CN118139723A - 用于确定眼镜架镜圈嵌槽的形状的方法 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种用于确定眼镜架镜圈(11)的嵌槽(16)的形状的方法，该方法包括：‑获取嵌槽的纵向轮廓的形状的步骤，‑计算或指出要沿着所述纵向轮廓探测的一个截面(S_j)的位置(θ_j)的步骤，以及‑通过使移动探测器在所述嵌槽中移动来对所述截面(S_j)的至少一部分进行探测的步骤。

Description

用于确定眼镜架镜圈嵌槽的形状的方法

技术领域

本发明总体上涉及眼镜制造的领域，更确切地涉及机加工眼科镜片。

更特别地，本发明涉及一种用于确定眼镜架镜圈的嵌槽的形状的方法，该操作是对要安装在所述镜圈中的镜片进行磨边的先决条件。

背景技术

配镜师的工作的技术部分包括将一副眼科镜片安装在客户所选择的眼镜架中，该技术部分可以划分为四个主要操作：

-获取未来配戴者所选择的眼镜架的两个镜圈中的每个镜圈的嵌槽的形状，即获取围绕镜架的镜圈的内侧延伸的凹槽的形状，

-对每个眼科镜片进行定心，包括使用设置在镜片上的定心标记确定镜片的参考系，然后将先前获取的镜圈的轮廓适合地定位于镜片的参考系中，使得镜片一旦被磨边成该轮廓、然后被安装在镜片的镜架中就相对于客户的对应眼睛正确地定位并且尽可能最佳地满足为此而设计该镜片的光学功能，

-对每个镜片进行阻挡，包括将阻挡附件附接至镜片，使得可以从定心工位轻松取出镜片、然后在不丢失参考系的情况下将镜片接合在磨边工位中，然后

-对每个镜片进行磨边，包括将该镜片机加工成先前定心的轮廓。

在此，该获取操作更特别地令人关注。

该操作通常由配镜师藉由读取器具来执行。

这种读取器具通常包括镜架阻挡支撑件、可相对于该支撑件移动的探测器、以及用于控制探测器相对于支撑件的位置的电子和/或计算机单元。因此，电子和/或计算机单元适于获取围绕镜架的每个镜圈的嵌槽探测到的多个点的坐标，然后根据这些坐标推导出用于机加工工具的控制设定点。

从本领域(例如参见文件FR 2751433)还已知使用能够测量嵌槽的截面形状的经优化的读取器具。这种测量对于围绕镜片制出适合于插入镜圈斜面的斜面来说是有用的。

这种测量通常在镜圈的底部执行，这是因为在该区域更容易探测斜面的截面。

然而，这种读取操作不够准确，无法制出完美镜片斜面，从而存在在镜片与镜架之间留下机械干涉问题的风险。

发明内容

在这种背景下，本发明提供了一种用于确定眼镜架镜圈的嵌槽的形状的方法，所述镜圈包括前面和后面，在该后面一侧附接有镜腿，该方法包括：

-获取嵌槽的纵向轮廓的形状的步骤，以及

-通过使移动探测器在所述嵌槽中移动来对所述嵌槽的至少一个截面的至少一部分进行探测的步骤，

其中，在所述探测步骤之前，所述方法包括计算或指出要沿着所述纵向轮廓探测的所述截面的取向的步骤，并且

其中，在所述探测步骤过程中，仅对所述截面的后部部分进行探测，所述后部部分相较于截面的其余部分而言与镜圈的后面相距更近。

由于本发明，可以通过使用简单的探测装置通过至少对被认为是嵌槽形状的最具特征的截面的形状进行读取来确定嵌槽的3D形状的更好的近似值。

优选地，对至少两个截面进行读取。

例如，本发明使得成形装置的用户能够在每个镜圈的少量截面中测量或估计嵌槽的前面与后面之间的高度差，使得可以根据这些高度差来对接合斜面进行机加工。

该操作无需特殊工具就可以执行，并且不需要太多时间。

然后将测量结果输入至成形装置，使得该成形装置将镜片斜面机加工成具有不均匀的断面，使得可以避免镜片与镜架之间的机械干涉问题。

更确切地，通常观察到嵌槽的前边缘与后边缘之间的高度差围绕镜圈连续变化。因此，可以基于在镜圈的三个或更多个不同截面上进行测量来容易地估计出镜圈的每个截面中的高度差。

此外，可以在镜圈形成障碍物(镜腿、鼻梁、鼻托)的地方在嵌槽的前边缘与后边缘之间测量高度差。相应地，由于这些障碍物通常使镜圈变形，因此障碍物的存在对所测量的高度差产生影响。因此，通过在机加工镜片期间考虑该差，可以潜在地降低镜片与障碍物之间的干涉风险。这是特别有利的，因为这种干涉可能使镜架变形、或对镜片产生机械应力、或甚至使镜片无法安装到镜圈中。

该过程确保经加工的镜片几何形状将不会因镜片与后部区域之间的干涉而造成镜架前部的任何变形。

本发明的其他优选特征如下：

-由操作者藉由人机界面手动指出所述截面的位置。

-根据所述纵向轮廓的形状自动计算所述截面的位置。

-在计算或指出所述截面的取向的步骤之后，探测器自动移动，没有沿着嵌槽滑动直接到达该取向。

-在计算或指出所述截面的取向的步骤之后，探测器自动移动，通过沿着嵌槽滑动到达该取向。

-所述纵向轮廓包括具有相同范围的四个角扇区，包括上部角扇区、底部角扇区、鼻侧角扇区和颞侧角扇区。

-所述截面被定位在鼻侧角扇区或颞侧角扇区中。

-在计算或指出步骤过程中，计算或指出所述嵌槽的至少两个截面的位置。

-在探测步骤过程中，通过使所述移动探测器在嵌槽中在两个不同平面中移动来对该至少两个截面进行探测。

-根据所述探测的截面的形状来计算所述嵌槽的至少一个未探测的截面的形状。

-根据所述探测的截面的形状例如通过插值来计算所述嵌槽的整个3D形状。

-对所述斜面的单个截面进行探测，并且假定所述嵌槽的每个截面的形状与所述探测的截面的形状相同。

-若探测器仅能够对所述截面的一部分进行探测，则根据探测的部分的形状来计算所述截面的其余部分的形状。

-获取嵌槽的纵向轮廓的形状的步骤和对所述截面的至少一部分进行探测的步骤藉由读取器具来执行，在这两个步骤之间，修改镜架在所述读取器具中的位置，其方式为使得在对所述截面进行探测的步骤过程中，探测器可以对整个截面进行探测。

-该方法包括将与所述纵向轮廓的形状和/或所述截面的形状相关的数据存储在寄存器中的步骤，在该寄存器中，每个条目与眼镜架型号或型号类别相关联。

-所述获取嵌槽的纵向轮廓的形状的步骤在探测操作期间藉由读取器具来执行，并且其中，所述对所述截面的至少一部分进行探测的步骤在与所述探测操作不同的操作期间执行。

-所述镜圈包括前面和后面，在该后面一侧附接有镜腿，在所述对所述截面的至少一部分进行探测的步骤过程中，仅对所述截面的后部部分进行探测，所述后部部分相较于截面的其余部分而言与镜圈的后面相距更近。

本发明还涉及一种用于对要安装在眼镜架镜圈中的镜片进行机加工的方法，该方法包括：

-第一操作，该第一操作包括藉由读取器具执行如上文所限定的方法，

-第二操作，该第二操作包括根据纵向轮廓的形状和每个探测的截面的形状来确定磨边参数，以及

-第三操作，该第三操作包括根据所述磨边参数藉由磨边机对镜片进行磨边，以便沿着所述镜片的轮廓的至少一部分形成斜面，

其中，所述磨边参数使得斜面的至少一个特定截面的形状取决于所述嵌槽的探测的截面。

优选地，所述斜面包括前侧面和后侧面，在所述特定截面中，前侧面的高度与后侧面的高度不同，根据嵌槽的探测的截面的形状来确定所述差。

优选地，所述磨边参数使得斜面的所述特定截面的形状取决于以下数据中的一个：

-在所述探测的截面上嵌槽的前侧面与后侧面之间的角，

-嵌槽在所述探测的截面上的深度，

-斜面在所述探测的截面上在镜架厚度中的纵向位置，

-嵌槽在所述探测的截面中的例如相对于镜圈的平均平面测量的偏斜角(也就是说其斜度)。

附图说明

以下参考附图并通过非限制性示例给出的描述使本发明包括的内容以及可以实践本发明的方式变得清楚。

在附图中：

-图1是带镜圈的眼镜架的立体图，

-图2是图1的眼镜架的镜圈的一部分的立体图，

-图3是眼科镜片的立体图，

-图4是图3的眼科镜片的一部分的立体图，

-图5是用于读取眼镜架镜圈的轮廓的器具的立体图，以图1的眼镜架呈第一构型安装在其中而示出，

-图6是图5的器具的一部分的详细视图，以图1的眼镜架呈第二构型安装而示出，

-图7是图1的眼镜架的镜圈和该镜圈的四个截面的视图，

-图8是图1的眼镜架的镜圈的截面和图3的眼科镜片的截面的视图，

-图9是接合到图1的眼镜架的镜圈中的探测器的视图，

-图10是在图1的眼镜架的镜圈的内侧探测到的两个轮廓的视图，以及

-图11是图3的眼科镜片的边缘的截面的视图。

具体实施方式

图1示出了具有两个镜圈11(或镜框)的带镜圈的眼镜架10，每个镜圈用于接纳眼科镜片并且在配戴者戴着所述镜架时定位在配戴者的两只眼睛中的相应眼睛的前方。两个镜圈11通过鼻梁12连接在一起。这两个镜圈还各自装配有适合于搁在配戴者鼻子上的鼻托13以及适合于搁在配戴者耳朵上的镜腿(镜脚)14。每个镜腿14藉由铰链15与对应镜圈铰接。

如图2所示，眼镜架10的每个镜圈11存在包括内侧接合凹槽(通常被称为嵌槽16)的内侧面。在该实施例中，嵌槽16呈现具有前侧面16A和后侧面16B以及底部边缘17的V形轴向截面。该嵌槽由前边际18和后边际19界定。在变型中，嵌槽自然可以具有某一其他形状，例如嵌槽可以是圆弧形的。

针对每个镜圈11，限定有平均平面P1和平均轴线A1。平均平面P1被限定为最接近构成嵌槽16的底部边缘17的点集的平面。可以例如通过对嵌槽的底部上的多个点的坐标应用最小二乘法来获得该平面的坐标。平均轴线A1被限定为垂直于平均平面P1、穿过构成嵌槽16的底部边缘17的点的质心(重心)的轴线。

每个镜圈11的截面S_j被限定为镜圈11与包含平均轴线A1且绕所述轴线呈取向角θ_j的平面P2_j的横断面。

每个截面S_j限定镜圈断面P_j。在该实施例中，每个断面P_j包括与前边际18和后边际19在平面P2_j中的迹线相对应的两条平行线段以及与前侧面16A和后侧面16B在平面P2_j中的迹线相对应的两条V形线段。

镜圈断面P_j的形状可以围绕每个镜圈11的轮廓变化。

特别地，如图7和图8所示，前边际18和后边际19分别与平均轴线A1相距第一距离和第二距离，这些距离之间的差称为偏移高度G_j。

偏移高度G_j可以被限定为首先是前边际18在所考虑的截面S_j中的迹线与平均轴线A1的最大距离与其次是后边际19在所述截面S_j中的迹线与平均轴线A1的最大距离之间的差。

但是在此，该偏移高度G_j优选地并非相对于平均轴线A1径向地测量，而是沿着平分线方向F_j测量。实际上，前镜片曲率应近似等于镜架曲率(也就是说，平行于平分线方向F_j)。

由于鼻托13和铰链15紧固至后边际19，因此鼻托和铰链的存在可能对该后边际的形状产生影响。因此，可以理解，鼻托13和铰链15可能对偏移高度G_j产生影响。如图2所示，嵌槽16在每个截面S_j中的开角D_j被限定为前侧面16A的迹线与后侧面16B的迹线之间的角度。

眼镜架10也可以是有倒角的。因此，嵌槽16是偏斜的，即扭转的。因此，如图2所示，嵌槽16的每个截面S_j呈现其自身的倾斜角。沿着嵌槽16变化的该倾斜角在每个截面S_j中用被称为偏斜角的角C_j来量化。偏斜角C_j对应于嵌槽16的平分线F_j与在镜圈11的平均平面P1中垂直于平均轴线A1的轴线之间的角。

如图3和图4所示，眼科镜片20存在前光学面21和后光学面22、以及边缘面23。

眼科镜片20存在光学特征和几何特征。

在其光学特征中，特别限定了镜片的球面屈光度，球面屈光度是表征和量化镜片对所考虑的光束的“放大镜”效果的量值。镜片的放大镜效果为零的点(即对于仅具有球面光焦度的镜片，入射光线和透射光线具有相同轴线的点)被称为光学中心。

镜片的边缘面23最初呈现圆形轮廓(图3)。然而，镜片被设计为被成形成与眼镜架10的对应镜圈的形状匹配，以便使镜片能够接合在镜圈中。

如图4所示，镜片更确切地被设计为被成形成在其边缘面23上存在由前边际28和后边际29界定的接合脊26(或斜面)。本文所描述的接合脊26呈现V形截面，具有沿着镜片的边缘面23延伸的顶部边缘27、以及在顶部边缘27的两侧的前侧面26A和后侧面26B。

在变型中，眼科镜片的边缘面可以被成形成存在具有某一其他形状的断面。

就像镜圈11，可以针对镜片限定平均平面和平均轴线A2。平均平面可以被限定为正交于镜片的光轴的平面。平均轴线A2可以被限定为垂直于该平均平面、穿过构成斜面26的顶部边缘27的点的质心的轴线。

眼科镜片20的轴向截面S'_i被限定为所述镜片与由光轴A2限定且绕所述光轴呈取向角θ'_i的半平面P3的横断面。

眼科镜片20的每个轴向截面S'_i限定镜片断面P'_i。在该示例中，每个断面P'_i包括与前边际28和后边际29在半平面P3中的迹线相对应的两条平行线段以及与前侧面26A和后侧面26B在半平面P3中的迹线相对应的两条V形线段。

下文中，当镜片20的轴向截面S'_i的角位置θ'_i和镜架10的截面S_j的角位置θ_j相同时，称两者的截面“相对应”。

为了实施本发明的方法，需要使用形状读取器具。该形状读取器具包括本领域技术人员众所周知的装置，并且不具体构成所描述的本发明的主题。例如，可以使用专利EP 0750 172中描述的形状读取器具。

图5是形状读取器具100呈现给其用户的总体视图。该器具具有顶盖101，该顶盖覆盖除其中放置眼镜架10的顶部中心部分之外的整个器具。

形状读取器具100主要用于读取眼镜架10的每个镜圈11的嵌槽的底部边缘的形状。

图5所示的读取器具100具有一组两个卡盘102，其中卡盘102中的至少一个可相对于另一个移动，使得卡盘102可以朝向彼此或背离彼此移动，以形成夹持装置。每个卡盘102还设置有两个夹持件，每个夹持件由两个螺柱103构成，这两个螺柱可移动以便能够将眼镜架10夹持在两者之间，从而防止眼镜架移动。

在盖101的顶部中心开口所留下的可见空间中，可以看到结构104。板(不可见)可以在结构104上沿着传递轴线A3平移移动。转盘105枢转地安装在板上。因此，转盘105适合于沿着传递轴线A3占据两个位置，即第一位置和第二位置，在该第一位置，转盘105的中心设置在固持眼镜架10的右镜圈的两对螺柱103之间，在该第二位置，转盘105的中心置于固持眼镜架10的左镜圈的两对螺柱103之间。

转盘105具有旋转轴线A4，该旋转轴线被限定为垂直于转盘105的前面且穿过其中心的轴线。该转盘适于绕所述轴线相对于板枢转。转盘105还具有圆弧长圆形槽106，探测器110可以穿过该槽移动。探测器110包括：支撑杆111，该支撑杆的轴线垂直于转盘105的前面平面；以及在其自由端部处的探测指112，该探测指的轴线垂直于支撑杆111。探测指112被设计为沿着眼镜架10的每个镜圈11的嵌槽的底部边缘滑动或可能滚动来跟随该底部边缘。

形状读取器具100包括致动装置(未示出)，该致动装置适于：第一使支撑杆111沿着槽106滑动以修改其相对于转盘105的旋转轴线A4的径向位置；第二改变转盘105绕其旋转轴线A4的角位置；并且第三将探测器110的探测指112定位在相对于转盘105的前面平面的更高高度或更低高度。

总而言之，探测器110设置有三个自由度，即：第一自由度R，该自由度是由探测器110因其沿着由槽106形成的圆弧移动的自由而相对于旋转轴线A4径向地移动的能力构成的；第二自由度θ，该自由度是由探测器110凭借转盘105相对于板旋转而绕旋转轴线A4枢转的能力构成的；以及第三自由度Z，该自由度是由探测器110沿着与转盘105的旋转轴线A4平行的轴线平移移动的能力构成的。

探测器110的探测指112的端部读取到的每个点在对应坐标系R_j、θ_j、Z_j中标识。

形状读取器具100还包括电子和/或计算机装置120，该装置首先用于控制形状读取器具100的致动装置，其次用于获取和存储探测器110的探测指112的端部的坐标。

该电子和/或计算机装置120连接至人机界面，该人机界面例如可以是触摸屏121。

在第一操作期间，用户使用比如图5所示的读取器具对眼镜架10的一个镜圈11进行读取(以相同方式对另一镜圈进行读取，将不对其进行描述)。

最初，将眼镜架10插入读取器具100的卡盘102的螺柱103之间，使得眼镜架的每个镜圈11准备好沿着以下路径进行探测：该路径始于将探测器110沿着镜架的左镜圈11插入初始位置，然后沿着镜圈11的嵌槽16穿过以覆盖镜圈11的整个圆周。初始位置与位于保持镜圈的底部部分的两个螺柱之间点相对应。

在该初始位置，电子和/或计算机装置120将探测器110的探测指112的端部的取向θ_j和高度Z_j限定为等于零。

在此之后，致动装置使转盘105枢转。在转盘枢转时，致动装置向探测器110施加恒定径向力，将探测器朝向嵌槽16推进，使得探测器110的探测指112沿着嵌槽16的底部边缘17滑动而不提升嵌槽16的前侧面16A和后侧面16B中的任一者。

当转盘105转动时，电子和/或计算机装置120沿着嵌槽16的底部边缘17读取多个点(例如以一度的间隔成角度间隔开的360个点)的三维坐标R_j、θ_j、Z_j。每个点与嵌槽的底部边缘17在截面S_j中的迹线基本上对应。

在转盘105转完一整圈之后，致动装置停止其旋转。在该位置，探测器100被定位在保持镜圈的底部部分的两个螺柱之间。

探测到的360个点的三维坐标R_j、TETA_j、Z_j被视为表征嵌槽16的底部边缘17的轮廓C17(图10所示)。

在第二操作期间，用户使用读取器具100对眼镜架10的镜圈11的至少一个截面S_j进行读取。

为此，首先确定每个要探测的截面S_j的取向θ_j。下文将解释用于确定该取向的过程。

然后，将探测器110定位在镜圈11的嵌槽16中、在所述要探测的截面S_j上、抵靠嵌槽16的底部边缘17。

为了实现这一点，可以使探测器110再次沿着嵌槽16的底部边缘17滑动，直至探测器到达所确定的截面S_j的取向θ_j。

在变型中，可以使探测器110从嵌槽离开并且直接到达先前探测到的属于要探测的截面S_j的点。

在此之后，致动装置使探测器110提升，然后下降，以抵靠嵌槽16的前侧面16A和后侧面16B。

当探测器110移动时，电子和/或计算机装置120沿着嵌槽16的截面S_j读取多个点(例如以一毫米的间隔间隔开的点)的三维坐标R_j、θ_j、Z_j。每个点与嵌槽16在平面P2_j中的截面S_j的迹线基本上对应。

该操作可以通过使探测器沿着嵌槽16的侧面16A、16B连续滑动来执行。在变型中，可以通过使探测器相继地触碰这些侧面的若干个点并且在每次触碰之间使探测器从嵌槽离开来执行。

该操作可以在嵌槽16的单个截面S_j中执行或在若干个不同的截面S_j中执行。

在探测每个截面S_j之前，必须确定要探测的截面S_j的取向θ_j。

由于对截面进行探测是很长的操作，因此目标是读取最少数量的截面。

为此，要探测的截面S_j的取向θ_j不是随机确定的。

在优选实施例中，要探测的截面S_j的取向θ_j针对不同型号的镜架是不同的。换言之，根据镜架的型号来确定每个取向。

由配镜师或通过电子和/或计算机装置120来确定每个取向。

在第一实施例中，每个要探测的截面S_j的取向θ_j由配镜师藉由触摸屏121来确定。

为此，电子和/或计算机装置120在触摸屏上显示(先前探测的)嵌槽16的底部边缘17的轮廓的形状。然后，配镜师可以触摸屏幕上的该轮廓的区域以指出要探测的截面S_j。

在第二实施例中，配镜师可以通过使转盘105转动直至良好取向θ_j而手动将探测器110定位在要探测的截面S_j中。

在这些实施例中，配镜师可以基于斜面16的形状来选择截面S_j。例如，可以选择可能发生可能干涉的区域。在变型中，可以选择镜圈上鼻托和镜腿附接的区域。

在第三实施例中，通过电子和/或计算机装置120根据嵌槽16的底部边缘17的轮廓的形状来计算每个取向θ_j。

为此，如图7所示，电子和/或计算机装置120计算嵌槽16的底部边缘17的轮廓中心(称为“方框中心”)的位置以及外接该轮廓的水平矩形(称为“方框矩形”)的位置。

就这些方框中心和方框矩形而言，底部边缘17的轮廓可以分为四个90°的角扇区AS1、AS2、AS3、AS4，即上部角扇区AS1、底部角扇区AS2、鼻侧角扇区AS3和颞侧角扇区AS4。

然后，电子和/或计算机装置120可以通过将两个要探测的截面S_j分别定位在鼻侧角扇区AS3和颞侧角扇区AS4中来确定这两个要探测的截面的取向θ_j。

例如，可以将第一截面定位在鼻侧角扇区AS3的平分线上，可以将另一个截面定位在颞侧角扇区AS4的平分线上。

实际上，如图7所示，镜片与镜架镜圈之间的干涉问题通常发生在这些截面附近。相比之下，在上部角扇区AS1和底部角扇区AS2中通常不发生干涉问题。

在变型中，可以以其他方式来确定两个截面S_j的取向θ_j。例如，若电子和/或计算机装置120检测到嵌槽16的底部边缘17的轮廓明显具有矩形形状，则可以将截面选择为属于从方框中心穿过方框矩形的上拐角的射线。实际上，干涉问题通常发生在镜腿和鼻托附接的区域，并且这些区域通常位于这些拐角附近。

如图9所示，由于探测器110的形状和镜圈11的形状，有时无法使探测器110沿着嵌槽16的两个侧面的整个侧面滑动。

在这种情况下，可以有两种解决方案以获得嵌槽16的整个截面S_j的形状。

第一解决方案包括使探测器仅在截面Sj的可以由探测器110探测的部分PA1上滑动。

然后，由于已知该截面是V形的，因此可以根据探测的部分PA1的形状(通过延长探测到的线段来形成V)来计算截面Sj的其余部分的形状。

该第一解决方案的结果可能不如第二解决方案的结果准确，但是这些结果显然是可用的。

如图6所示，第二解决方案包括使镜架10在读取器具100中倾斜，其方式为使得可以通过探测器110探测到整个截面S_j。

在图1所示的构型中，镜架的两个镜圈11由两对螺柱103阻挡，从而将眼镜架10水平地固持在读取器具100中。在该新型构型中(在已经探测到嵌槽16的底部边缘17的轮廓时使用)，配镜师倾斜镜架，使得仅一个镜圈11由螺柱103阻挡。在该位置，镜圈11的取向使得可以探测整个截面S_j。

为了准确地确定嵌槽16的3D形状，解决方案可能是探测大量的截面S_j。但是如上文所解释的，这种操作执行起来花费的时间可能太长。

因此，在此，准确地确定该3D形状的解决方案包括根据探测的截面S_j的形状来计算未探测的截面的形状。

在第一实施例中，仅知道一个截面，可以认为嵌槽16的沿着嵌槽16的底部边缘17的轮廓C17的所有截面都是相同的。因此，若仅探测了斜面16的一个截面S_j，则假定嵌槽16的每个截面的形状与探测的截面的形状相同。

但是，由于实际上嵌槽16的截面的形状并不相同，所以下面的第二实施例是优选的。

在该第二实施例中，对有限数量的截面进行探测。该数量优选地介于二到六之间。例如，可以对位于四个角扇区AS1-AS4的平分线上的四个截面进行探测。

然后，根据这些探测的截面Sj的形状例如通过插值来计算嵌槽16的整个3D形状。在优选实施例中，该插值考虑了嵌槽16的底部边缘17的轮廓的形状。

在说明书的该步骤，可以解释如何进行该插值。

在图2所示的实施例中，嵌槽是V形的，使得在特定截面S_j中需要三个点来限定V：

-位于底部边缘17上的第一点A_j，

-位于后边际19与嵌槽16的后侧面16B之间的交点上的第二点B_j，以及

-位于前边际18与嵌槽16的前侧面16A之间的交点上的第三点C_j。

注意到，点A_j坐标在整个镜架轮廓上都是已知的，而点B_j坐标和点C_j坐标仅在所读取的截面处是已知的。

位于2个探测的截面S₁和S₂之间的未探测的截面S_j可以如下插值。

为了估计点B_j和点C_j在截面S_j中的坐标，可以使用已知的点A_j坐标、点B₁和点C₁在截面S₁中的坐标、以及点B₂和点C₂在截面S₂中的坐标。

点B_j位于区间[B₁’，B₂’]上，其中：

-B₁’是其相对于点A_j的位置等于点B₁相对于点A₁的位置的点，并且

-B₂’是其相对于点A_j的位置等于点B₂相对于点A₂的位置的点。

点B_j在区间[B₁’，B₂’]上的位置取决于截面S_j在镜圈轮廓上的角位置θ_j与截面S₁、S₂的角位置θ₁、θ₂的比较。

更具体地，点B₁与点B_j之间的距离应等于点B₁与点B₂之间的距离乘以项数α，其中：

Α＝|θ₁-θ_j|/|θ₁-θ₂|。

可以以相同的方式来确定点C_j的坐标。

在该步骤，沿着嵌槽16的底部边缘17探测的360个点的三维坐标R_j、TETA_j、Z_j是已知的。

表征嵌槽16的侧面的形状的若干个点的三维坐标R_j、TETA_j、Z_j也是已知的。

换言之，获得了对镜片20的要接合在所考虑镜圈中的边缘进行机加工所需的所有数据。

因此，可以对这些数据进行处理以确定电子和/或计算机装置120能够传输至成形器具的磨边参数。

根据本发明，这些磨边参数被计算成使得一旦被磨边，镜片就存在沿着其整个轮廓的斜面，并且在至少一个特定截面S’_i中的形状取决于探测的截面S_j中的至少一个的形状。

实际上，计算磨边参数是为了自动限定斜面的最适当的几何形状。

若干个实施例可以实现该目标。

在图8所示的第一实施例中，磨边参数被确定成使得一旦机加工，就使镜片斜面26倾斜并且其斜度变化以在每个截面中保持与嵌槽16在对应截面S_j中的偏斜角C_j相等。

更确切地，在该实施例中，斜面26的每个截面S’_i呈现其自身的倾斜角C’_i。倾斜角C’_i对应于斜面26的平分线F’_i与在镜片20的平均平面P’1中垂直于平均轴线A2的轴线之间的角。

在图11所示的第二实施例中，磨边参数被确定成使得一旦机加工，不使斜面倾斜，而是将前边际28和后边际29定位成与斜面的顶部边缘27相距不同的径向距离(该径向距离从镜片的平均轴线A2测量)。

在截面S’_i中这些距离之间的差H’_i可以等于以下两者之间的差：

-在对应截面S_j中轴线A1与嵌槽16的前侧面16A的末端之间的径向距离，以及

-在该对应截面S_j中轴线A1与嵌槽16的后侧面16B的末端之间的径向距离。

但是在优选实施例中，该差H’_i等于沿着斜面26的平分线F’_i测量的两个距离之间的差。

在其他实施例中，更一般地，磨边参数使得斜面26在每个截面S’_i中的形状取决于以下数据中的至少一个：

-在对应截面S_j中嵌槽16的前侧面16A与后侧面16B之间的角Dj，

-嵌槽16在该截面S_j中的深度，

-斜面16在镜圈的厚度中的位置(以百分比表示，50％对应于嵌槽在镜圈的厚度中的中心位置)。

-偏斜角C_j。

一旦确定，就将磨边参数发送至磨边机，并且对镜片20进行机加工，以便形成斜面26。根据所有接收到的磨边参数推导出用于机加工镜片的控制设定点。

该步骤包括对眼科镜片20的边缘面23进行机加工以将其缩减到眼镜架10的对应镜圈11的形状，其方式为使得一旦镜片20接合在其镜圈11中，镜片的前边际28和后边际29就分别与左镜圈11的前边际18和后边际19相距基本上恒定的距离而围绕镜圈的整个轮廓延伸。

因此，一旦机加工完成，镜片就准备好被安装在镜架10的对应镜圈11中。

如上文所解释的，对嵌槽的每个截面进行探测的步骤是耗时的。因此，减少获取这些截面的形状所需的时间的解决方案是将测量数据或磨边参数存储在数据库寄存器中。

该寄存器可以例如具有用于存储镜架型号(或镜架型号类别)的标识符的第一字段。该标识符可以由该型号的名称形成。寄存器还可以具有用于存储测量数据和/或磨边参数的其他字段。

通过这种寄存器，当配镜师接收到镜架时，他可以在数据库中搜索镜架型号是否在该数据库中已知。

若未找到结果，则执行上文描述的过程。

相反，如果找到对应寄存信息，则读取并使用存储在该寄存器中的数据来机加工镜片。在这种情况下，仅藉由读取器具100读取斜面16的底部边缘17，而不探测该斜面的截面。

本发明决不局限于所描述和示出的实施例。

例如，在上述实施例中，藉由读取器具100相继地读取嵌槽底部边缘17的纵向轮廓的形状和探测的截面S_j的形状。但是在变型中，可以首先仅读取嵌槽底部边缘17的读数。随后可以读取探测的截面的形状。例如，可以在镜片机加工的第一步骤过程中对它们进行读取，实际上在镜片机加工的这些第一步骤过程中可能不需要与截面相关的信息。为了节省时间，也可以在定心过程中对截面进行探测。

在上述实施例中，对整个截面进行读取(控制探测器使其在嵌槽16的前侧面16A和后侧面16B两者上滑移)。在变型中，可以仅对嵌槽16的截面的后部部分进行探测。实际上，镜架与镜片之间的干涉问题很少发生在斜面的前侧。这种问题通常发生在后侧(见图7)。因此，在该变型中，为了减少探测截面所需的时间，仅对这些截面的后部部分进行探测。例如，该后部部分对应于嵌槽16的后侧面16B的迹线。

在该变型中，可以仅对嵌槽的后侧面上的一个点进行探测。然后，将该后侧面16B的迹线的形状假定为穿过该点和嵌槽16的底部边缘17的线段。

在该变型中，为了在大量截面中探测嵌槽的后侧面的一个点，可以通过使转盘转动并且使探测器在高度Z保持与嵌槽底部边缘17相距恒定的距离而使探测器沿着该后侧面滑动(抵靠后侧面

如图10所示，通过此操作，可以在平面(R_j，θ_j)中勾勒出嵌槽底部边缘17的轮廓C17的形状和穿过在嵌槽16的后侧面16B上探测的点的轮廓C18的形状。

Claims (14)

1.一种用于确定眼镜架镜圈(11)的嵌槽(16)的形状的方法，所述镜圈(11)包括前面和后面，在所述后面一侧附接有镜腿(14)，所述方法包括：

-获取所述嵌槽(16)的纵向轮廓的形状的获取步骤，以及

-通过使移动探测器(110)在所述嵌槽(16)中移动来对所述嵌槽(16)的至少一个截面(S_j)的至少一部分进行探测的探测步骤，

其特征在于，在所述探测步骤之前，所述方法包括计算或指出要沿着所述纵向轮廓探测的所述截面(S_j)的取向(θ_j)的计算或指出步骤，并且

在所述探测步骤过程中，仅对所述截面(S_j)的后部部分进行探测，所述后部部分相较于所述截面(S_j)的其余部分而言与所述镜圈的后面相距更近。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，由操作者藉由人机界面(121)手动指出所述截面的位置。

3.根据权利要求1所述的方法，其中，根据所述纵向轮廓的形状自动计算所述截面(S_j)的位置。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，其中，在计算或指出所述截面(S_j)的取向(θ_j)的所述计算或指出步骤之后，所述探测器自动移动，没有沿着所述嵌槽(16)滑动直接到达该取向(θ_j)。

5.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，其中，在计算或指出所述截面(S_j)的取向(θ_j)的所述计算或指出步骤之后，所述探测器自动移动，通过沿着所述嵌槽(16)滑动到达该取向(θ_j)。

6.根据权利要求1至5中任一项所述的方法，其中，所述纵向轮廓包括具有相同范围的四个角扇区(AS1，AS2，AS3，AS4)，包括上部角扇区、底部角扇区、鼻侧角扇区和颞侧角扇区，所述截面(S_j)被定位在所述鼻侧角扇区或所述颞侧角扇区中。

7.根据权利要求1至6中任一项所述的方法，其中：

-在所述计算或指出步骤过程中，计算或指出所述嵌槽的至少两个截面(S_j)的位置，并且

-在所述探测步骤过程中，通过使所述移动探测器(110)在所述嵌槽(16)中在两个不同平面(P2)中移动来对该至少两个截面(S_j)进行探测。

8.根据权利要求7所述的方法，其中，根据所述探测的截面(S_j)的形状来计算所述嵌槽(16)的至少一个未探测的截面的形状。

9.根据权利要求8所述的方法，其中，根据所述探测的截面(S_j)的形状例如通过插值来计算所述嵌槽(16)的整个3D形状。

10.根据权利要求1至9中任一项所述的方法，其中，若所述探测器(110)仅能够对所述截面(S_j)的一部分(PA1)进行探测，则根据探测的部分(PA1)的形状来计算所述截面(S_j)的其余部分的形状。

11.根据权利要求1至10中任一项所述的方法，所述方法包括将与所述纵向轮廓的形状和/或所述截面(S_j)的形状相关的数据存储在寄存器中的步骤，在所述寄存器中，每个条目与眼镜架型号或型号类别相关联。

12.根据权利要求1至11中任一项所述的方法，其中，获取所述嵌槽(16)的纵向轮廓的形状的所述获取步骤在探测操作期间藉由读取器具(100)来执行，并且其中，所述对所述截面的至少一部分进行探测的步骤在与所述探测操作不同的操作期间执行。

13.一种用于对要安装在眼镜架镜圈(11)中的镜片(20)进行机加工的方法，所述方法包括：

-第一操作，所述第一操作包括藉由读取器具(100)执行根据权利要求1至12中任一项所述的方法，

-第二操作，所述第二操作包括根据所述纵向轮廓的形状和每个探测的截面(S_j)的形状来确定磨边参数，以及

-第三操作，所述第三操作包括根据所述磨边参数藉由磨边机对所述镜片(20)进行磨边，以便沿着所述镜片(20)的轮廓的至少一部分形成斜面(26)，

其中，所述磨边参数使得所述斜面(26)的至少一个特定截面(S’_i)的形状取决于所述嵌槽的探测的截面(S_j)。

14.根据权利要求13所述的方法，其中，所述磨边参数使得所述斜面(26)的所述特定截面(S’_i)的形状取决于以下数据中的一个：

-在所述探测的截面(S_j)上所述嵌槽(16)的前侧面(16A)与后侧面(16B)之间的角(D_j)，

-所述嵌槽(16)在所述探测的截面(S_j)上的深度，

-所述斜面(16)在所述探测的截面(S_j)上在镜架厚度中的纵向位置(Z_j)，

-所述嵌槽(16)在所述探测的截面(S_j)中的偏斜角(C_j)。