CN117877401A - 显示面板及显示装置 - Google Patents

Abstract

本申请涉及一种显示面板及显示装置。其中，显示面板，包括：相邻的显示部与绑定部。其中，所述显示部用于执行显示功能。所述绑定部上设有行列排布的绑定衬垫。所述绑定衬垫至少用于与显示驱动芯片以及控制电路板形成电连接关系。所述绑定部还设有至少一个检测衬垫组。每一所述检测衬垫组内包括两组子检测衬垫组，所述子检测衬垫组内包括互相电连接的检测衬垫。所述检测衬垫组用于检测其所包括的两组所述子检测衬垫组之间的电阻。根据本申请实施例，可以较低成本实现对生产过程中的显示面板进行普遍性的检测。

Description

显示面板及显示装置

技术领域

本申请涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示面板及显示装置。

背景技术

在相关技术中，随着显示面板的分辨率逐渐提升，显示面板的数据信号线数量也在同步增加。又因为对显示面板的功耗与边框宽度的限制，显示驱动芯片的数据信号输出针脚间距也在逐渐缩小到极限。而这也对显示面板的工艺提出了更高的要求。

当显示面板上的驱动芯片与显示面板的衬垫键合后，如果显示驱动芯片的输出针脚间存在金属残留。那么，显示面板就容易出现膜层剥落、显示驱动芯片脱落与屏幕驱动信号失效等问题。而目前显示驱动芯片的输出针脚间的金属残留的检测方式存在效率低，成本高，且不能应用于量产实时监控，因而亟待解决。

发明内容

根据本申请实施例的第一方面，提供一种显示面板，包括：相邻的显示部与绑定部；其中，所述显示部用于执行显示功能；

所述绑定部上设有行列排布的绑定衬垫；所述绑定衬垫至少用于与显示驱动芯片以及控制电路板形成电连接关系；所述绑定部还设有至少一个检测衬垫组；每一所述检测衬垫组内包括两组子检测衬垫组，所述子检测衬垫组内包括互相电连接的检测衬垫；

所述检测衬垫组用于检测其所包括的两组所述子检测衬垫组之间的电阻。

在一些实施例中，每一所述检测衬垫组内包括的两组所述子检测衬垫组并列排列，且排列的方式相同。

在一些实施例中，所述绑定部包括至少两个检测单元，每一所述检测单元内均包括一个所述检测衬垫组与部分所述绑定衬垫；每一所述检测单元内的所述检测衬垫组保持独立。

在一些实施例中，每一所述检测单元内，所述检测衬垫组位于行列排布的所述绑定衬垫周围的至少部分一侧。

在一些实施例中，每一所述检测单元内，所述绑定衬垫组内的多个所述检测衬垫与所述绑定衬垫按行或者按列交替排布。

在一些实施例中，每一所述检测单元内，所述检测衬垫组内的部分所述检测衬垫与所述绑定衬垫按行或者按列交替排布，部分所述检测衬垫位于相邻行或者相邻列的所述检测衬垫之间。

在一些实施例中，每一所述检测单元内，所述检测衬垫与所述绑定衬垫的排列方式相同。

在一些实施例中，每一所述检测单元内，所述检测衬垫与在同一方向上排列的所述绑定衬垫的规格相同。

在一些实施例中，不同的所述检测单元内的所述检测衬垫与所述绑定衬垫的排列方式相同或者不同。

根据本申请的第二方面，提供一种显示装置，包括上述任一种显示面板。所述显示面板为OLED显示面板或Micro-LED显示面板。

根据上述实施例可知，由于检测衬垫与绑定衬垫之间的距离，以及绑定衬垫与绑定衬垫之间的距离均很小。因此，如果在行列排布的绑定衬垫的某一部分存在金属残留，则即使很少的金属残留也会覆盖到较多的绑定衬垫与接触衬垫。而如果绑定部不存在金属残留，则当测量工具与接触衬垫组电连接后，接触衬垫组内的两组接触衬垫由于不存在电连接关系。因此，由于此时接触衬垫组内近似于断路电路，会表现为测量工具测得的电阻偏向于其最大度量的一端。而如果绑定部存在金属残留，则由于金属残留覆盖到较多的绑定衬垫与接触衬垫，则接触衬垫组内的两组接触衬垫也会由于金属残留的存在而产生电连接关系。因此，由于此时接触衬垫组内近似于短路电路，会表现为测量工具测得的电阻偏向于其最小度量的一端。

通过设置检测衬垫组，并通过测量工具按照前述方式进行检测，即可较为方便的得知绑定部的绑定衬垫处是否存在金属残留，从而，可以避免对生产过程中的显示面板进行破坏性抽检，进而，由于前述测量方式的便捷性，可以在花费较少成本的情况下，对生产过程中的显示面板进行普遍性地检查以提升产品良率。

应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本申请。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本申请的实施例，并与说明书一起用于解释本申请的原理。

图1是根据本申请实施例示出的一种显示面板的结构示意图。

图2是根据本申请实施例示出的图1中，显示面板在绑定部处的衬垫结构的局部放大图。

图3是根据本申请实施例示出的另一种显示面板在绑定部处的衬垫结构的局部放大图。

图4是根据本申请实施例示出的另一种显示面板在绑定部处的衬垫结构的局部放大图。

图5是根据本申请实施例示出的另一种显示面板在绑定部处的衬垫结构的局部放大图。

具体实施方式

这里将详细地对示例性实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本申请相一致的所有实施方式。相反，它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本申请的一些方面相一致的装置和方法的例子。

由于显示面板的分辨率逐渐提升，而采用像素自发光技术的显示面板需要对显示面板内的子像素分别进行控制，导致显示面板的数据信号线数量在不断增加，而同时在功耗与显示面板边框大小的限制下，显示驱动芯片的数据信号输出针脚间距也在逐渐缩小到极限。而显示驱动芯片的针脚间更小的距离，则意味着显示面板上与显示驱动芯片对应键合的位置如果存在金属残留，哪怕是极弱的金属残留，也有可能导致显示驱动芯片的针脚互相短路而导致显示面板的驱动信号失效，或者，在长时间的运行过程中，金属残留与显示驱动芯片的针脚发生电化学腐蚀，导致显示面板内的膜层剥落，或者，腐蚀键合显示驱动芯片与显示面板的金属(例如，锡金属)，使得显示驱动芯片脱落。

而在显示驱动芯片与显示面板键合后，检测显示驱动芯片的针脚间的金属残留的方式，目前仅能通过该位置的FIB或SEM切片进行确认。其中，FIB即通过离子束探测显示驱动芯片针脚间的金属残留，而离子束将不可避免的对膜层结构产生损坏。而SEM切片则是通过切开显示驱动芯片与显示面板对应膜层的键合结构，并通过扫描电子显微镜进行观察。二者均属于破坏性检测，因此仅能对量产中的产品进行抽样检查。这使得这两种检查方式效率低，成本高，且不能应用于量产实时监控。

为了解决前述问题，本申请实施例提供一种显示面板10。图1示出的是该显示面板10的结构示意图。如图1所示，该显示面板10，包括：相邻的显示部11与绑定部12。其中，显示部11用于执行显示功能，显示部11可以包括设置有自发光子像素的像素部111，通过子像素的发光实现显示部11的显示功能。具体的，显示部11与绑定部12均包括显示面板10的衬底结构101的部分，以及形成于衬底结构101上的对应的膜层结构。

图2示出的是图1中，显示面板10在绑定部12处的衬垫结构的局部放大图。如图2所示，绑定部12上设有行列排布的绑定衬垫121。绑定衬垫121至少用于与显示驱动芯片以及控制电路板形成电连接关系。其中，绑定衬垫121主要可以用于与显示面板10内的显示驱动芯片键合形成电连接关系，以及用于与显示面板10内的控制电路板键合形成电连接关系。具体的，绑定衬垫121可以通过与显示驱动芯片的针脚焊接键合以形成电连接关系，且绑定衬垫121还可以通过与控制电路板的针脚焊接键合以形成电连接关系，但不限于此。但是，绑定衬垫121并不限于仅用于与显示驱动芯片以及控制电路板形成电连接关系，绑定衬垫121也可以根据实际需要用于键合其他元器件。

并且，绑定部12上所设有的绑定衬垫121的行列排布的方式，可以是绑定衬垫121在行列方向上均等间距排布，或者，也可以是绑定衬垫121在行列方向上均不等间距排布，或者，也可以是绑定衬垫121在行列方向上的任一方向上等间距排布，并在另一方向上不等间距排布，但不限于此。在其他实施例中，绑定衬垫121的行列排布方式也可以根据实际需求灵活调整各个绑定衬垫121之间的间距关系。

绑定部12还设有至少一个检测衬垫组122。每一检测衬垫组122内包括两组子检测衬垫组1220，子检测衬垫组1220内包括互相电连接的检测衬垫1221。其中，子检测衬垫组1220内的检测衬垫1221之间可以设有连接走线1222，检测衬垫1221可以通过连接走线1222互相电连接。

检测衬垫组122用于检测其所包括的两组子检测衬垫组1220之间的电阻。具体的，检测衬垫组122内两组子检测衬垫组1220分别用于与测量工具一极电连接。测量工具可以包括电阻测量装置，检测衬垫组122内的两组检测衬垫1221分别用于与测量工具一极电连接，可以是测量工具的两极分别与两组检测衬垫1221内的检测衬垫1221电连接，或者，也可以是测量工具的两极分别与两组检测衬垫1221内的连接走线1222电连接，或者，也可以是测量工具的两极分别与一组检测衬垫1221内的检测衬垫1221，以及另一组检测衬垫1221内的连接走线1222电连接，或者，参考图2所示，也可以是从每组检测衬垫1221内位于一端的检测衬垫1221上延伸出专门的与测量工具电连接的检测走线1223。

由于检测衬垫1221与绑定衬垫121之间的距离，以及绑定衬垫121与绑定衬垫121之间的距离均很小。因此，如果在行列排布的绑定衬垫121的某一部分存在金属残留，则即使很少的金属残留也会覆盖到较多的绑定衬垫121与接触衬垫1221。而如果绑定部12不存在金属残留，则当测量工具与接触衬垫组122电连接后，接触衬垫组122内的两组子检测衬垫组1220的接触衬垫1221之间由于不存在电连接关系。因此，由于此时接触衬垫组122内近似于断路电路，会表现为测量工具测得的电阻偏向于其最大度量的一端。而如果绑定部12存在金属残留，则由于金属残留覆盖到较多的绑定衬垫121与接触衬垫1221，则接触衬垫组122内的两组子检测衬垫组1220的接触衬垫1221之间也会由于金属残留的存在而产生电连接关系。因此，由于此时接触衬垫组122内近似于短路电路，会表现为测量工具测得的电阻偏向于其最小度量的一端。

通过设置检测衬垫组122，并通过测量工具按照前述方式进行检测，即可较为方便的得知绑定部12的绑定衬垫121处是否存在金属残留，从而，可以避免对生产过程中的显示面板10进行破坏性抽检，进而，由于前述测量方式的便捷性，可以在花费较少成本的情况下，对生产过程中的显示面板10进行普遍性地检查以提升产品良率。

在一些实施例中，如图2所示，每一检测衬垫组122内包括的两组子检测衬垫组1220并列排列，且排列的方式相同。

具体的，两组子检测衬垫组1220并列排列，可以是以子检测衬垫组1220的延伸方向为第一方向Y，而子检测衬垫组1220在与第一方向Y相交第二方向X上顺序排列，即为子检测衬垫组1220并列排列。

其中，图2示出的实施例中，是以绑定部12朝向显示部11的方向为第一方向Y，第二方向X与第一方向Y互相垂直，检测衬垫组122内的两组子检测衬垫组1220沿第二方向Y延伸并沿第一方向X排列。

而两组顺序排列且互相电连接的检测衬垫1221排列的方式相同，也即为两组子检测衬垫组1220延伸出的形状相同，也即检测衬垫组122内的一个子检测衬垫组1220在沿特定方向平移后，可与另一个子检测衬垫组1220的形状相重合。

这样设置，可以使检测衬垫组122内的两组子检测衬垫组1220内的检测衬垫1221以及连接走线1222的距离较近，使得绑定部12的绑定衬垫121处的金属残留更容易在两组子检测衬垫组1220内的检测衬垫1221以及连接走线1222之间产生电连接关系，从而，可以提升接触衬垫组122的检测精度，进而，由于接触衬垫组122获得了更好的测量精度，可以在花费较少成本的情况下，对生产过程中的显示面板10进行普遍性地精度更高的检查以进一步提升产品良率。

在一些实施例中，图3示出的是另一种显示面板10在绑定部12处的衬垫结构的局部放大图。如图3所示，绑定部12包括至少两个检测单元120。具体的，绑定部12可以包括两个检测单元120，或者，绑定部12可以包括三个检测单元120，或者，绑定部12可以包括四个检测单元120，或者，绑定部12可以包括五个检测单元120，但不限于此。其中，图3示出的是绑定部12包括四个检测单元120的实施例。

每一检测单元120内均包括一个检测衬垫组122与部分绑定衬垫121。每一检测单元120内的检测衬垫组122保持独立。也即每一检测单元120内所包括的检测衬垫组122与其他检测单元120内所包括的检测衬垫组122不存在电连接关系。

由于每一检测单元120内的检测衬垫组122不存在电连接关系，而互相独立。因此，通过检测每一检测单元120内的检测衬垫组122，即可获得每一检测单元120内是否存在金属残留的结果。而通过设置至少两个检测单元120，就可以根据每个检测单元120获得的是否存在金属残留的结果，在得到整个绑定部12内的绑定衬垫121处是否存在金属残留的结果的同时，若存在金属残留，则可更为精准的获得金属残留的分布范围，及绑定部12的绑定衬垫121处的金属残留的严重程度。

因此，通过设置多个检测单元120及检测单元120内独立的检测衬垫组122，可以在获得绑定衬垫121处是否存在金属残留的结果的同时，若存在金属残留则可更为精准的获得金属残留的分布范围，及绑定部12的绑定衬垫121处的金属残留的严重程度，从而，可以在进一步提升接触衬垫组122的检测精度的同时，通过对金属残留的分布的分析，对生产过程做出有益调整，进而，可以在花费较少成本的情况下，对生产过程中的显示面板10进行普遍性地精度更高的检查，以及对金属残留分布情况的分析带来的对生产过程的调整，可以进一步提升产品良率。

在一些实施例中，在设置检测单元120的基础上，参考图3所示，每一检测单元120内，检测衬垫组122位于行列排布的绑定衬垫121周围的至少一侧。

具体的，检测衬垫组122位于行列排布的绑定衬垫121周围的至少一侧，即检测衬垫组122可以位于行列排布的绑定衬垫121周围的部分位置，也可以位于行列排布的绑定衬垫121周围的全部位置。如图3所示，检测衬垫组122位于行列排布的绑定衬垫121周围的部分位置，可以为检测衬垫组122位于行列排布的绑定衬垫121周围的一侧，但不限于此，在其他实施例中，检测衬垫组122也可以位于行列排布的绑定衬垫121周围的两侧，或者，位于行列排布的绑定衬垫121周围的三侧。并且，检测衬垫组122位于行列排布的绑定衬垫121周围的全部位置，可以为检测衬垫组122位于行列排布的绑定衬垫121周围的四侧。

通过每一检测单元120内设置的检测衬垫组122可以较好的获得检测单元120内是否存在金属残留的结果。其中，优选的，检测衬垫组122位于行列排布的绑定衬垫121周围的四侧时，每一检测单元120内设置的检测衬垫组122可以更好的获得检测单元120内是否存在金属残留的结果。

因此，这样设置可以在更为精确地获得检测单元120内是否存在金属残留的结果的同时，若绑定部12存在金属残留则可更为精准的获得金属残留的分布范围，及绑定部12内的金属残留的严重程度，从而，可以在进一步提升接触衬垫组122的检测精度的同时，通过对金属残留的分布的分析，对生产过程做出有益调整，进而，可以在花费较少成本的情况下，对生产过程中的显示面板10进行普遍性地精度更高的检查，以及对金属残留分布情况的分析带来的对生产过程的调整，可以进一步提升产品良率。

在一些实施例中，在设置检测单元120的基础上，图4示出的是另一种显示面板10在绑定部12处的衬垫结构的局部放大图。如图4所示，每一检测单元120内，检测衬垫1221与绑定衬垫121按行或按列交替排布。其中，属于同一子检测衬垫组1220而位于不同行或者列的检测衬垫1221，可以通过连接走线实现互相电连接。图4示出的实施例，是以绑定部12朝向显示部11的方向为列方向，检测衬垫1221与绑定衬垫121按列交替排布。

由于检测衬垫1221与绑定衬垫121交替排布。因此，在检测单元120内若存在金属残留，则其将更容易覆盖检测衬垫1221。也因此，使得检测衬垫组122的检测精度可以进一步提高。

因此，这样设置可以在更为精确地获得检测单元120内是否存在金属残留的结果的同时，若绑定部12存在金属残留则可更为精准的获得金属残留的分布范围，及绑定部12内的金属残留的严重程度，从而，可以在进一步提升接触衬垫组122的检测精度的同时，通过对金属残留的分布的分析，对生产过程做出有益调整，进而，可以在花费较少成本的情况下，对生产过程中的显示面板10进行普遍性地精度更高的检查，以及对金属残留分布情况的分析带来的对生产过程的调整，可以进一步提升产品良率。

在一些实施例中，在设置检测单元120的基础上，图5示出的是另一种显示面板10在绑定部12处的衬垫结构的局部放大图。如图5所示，每一检测单元120内，检测衬垫组122内的部分检测衬垫1221与绑定衬垫121按行或者按列交替排布，部分检测衬垫1221位于相邻行或者相邻列的检测衬垫1221之间。

由于检测衬垫1221与绑定衬垫121的排布方式结合了交替排布，以及部分检测衬垫1221位于相邻行或者相邻列的检测衬垫1221之间，使得检测衬垫组122可以半围绕位于相邻的检测衬垫1221之间的绑定衬垫121。因此，在检测单元120内若存在金属残留，则其将更容易覆盖检测衬垫1221。也因此，使得检测衬垫组122的检测精度可以进一步提高。

因此，这样设置可以在更为精确地获得检测单元120内是否存在金属残留的结果的同时，若绑定部12存在金属残留则可更为精准的获得金属残留的分布范围，及绑定部12内的金属残留的严重程度，从而，可以在进一步提升接触衬垫组122的检测精度的同时，通过对金属残留的分布的分析，对生产过程做出有益调整，进而，可以在花费较少成本的情况下，对生产过程中的显示面板10进行普遍性地精度更高的检查，以及对金属残留分布情况的分析带来的对生产过程的调整，可以进一步提升产品良率。

在一些实施例中，如图2、图3、图4与图5所示，每一检测单元120内，检测衬垫1221与绑定衬垫121的排列方式相同。也即检测衬垫1221与绑定衬垫121按相同的顺序排布。

这样设置，可以在设计时将检测衬垫1221与绑定衬垫121一同进行设计，便于进行设计。并且，由于检测衬垫1221与绑定衬垫121的排列方式相同更便于在制备显示面板10时形成检测衬垫1221与绑定衬垫121，从而，可以进一步降低形成检测衬垫1221的成本。

在一些实施例中，如图2、图3、图4与图5所示，每一检测单元120内，检测衬垫1221与在同一方向上排列的绑定衬垫121的规格相同。以图2为例，也即检测衬垫1221与绑定衬垫121在第二方向X上排列，则在第二方向X上，检测衬垫1221与绑定衬垫121的规格相同。

这样设置，可以在设计时更便于将检测衬垫1221与绑定衬垫121一同进行设计，便于使检测衬垫1221与绑定衬垫121的排列方式相同。并且，由于检测衬垫1221与绑定衬垫121的规格相同也更便于在制备显示面板10时形成检测衬垫1221与绑定衬垫121，并且相同的规格也可以避免对制备时所需的掩膜版进行重新设计，从而，可以进一步降低形成检测衬垫1221的成本。

在一些实施例中，不同的检测单元120内的检测衬垫1221与绑定衬垫121的排列方式相同或者不同。

这样设置，可以根据实际需要对不同的检测单元120内的检测衬垫1221与绑定衬垫121的排列方式进行设置，从而，通过不同位置采用不同的检测衬垫组122的设置方式，可以在进一步降低形成检测衬垫1221的成本，并提升检测金属残留的精度。

在一些实施例中，如图1所示，绑定衬垫121至少包括行列排布的第一绑定衬垫1211与第二绑定衬垫1212。第一绑定衬垫1211至少用于与显示驱动芯片电连接，第二绑定衬垫1212至少用于与控制电路板电连接。第一绑定衬垫1211与第二绑定衬垫1212所包括的绑定衬垫121可以分别划分为至少一个检测单元120，或者，也可以一同划分为至少两个检测单元120。

并且，如图1所示，在绑定部12还可以包括弯曲部123。弯曲部123位于第一绑定衬垫1211与显示部11之间。弯曲部123至少用于发生弯曲，使绑定部12的其他部分移动到显示部11背向显示面板10的出光侧的一侧。其中，显示面板10的出光侧为显示面板10主要发出光的一侧。在弯曲部123发生弯曲后即可以达到减小显示面板10的边框宽度的效果。

本申请还提供一种显示装置，包括上述任一项所述的显示面板10。显示面板10为OLED显示面板或Micro-LED显示面板。

本申请的上述实施例，在不产生冲突的情况下，可互为补充。

需要指出的是，在附图中，为了图示的清晰可能夸大了层和区域的尺寸。而且可以理解，当元件或层被称为在另一元件或层“上”时，它可以直接在其他元件上，或者可以存在中间的层。另外，可以理解，当元件或层被称为在另一元件或层“下”时，它可以直接在其他元件下，或者可以存在一个以上的中间的层或元件。另外，还可以理解，当层或元件被称为在两层或两个元件“之间”时，它可以为两层或两个元件之间唯一的层，或还可以存在一个以上的中间层或元件。通篇相似的参考标记指示相似的元件。

术语“多个”指两个或两个以上，除非另有明确的限定。

本领域技术人员在考虑说明书及实践后，将容易想到本申请的其它实施方案。本申请旨在涵盖本申请的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本申请的一般性原理并包括本申请未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的，本申请的真正范围和精神由下面的权利要求指出。

应当理解的是，本申请并不局限于上面已经描述并在附图中示出的精确结构，并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本申请的范围仅由所附的权利要求来限制。

Claims (10)

1.一种显示面板，其特征在于，包括：相邻的显示部与绑定部；其中，所述显示部用于执行显示功能；

所述绑定部上设有行列排布的绑定衬垫；所述绑定衬垫至少用于与显示驱动芯片以及控制电路板形成电连接关系；所述绑定部还设有至少一个检测衬垫组；每一所述检测衬垫组内包括两组子检测衬垫组，所述子检测衬垫组内包括互相电连接的检测衬垫；

所述检测衬垫组用于检测其所包括的两组所述子检测衬垫组之间的电阻。

2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，每一所述检测衬垫组内包括的两组所述子检测衬垫组并列排列，且排列的方式相同。

3.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述绑定部包括至少两个检测单元，每一所述检测单元内均包括一个所述检测衬垫组与部分所述绑定衬垫；每一所述检测单元内的所述检测衬垫组保持独立。

4.根据权利要求3所述的显示面板，其特征在于，每一所述检测单元内，所述检测衬垫组位于行列排布的所述绑定衬垫周围的至少一侧。

5.根据权利要求3所述的显示面板，其特征在于，每一所述检测单元内，所述检测衬垫与所述绑定衬垫按行或者按列交替排布。

6.根据权利要求3所述的显示面板，其特征在于，每一所述检测单元内，所述检测衬垫组内的部分所述检测衬垫与所述绑定衬垫按行或者按列交替排布，部分所述检测衬垫位于相邻行或者相邻列的所述检测衬垫之间。

7.根据权利要求4至6任一项所述的显示面板，其特征在于，每一所述检测单元内，所述检测衬垫与所述绑定衬垫的排列方式相同。

8.根据权利要求4至6任一项所述的显示面板，其特征在于，每一所述检测单元内，所述检测衬垫与在同一方向上排列的所述绑定衬垫的规格相同。

9.根据权利要求4至6任一项所述的显示面板，其特征在于，不同的所述检测单元内的所述检测衬垫与所述绑定衬垫的排列方式相同或者不同。

10.一种显示装置，其特征在于，包括权利要求1至9任一项所述的显示面板；所述显示面板为OLED显示面板或Micro-LED显示面板。