CN117653178B - 一种用于x光机的定位方法及定位装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种用于X光机的定位方法及定位装置，该定位方法包括形成一磁场，磁场至少覆盖X射线源与平板探测器之间的区域，在固定SID下，磁场中磁场原点与平板探测器的物理中心位置存在固定的位置关系。在定位前，获取在X射线源与平板探测器处于任意相对位置的情况下，各个位置的磁场强度与位置坐标的映射关系、磁场零点的位置坐标。定位时，可以通过测量磁场强度的大小寻找当前位置与磁场原点位置之间的关系，找到探测器物理中心的位置。本发明可以解决X光机，尤其是移动DR中探测器在被遮挡的情况下，无法识别或者识别误差较大的问题。整个系统相对简单，不需要拍摄即可实现定位，减少误操作同时减少总拍摄次数，有利于检测效率及良率。

Description

一种用于X光机的定位方法及定位装置

技术领域

本发明涉及移动数字化X光机技术领域，具体涉及一种用于X光机的定位方法及定位装置。

背景技术

移动DR（移动数字化X光机）是一种能够发出X射线并能够对人体组织进行放射检查及放射治疗的医疗设备。该移动DR由于可以移动，因此使用起来很方便，医护人员可以根据需求将该移动DR移动至病房，以便对不易移动的患者进行诊断或者治疗。在诊断或者治疗时，通常将成像的部位放置于平板探测器与X射线源之间。此时，如果平板探测器与X射线源之间在X光的投射方向上存在位置偏差，会导致最终成像部位不完整或者遗漏整个成像部位。因此，如何提高平板探测器与X射线源之间的对准精确率，避免现有技术中平板探测器与X射线源之间在X光的投射方向上存在位置偏差而导致的最终成像部位不完整或者遗漏成像部位等相关问题的出现成为亟需解决的技术问题。

发明内容

鉴于以上现有技术的缺点，本发明的目的在于提供一种用于X光机的定位方法及定位装置，以解决现有技术中平板探测器与X射线源之间在X光的投射方向上存在位置偏差而导致的最终成像部位不完整或者遗漏成像部位的问题。

为了实现上述目的及其他相关目的，本发明提供一种用于X光机的定位方法，X光机包括X射线源和平板探测器，定位方法包括：

形成一磁场，所述磁场至少覆盖X射线源与平板探测器之间的区域，磁场存在磁场零点线，磁场零点线与X射线源或者平板探测器相交的点为磁场零点，在X射线源与平板探测器处于某一相对位置时，磁场零点的位置坐标与平板探测器的物理中心的位置坐标存在第一偏移量；

获取在X射线源与平板探测器处于任意相对位置的情况下，各个位置的磁场强度-位置坐标的映射关系、磁场零点的位置坐标；

获取当前位置的磁场强度，根据当前位置的磁场强度及磁场强度-位置坐标的映射关系确定当前位置的位置坐标；

根据当前位置的位置坐标以及磁场零点的位置坐标，计算获得当前位置相对于磁场零点的位置的第二偏移量；

根据第一偏移量及第二偏移量，计算当前位置与平板探测器的物理中心的位置之间的第三偏移量；

根据第三偏移量移动X射线源和/或平板探测器，直至X射线源与平板探测器的物理中心对准。

可选地，在X射线源与平板探测器之间形成磁场的步骤中，包括：

将磁场发生装置安装至X射线源上，将磁场检测装置安装至平板探测器上，或者将所述磁场发生装置设置于所述平板探测器内，将所述磁场检测装置设置于所述X射线源内。

可选地，在在X射线源与平板探测器之间形成磁场的步骤中，包括：

将磁场发生装置安装至平板探测器上，将磁场检测装置安装至X射线源上，或者将所述磁场发生装置设置于所述平板探测器内，将所述磁场检测装置设置于所述X射线源内。

可选地，磁场的磁场强度由磁场零点线向周围逐渐增强或者逐渐减弱。

可选地，根据第三偏移量移动X射线源和/或平板探测器，将X射线源与平板探测器的物理中心对准的步骤中，还包括：

在平板探测器和/或X射线源上安装辅助校准装置，根据辅助校准装置的检测数据辅助X射线源与平板探测器的物理中心的对准。

可选地，辅助校准装置为陀螺仪或者图像传感器。

可选地，在获取当前位置的磁场强度的步骤之前，还包括：在X射线源与平板探测器之间放置一被测物体。

根据本发明的一个方面，本发明还提供一种用于X光机的定位装置，X光机包括X射线源和平板探测器，定位装置包括：

磁场发生装置，用于至少在X射线源与平板探测器之间产生磁场；

磁场检测装置，用于检测当前位置的磁场强度；

中央信息处理模块，与磁场检测装置信号连接，中央信息处理模块包括信息获取模块、信息处理模块以及控制模块，信息获取模块用于获取在X射线源与平板探测器处于任意相对位置的情况下，各个位置的磁场强度-位置坐标的映射关系、磁场零点的位置坐标，以及磁场零点的位置坐标与平板探测器的物理中心的位置坐标存在的第一偏移量；信息处理模块用于接收当前位置的磁场强度，并根据当前位置的磁场强度及磁场强度-位置坐标的映射关系确定当前位置的位置坐标；根据当前位置的位置坐标以及磁场零点的位置坐标，计算获得当前位置相对于磁场零点的位置的第二偏移量；根据第一偏移量及第二偏移量，计算当前位置与平板探测器的物理中心的位置之间的第三偏移量；控制模块用于接收第三偏移量，并根据第三偏移量移动X射线源和/或平板探测器发送控制信号给位置调整装置，位置调整装置依据控制信号对X射线源与平板探测器的物理中心的位置进行调整。

可选地，磁场发生装置设置于X射线源内，磁场检测装置设置于平板探测器内，或者磁场发生装置设置于平板探测器内，磁场检测装置设置于X射线源内。可选地，磁场发生装置在X射线源与平板探测器之间形成有磁场，磁场包括磁场零点线，磁场的磁场强度由磁场零点线向周围逐渐增强或者逐渐减弱。

可选地，定位装置还包括：

辅助校准装置，设置于X射线源和/或平板探测器上。

可选地，辅助校准装置为陀螺仪或者图像传感器。

与现有技术相比，本发明所述的用于X光机的定位方法及定位装置至少具备如下有益效果：

本发明中用于X光机的定位方法包括形成一磁场，该磁场至少覆盖在X射线源与平板探测器之间的区域，在固定的SID下，磁场中磁场原点与平板探测器的物理中心位置存在固定的位置关系。在进行定位之前，获取在X射线源与平板探测器处于任意相对位置的情况下，各个位置的磁场强度与位置坐标的映射关系、磁场零点的位置坐标。在定位时，可以通过测量磁场强度的大小寻找当前位置与磁场原点位置之间的关系，进而找到探测器物理中心的位置。进而，本发明能够通过测量磁场强度的大小，计算得到X射线源与探测器之间的相对位置，同时给出精确的偏离值，方便X射线源与平板探测器的对准。

本发明中的定位方法不受限于遮挡物对探测器的遮挡，能够实现较为精准的定位，可以解决目前X光机，尤其是移动X光机（DR）中探测器在被遮挡的情况下，无法识别或者识别误差较大的问题。整个系统相对简单，方便操作，不需要拍摄即可实现定位，减少误操作同时减少总拍摄次数，有利于检测效率及良率。

本发明中的定位装置应用于上述定位方法，同样能够实现上述技术效果。

附图说明

图1为本发明实施例中用于X光机的定位方法的流程图；

图2为本发明一实施例中用于X光机定位装置的侧视图；

图3为图2中用于X光机定位装置的俯视图；

图4为本发明另一实施例中用于X光机定位装置的侧视图；

图5为图4中用于X光机定位装置的俯视图。

附图标记列表：

10	X射线源
		20	平板探测器
30	磁场发生装置
		40	磁场检测装置
50	磁场零点线
		51	磁场零点
60	平板探测器的物理中心
		70	辅助校准装置

实施方式

以下由特定的具体实施例说明本发明的实施方式，熟悉此技术的人士可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本发明的其他优点及功效。本发明还可以通过另外不同的具体实施方式加以实施或应用，本说明书中的各项细节也可以基于不同观点与应用，在没有背离本申请的精神下进行各种修饰或改变。需说明的是，在不冲突的情况下，以下实施例及实施例中的特征可以相互组合。

须知，本发明实施例中所提供的图示仅以示意方式说明本发明的基本构想，虽图示中仅显示与本发明中有关的组件而非按照实际实施时的组件数目、形状及尺寸绘制，其实际实施时各组件的形态、数量及比例可随意的改变，且其组件布局形态也可能更为复杂。说明书附图所绘示的结构、比例、大小等，均仅用以配合说明书所揭示的内容，以供熟悉此技术的人士了解与阅读，并非用以限定本申请可实施的限定条件，故不具技术上的实质意义，任何结构的修饰、比例关系的改变或大小的调整，在不影响本发明所能产生的功效及所能达成的目的下，均应仍落在本申请所揭示的技术内容得能涵盖的范围内。

在现有技术中，通常采用视觉定位或者是射频信号定位来确定平板探测器与X射线源是否对准。这些技术有各自的优缺点，比如视觉定位，通过相机拍摄平板探测器，计算拍得的图像中平板探测器的中心位置，该方法容易受到视线遮挡的影响。又比如射频信号定位，即通过射频信号来实现平板探测器中心位置的识别，虽然不受视线遮挡影响，但是探测器上的物体/人体会极大地衰减信号，造成信号失真，定位不准确。在平板探测器与X光源之间没有遮挡的情况下，视觉方案或者射频方案都能够精确地定位到探测器位置，但是当探测器被物体/人体遮挡时，这些方案就会产生误差或者无法识别。

基于背景技术存在的问题以及上述技术问题，本发明提供一种用于X光机的定位方法及定位装置，该定位方法或定位装置能够实现较为精准的定位，有利于检测效率及良率，并且不受限于遮挡物对探测器的遮挡。

实施例1

本实施例提供一种用于X光机的定位方法，参照图1，其中X光机包括X射线源和平板探测器，该定位方法包括：

S1：形成一磁场，磁场覆盖X射线源与平板探测器之间的区域，磁场存在磁场零点线，磁场零点线与X射线源或者平板探测器相交的点为磁场零点，磁场零点的位置坐标与平板探测器的物理中心的位置坐标存在第一偏移量；

具体地，参照图2和3，形成一磁场，该磁场至少覆盖在X射线源10与平板探测器20之间的区域，或者该磁场还覆盖除X射线源10与平板探测器20之间以外的其他区域。形成磁场的方式包括可以在X射线源10或平板探测器20上安装磁场发生装置30，或者将磁场发生装置30内置于X射线源10或平板探测器20内，也可以将其安装在X射线源10的吊壁上或者平板探测器20的支架上，只要是能够在X射线源10与平板探测器20之间形成磁场即可。该磁场发生装置30包括各种类型的磁场产生器，包括但不限于人为可控的，或者自然界中天然存在的。该磁场发生装置30用于产生磁场，所产生磁场的磁场强度由磁场零点线50向周围逐渐增强或者逐渐减弱。在本实施例中，参照图2和3，可以将磁场发生装置30安装至X射线源10上，将磁场检测装置40安装至平板探测器20上，或者将磁场检测装置40内置于X射线源10或平板探测器20内，同样地，磁场检测装置40也可以安装在X射线源的吊壁上或者平板探测器的支架等位置，本发明对磁场发生装置30及磁场检测装置40的位置不做限制，只要能够实现其功能即可。参照图4和5，也可以将磁场发生装置30安装至平板探测器20上，将磁场检测装置40安装至X射线源10上。其中，磁场检测装置40用以测量磁场各个位置的磁场强度。

磁场存在磁场零点线50。该磁场零点线50是磁场强度变化最明显的点构成的线，该磁场的磁场强度自磁场零点线50向周围逐渐增强或者逐渐减弱。磁场零点线50与X射线源10或者平板探测器20相交的点为磁场零点51，在X射线源10与平板探测器20处于某一固定的相对位置（固定SID）时，磁场零点51的位置坐标与平板探测器的物理中心60的位置坐标存在第一偏移量。

在本实施例中，X射线源10与平板探测器20之间的距离用焦点-影像接收器距离（focal spot to image receptor distance；SID）表示。在SID确定的情况下，磁场零点线50的位置或者磁场零点51的位置是固定的。在对磁场发生装置30进行安装设置时，在X射线源10与平板探测器20处于任意SID的情况下，设置磁场零点51的位置与平板探测器的物理中心60的位置，使二者之间的位置关系固定，也即磁场零点51与平板探测器的物理中心60的相对位置（第一偏移量）是固定的，所以可以通过磁场零点51计算平板探测器20物理中心的位置。具体地，可以建立在不同SID情况下，磁场零点51的位置、平板探测器的物理中心60的位置以及磁场零点51位置与平板探测器的物理中心60之间的第一偏移量数据库。后续，在SID确定的情况下，可以获取在此状态下的磁场零点51的位置、平板探测器的物理中心60的位置以及磁场零点51位置与平板探测器的物理中心60之间的第一偏移量。

S2：获取在X射线源与平板探测器处于任意相对位置的情况下，各个位置的磁场强度-位置坐标的映射关系、磁场零点的位置坐标；

具体地，在对某一位置进行位置确定时，可以根据该位置的磁场强度相对于磁场零点51的变化量、该位置与磁场零点51位置的距离偏移量，建立磁场强度与位置坐标的对应关系。也即，磁场强度相对于磁场零点51的变化量与其位置相对于磁场零点51的位置存在对应关系，可以根据此对应关系，建立磁场强度-位置坐标的映射关系。

参照图2和3，依据上述对应关系，获取在X射线源10与平板探测器20处于任意相对位置（SID）的情况下，处于X射线源10与平板探测器20之间的各个位置的磁场强度-位置坐标的映射关系、磁场零点51的位置坐标。该数据的获取方法可以是测量各个位置的磁场强度，然后在一坐标系下记录其坐标；同时，基于各个位置的磁场强度找到磁场零点51，记录磁场零点51的坐标。将同一位置的磁场强度相对于磁场零点的磁场强度的变化量与该位置相对于磁场零点的坐标的变化量建立对应关系，进而获取磁场强度-位置坐标的映射关系。

S3：获取当前位置的磁场强度，根据当前位置的磁场强度及磁场强度-位置坐标的映射关系确定当前位置的位置坐标；

参照图2和3，首先通过磁场检测装置40获取当前位置的磁场强度。在读取当前位置的磁场强度之后，根据当前位置的磁场强度及磁场强度-位置坐标的映射关系确定当前位置的位置坐标。

S4：根据当前位置的位置坐标以及磁场零点的位置坐标，计算获得当前位置相对于磁场零点的位置的第二偏移量；

参照图2和3，在获取当前位置的位置坐标之后，根据当前的SID获取当前位置的磁场零点51的位置坐标。根据当前位置的位置坐标以及磁场零点51的位置坐标，计算获取当前位置相对于磁场零点51的位置的偏移量，记为第二偏移量。

S5：根据第一偏移量及第二偏移量，计算当前位置与平板探测器的物理中心的位置之间的第三偏移量；

参照图2和3，根据步骤S1和步骤S4中所获得的第一偏移量及第二偏移量，计算当前位置与平板探测器的物理中心60的位置之间的偏移量，记为第三偏移量。

S6：根据第三偏移量移动X射线源和/或平板探测器，直至X射线源与平板探测器的物理中心对准。

参照图2和3，根据步骤S5中所获得的第三偏移量调整X射线源10与平板探测器20之间的位置，直至X射线源10与平板探测器的物理中心60对准，完成X射线源10与平板探测器20之间的定位。

需要说明的是，本实施例中的定位方法可以在对患者进行检测的过程中进行定位校准，也可以在对患者检测之前就实现定位校准，校准前，SID是固定的。这样在进行检测时，无需进行再次定位或者仅进行位置微调即可进行成像拍摄。进而，在获取当前位置的磁场强度之前，可以在X射线源与平板探测器之间放置一被测物体，也可以不放置。比如，病床上的患者不能移动时，大概率是先把平板探测器放在患者身体下，在进行拍摄，这种情况就不适用先校准再放入物体的情况。若需要在进行检测之前放置被测物体，参照图2和3，将被测物体转移至X射线源10与平板探测器20之间。

在可选实施例中，在将X射线10与平板探测器的物理中心60进行对准的过程中，还可采用辅助校准装置70进行辅助校准。可选地，辅助校准装置70包括但不限于陀螺仪、图像传感器或相机，该辅助校准装置70能够辅助校准平板探测器20的摆放位置，进一步得到更加精确的X射线源10与平板探测器20的相对位置，增强整个系统的测量精度。例如，可以在平板探测器20安装陀螺仪，该陀螺仪用于测算角度，辅助校准。

实施例2

本实施例提供一种用于X光机的定位装置，该用于X光机的定位装置应用于实施例1中的定位方法。其中，X光机可以是移动DR、非移动性DR或者便携性DR，例如车载DR、悬吊型DR等。

参照图2-3或者图4-5，X光机包括X射线源10和平板探测器20，X射线源10用于发射X射线，X射线源10可以为球管和高压发生器。平板探测器20与X射线源10相对设置，用于接收X射线。位于平板探测器20表面的闪烁体将透过人体后衰减的X线转换为可见光，闪烁体下的非晶硅光电二极管阵列又将可见光转换为电信号，在光电二极管自身的电容上形成存储电荷，每个像素的存储电荷量与入射X线强度成正比，在控制电路的作用下，扫描读出各个像素的存储电荷，经A/D转换后输出数字信号，传送给计算机进行图像处理从而形成X线数字影像。X射线源10与平板探测器20的具体结构均为现有技术，在此不在赘述。

定位装置包括磁场发生装置30及磁场检测装置40。该磁场发生装置30用于至少在X射线源与平板探测器之间产生磁场，磁场检测装置40用于检测当前位置的磁场强度。本实施例对磁场发生装置30及磁场检测装置40的设置位置不做限制，只要能够实现其功能即可，例如，二者可以相对安装在X射线源10或平板探测器20上，或者将磁场发生装置30内置于X射线源10或平板探测器20内，或者安装在X射线源10的吊壁上或者平板探测器20的支架等位置。在本实施例中，磁场发生装置30设置于X射线源10内，磁场检测装置40设置于平板探测器20内，如图2-3所示；或者磁场发生装置30设置于平板探测器20内，磁场检测装置40设置于X射线源10内，如图4-5所示。其中，磁场发生装置30在X射线源10与平板探测器20之间形成有磁场，磁场包括磁场零点线50，磁场的磁场强度由磁场零点线50向周围逐渐增强或者逐渐减弱。

定位装置还包括中央信息处理模块（图中未示出），该中央信息处理模块与磁场检测装置40信号连接。具体地，中央信息处理模块包括信息获取模块、信息处理模块以及控制模块，信息获取模块用于获取在X射线源与平板探测器处于任意相对位置的情况下，各个位置的磁场强度-位置坐标的映射关系、磁场零点的位置坐标，以及磁场零点的位置坐标与平板探测器的物理中心的位置坐标存在的第一偏移量。信息处理模块用于接收当前位置的磁场强度，并根据当前位置的磁场强度及磁场强度-位置坐标的映射关系确定当前位置的位置坐标。根据当前位置的位置坐标以及磁场零点的位置坐标，计算获得当前位置相对于磁场零点的位置的第二偏移量。根据第一偏移量及第二偏移量，计算当前位置与平板探测器的物理中心的位置之间的第三偏移量。控制模块用于接收第三偏移量，并根据第三偏移量移动X射线源和/或平板探测器发送控制信号给位置调整装置，位置调整装置依据控制信号对X射线源与平板探测器的物理中心的位置进行调整。并且，本实施例中的中央信息处理模块可以内置于X射线源或者平板探测器内，也可以设置在其他的零部件模块中，本实施例对于中央信息处理模块的位置不做限制。

在可选实施例中，该定位装置还包括辅助校准装置70，该辅助校准装置70设置于X射线源10和/或平板探测器20上。辅助校准装置70包括但不限于陀螺仪、图像传感器或相机，该辅助校准装置70能够辅助校准平板探测器20的摆放位置，进一步得到更加精确的X射线源10与平板探测器20的相对位置，增强整个系统的测量精度。例如，可以在平板探测器20安装陀螺仪，该陀螺仪用于测算角度，辅助校准。

下面结合具体的实施例对本发明进行详细的说明。

如图2-3或者4-5所示， 将磁场发生装置30设置于X射线源10内，磁场检测装置40设置于平板探测器20内，或者磁场发生装置30设置于平板探测器20内，磁场检测装置40设置于X射线源10内。

将陀螺仪安装在平板探测器20内。将X射线源10对准拍摄部位，患者转移至X射线源10与平板探测器20之间。

磁场检测装置40测量当前位置的磁场强度，基于磁场强度-位置坐标的映射关系确定当前位置的位置坐标，并计算当前位置与磁场零点51位置之间的第二偏移量。基于当前SID下的第一偏移量及第二偏移量计算当前位置相对于探测器物理中心的第三偏移量。

基于第三偏移量以及X射线源10与平板探测器20的相对位置，操作调整平板探测器20的位置，直至X射线源10与平板探测器20直至对准。在此过程中，可以基于陀螺仪测量角度，辅助X射线源10与平板探测器20校准。

本发明在使用移动DR （移动数字化X光机）时通常需要人将探测器放置在被测物体/人体之后，此时探测器被遮挡。由于磁场的特性，在被测物体为生物时，对磁场几乎无衰减作用，故探测器有没有被遮挡对探测器的定位几乎没有影响。基于上述原理，本发明中用于X光机的定位方法包括形成一磁场，该磁场至少覆盖在X射线源与平板探测器之间的区域，在固定的SID下，磁场中磁场原点与平板探测器的物理中心位置存在固定的位置关系。在进行定位之前，获取在X射线源与平板探测器处于任意相对位置的情况下，各个位置的磁场强度与位置坐标的映射关系、磁场零点的位置坐标。在定位时，测量当前位置的磁场强度，可以推算出当前位置距离磁场零点的偏移量，进而可以推算出当前位置距离平板探测器物理中心的偏移量，实现移动DR探测器在被人/物体遮挡情况下的精确定位。

本发明中的定位方法不受限于遮挡物对探测器的遮挡，能够实现较为精准的定位，可以解决目前移动DR中探测器在被遮挡的情况下，无法识别或者识别误差较大的问题。整个系统相对简单，方便操作，不需要拍摄即可实现定位，减少误操作同时减少总拍摄次数，有利于检测效率及良率。

本发明中的定位装置应用于上述定位方法，同样能够实现上述技术效果。

上述实施例仅例示性说明本发明的原理及其功效，而非用于限制本发明。任何熟悉此技术的人士皆可在不违背本发明的精神及范畴下，对上述实施例进行修饰或改变。因此，举凡所属技术领域中具有通常知识者在未脱离本发明所揭示的精神与技术思想下所完成的一切等效修饰或改变，仍应由本发明的权利要求所涵盖。

Claims (10)

1.一种用于X光机的定位方法，其特征在于，所述X光机包括X射线源和平板探测器，所述定位方法包括：

形成一磁场，所述磁场至少覆盖所述X射线源与所述平板探测器之间的区域，所述磁场存在磁场零点线，所述磁场零点线是磁场强度变化最明显的点构成的线，所述磁场的磁场强度自磁场零点线向周围逐渐增强或者逐渐减弱，所述磁场零点线与所述X射线源或所述平板探测器相交的点为磁场零点，在所述X射线源与所述平板探测器处于某一相对位置时，所述磁场零点的位置坐标与所述平板探测器的物理中心的位置坐标存在第一偏移量；

获取在所述X射线源与所述平板探测器处于任意相对位置的情况下，各个位置的磁场强度-位置坐标的映射关系、所述磁场零点的位置坐标；

获取当前位置的磁场强度，根据当前位置的磁场强度及磁场强度-位置坐标的映射关系确定当前位置的位置坐标；

根据当前位置的位置坐标以及磁场零点的位置坐标，计算获得当前位置相对于所述磁场零点的位置的第二偏移量；

根据所述第一偏移量及所述第二偏移量，计算当前位置与平板探测器的物理中心的位置之间的第三偏移量；

根据所述第三偏移量移动X射线源和/或平板探测器，直至X射线源与平板探测器的物理中心对准。

2.根据权利要求1所述的用于X光机的定位方法，其特征在于，在所述X射线源与所述平板探测器之间形成磁场的步骤中，包括：

将磁场发生装置安装至所述X射线源上，将磁场检测装置安装至所述平板探测器上，或者将所述磁场发生装置设置于所述X射线源内，将所述磁场检测装置设置于所述平板探测器内。

3.根据权利要求1所述的用于X光机的定位方法，其特征在于，在所述X射线源与所述平板探测器之间形成磁场的步骤中，包括：

将磁场发生装置安装至所述平板探测器上，将磁场检测装置安装至所述X射线源上，或者将所述磁场发生装置设置于所述平板探测器内，将所述磁场检测装置设置于所述X射线源内。

4.根据权利要求1所述的用于X光机的定位方法，其特征在于，根据所述第三偏移量移动X射线源和/或平板探测器，将X射线源与平板探测器的物理中心对准的步骤中，还包括：

在所述平板探测器和/或X射线源上安装辅助校准装置，根据所述辅助校准装置的获取数据辅助X射线源与平板探测器的物理中心的对准。

5.根据权利要求4所述的用于X光机的定位方法，其特征在于，所述辅助校准装置为陀螺仪或者图像传感器。

6.根据权利要求1所述的用于X光机的定位方法，其特征在于，在获取当前位置的磁场强度的步骤之前，还包括：

在所述X射线源与所述平板探测器之间放置一被测物体。

7.一种用于X光机的定位装置，其特征在于，所述X光机包括X射线源和平板探测器，所述定位装置包括：

磁场发生装置，用于至少在所述X光机与所述平板探测器之间产生磁场，所述磁场存在磁场零点线，所述磁场零点线是磁场强度变化最明显的点构成的线，所述磁场的磁场强度自磁场零点线向周围逐渐增强或者逐渐减弱，所述磁场零点线与所述X射线源或所述平板探测器相交的点为磁场零点；

磁场检测装置，用于检测当前位置的磁场强度；

中央信息处理模块，与所述磁场检测装置信号连接，所述中央信息处理模块包括信息获取模块、信息处理模块以及控制模块，所述信息获取模块用于获取在所述X射线源与所述平板探测器处于任意相对位置的情况下，各个位置的磁场强度-位置坐标的映射关系、所述磁场零点的位置坐标，以及所述磁场零点的位置坐标与所述平板探测器的物理中心的位置坐标存在的第一偏移量；所述信息处理模块用于接收所述当前位置的磁场强度，并根据当前位置的磁场强度及磁场强度-位置坐标的映射关系确定当前位置的位置坐标；根据当前位置的位置坐标以及磁场零点的位置坐标，计算获得当前位置相对于所述磁场零点的位置的第二偏移量；根据所述第一偏移量及所述第二偏移量，计算当前位置与平板探测器的物理中心的位置之间的第三偏移量；所述控制模块用于接收所述第三偏移量，并根据所述第三偏移量移动X射线源和/或平板探测器发送控制信号给位置调整装置，所述位置调整装置依据所述控制信号对X射线源与平板探测器的物理中心的位置进行调整。

8.根据权利要求7所述的用于X光机的定位装置，其特征在于，所述磁场发生装置设置于所述X射线源内，所述磁场检测装置设置于所述平板探测器内，或者所述磁场发生装置设置于所述平板探测器内，所述磁场检测装置设置于所述X射线源内。

9.根据权利要求7所述的用于X光机的定位装置，其特征在于，所述定位装置还包括：

辅助校准装置，设置于所述X射线源和/或所述平板探测器上。

10.根据权利要求9所述的用于X光机的定位装置，其特征在于，所述辅助校准装置为陀螺仪或者图像传感器。