上施以去相脉冲，相位轴上施以读出脉冲的同时采集来自回波的数据，根据采集的数据确定相位误差量；
(3)在任意梯度轴上施以预脉冲，发射激励脉冲，发射第一反转脉冲，在相位轴上施以与所述(2)极性相反的相位编码脉冲，在相位轴上施以重绕脉冲，而后发射第二反转脉冲，在相位轴上施以去相脉冲，在相位轴上施以读出脉冲的同时采集来自回波的数据，施以复相脉冲，然后发射第三反转脉冲，在相位轴上施以去相脉冲，在相位轴上施以读出脉冲的同时采集来自回波的数据，根据采集的数据确定相位误差量；
(4)任意梯度轴上施以与所述(1)极性相反的预脉冲，发射激励脉冲，发射第一反转脉冲，而后发射第二反转脉冲，在相位轴上施以去相脉冲，在相位轴上施以读出脉冲的同时采集来自回波的数据，施以复相脉冲，然后发射第三反转脉冲，在相位轴上施以去相脉冲，在相位轴上施以读出脉冲的同时采集来自回波的数据，并根据采集的数据确定相位误差量；以及
(5)根据上述由(1)至(4)的每一个得到的相位误差，确定由于预脉冲造成的相位误差量。
6.如权利要求5的相位误差测量方法，其中，根据上述由(2)和(3)的每一个得到的相位误差量，确定由于相位编码脉冲造成的相位误差量。
7.一种MRI系统，包括：
RF脉冲发射装置；
梯度脉冲施加装置；
NMR信号接收装置；
所述MR系统通过应用快速自旋回波过程完成MR成像，用于控制上述相应装置，以在发射激励脉冲后再发射反转脉冲，在相位轴上施以相位编码脉冲，在读出轴上施以读出脉冲的同时采集来自回波的数据，在改变相位编码脉冲的同时在相位轴上重复多次施以重绕脉冲，采集来自由一个激励的多个来自回波的数据；
预脉冲施加装置，用于在激励脉冲前在任意梯度轴上施以预脉冲；以及
预脉冲校正装置，用于在初始反转脉冲之前或之后，在相位轴上施以校正脉冲以校正由于预脉冲造成的相位误差，或者，在初始反转脉冲上叠加该校正量以校正预脉冲造成的相位误差。
8.如权利要求7的MRI系统，还包括相位编码脉冲校正装置，用于在相应的重绕脉冲或紧跟其后的相位编码脉冲上叠加所述校正量以校正由于相位编码脉冲造成相位误差，或在相应的重绕脉冲前或后叠加校正脉冲以校正由于相位编码脉冲造成的相位误差。
9.一种MRI系统，包括：
RF脉冲发射装置；
梯度脉冲施加装置；
NMR信号接收装置；
所述MR系统通过应用快速自旋回波过程完成MR成像，控制上述相应装置用来发射激励脉冲后发射反转脉冲，在相位轴上施以相位编码脉冲，在读出轴上施以读出脉冲的同时采集来自回波的数据，改变相位编码脉冲的同时在相位轴上重复多次施以重绕脉冲，采集来自由一个激励的多个来自回波的数据；
预脉冲施加装置，用于在激励脉冲前在任意梯度上施以预脉冲；以及
预脉冲校正装置，用于在初始相位编码脉冲或初始重绕脉冲上叠加所述校正量以校正预脉冲造成的相位误差。
10.如权利要求9的MRI系统，还包括相位编码脉冲校正装置，用于在相应的重绕脉冲或紧跟其后的相位编码脉冲上叠加所述校正量以校正由于相位编码脉冲造成相位误差，或在相应的重绕脉冲前或后叠加校正脉冲以校正由于相位编码脉冲造成的相位误差。
11.如权利要求7或9的MRI系统，还包括采用如下步骤的相位误差测量装置：
(1)在任意梯度轴上施以预脉冲，发射激励脉冲，发射第一反转脉冲，而后发射第二反转脉冲，在相位轴上施以去相脉冲，在相位轴上施以读出脉冲的同时采集来自回波的数据，施以复相脉冲，然后发射第三反转脉冲，在相位轴上施以去相脉冲，在相位轴上施以读出脉冲的同时采集来自回波的数据，根据采集的数据确定相位误差量；
(2)在任意梯度轴上施以预脉冲，发射激励脉冲，发射第一反转脉冲，在相位轴上施以相位编码脉冲，在相位轴上施以一个重绕脉冲，而后发射一个第二反转脉冲，在相位轴上施以去相脉冲，在相位轴上施以读出脉冲的同时采集来自回波的数据，施以一个复相脉冲，然后发射一个第三反转脉冲，在相位轴上施以一个去相脉冲，在相位轴上施以读出脉冲的同时采集来自回波的数据，根据采集的数据确定相位误差量。
(3)在任意梯度轴上施以预脉冲，发射激励脉冲，发射第一反转脉冲，在相位轴上施以与所述(2)极性相反的相位编码脉冲，在相位轴上施以重绕脉冲，而后发射第二反转脉冲，在相位轴上施以去相脉冲，在相位轴上施以读出脉冲的同时采集来自回波的数据，施以复相脉冲，然后发射第三反转脉冲，在相位轴上施以去相脉冲，在相位轴上施以读出脉冲的同时采集来自回波的数据，且根据采集的数据确定相位误差量；
(4)在任意梯度轴上施以与所述(1)极性相反的预脉冲，发射激励脉冲，发射第一反转脉冲，而后发射一个第二反转脉冲，在相位轴上施以去相脉冲，在相位轴上施以读出脉冲的同时采集来自回波的数据，施以复相脉冲，然后发射第三反转脉冲，在相位轴上施以去相脉冲，在相位轴上施以读出脉冲的同时采集来自回波的数据，根据采集的数据计算相位误差量；以及
(5)根据上述由(1)至(4)的每一个得到的相位误差，确定由于预脉冲造成的相位误差量。
12.如权利要求11的MRI系统，其中，根据上述由(2)和(3)的每一个得到的相位误差，用该相位误差测量装置确定由于相位编码脉冲造成的相位误差量。
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